專利名稱：一種布線檢測方法及檢測系統(tǒng)的制作方法
技術領域：
本發(fā)明涉及液晶制造領域，尤其涉及一種布線檢測方法及檢測系統(tǒng)。
背景技術：
隨著印刷電路板(Printed Circuit Board ;PCB)工藝的不斷進步，印刷電路板布 線的線寬和線間距越來越小，以便滿足不同產(chǎn)品的電路板需求和節(jié)省電路板的寬間。但是 由于布線的寬度及線間的間距都非常小，容易發(fā)生斷路或短路的現(xiàn)象，從而對生產(chǎn)造成困 擾。為了解決這一問題，現(xiàn)有技術中一般采用電學測試的方法，以檢測電路板布線是否存在 短路或斷路的情況。
但是電學測試的方法只能檢測電路板布線是否存在短路或斷路，而無法反饋出電 路板上布線中存在短路或斷路缺陷的具體坐標位置，進而造成不良品無法及時發(fā)現(xiàn)，影響 產(chǎn)線的生產(chǎn)效率。發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是提供一種方法布線檢測方法及檢測系統(tǒng)，以解決問題現(xiàn)有技術中 電學測試無法檢測反饋電路板缺陷具體位置的問題。
本發(fā)明的目的是通過以下技術方案實現(xiàn)的
本發(fā)明實施例提供一種布線檢測方法，步驟如下
預先根據(jù)金板建立用于測試的坐標系和數(shù)據(jù)信息，所述數(shù)據(jù)信息包括用于檢測布 線斷路的測試點的坐標、用于檢測所述布線與相鄰布線之間短路的測試點的坐標組和用于 識別布線的預設光照反饋值；
根據(jù)所述坐標系、所述測試點的坐標和所述預設光照反饋值，光學掃描待檢測電 路板的當前待檢測布線，判斷所述當前待檢測布線在所述測試點的坐標位置是否斷路；以 及，
根據(jù)所述坐標系、所述測試點的坐標組和所述預設光照反饋值，光學掃描所述當 前待檢測布線至相鄰待檢測布線，判斷所述當前待檢測布線與所述相鄰待檢測布線之間是 否短路。
優(yōu)選的，預先在所述待檢測電路板上設置機讀碼，并將所述機讀碼的坐標保存在 所述數(shù)據(jù)信息中，所述機讀碼用于標識所述待檢測電路板上的待檢測布線。
優(yōu)選的，檢測所述當前待檢測布線斷路的步驟如下
根據(jù)所述坐標系查找所述機讀碼的坐標，以命中所述當前待檢測布線；
根據(jù)所述待檢測布線的所述測試點的坐標，光學掃描待檢測電路板的所述當前待 檢測布線，當掃描到的光照反饋值是所述預設光照反饋值時，所述當前待檢測布線在所述 測試點的坐標的位置正常；掃描到的光照反饋值不是所述預設光照反饋值時，所述當前待 檢測布線在所述測試點的坐標的位置斷路。
優(yōu)選的，檢測所述當前待檢測布線與相鄰待檢測布線之間短路的步驟如下
根據(jù)所述坐標系查找所述機讀碼的坐標，以命中所述當前待檢測布線；根據(jù)所述測試點的坐標組，光學掃描待檢測電路板的所述當前待檢測布線至所述相鄰待檢測布線，當掃描到的所述坐標組之間的所述光照反饋值不具有所述預設光照反饋值時，所述當前待檢測布線與所述相鄰待檢測布線在所述測試點的坐標組之間未短路；當掃描到的所述坐標組之間的所述光照反饋值具有所述預設光照反饋值時，所述當前待檢測布線與所述相鄰待檢測布線在所述測試點的坐標組之間短路。優(yōu)選的，還包括根據(jù)所述當前待檢測布線在所述測試點的坐標位置是否斷路的判斷結果，以及所述當前待檢測布線與所述相鄰待檢測布線之間在所述測試點的坐標組之間是否短路的結判斷果，輸出掃描數(shù)據(jù)或掃描圖形。優(yōu)選的，所述機讀碼為所述光學檢測設備能夠識別的二維碼或掩膜板圖形。本發(fā)明的有益效果如下通過光學檢測電路板布線，實現(xiàn)布線缺陷位置的準確定位，提高產(chǎn)線良品率和生產(chǎn)效率。本發(fā)明實施例提供一種布線檢測系統(tǒng)，預設單元，用于預先根據(jù)金板建立用于測試的坐標系和數(shù)據(jù)信息，所述數(shù)據(jù)信息包括用于檢測布線斷路的測試點的坐標、用于檢測所述布線與相鄰布線之間短路的測試點的坐標組和用于識別布線的預設光照反饋值；光學掃描單元，用于根據(jù)所述坐標系、所述測試點的坐標和所述預設光照反饋值，掃描待檢測電路板的當前待檢測布線；或者，根據(jù)所述坐標系、所述測試點的坐標組和所述預設光照反饋值，掃描所述當前待檢測布線至相鄰待檢測布線；判斷單元，用于判斷所述當前待檢測布線在所述測試點的坐標位置是否斷路；或者，用于判斷所述當前待檢測布線與所述相鄰待檢測布線之間是否短路。優(yōu)選的，所述預設單元還用于預先在所述數(shù)據(jù)信息中設置機讀碼的坐標；其中，所述機讀碼設置在所述待檢測電路板上，用于標識所述待檢測電路板上的待檢測布線。優(yōu)選的，還包括所述光學掃描單元，具體用于根據(jù)所述坐標系查找所述機讀碼的坐標，以命中所述當前待檢測布線；根據(jù)所述待檢測布線的所述測試點的坐標，掃描待檢測電路板的所述當前待檢測布線；所述判斷單元，具體用于當掃描到的光照反饋值是所述預設光照反饋值時，所述當前待檢測布線在所述測試點的坐標的位置正常；掃描到光照反饋值不是所述預設光照反饋值時，所述當前待檢測布線在所述測試點的坐標的位置斷路。優(yōu)選的，還包括所述光學掃描單元，具體用于根據(jù)所述坐標系查找所述機讀碼的坐標，以命中所述當前待檢測布線；根據(jù)所述測試點的坐標組，掃描待檢測電路板的所述當前待檢測布線至所述相鄰待檢測布線；所述判斷單元，具體用于當掃描到的所述坐標組之間的所述光照反饋值不具有所述預設光照反饋值時，所述當前待檢測布線與所述相鄰待檢測布線在所述測試點的坐標組之間未短路；當掃描到的所述坐標組之間的所述光照反饋值具有所述預設光照反饋值時，所述當前待檢測布線與所述相鄰待檢測布線在所述測試點的坐標組之間短路。優(yōu)選的，還包括輸出單元，用于根據(jù)所述當前待檢測布線在所述測試點的坐標位置是否斷路的判斷結果，以及所述當前待檢測布線與所述相鄰待檢測布線之間在所述測試點的坐標組之間是否短路的結判斷果，輸出掃描數(shù)據(jù)或掃描圖形。本發(fā)明的有益效果如下通過光學檢測電路板布線，實現(xiàn)布線缺陷位置的準確定位，提高產(chǎn)線良品率和生產(chǎn)效率。


圖1為本發(fā)明實施例一所述布線檢測方法的流程圖；圖2為本發(fā)明實施例二所述布線檢測原理的示意圖；圖3為本發(fā)明實施例二所述布線檢測反饋的示意圖；圖4為本發(fā)明實施例三所述布線檢測系統(tǒng)的結構圖。
具體實施例方式下面結合說明書附圖對本發(fā)明實施例的實現(xiàn)過程進行詳細說明。本發(fā)明實施例一，提供一種布線檢測方法，如圖1所示，步驟如下步驟S101，預先根據(jù)金板建立用于測試的坐標系和數(shù)據(jù)信息，數(shù)據(jù)信息包括用于檢測布線斷路的測試點的坐標、用于檢測布線與相鄰布線之間短路的測試點的坐標組和用于識別布線的預設光照反饋值；步驟S102，根據(jù)坐標系、測試點的坐標和光照反饋值，光學掃描待檢測電路板的當前待檢測布線，判斷當前待檢測布線在測試點的坐標位置是否斷路；以及，步驟S103，根據(jù)坐標系、測試點的坐標組和預設光照反饋值，光學掃描當前待檢測布線至相鄰待檢測布線，判斷當前待檢測布線與相鄰待檢測布線之間是否短路。優(yōu)選的，預先在待檢測電路板上設置機讀碼，并將機讀碼的坐標保存在數(shù)據(jù)信息中，機讀碼用于標識待檢測電路板上的待檢測布線。優(yōu)選的，檢測當前待檢測布線斷路的步驟如下根據(jù)坐標系查找機讀碼的坐標，以命中當前待檢測布線；根據(jù)待檢測布線的測試點的坐標，光學掃描待檢測電路板的當前待檢測布線，當掃描到的光照反饋值是預設光照反饋值時，當前待檢測布線在測試點的坐標的位置正常；掃描到的光照反饋值不是預設光照反饋值時，當前待檢測布線在測試點的坐標的位置斷路。優(yōu)選的，檢測當前待檢測布線與相鄰待檢測布線之間短路的步驟如下根據(jù)坐標系查找機讀碼的坐標，以命中當前待檢測布線；根據(jù)測試點的坐標組，光學掃描待檢測電路板的當前待檢測布線至相鄰待檢測布線，當掃描到的坐標組之間的光照反饋值不具有預設光照反饋值時，當前待檢測布線與相鄰待檢測布線在測試點的坐標組之間未短路；當掃描到的坐標組之間的光照反饋值具有預設光照反饋值時，當前待檢測布線與相鄰待檢測布線在測試點的坐標組之間短路。優(yōu)選的，還包括根據(jù)當前待檢測布線在測試點的坐標位置是否斷路的判斷結果，以及當前待檢測布線與相鄰待檢測布線之間在測試點的坐標組之間是否短路的結判斷果，輸出掃描數(shù)據(jù)或掃描圖形。優(yōu)選的，機讀碼為光學檢測設備能夠識別的二維碼或掩膜板圖形。
本發(fā)明的有益效果如下通過光學檢測電路板布線，實現(xiàn)布線缺陷位置的準確定位，提高產(chǎn)線良品率和生產(chǎn)效率。本發(fā)明實施例二，根據(jù)本發(fā)明提供的方法對電路板布線進行檢測，如圖2所示，包括待檢測布線1，機讀碼2，缺陷3和缺陷4。其中缺陷3為斷路缺陷，缺陷4為短路缺陷。步驟一，首先根據(jù)金板建立用于測試的坐標系和數(shù)據(jù)信息，數(shù)據(jù)信息包括用于檢測布線斷路的測試點的坐標、用于檢測布線與相鄰布線之間短路的測試點的坐標組和用于識別布線的預設光照反饋值。為了方便說明，只例舉幾個檢測點，其中，測試點11至14，坐標分另Ij為(30，50 )、( 50，70 )、( 95，50 )和(155，50 )，并且測試點13和測試點14的坐標組成坐標組(95, 50), (155, 50)。同時,本發(fā)明實施例中，光照反饋值為電路板布線的光反射強度值或光透過強度值，反之，也可以設置布線區(qū)域中除布線外的空白區(qū)域的光反射強度值或光透過強度值作為檢測的光照反饋值，與本發(fā)明實施例的方法相似，不再重復舉例。需要說明的是，金板為無缺陷的電路板，在本方案中具體指布線區(qū)域沒有缺陷的基板，可以作為標準基板來使用；坐標系為金板和待檢測電路板統(tǒng)一的坐標系，這樣就可以根據(jù)這一統(tǒng)一的坐標系在待檢測電路板上快速定位檢測的起始位和測試點的坐標；用于檢測布線與相鄰布線之間短路的測試點的坐標組可以包含測試點的橫縱坐標、同一縱坐標下的橫坐標或同一橫坐標下的縱坐標。第一種情況，光學掃描的過程可以沿兩坐標組之間的連線進行掃描，例如，坐標組(200，120 )和(220，140 )，此時在兩個坐標點之間進行光學掃描；第二種情況，若縱坐標相同，光學掃描的過程可以沿與橫坐標平行的連線進行掃描，例如，縱坐標均為120，橫坐標組(200，220)，此時，在縱坐標為120，橫坐標由200至220進行光學掃描；第三種情況，若橫坐標相同，光學掃描過程可以沿與縱坐標平行的連線進行掃描，例如，橫坐標均為220，縱坐標組(120，140)，此時，在橫坐標為220，縱坐標由120至140進行光學掃描。當然坐標組也可以為(200，120)和(200，140)，或(200，120)和(220，120)，此時與第二、三種情況的數(shù)據(jù)意義相同。當然，在實際操作中，需要統(tǒng)一坐標組的設置。以上舉例數(shù)值均為了說明，并未對本發(fā)明的方案做任何限定。在此實施例中，應用第一種情況進行舉例，其它類似的能夠?qū)崿F(xiàn)本發(fā)明的方式不再重復舉例。其中，待檢測電路板中的坐標原點0 (0，0)，第I條布線機讀碼坐標(0，-5)，第2條布線機讀碼坐標(65，-5)，第3條布線機讀碼坐標(130，-5)，第4條布線機讀碼坐標(195，-5)，第5條布線機讀碼坐標(260，-5)。步驟二，根據(jù)坐標系查找第I條布線機讀碼的坐標(0，-5)，并命中第I條布線。步驟三，根據(jù)第I條布線的測試點11的坐標(30，50)，掃描到的光照反饋值不是預設光照反饋值，從而確定第I條布線在測試點11存在斷路故障；根據(jù)第I條布線的測試點12的坐標(50，70)，掃描到的光照反饋值是預設光照反饋值，從而確定第I條布線在測試點12正常。步驟四，根據(jù)坐標系查找第2條布線機讀碼的坐標(65，_5)，并命中第2條布線，同時也可以根據(jù)第3條布線機讀碼的坐標(130，-5)驗證是否可以命中第3條布線。步驟五，根據(jù)第2條布線的測試點13和測試點14的坐標組(95，50)和(155，50)，由坐標(95，50)至坐標(155，50)進行光學掃描，掃描過程中獲得的光照反饋值全部或部分為預設的光照反饋值；因此判斷第2條布線與第3條布線在測試點13和測試點14之間短路。
根據(jù)步驟一至步驟五，對圖2所示的電路板布線進行掃描，其中，根據(jù)固定的縱坐標增量，橫向掃描布線I包括的第I條布線至第5條布線，可以得到如圖3所示的圖形，其中橫線所示部分為布線描述反饋結果，兩列橫線之間的空白列為電路板中兩條相鄰布線之間的空白區(qū)域，得到如圖3所示的缺陷3和缺陷4。本發(fā)明實施例提供一種布線檢測系統(tǒng)，如圖4所示，包括預設單元301，用于預先根據(jù)金板建立用于測試的坐標系和數(shù)據(jù)信息，數(shù)據(jù)信息包括用于檢測布線斷路的測試點的坐標、用于檢測布線與相鄰布線之間短路的測試點的坐標組和用于識別布線的預設光照反饋值；光學掃描單元302，用于根據(jù)坐標系、測試點的坐標和預設光照反饋值，掃描待檢測電路板的當前待檢測布線；或者，根據(jù)坐標系、測試點的坐標組和預設光照反饋值，掃描當前待檢測布線至相鄰待檢測布線；判斷單元303，用于判斷當前待檢測布線在測試點的坐標位置是否斷路；或者，用于判斷當前待檢測布線與相鄰待檢測布線之間是否短路。優(yōu)選的，預設單元301還用于預先在數(shù)據(jù)信息中設置機讀碼的坐標；其中，機讀碼設置在待檢測電路板上，用于標識待檢測電路板上的待檢測布線。優(yōu)選的，還包括光學掃描單元302，具體用于根據(jù)坐標系查找機讀碼的坐標，以命中當前待檢測布線；根據(jù)待檢測布線的測試點的坐標，掃描待檢測電路板的當前待檢測布線；判斷單元303，具體用于當掃描到的光照反饋值是預設光照反饋值時，當前待檢測布線在測試點的坐標的位置正常；掃描到光照反饋值不是預設光照反饋值時，當前待檢測布線在測試點的坐標的位置斷路。優(yōu)選的，還包括光學掃描單元302，具體用于根據(jù)坐標系查找機讀碼的坐標，以命中當前待檢測布線；根據(jù)測試點的坐標組，掃描待檢測電路板的當前待檢測布線至相鄰待檢測布線；判斷單元303，具體用于當掃描到的坐標組之間的光照反饋值不具有預設光照反饋值時，當前待檢測布線與相鄰待檢測布線在測試點的坐標組之間未短路；當掃描到的坐標組之間的光照反饋值具有預設光照反饋值時，當前待檢測布線與相鄰待檢測布線在測試點的坐標組之間短路。優(yōu)選的，還包括輸出單元304，用于根據(jù)當前待檢測布線在測試點的坐標位置是否斷路的判斷結果，以及當前待檢測布線與相鄰待檢測布線之間在測試點的坐標組之間是否短路的結判斷果，輸出掃描數(shù)據(jù)或掃描圖形。本發(fā)明的有益效果如下通過光學檢測電路板布線，實現(xiàn)布線缺陷位置的準確定位，提高產(chǎn)線良品率和生產(chǎn)效率。顯然，本領域的技術人員可以對本發(fā)明進行各種改動和變型而不脫離本發(fā)明的精神和范圍。這樣，倘若本發(fā)明的這些修改和變型屬于本發(fā)明權利要求及其等同技術的范圍之內(nèi)，則本發(fā)明也意圖包含這些改動和變型在內(nèi)。
權利要求
1.一種布線檢測方法，其特征在于，步驟如下 預先根據(jù)金板建立用于測試的坐標系和數(shù)據(jù)信息，所述數(shù)據(jù)信息包括用于檢測布線斷路的測試點的坐標、用于檢測所述布線與相鄰布線之間短路的測試點的坐標組和用于識別布線的預設光照反饋值； 根據(jù)所述坐標系、所述測試點的坐標和所述預設光照反饋值，光學掃描待檢測電路板的當前待檢測布線，判斷所述當前待檢測布線在所述測試點的坐標位置是否斷路；以及， 根據(jù)所述坐標系、所述測試點的坐標組和所述預設光照反饋值，光學掃描所述當前待檢測布線至相鄰待檢測布線，判斷所述當前待檢測布線與所述相鄰待檢測布線之間是否短路。
2.如權利要求1所述的方法，其特征在于，預先在所述待檢測電路板上設置機讀碼，并將所述機讀碼的坐標保存在所述數(shù)據(jù)信息中，所述機讀碼用于標識所述待檢測電路板上的待檢測布線。
3.如權利要求2所述的方法，其特征在于，檢測所述當前待檢測布線斷路的步驟如下 根據(jù)所述坐標系查找所述機讀碼的坐標，以命中所述當前待檢測布線； 根據(jù)所述待檢測布線的所述測試點的坐標，光學掃描待檢測電路板的所述當前待檢測布線，當掃描到的光照反饋值是所述預設光照反饋值時，所述當前待檢測布線在所述測試點的坐標的位置正常；掃描到的光照反饋值不是所述預設光照反饋值時，所述當前待檢測布線在所述測試點的坐標的位置斷路。
4.如權利要求2所述的方法，其特征在于，檢測所述當前待檢測布線與相鄰待檢測布線之間短路的步驟如下 根據(jù)所述坐標系查找所述機讀碼的坐標，以命中所述當前待檢測布線； 根據(jù)所述測試點的坐標組，光學掃描待檢測電路板的所述當前待檢測布線至所述相鄰待檢測布線，當掃描到的所述坐標組之間不具有所述預設光照反饋值時，所述當前待檢測布線與所述相鄰待檢測布線在所述測試點的坐標組之間未短路；當掃描到的所述坐標組之間的所述光照反饋值具有所述預設光照反饋值時，所述當前待檢測布線與所述相鄰待檢測布線在所述測試點的坐標組之間短路。
5.如權利要求3或4所述的方法，其特征在于，還包括根據(jù)所述當前待檢測布線在所述測試點的坐標位置是否斷路的判斷結果，以及所述當前待檢測布線與所述相鄰待檢測布線之間在所述測試點的坐標組之間是否短路的結判斷果，輸出掃描數(shù)據(jù)或掃描圖形。
6.如權利要求2所述的方法，其特征在于，所述機讀碼為所述光學檢測設備能夠識別的二維碼或掩膜板圖形。
7.一種布線檢測系統(tǒng)，其特征在于，包括 預設單元，用于預先根據(jù)金板建立用于測試的坐標系和數(shù)據(jù)信息，所述數(shù)據(jù)信息包括用于檢測布線斷路的測試點的坐標、用于檢測所述布線與相鄰布線之間短路的測試點的坐標組和用于識別布線的預設光照反饋值； 光學掃描單元，用于根據(jù)所述坐標系、所述測試點的坐標和所述預設光照反饋值，掃描待檢測電路板的當前待檢測布線；或者，根據(jù)所述坐標系、所述測試點的坐標組和所述預設光照反饋值，掃描所述當前待檢測布線至相鄰待檢測布線； 判斷單元，用于判斷所述當前待檢測布線在所述測試點的坐標位置是否斷路；或者，用于判斷所述當前待檢測布線與所述相鄰待檢測布線之間是否短路。
8.如權利要求7所述的系統(tǒng)，其特征在于，所述預設單元還用于預先在所述數(shù)據(jù)信息中設置機讀碼的坐標；其中，所述機讀碼設置在所述待檢測電路板上，用于標識所述待檢測電路板上的待檢測布線。
9.如權利要求8所述的系統(tǒng)，其特征在于，還包括 所述光學掃描單元，具體用于根據(jù)所述坐標系查找所述機讀碼的坐標，以命中所述當前待檢測布線；根據(jù)所述待檢測布線的所述測試點的坐標，掃描待檢測電路板的所述當前待檢測布線； 所述判斷單元，具體用于當掃描到的光照反饋值是所述預設光照反饋值時，所述當前待檢測布線在所述測試點的坐標的位置正常；掃描到光照反饋值不是所述預設光照反饋值時，所述當前待檢測布線在所述測試點的坐標的位置斷路。
10.如權利要求8所述的系統(tǒng)，其特征在于，還包括 所述光學掃描單元，具體用于根據(jù)所述坐標系查找所述機讀碼的坐標，以命中所述當前待檢測布線；根據(jù)所述測試點的坐標組，掃描待檢測電路板的所述當前待檢測布線至所述相鄰待檢測布線； 所述判斷單元，具體用于當掃描到的所述坐標組之間的所述光照反饋值不具有所述預設光照反饋值時，所述當前待檢測布線與所述相鄰待檢測布線在所述測試點的坐標組之間未短路；當掃描到的所述坐標組之間的所述光照反饋值具有所述預設光照反饋值時，所述當前待檢測布線與所述相鄰待檢測布線在所述測試點的坐標組之間短路。
11.如權利要求9或10所述的系統(tǒng)，其特征在于，還包括輸出單元，用于根據(jù)所述當前待檢測布線在所述測試點的坐標位置是否斷路的判斷結果，以及所述當前待檢測布線與所述相鄰待檢測布線之間在所述測試點的坐標組之間是否短路的結判斷果，輸出掃描數(shù)據(jù)或掃描圖形。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種布線檢測方法及檢測系統(tǒng)，方法步驟如下預先根據(jù)金板建立用于測試的坐標系和數(shù)據(jù)信息，數(shù)據(jù)信息包括用于檢測布線斷路的測試點的坐標、用于檢測布線與相鄰布線之間短路的測試點的坐標組和用于識別布線的預設光照反饋值；根據(jù)坐標系、測試點的坐標和預設光照反饋值，掃描待檢測電路板的當前待檢測布線，判斷當前待檢測布線在測試點的坐標位置是否斷路；以及，根據(jù)坐標系、測試點的坐標組和預設光照反饋值，掃描當前待檢測布線至相鄰待檢測布線，判斷當前待檢測布線與相鄰待檢測布線之間是否短路。本發(fā)明的有益效果如下通過光學檢測電路板布線，實現(xiàn)布線缺陷位置的準確定位，提高產(chǎn)線良品率和生產(chǎn)效率。
文檔編號G01N21/956GK103033521SQ20121054032
公開日2013年4月10日 申請日期2012年12月13日 優(yōu)先權日2012年12月13日
發(fā)明者王守坤, 孫亮, 李梁梁, 郭會斌, 劉曉偉 申請人:京東方科技集團股份有限公司, 北京京東方顯示技術有限公司