專(zhuān)利名稱(chēng)：一種Spacewire電路單粒子功能中斷測(cè)試方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種微電子器件抗單粒子能力的試驗(yàn)驗(yàn)證方法。
背景技術(shù)：
隨著半導(dǎo)體技術(shù)的迅猛發(fā)展，航天器用微電子器件的集成度不斷提高，航天器逐漸更多地采用大規(guī)模集成電路。由于器件的特征尺寸和工作電壓越來(lái)越小，相應(yīng)地，臨界電荷也越來(lái)越小，單粒子效應(yīng)的作用也越來(lái)越明顯。近些年來(lái)發(fā)現(xiàn)單粒子效應(yīng)對(duì)器件的工作性能影響更加顯著，其損傷模式也日趨復(fù)雜化，由單粒子影響而造成功能中斷的形式也越來(lái)越多，如果不清楚微電子器件發(fā)生功能中斷的原因，就無(wú)法正確評(píng)估微電子器件的抗輻射能力，在后期研制微電子器件時(shí)，就無(wú)法提升微電子器件的抗輻射性能。多數(shù)抗輻射微電子器件的單粒子效應(yīng)的試驗(yàn)驗(yàn)證工作是在地面進(jìn)行，尤其是航天器設(shè)計(jì)所需的微電子器件抗單粒子性能評(píng)估的依據(jù)是地面模擬試驗(yàn)結(jié)果。地面模擬試驗(yàn)不可能完全逼真，模擬條件應(yīng)盡可能地反映客觀現(xiàn)象的本質(zhì)。因此在評(píng)估微電子器件抗輻射性能時(shí)，就更需要采取嚴(yán)謹(jǐn)科學(xué)的方法，找出單粒子效應(yīng)發(fā)生的原因，避免由于其他因素造成的影響而誤導(dǎo)結(jié)果分析。在此基礎(chǔ)上才能更好地建立起地面模擬所獲取的數(shù)據(jù)與空間真實(shí)錯(cuò)誤率之間的關(guān)系。在每一個(gè)環(huán)節(jié)上理論工作和試驗(yàn)驗(yàn)證工作都是必不可少的。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的技術(shù)解決問(wèn)題是克服現(xiàn)有技術(shù)的不足，基于現(xiàn)有的地面模擬環(huán)境，提供了一種針對(duì)于Spacewire電路的單粒子功能中斷測(cè)試方法,可以明確地測(cè)試出影響Spacewire電路的單粒子功能中斷的模塊及失效的原因，為進(jìn)一步開(kāi)展單粒子效應(yīng)與微電子器件相關(guān)試驗(yàn)研究提供可靠的依據(jù)。本發(fā)明的技術(shù)解決方案是一種Spacewire電路單粒子功能中斷測(cè)試方法，步驟如下(I)將SPARC V8的軟核燒寫(xiě)入FPGA內(nèi)部，形成硬件SPARC V8微處理器；(2)利用SPARC V8處理器A和Spacewire電路A建立通訊聯(lián)系構(gòu)成測(cè)試系統(tǒng)A，利用SPARC V8處理器B和Spacewire電路B建立通訊聯(lián)系構(gòu)成測(cè)試系統(tǒng)B, Spacewire電路A和Spacewire電路B建立通訊聯(lián)系構(gòu)成測(cè)試系統(tǒng)A和測(cè)試系統(tǒng)B的數(shù)據(jù)傳輸通道；(3)在兩個(gè)測(cè)試系統(tǒng)內(nèi)部，分別利用各自的SPARC V8處理器初始化各自Spacewire電路的寄存器以及通訊通道；(4)將Spacewire電路B置于粒子輻照環(huán)境中；(5)設(shè)定數(shù)據(jù)傳輸路徑為測(cè)試系統(tǒng)A向測(cè)試系統(tǒng)B發(fā)送數(shù)據(jù)，測(cè)試系統(tǒng)B接收到數(shù)據(jù)后將接收到的數(shù)據(jù)再次轉(zhuǎn)發(fā)給測(cè)試系統(tǒng)A ;數(shù)據(jù)傳輸開(kāi)始后，如果測(cè)試系統(tǒng)A無(wú)法向測(cè)試系統(tǒng)B發(fā)送數(shù)據(jù)或者測(cè)試系統(tǒng)A無(wú)法從測(cè)試系統(tǒng)B獲取轉(zhuǎn)發(fā)數(shù)據(jù)，則判斷Spacewire電路B發(fā)生單粒子功能中斷,進(jìn)入下一步；(6)測(cè)試系統(tǒng)A回讀Spacewire電路B的寄存器的信息，如果測(cè)試系統(tǒng)A能夠成功回讀Spacewire電路B的寄存器的信息,則判定Spacewire電路B的寄存器發(fā)生了功能中斷，根據(jù)回讀的Spacewire電路B的控制寄存器的數(shù)據(jù)分析造成功能中斷的原因；如果測(cè)試系統(tǒng)A無(wú)法回讀Spacewire電路B的控制寄存器的信息,則判定Spacewire電路B的仲裁器發(fā)生了功能中斷。所述步驟(6)中根據(jù)回讀的Spacewire電路B的控制寄存器的數(shù)據(jù)分析造成功能中斷的原因的方法為如果在輻照過(guò)程中發(fā)生數(shù)據(jù)傳輸功能中斷、大量的數(shù)據(jù)包丟失或者大量的數(shù)據(jù)包傳輸錯(cuò)誤，則判斷Spacewire電路B的編號(hào)為I 8以及11 255的控制寄存器發(fā)生了單粒子翻轉(zhuǎn)；如果在數(shù)據(jù)包傳輸?shù)倪^(guò)程中發(fā)現(xiàn)數(shù)據(jù)包無(wú)法被接收或者無(wú)法向Spacewire電路B發(fā)送命令，則判斷Spacewire電路B的編號(hào)為9或者10的控制寄存器發(fā)生了單粒子翻轉(zhuǎn)；如果在輻照過(guò)程中發(fā)生數(shù)據(jù)傳輸功能中斷且Spacewire電路B的編號(hào)為O 255的控制寄存器未發(fā)現(xiàn)異常，則判斷Spacewire電路B的編號(hào)為256 265的控制寄存器發(fā)生了單粒子翻轉(zhuǎn)。本發(fā)明與現(xiàn)有技術(shù)相比的優(yōu)點(diǎn)在于(I)本發(fā)明方法利用FPGA對(duì)待測(cè)Spacewire電路進(jìn)行配置，并通過(guò)待測(cè)Spacewire電路發(fā)送和接收數(shù)據(jù)，可根據(jù)試驗(yàn)結(jié)果精確定位影響單粒子功能中斷的位置，分析發(fā)生功能中斷的模塊及原因，為后續(xù)提升器件的抗輻射性能提供依據(jù)；(2)本發(fā)明方法利用兩塊微處理器訪問(wèn)和控制被測(cè)的Spacewire電路，并將其配置為典型應(yīng)用工作狀態(tài)下，可以更加全面的考核評(píng)估其抗輻射性能；(3)本發(fā)明方法利用遠(yuǎn)程自動(dòng)化控制系統(tǒng)可實(shí)現(xiàn)電源控制和電流監(jiān)測(cè)，方便試驗(yàn)過(guò)程中被測(cè)電路發(fā)生功能中斷時(shí)即重新上電復(fù)位的需求，減少了試驗(yàn)的操作環(huán)節(jié)，提高了試驗(yàn)的可操作性及效率。


圖1為本發(fā)明測(cè)試方法的流程框圖；圖2為兩塊Spacewire之間的數(shù)據(jù)交互示意圖；圖3為回讀被測(cè)器件Spacewire B的寄存器示意圖。
具體實(shí)施例方式如圖1所示，為本發(fā)明方法的流程圖。Spacewire在宇航電路中是用于傳輸數(shù)據(jù)的，而單粒子功能中斷的定義即是電路在輻照環(huán)境下，電路的功能發(fā)生了異常而導(dǎo)致中斷。針對(duì)Spacewire電路的單粒子功能中斷測(cè)試，本發(fā)明方法首先建立兩片Spacewire電路的通信鏈路，兩塊FPGA通過(guò)兩片Spacewire電路通訊,實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)的互傳。單粒子功能中斷檢測(cè)時(shí)兩塊Spacewire之間的數(shù)據(jù)交互示意圖如圖2所示，其中SpacewireB為被輻照器件。在輻照試驗(yàn)過(guò)程中，由FPGA芯片A經(jīng)過(guò)Spacewire A向FPGA芯片B (控制被福照的Spacewire電路B)發(fā)送數(shù)據(jù)包，由FPGA芯片B接收數(shù)據(jù)后，經(jīng)過(guò)Spacewire電路A將接收到的數(shù)據(jù)包發(fā)送回FPGA芯片A并由FPGA芯片A檢測(cè)數(shù)據(jù)。本發(fā)明中，F(xiàn)PGA芯片用來(lái)存儲(chǔ)SPARC V8的軟核，將SPARC V8的軟核燒寫(xiě)入FPGA內(nèi)部之后，F(xiàn)PGA此時(shí)便成為一個(gè)硬件SPARC V8微處理器，利用SPARC V8處理器和Spacewire電路通訊和傳輸數(shù)據(jù)，由于FPGA內(nèi)部資源豐富，方便擴(kuò)展用來(lái)做嵌入式系統(tǒng)應(yīng)用開(kāi)發(fā)十分方便。SPARC V8軟核是由ALTEM公司開(kāi)發(fā)的開(kāi)放性軟核，在ALTEM官網(wǎng)上即可下載該軟核，該軟核采用VHDL編寫(xiě)并且支持LE0N2調(diào)試架構(gòu)，有相應(yīng)的軟件開(kāi)發(fā)環(huán)境，用戶(hù)下載該軟核，可以對(duì)軟核進(jìn)行改進(jìn)，擴(kuò)展自己所需要的硬件模塊，使用非常方便，將改進(jìn)后的SPARCV8軟核下載到Xlinx FPGA中即可將FPGA當(dāng)作一個(gè)硬件處理器使用。實(shí)際使用時(shí)，還可以增加FLASH用來(lái)存儲(chǔ)和固化FPGA的配置信息，SRAM在系統(tǒng)運(yùn)行時(shí)用作處理器的內(nèi)存使用。本發(fā)明中，利用SPARC V8處理器A和Spacewire電路A建立通訊聯(lián)系構(gòu)成測(cè)試系統(tǒng)A,利用SPARC V8處理器B和Spacewire電路B建立通訊聯(lián)系構(gòu)成測(cè)試系統(tǒng)B, Spacewire電路A和Spacewire電路B建立通訊聯(lián)系構(gòu)成測(cè)試系統(tǒng)A和測(cè)試系統(tǒng)B的數(shù)據(jù)傳輸通道。兩塊Spacewire電路傳送的數(shù)據(jù)包主要包括以下內(nèi)容發(fā)送的數(shù)據(jù)需要經(jīng)過(guò)的通道、發(fā)送的數(shù)據(jù)(O 255)、數(shù)據(jù)結(jié)束標(biāo)志。在數(shù)據(jù)發(fā)送的過(guò)程中首先向控制寄存器發(fā)送控制字，將傳輸數(shù)據(jù)所需要的通道鏈接起來(lái)，然后開(kāi)始發(fā)送數(shù)據(jù)，直至數(shù)據(jù)結(jié)束符。試驗(yàn)過(guò)程中，將測(cè)試系統(tǒng)A的5和6通道與測(cè)試系統(tǒng)的I和2通道分別通過(guò)高速數(shù)據(jù)傳輸線連接，通過(guò)軟件配置控制寄存器將測(cè)試系統(tǒng)B (被輻照)的I和8，8和7，7和6，6和5，5和9，10和2串接起來(lái)，整個(gè)數(shù)據(jù)的流向如圖2所示，這樣可以使得數(shù)據(jù)在傳輸?shù)倪^(guò)程中經(jīng)過(guò)所有的通道，充分利用了仲裁器，使得被測(cè)器件的工作狀態(tài)接近于實(shí)際應(yīng)用狀態(tài)，以便更加完整地測(cè)試考核Spacewire電路的抗福照性能。在對(duì)Spacewire電路進(jìn)行單粒子功能中斷考核時(shí),可將Spacewire電路的功能狀態(tài)分為功能正常、功能錯(cuò)誤、功能中斷。其中功能正常的表現(xiàn)為被測(cè)器件Spacewire電路B能夠完整接收數(shù)據(jù)包，同時(shí)也能夠完整發(fā)送數(shù)據(jù)包；功能錯(cuò)誤表現(xiàn)為數(shù)據(jù)包中出現(xiàn)單個(gè)數(shù)據(jù)錯(cuò)誤(即發(fā)生單粒子翻轉(zhuǎn))、數(shù)據(jù)包中的部分?jǐn)?shù)據(jù)丟失、數(shù)據(jù)包丟失；功能中斷表現(xiàn)為被測(cè)器件Spacewire電路B的發(fā)送數(shù)據(jù)或接收數(shù)據(jù)功能出現(xiàn)異常。Spacewire電路的單粒子功能中斷主要分為兩類(lèi)仲裁器功能中斷和由控制寄存器引起的功能中斷。在試驗(yàn)過(guò)程中可分析數(shù)據(jù)包傳輸過(guò)程中由于單粒子轟擊造成的單個(gè)錯(cuò)誤數(shù)據(jù)、部分?jǐn)?shù)據(jù)丟失、以及數(shù)據(jù)包丟失來(lái)判斷。如果系統(tǒng)A不能向系統(tǒng)B發(fā)送數(shù)據(jù)或者接收系統(tǒng)B發(fā)回的數(shù)據(jù)，則系統(tǒng)發(fā)生功能中斷。系統(tǒng)發(fā)生功能中斷后，系統(tǒng)A則回讀被輻照器件Spacewire電路B的控制寄存器的信息,如果系統(tǒng)A能夠回讀Spacewire電路B的控制寄存器的信息，貝1J判定功能中斷是由Spacewire電路B的控制寄存器發(fā)生單粒子翻轉(zhuǎn)造成的，可以根據(jù)回讀的控制寄存器的數(shù)據(jù)分析造成功能中斷的原因；如果系統(tǒng)A無(wú)法回讀寄存器的數(shù)值，則判定Spacewire電路B的仲裁器發(fā)生了功能中斷。圖3為系統(tǒng)A回讀被測(cè)器件Spacewire電路B的控制寄存器數(shù)據(jù)的示意圖。從圖中可以看出，控制寄存器的數(shù)據(jù)由被測(cè)器件Spacewire電路B的3通道送出到測(cè)試系統(tǒng)A的Spacewire電路A的7通道，最后經(jīng)由9通道送至FPGA芯片A進(jìn)行處理，其中Spacewire電路B的3通道與Spacewire電路A的7通道通過(guò)高速數(shù)據(jù)傳輸線進(jìn)行連接，Spacewire電路A的7和9通道通過(guò)軟件配置控制寄存器實(shí)現(xiàn)連接。圖1是本發(fā)明的單粒子功能中斷判定流程圖，主要思想是利用通訊異常判定功能中斷，該系統(tǒng)的整個(gè)判定流程如下
(I) FPGA配置將SPARC V8的軟核燒寫(xiě)入FPGA內(nèi)部，形成硬件SPARC V8微處理器，方便控制Spacewire電路；(2)通訊通道建立利用SPARC V8處理器A和Spacewire電路A建立通訊聯(lián)系構(gòu)成測(cè)試系統(tǒng)A，利用SPARC V8處理器B和Spacewire電路B建立通訊聯(lián)系構(gòu)成測(cè)試系統(tǒng)B，Spacewire電路A和Spacewire電路B通過(guò)高速數(shù)據(jù)傳輸線建立通訊聯(lián)系構(gòu)成測(cè)試系統(tǒng)A和測(cè)試系統(tǒng)B的數(shù)據(jù)傳輸通道；(3)初始化配置在兩個(gè)測(cè)試系統(tǒng)內(nèi)部，分別利用各自的SPARC V8處理器初始化各自Spacewire電路的寄存器以及通訊通道；(4)開(kāi)始輻照將測(cè)試系統(tǒng)B置于真空罐中，并將粒子束直接轟擊到被測(cè)器件Spacewire 電路 B 上；(5)測(cè)試系統(tǒng)開(kāi)始工作設(shè)定數(shù)據(jù)傳輸路徑為測(cè)試系統(tǒng)A向測(cè)試系統(tǒng)B發(fā)送數(shù)據(jù)，測(cè)試系統(tǒng)B接收到數(shù)據(jù)后將接收到的數(shù)據(jù)再次轉(zhuǎn)發(fā)給測(cè)試系統(tǒng)A ;數(shù)據(jù)傳輸開(kāi)始后，如果測(cè)試系統(tǒng)A無(wú)法向測(cè)試系統(tǒng)B發(fā)送數(shù)據(jù)或者測(cè)試系統(tǒng)A無(wú)法從測(cè)試系統(tǒng)B獲取轉(zhuǎn)發(fā)數(shù)據(jù)，則判斷Spacewire電路B發(fā)生單粒子功能中斷,進(jìn)入下一步；(6)測(cè)試系統(tǒng)A回讀Spacewire電路B的寄存器的信息，如果測(cè)試系統(tǒng)A能夠成功回讀Spacewire電路B的寄存器的信息,則判定Spacewire電路B的寄存器發(fā)生了功能中斷，根據(jù)回讀的Spacewire電路B的控制寄存器和狀態(tài)寄存器的數(shù)據(jù)分析造成功能中斷的原因；如果測(cè)試系統(tǒng)A無(wú)法回讀Spacewire電路B的控制寄存器和狀態(tài)寄存器的信息，則判定Spacewire電路B的仲裁器發(fā)生了功能中斷。由控制寄存器引起的Spacewire電路的功能中斷的分析方法如下Spacewire電路共有O 265個(gè)可見(jiàn)寄存器，其中O是端口寄存器，I 265是控制寄存器，每一個(gè)控制寄存器又都對(duì)應(yīng)一個(gè)狀態(tài)寄存器。如果在輻照過(guò)程中發(fā)生數(shù)據(jù)傳輸功能中斷、大量的數(shù)據(jù)包丟失及大量的數(shù)據(jù)包傳輸錯(cuò)誤，則是路由通道控制寄存器(I 8、11 255)中發(fā)生了硬錯(cuò)誤(即無(wú)法通過(guò)軟件重新配置)造成通道斷鏈、通道錯(cuò)誤鏈接(數(shù)據(jù)包被發(fā)送到錯(cuò)誤的通道)；如果在數(shù)據(jù)包傳輸?shù)倪^(guò)程中發(fā)現(xiàn)數(shù)據(jù)包無(wú)法被接收或者處理器無(wú)法向被測(cè)器件發(fā)送命令，則是由于9或者10路由通道控制寄存器發(fā)生翻轉(zhuǎn)(硬錯(cuò)誤)造成的；256 265的控制寄存器若發(fā)生了硬錯(cuò)誤，也會(huì)造成數(shù)據(jù)傳輸功能中斷，如果電路發(fā)生了功能中斷，且寄存器(O 255)的數(shù)值未發(fā)生翻轉(zhuǎn)，則功能中斷是由控制寄存器(256 265)發(fā)生翻轉(zhuǎn)造成的。在器件發(fā)生功能中斷之后，通過(guò)對(duì)寄存器數(shù)值與初始狀態(tài)的對(duì)比可以確定引發(fā)被測(cè)器件產(chǎn)生功能中斷的原因。(7)重新配置系統(tǒng)如果功能中斷是由9或者10寄存器引起的，則可通過(guò)軟件配置使系統(tǒng)恢復(fù)工作(即跳回步驟(3));如果功能中斷是由其它寄存器或者仲裁器引起的，則需要重新上電并跳回步驟(3)。(8)重復(fù)(3)至(7)的步驟，直到試驗(yàn)結(jié)束；通過(guò)本發(fā)明方法可以準(zhǔn)確地定位Spacewire電路中發(fā)生單粒子功能中斷的模塊。該系統(tǒng)需要完成大量的數(shù)據(jù)傳輸和處理分析，這就需要很大的緩存空間和占用可編程邏輯器件的很多資源，因此，系統(tǒng)的性能需要相應(yīng)高性能的硬件支持。本發(fā)明說(shuō)明書(shū)中未作詳細(xì)描述的內(nèi)容屬本領(lǐng)域技術(shù)人員的公知技術(shù)。
權(quán)利要求
1.一種Spacewire電路單粒子功能中斷測(cè)試方法,其特征在于步驟如下:(1)將SPARCV8的軟核燒寫(xiě)入FPGA內(nèi)部，形成硬件SPARC V8微處理器；(2)利用SPARCV8處理器A和Spacewire電路A建立通訊聯(lián)系構(gòu)成測(cè)試系統(tǒng)A，利用SPARC V8處理器B和Spacewire電路B建立通訊聯(lián)系構(gòu)成測(cè)試系統(tǒng)B, Spacewire電路A和Spacewire電路B建立通訊聯(lián)系構(gòu)成測(cè)試系統(tǒng)A和測(cè)試系統(tǒng)B的數(shù)據(jù)傳輸通道；(3)在兩個(gè)測(cè)試系統(tǒng)內(nèi)部，分別利用各自的SPARCV8處理器初始化各自Spacewire電路的寄存器以及通訊通道；(4)將Spacewire電路B置于粒子輻照環(huán)境中；(5)設(shè)定數(shù)據(jù)傳輸路徑為測(cè)試系統(tǒng)A向測(cè)試系統(tǒng)B發(fā)送數(shù)據(jù)，測(cè)試系統(tǒng)B接收到數(shù)據(jù)后將接收到的數(shù)據(jù)再次轉(zhuǎn)發(fā)給測(cè)試系統(tǒng)A ;數(shù)據(jù)傳輸開(kāi)始后，如果測(cè)試系統(tǒng)A無(wú)法向測(cè)試系統(tǒng)B發(fā)送數(shù)據(jù)或者測(cè)試系統(tǒng)A無(wú)法從測(cè)試系統(tǒng)B獲取轉(zhuǎn)發(fā)數(shù)據(jù)，則判斷Spacewire電路B發(fā)生單粒子功能中斷，進(jìn)入下一步；(6)測(cè)試系統(tǒng)A回讀Spacewire電路B的寄存器的信息，如果測(cè)試系統(tǒng)A能夠成功回讀Spacewire電路B的寄存器的信息,則判定Spacewire電路B的寄存器發(fā)生了功能中斷，根據(jù)回讀的Spacewire電路B的控制寄存器的數(shù)據(jù)分析造成功能中斷的原因；如果測(cè)試系統(tǒng)A無(wú)法回讀Spacewire電路B的控制寄存器的信息,則判定Spacewire電路B的仲裁器發(fā)生了功能中斷。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種Spacewire電路單粒子功能中斷測(cè)試方法,其特征在于:所述步驟(6)中根據(jù)回讀的Spacewire電路B的控制寄存器的數(shù)據(jù)分析造成功能中斷的原因的方法為:如果在輻照過(guò)程中發(fā)生數(shù)據(jù)傳輸功能中斷、大量的數(shù)據(jù)包丟失或者大量的數(shù)據(jù)包傳輸錯(cuò)誤，則判斷Spacewire電路B的編號(hào)為I 8以及11 255的控制寄存器發(fā)生了單粒子翻轉(zhuǎn)；如果在數(shù)據(jù) 包傳輸?shù)倪^(guò)程中發(fā)現(xiàn)數(shù)據(jù)包無(wú)法被接收或者無(wú)法向Spacewire電路B發(fā)送命令，則判斷Spacewire電路B的編號(hào)為9或者10的控制寄存器發(fā)生了單粒子翻轉(zhuǎn)；如果在福照過(guò)程中發(fā)生數(shù)據(jù)傳輸功能中斷且Spacewire電路B的編號(hào)為O 255的控制寄存器未發(fā)現(xiàn)異常，則判斷Spacewire電路B的編號(hào)為256 265的控制寄存器發(fā)生了單粒子翻轉(zhuǎn)。
全文摘要
一種Spacewire電路單粒子功能中斷測(cè)試方法，步驟為首先利用SPARCV8處理器和Spacewire電路分別建立兩套測(cè)試系統(tǒng)，兩套測(cè)試系統(tǒng)通過(guò)各自的Spacewire電路建立數(shù)據(jù)傳輸通道。然后將Spacewire電路B置于粒子輻照環(huán)境中。設(shè)定數(shù)據(jù)傳輸路徑為測(cè)試系統(tǒng)A向測(cè)試系統(tǒng)B發(fā)送數(shù)據(jù)，測(cè)試系統(tǒng)B接收到數(shù)據(jù)后將接收到的數(shù)據(jù)再次轉(zhuǎn)發(fā)給測(cè)試系統(tǒng)A；數(shù)據(jù)傳輸開(kāi)始后，如果測(cè)試系統(tǒng)A無(wú)法向測(cè)試系統(tǒng)B發(fā)送數(shù)據(jù)或者測(cè)試系統(tǒng)A無(wú)法從測(cè)試系統(tǒng)B獲取轉(zhuǎn)發(fā)數(shù)據(jù)，則判斷Spacewire電路B發(fā)生單粒子功能中斷，根據(jù)回讀的Spacewire電路B的控制寄存器的數(shù)據(jù)分析造成功能中斷的原因。本發(fā)明方法可為開(kāi)展單粒子效應(yīng)與微電子器件相關(guān)研究提供依據(jù)。
文檔編號(hào)G01R31/317GK103076557SQ201210512499
公開(kāi)日2013年5月1日 申請(qǐng)日期2012年11月30日 優(yōu)先權(quán)日2012年11月30日
發(fā)明者陳莉明, 董攀, 鄭宏超, 飛海東, 王興友, 祝長(zhǎng)民, 范隆, 岳素格, 杜守剛, 馬建華, 王煌偉, 陳茂鑫, 文圣泉, 畢瀟 申請(qǐng)人:北京時(shí)代民芯科技有限公司, 北京微電子技術(shù)研究所