磁共振系統(tǒng)、射頻線圈測試裝置及通道的匹配方法和裝置制造方法
【專利摘要】一種磁共振系統(tǒng)、射頻線圈測試裝置及通道的匹配方法和裝置，射頻線圈測試通道至少包括一個(gè)，各射頻線圈測試通道的接口通過連接線與各射頻線圈通道的接頭連接，所述射頻線圈測試通道的匹配方法包括：在所述各射頻線圈通道的接頭處接入不同阻值的取樣電阻，得到所述各射頻線圈測試通道的取樣值；對(duì)所述各射頻線圈測試通道進(jìn)行測量，得到所述各射頻線圈測試通道的測試數(shù)據(jù)；將所述各射頻線圈測試通道的測試數(shù)據(jù)與所述各射頻線圈通道的取樣值進(jìn)行匹配，得到匹配結(jié)果；根據(jù)所述匹配結(jié)果重新定義所述各射頻線圈測試通道。本技術(shù)方案提供的射頻線圈測試通道的匹配方法和裝置，能夠提高匹配效率，且匹配時(shí)不會(huì)出錯(cuò)，有利于射頻線圈的維護(hù)。
【專利說明】磁共振系統(tǒng)、射頻線圈測試裝置及通道的匹配方法和裝置
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及磁共振成像【技術(shù)領(lǐng)域】，特別涉及一種磁共振系統(tǒng)、射頻線圈測試裝置及通道的匹配方法和裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]磁共振成像(MRI,Magnetic Resonance Imaging)作為核磁共振應(yīng)用的重要領(lǐng)域，由于其對(duì)人體軟組織有極好的分辨力、成像參數(shù)能提供豐富的診斷信息、對(duì)人體沒有電離輻射損傷等諸多優(yōu)點(diǎn)，磁共振成像系統(tǒng)已成為醫(yī)學(xué)臨床診斷的主要工具之一。作為磁共振系統(tǒng)中接收信號(hào)的核心部件，射頻線圈在直接接觸人體使用前，需要利用射頻線圈測試裝置對(duì)射頻線圈進(jìn)行包括諸如傳輸特性、射頻線圈類型等性能測試，確保經(jīng)過性能測試后的射頻線圈正常使用。
[0003]在利用射頻線圈測試裝置對(duì)射頻線圈進(jìn)行測試或利用射頻線圈對(duì)人體進(jìn)行測試之前，需要將射頻線圈測試裝置或磁共振系統(tǒng)中的射頻線圈測試通道通過線纜與射頻線圈對(duì)應(yīng)的通道連接起來。根據(jù)通道功能的不同，射頻線圈測試通道可分為射頻通道、直流供電通道和線圈編碼通道，每種類型的測試通道都包括多個(gè)。其中，射頻通道用于傳輸射頻線圈單元的控制信號(hào)，直流供電通道用于給與射頻線圈連接的放大器或其他單元提供工作電壓，線圈編碼通道用于連接射頻線圈和射頻線圈測試裝置或磁共振系統(tǒng)中的線圈編碼模塊。
[0004]以利 用射頻線圈測試裝置對(duì)射頻線圈進(jìn)行測試為例，圖1所示為射頻線圈通道與射頻線圈測試裝置中對(duì)應(yīng)的射頻線圈測試通道連接的示意圖。參考圖1，射頻線圈通道接頭面板11上包括與射頻通道1、射頻通道2、…、射頻通道m(xù)對(duì)應(yīng)的射頻通道接頭(RF1、RF2、…、RFm)，與直流供電通道1、直流供電通道2、.…、直流供電通道η對(duì)應(yīng)的直流供電通道接頭(DC1、DC2、…、DCn)，與線圈編碼通道1、線圈編碼通道2、…、線圈編碼通道ρ對(duì)應(yīng)的線圈編碼通道接頭(CODE 1、C0DE2、....、CODEp )，相應(yīng)地，射頻線圈測試裝置的印制電路板(PCB,Printed Circuit Board) 12 上包括 m 個(gè)射頻通道接口(rf l、rf2、…、rfm),n 個(gè)直流供電通道接口(del、dc2、…、dcn), ρ個(gè)線圈編碼通道接口(codel、code2、…、codep)。在對(duì)射頻線圈進(jìn)行測試前，通過線纜將射頻線圈測試裝置的印制電路板12上的接口與射頻線圈通道接頭面板11上的接頭連接起來，以實(shí)現(xiàn)射頻線圈測試裝置中的射頻線圈測試通道與射頻線圈對(duì)應(yīng)的通道連接?，F(xiàn)有技術(shù)中，通過識(shí)別連接線的顏色對(duì)通道進(jìn)行匹配，例如，連接射頻線圈通道接頭面板11上的射頻通道接頭RFl的連接線為白色，那么這根白色的連接線只能與射頻線圈測試裝置的印制電路板12上對(duì)應(yīng)的射頻通道接口 rfl連接。
[0005]在對(duì)射頻線圈測試通道匹配的過程中，由于需要對(duì)多根連接線的顏色進(jìn)行識(shí)別，匹配效率較低。并且，由于連接線的數(shù)量較多，操作時(shí)容易造成射頻線圈測試通道匹配錯(cuò)誤，不利于射頻線圈維護(hù)。
[0006]更多關(guān)于通道匹配的技術(shù)方案可以參考申請(qǐng)?zhí)枮?01010610184.5、發(fā)明名稱為多通道射頻相位匹配控制裝置和方法的中國專利申請(qǐng)文件。
【發(fā)明內(nèi)容】

[0007]本發(fā)明解決的是對(duì)射頻線圈測試通道進(jìn)行匹配時(shí)匹配效率低、不利于射頻線圈維護(hù)的問題。
[0008]為解決上述問題，本發(fā)明提供了一種射頻線圈測試通道的匹配方法，所述射頻線圈測試通道至少包括一個(gè)，各射頻線圈測試通道的接口通過連接線與各射頻線圈通道的接頭連接，所述射頻線圈測試通道的匹配方法包括:在所述各射頻線圈通道的接頭處接入不同阻值的取樣電阻，得到所述各射頻線圈測試通道的取樣值；對(duì)所述各射頻線圈測試通道進(jìn)行測量，得到所述各射頻線圈測試通道的測試數(shù)據(jù)；將所述各射頻線圈測試通道的測試數(shù)據(jù)與所述各射頻線圈測試通道的取樣值進(jìn)行匹配，得到匹配結(jié)果；根據(jù)所述匹配結(jié)果，重新定義所述各射頻線圈測試通道。
[0009]可選的，所述射頻線圈測試通道為射頻通道，所述各射頻線圈測試通道的取樣值為所述各射頻線圈測試通道上的電壓與所述各射頻線圈通道的接頭處接入的取樣電阻的比值。
[0010]可選的，所述射頻線圈測試通道為直流供電通道，所述各射頻線圈測試通道的取樣值為所述各射頻線圈測試通道上的電壓與所述各射頻線圈通道的接頭處接入的取樣電阻的比值。
[0011]可選的，所述對(duì)所述各射頻線圈測試通道進(jìn)行測量，得到所述各射頻線圈測試通道的測試數(shù)據(jù)包括:將所述各射頻線圈測試通道的電流信號(hào)轉(zhuǎn)換成電壓信號(hào)；對(duì)所述電壓信號(hào)進(jìn)行模數(shù)轉(zhuǎn)換，得到所述測試數(shù)據(jù)。
[0012]可選的，所述射頻線圈測試通道為線圈編碼通道，所述各射頻線圈測試通道的取樣值為所述各射頻線圈通道的接頭處接入的取樣電阻的識(shí)別碼。
[0013]可選的，所述測試數(shù)據(jù)為所述取樣電阻的識(shí)別碼。
[0014]可選的，所述識(shí)別碼是依據(jù)所述各射頻線圈通道的接頭處接入的取樣電阻的阻值預(yù)先定義的。
[0015]為解決上述問題，本發(fā)明還提供了一種射頻線圈測試通道的匹配裝置，所述射頻線圈測試通道至少包括一個(gè)，各射頻線圈測試通道的接口通過連接線與各射頻線圈通道的接頭連接，所述射頻線圈測試通道的匹配裝置包括:存儲(chǔ)單元，用于存儲(chǔ)在所述各射頻線圈通道的接頭處接入不同阻值的取樣電阻后得到的所述各射頻線圈測試通道的取樣值；測量單元，用于對(duì)所述各射頻線圈測試通道進(jìn)行測量，得到所述各射頻線圈測試通道的測試數(shù)據(jù)；匹配單元，用于將所述測量單元測量的所述各射頻線圈測試通道的測試數(shù)據(jù)與所述存儲(chǔ)單元存儲(chǔ)的所述各射頻線圈測試通道的取樣值進(jìn)行匹配，得到匹配結(jié)果；定義單元，用于根據(jù)所述匹配單元得到的匹配結(jié)果，重新定義所述各射頻線圈測試通道。
[0016]可選的，所述測量單元包括:電流電壓轉(zhuǎn)換單元，用于將所述各射頻線圈測試通道的電流信號(hào)轉(zhuǎn)換成電壓信號(hào)；模數(shù)轉(zhuǎn)換單元，用于將所述電壓信號(hào)進(jìn)行模數(shù)轉(zhuǎn)換，得到所述測試數(shù)據(jù)。
[0017]基于上述射頻線圈測試通道的匹配方法和裝置，本發(fā)明實(shí)施例還提供了一種射頻線圈的測試裝置，所述射頻線圈測試裝置包括與射頻線圈通道連接的射頻線圈測試通道，還包括上述射頻線圈測試通道的匹配裝置。[0018]基于上述射頻線圈測試通道的匹配方法和裝置，本發(fā)明實(shí)施例還提供了一種磁共振系統(tǒng)，所述磁共振系統(tǒng)包括射頻線圈、與射頻線圈通道連接的射頻線圈測試通道，還包括上述射頻線圈測試通道的匹配裝置。
[0019]與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明技術(shù)方案提供的射頻線圈測試通道的匹配方法和裝置，在射頻線圈通道的接頭處通過接入不同的取樣電阻以得到不同的取樣值，對(duì)使用連接線與射頻線圈通道隨意連接的射頻線圈測試通道進(jìn)行測量，通過將對(duì)射頻線圈測試通道測量得到的測試數(shù)據(jù)與射頻線圈測試通道的取樣值進(jìn)行匹配，根據(jù)匹配結(jié)果對(duì)射頻線圈測試通道進(jìn)行重新定義。因此，應(yīng)用本發(fā)明技術(shù)方案提供的射頻線圈測試通道的匹配方法和裝置，不需要通過識(shí)別連接射頻線圈通道和射頻線圈測試通道的連接線顏色去匹配，射頻線圈通道與射頻線圈測試通道可以隨意連接，節(jié)省了時(shí)間，有效地提高了射頻線圈測試通道的匹配效率，而且匹配時(shí)不會(huì)出錯(cuò)，有利于射頻線圈的維護(hù)。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0020]圖1是現(xiàn)有射頻線圈通道與射頻線圈測試裝置中對(duì)應(yīng)的射頻線圈測試通道連接的不意圖；
[0021]圖2是本發(fā)明實(shí)施方式射頻線圈測試通道的匹配方法的流程示意圖；
[0022]圖3是本發(fā)明實(shí)施例的射頻線圈測試通道的匹配裝置的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0023]圖4是本發(fā)明實(shí)施例的射頻線圈通道與射頻線圈測試裝置中的射頻線圈測試通道連接的示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0024]正如【背景技術(shù)】中所描述的，現(xiàn)有的對(duì)射頻線圈測試通道的匹配是通過識(shí)別連接線的顏色來完成射頻線圈通道和射頻線圈測試裝置或磁共振系統(tǒng)中的射頻線圈測試通道的連接的，由于射頻線圈測試通道數(shù)量很多，需要識(shí)別每根連接線的顏色，射頻線圈測試通道的匹配過程中會(huì)花費(fèi)很多時(shí)間，匹配效率低下，且識(shí)別連接線顏色時(shí)容易出錯(cuò)，不利于射頻線圈的維護(hù)。因此，本技術(shù)方案的發(fā)明人經(jīng)過研究，提供了一種射頻線圈測試通道的匹配方法和裝置，能夠快速完成對(duì)隨意連接的射頻線圈通道和射頻線圈測試裝置或磁共振系統(tǒng)中的射頻線圈測試通道之間的匹配，節(jié)省了匹配時(shí)間，有效地提高了匹配效率，且匹配過程中不易出錯(cuò)，有利于射頻線圈的維護(hù)。
[0025]為使本發(fā)明的上述目的、特征和優(yōu)點(diǎn)能夠更為明顯易懂，下面結(jié)合附圖和實(shí)施例對(duì)本發(fā)明的【具體實(shí)施方式】做詳細(xì)的說明。
[0026]在下面的描述中闡述了很多具體細(xì)節(jié)以便于充分理解本發(fā)明，但是本發(fā)明還可以采用其他不同于在此描述的其它方式來實(shí)施，因此本發(fā)明不受下面公開的具體實(shí)施例的限制。
[0027]圖2是本發(fā)明實(shí)施方式射頻線圈測試通道的匹配方法的流程示意圖，所述射頻線圈測試通道至少包括一個(gè)，各射頻線圈測試通道的接口通過連接線與各射頻線圈通道的接頭連接。參考圖2，所述射頻線圈測試通道的匹配方法包括:
[0028]步驟S21:在所述各射頻線圈通道的接頭處接入不同阻值的取樣電阻，得到所述各射頻線圈測試通道的取樣值；[0029]步驟S22:對(duì)所述各射頻線圈測試通道進(jìn)行測量，得到所述各射頻線圈測試通道的測試數(shù)據(jù)；
[0030]步驟S23:將所述各射頻線圈測試通道的測試數(shù)據(jù)與所述各射頻線圈測試通道的取樣值進(jìn)行匹配，得到匹配結(jié)果；
[0031]步驟S24:根據(jù)所述匹配結(jié)果，重新定義所述各射頻線圈測試通道。
[0032]具體地，根據(jù)通道功能的不同，所述射頻線圈測試通道包括射頻通道、直流供電通道和線圈編碼通道，其中，所述射頻通道用于傳輸射頻線圈單元的控制信號(hào)，所述直流供電通道用于給與射頻線圈連接的放大器或其他單元提供工作電壓，所述線圈編碼通道用于連接射頻線圈和射頻線圈測試裝置或磁共振系統(tǒng)中的線圈編碼模塊。所述射頻線圈測試通道位于射頻線圈測試裝置或磁共振系統(tǒng)中，通過連接線無序地與所述射頻線圈通道連接。
[0033]基于上述射頻線圈測試通道的匹配方法，本發(fā)明實(shí)施例還提供了一種射頻線圈測試通道的匹配裝置，所述射頻線圈測試通道至少包括一個(gè)，各射頻線圈測試通道的接口通過連接線與各射頻線圈通道的接頭連接。請(qǐng)參見圖3所示的射頻線圈測試通道的匹配裝置的結(jié)構(gòu)示意圖，所述射頻線圈測試通道的匹配裝置包括:
[0034]存儲(chǔ)單元31，用于存儲(chǔ)在所述各射頻線圈通道的接頭處接入不同阻值的取樣電阻后得到的所述各射頻線圈測試通道的取樣值；
[0035]測量單元32，用于對(duì)所述各射頻線圈測試通道30進(jìn)行測量，得到所述各射頻線圈測試通道30的測試數(shù)據(jù)；
[0036]匹配單元33，用于將所述測量單元32測量的所述各射頻線圈測試通道的測試數(shù)據(jù)與所述存儲(chǔ)單元31存儲(chǔ)的所述各射頻線圈測試通道的取樣值進(jìn)行匹配，得到匹配結(jié)果；
[0037]定義單元34，用于根據(jù)所述匹配單元33得到的匹配結(jié)果，重新定義所述各射頻線圈測試通道30。
[0038]根據(jù)所述射頻線圈測試通道的類型不同，所述射頻線圈測試通道的匹配裝置也會(huì)有所差異，為更好地對(duì)本發(fā)明的實(shí)施方式進(jìn)行理解，下面結(jié)合附圖和具體的實(shí)施例對(duì)本發(fā)明技術(shù)方案射頻線圈測試通道的匹配方法及裝置的工作原理進(jìn)行詳細(xì)的說明。
[0039]實(shí)施例1
[0040]在本實(shí)施例中，以所述射頻線圈測試通道是射頻線圈測試裝置中的射頻通道為例進(jìn)行描述，圖4是本發(fā)明實(shí)施例的射頻線圈通道與射頻線圈測試裝置中的射頻線圈測試通道連接的示意圖。參考圖4，射頻線圈通道接頭面板41上包括m個(gè)射頻通道接頭(RF1、RF2、…、RFm)，射頻線圈測試裝置的印制電路板42上預(yù)先定義了 m個(gè)與射頻通道1、射頻通道2、…、射頻通道m(xù)對(duì)應(yīng)的射頻通道接口(rfl、rf2、…、rfm)。在對(duì)所述射頻線圈測試裝置中的射頻通道進(jìn)行匹配前，各射頻通道在所述印制電路板42上對(duì)應(yīng)的射頻通道接口與所述射頻線圈通道接頭面板41上的接頭通過連接線隨意連接。例如，所述射頻通道I的接口 rfl與射頻通道接頭RFm連接，所述射頻通道2的接口 rf2與射頻通道接頭RFl連接，所述射頻通道m(xù)的接口 rfm與射頻通道接頭RF2連接。下面結(jié)合附圖對(duì)所述射頻通道的匹配方法進(jìn)行詳細(xì)說明。
[0041]如步驟S21所述，在所述各射頻線圈通道的接頭處接入不同阻值的取樣電阻，得到所述各射頻線圈測試通道的取樣值。
[0042]參考圖4，在所述m個(gè)射頻通道接頭(RF1、RF2、…、RFm)處分別接入不同阻值的取樣電阻，例如，在所述射頻通道接頭RFl處接入取樣電阻Rl，在所述射頻通道接頭RF2處接入取樣電阻R2，…，在所述射頻通道接頭RFm處接入取樣電阻Rm，所述取樣電阻的一端與所述射頻通道接頭連接，另一端連接到地(所述取樣電阻Rl，R2，…，Rm在圖4中未示出)。在進(jìn)行通道匹配時(shí)，所述各射頻通道上的電壓相同，且為確定值，為方便描述，用Vkf表示所述各射頻通道上的電壓。由于所述各射頻通道上的電壓相同，接入的取樣電阻阻值不同，得到所述各射頻通道的電流值就不同。因此，可利用所述各射頻通道的電流值作為區(qū)分所述各射頻通道的依據(jù)，將所述各射頻通道上的電壓Vkf與所述各射頻通道的接頭處接入的取樣電阻的比值作為所述各射頻通道的取樣值，即所述射頻通道I的取樣值I為VKF/R1，所述射頻通道2的取樣值2為Vkf/R2，…，所述射頻通道m(xù)的取樣值m為VKF/Rm，所述各射頻通道的取樣值存儲(chǔ)在所述存儲(chǔ)單元31中。所述取樣電阻的阻值必須在所述各射頻通道上的電壓Vkf的驅(qū)動(dòng)范圍以內(nèi)。
[0043]如步驟S22所述，對(duì)所述各射頻線圈測試通道進(jìn)行測量，得到所述各射頻線圈測試通道的測試數(shù)據(jù)。
[0044]在所述m個(gè)射頻通道接頭(RF1、RF2、…、RFm)處接入取樣電阻后，可通過所述射頻線圈測試通道的匹配裝置的外部輸入裝置給出指令，使所述測量單元32對(duì)所述m個(gè)射頻通道接口(rfl、rf2、…、rfm)對(duì)應(yīng)的射頻通道1、射頻通道2、…、射頻通道m(xù)進(jìn)行測試。在本實(shí)施例中，由于所述各射頻通道的取樣值為電流值，因此，需要對(duì)各射頻通道的電流信號(hào)進(jìn)行測試。進(jìn)一步，所述測量單元32包括電流電壓轉(zhuǎn)換單元和模數(shù)轉(zhuǎn)換單元。所述電流電壓轉(zhuǎn)換單元用于將所述各射頻通道的電流信號(hào)轉(zhuǎn)換成電壓信號(hào)，例如，所述電流電壓轉(zhuǎn)換單元可以包括采樣電阻，所述各射頻通道的電流信號(hào)經(jīng)過所述采樣電阻后就能得到所述各射頻通道的電流信號(hào) 對(duì)應(yīng)的電壓信號(hào)；所述模數(shù)轉(zhuǎn)換單元用于將所述電壓信號(hào)進(jìn)行模數(shù)轉(zhuǎn)換，得到所述測試數(shù)據(jù)；進(jìn)一步，若所述電流電壓轉(zhuǎn)換單元得到的電壓信號(hào)的電壓值不在所述模數(shù)轉(zhuǎn)換單元的輸入范圍內(nèi)，所述模數(shù)轉(zhuǎn)換單元可以先對(duì)所述電壓信號(hào)進(jìn)行調(diào)整，以將所述電壓信號(hào)的電壓值調(diào)整至模數(shù)轉(zhuǎn)換的輸入范圍內(nèi)。所述各射頻通道的測試數(shù)據(jù)即為所述各射頻通道的電流信號(hào)對(duì)應(yīng)的數(shù)字信號(hào)，所述射頻通道I的測試數(shù)據(jù)為測試數(shù)據(jù)1，所述射頻通道2的測試數(shù)據(jù)為測試數(shù)據(jù)2，…，所述射頻通道m(xù)的測試數(shù)據(jù)為測試數(shù)據(jù)m。
[0045]如步驟S23所述，將所述各射頻線圈測試通道的測試數(shù)據(jù)與所述各射頻線圈測試通道的取樣值進(jìn)行匹配，得到匹配結(jié)果。
[0046]所述匹配單元33將所述測量單元32測量的所述各射頻通道的測試數(shù)據(jù)(測試數(shù)據(jù)1、測試數(shù)據(jù)2、…、測試數(shù)據(jù)m)與所述存儲(chǔ)單元31存儲(chǔ)的所述各射頻通道的取樣值(取樣值1、取樣值2、…、取樣值m)進(jìn)行匹配。所述各射頻通道的取樣值為模擬值，不能直接與所述各射頻通道的測試數(shù)據(jù)進(jìn)行匹配，因此，所述匹配單元33中預(yù)先定義了所述各射頻通道的取樣值與所述取樣值對(duì)應(yīng)的數(shù)字值之間的關(guān)系。具體地，參考圖4，由于所述射頻通道I的接口 rfl與所述射頻通道接頭RFm連接，因此，所述測試數(shù)據(jù)I與所述取樣值m(Vkf/Rm)匹配；所述射頻通道2的接口 rf2與所述射頻通道接頭RFl連接，因此，所述測試數(shù)據(jù)
2與所述取樣值I (Vkf/R1)匹配；所述射頻通道m(xù)的接口 rfm與所述射頻通道接頭RF2連接，因此，所述測試數(shù)據(jù)m與所述取樣值2 (VKF/R1)匹配。所述匹配結(jié)果可以以數(shù)字“O”或“ I ”的形式輸出，即匹配時(shí)輸出數(shù)字“ I ”，不匹配則輸出數(shù)字“0”，也可以以其他形式輸出。
[0047]如步驟S24所述，根據(jù)所述匹配結(jié)果，重新定義所述各射頻線圈測試通道。[0048]具體地，由所述定義單元34根據(jù)所述匹配單元33的匹配結(jié)果對(duì)所述各射頻通道重新進(jìn)行定義。參考圖4，在本實(shí)施例中，將所述射頻通道I重新定義為與所述射頻通道接頭RFm對(duì)應(yīng)的射頻線圈通道匹配的射頻通道m(xù)’，將所述射頻通道2重新定義為與所述射頻通道接頭RFl對(duì)應(yīng)的射頻線圈通道匹配的射頻通道I ’，將所述射頻通道m(xù)重新定義為與所述射頻通道接頭RF2對(duì)應(yīng)的射頻線圈通道匹配的射頻通道2’。
[0049]重新進(jìn)行定義之后，當(dāng)需要對(duì)所述射頻通道接頭RFl對(duì)應(yīng)的射頻線圈通道進(jìn)行操作時(shí)(例如調(diào)諧/失諧控制)，通過控制線圈測試裝置上的所述射頻通道2即可；當(dāng)需要對(duì)所述射頻通道接頭RF2對(duì)應(yīng)的射頻線圈通道進(jìn)行操作時(shí)，通過控制線圈測試裝置上的所述射頻通道m(xù)即可；當(dāng)需要對(duì)所述射頻通道接頭RFm對(duì)應(yīng)的射頻線圈通道進(jìn)行操作時(shí)，通過控制線圈測試裝置上的所述射頻通道I即可。
[0050]實(shí)施例2
[0051]在本實(shí)施例中，以所述射頻線圈測試通道是射頻線圈測試裝置中的直流供電通道為例進(jìn)行描述，參考圖4，所述射頻線圈通道接頭面板41上包括η個(gè)直流供電通道接頭(DCl、DC2、…、DCn )，所述射頻線圈測試裝置的印制電路板42上預(yù)先定義了 η個(gè)與直流供電通道1、直流供電通道2、.…、直流供電通道η對(duì)應(yīng)的直流供電通道接口(del、dc2、…、dcn)。在對(duì)所述射頻線圈測試裝置中的直流供電通道匹配前，各直流供電通道在所述印制電路板42上對(duì)應(yīng)的直流供電通道接口與所述射頻線圈通道接頭面板41上的接頭通過連接線隨意連接。例如，所述直流供電通道I的接口 del與直流供電通道接頭DCn連接，所述直流供電通道2的接口 dc2與直流供電通道接頭DCl連接，所述直流供電通道η的接口 dcn與直流供電通道接 頭DC2連接。
[0052]由于所述各直流供電通道用于給與射頻線圈連接的放大器或其他單元提供工作電壓，所述各直流供電通道上的電壓相同，因此，所述直流供電通道的匹配方法與所述射頻通道的匹配方法相同，在此不再贅述。參考圖4，在本實(shí)施例中，將所述直流供電通道接口del對(duì)應(yīng)的直流供電通道I重新定義為與所述直流供電通道接頭DCn對(duì)應(yīng)的射頻線圈通道匹配的直流供電通道η’，將所述直流供電通道接口 dc2對(duì)應(yīng)的直流供電通道2重新定義為與所述直流供電通道接頭DCl對(duì)應(yīng)的射頻線圈通道匹配的直流供電通道1’，將所述直流供電通道接口 dcn對(duì)應(yīng)的直流供電通道η重新定義為與所述直流供電通道接頭DC2對(duì)應(yīng)的射頻線圈通道匹配的直流供電通道2’。
[0053]實(shí)施例3
[0054]在本實(shí)施例中，以所述射頻線圈測試通道是射頻線圈測試裝置中的線圈編碼通道為例進(jìn)行描述，繼續(xù)參考圖4，所述射頻線圈通道接頭面板41上包括ρ個(gè)線圈編碼通道接頭(C0DE1、C0DE2、…、CODEp)，所述射頻線圈測試裝置的印制電路板42上預(yù)先定義了 ρ個(gè)與線圈編碼通道1、線圈編碼通道2、…、線圈編碼通道ρ對(duì)應(yīng)的線圈編碼通道接口(codel、code2、.…、codep)。在對(duì)所述射頻線圈測試裝置中的線圈編碼通道進(jìn)行匹配前,各線圈編碼通道在所述印制電路板42上對(duì)應(yīng)的線圈編碼通道接口與所述射頻線圈通道接頭面板41上的接頭通過連接線隨意連接。例如，所述線圈編碼通道I的接口 codel與線圈編碼通道接頭CODEp連接，所述線圈編碼通道2的接口 code2與線圈編碼通道接頭CODEl連接，所述線圈編碼通道ρ的接口 cod印與線圈編碼通道接頭C0DE2連接。
[0055]由于所述各線圈編碼通道用于連接射頻線圈和射頻線圈測試裝置中的線圈編碼模塊，因此與實(shí)施例1和實(shí)施例2不同的是，在存儲(chǔ)單元31中存儲(chǔ)的是所述P個(gè)線圈編碼通道接頭(C0DE1、C0DE2、…、CODEp)處接入的取樣電阻的識(shí)別碼，所述識(shí)別碼是根據(jù)所述取樣電阻的阻值預(yù)先定義的。
[0056]在本實(shí)施例中，對(duì)所述ρ個(gè)線圈編碼通道接口(codel、code2、…、codep)對(duì)應(yīng)的線圈編碼通道1、線圈編碼通道2、…、線圈編碼通道ρ進(jìn)行測試，測試的是所述各線圈編碼通道接頭處接入的取樣電阻的識(shí)別碼。具體地，由所述測量單元32給所述各線圈編碼通道施加一個(gè)預(yù)定電流并測量所述各線圈編碼通道在通過所述預(yù)定電流時(shí)的電壓。根據(jù)歐姆公式電壓=電阻*電流，可得到所述各線圈編碼通道的電阻，繼而得到所述各線圈編碼通道的電阻對(duì)應(yīng)的識(shí)別碼，所述識(shí)別碼是依據(jù)所述各射頻線圈通道的接頭處接入的取樣電阻的阻值預(yù)先定義的。所述測試數(shù)據(jù)即為所述各線圈編碼通道的電阻對(duì)應(yīng)的識(shí)別碼。
[0057]所述匹配單元33將所述測量單元32測量的所述各線圈編碼通道的測試數(shù)據(jù)與所述存儲(chǔ)單元31存儲(chǔ)的所述各線圈編碼通道的取樣值進(jìn)行匹配，具體實(shí)現(xiàn)方式可參考實(shí)施例1，在此不再贅述。
[0058]進(jìn)行匹配之后，參考圖4，在本實(shí)施例中，將所述線圈編碼通道接口 codel對(duì)應(yīng)的線圈編碼通道I重新定義為與所述線圈編碼通道接頭CODEp對(duì)應(yīng)的射頻線圈通道匹配的線圈編碼通道P’，將所述線圈編碼通道接口 Code2對(duì)應(yīng)的線圈編碼通道2重新定義為與所述線圈編碼通道接頭CODEl對(duì)應(yīng)的射頻線圈通道匹配的線圈編碼通道1’，將所述線圈編碼通道接口 codep對(duì)應(yīng)的線圈編碼通道ρ重新定義為與所述線圈編碼通道接頭C0DE2對(duì)應(yīng)的射頻線圈通道匹配的線圈編碼通道2’。
[0059]本發(fā)明實(shí)施例還提供了一種射頻線圈測試裝置，包括與射頻線圈通道連接的射頻線圈測試通道，還包括 上述射頻線圈測試通道的匹配裝置。
[0060]本發(fā)明實(shí)施例還提供了一種磁共振系統(tǒng)，包括射頻線圈、與射頻線圈通道連接的射頻線圈測試通道，還包括上述射頻線圈測試通道的匹配裝置。
[0061]所述射頻線圈測試通道的匹配裝置的結(jié)構(gòu)可以如圖3所示。
[0062]綜上所述，本發(fā)明技術(shù)方案提供的射頻線圈測試通道的匹配方法和裝置，能夠迅速地完成對(duì)隨意連接的射頻線圈通道和射頻線圈測試裝置或磁共振系統(tǒng)中的射頻線圈測試通道之間的匹配，節(jié)省了匹配時(shí)間，有效地提高了匹配效率，且匹配過程中不易出錯(cuò)，有利于射頻線圈的維護(hù)。
[0063]本發(fā)明雖然已以較佳實(shí)施例公開如上，但其并不是用來限定本發(fā)明，任何本領(lǐng)域技術(shù)人員在不脫離本發(fā)明的精神和范圍內(nèi)，都可以利用上述揭示的方法和技術(shù)內(nèi)容對(duì)本發(fā)明技術(shù)方案做出可能的變動(dòng)和修改，因此，凡是未脫離本發(fā)明技術(shù)方案的內(nèi)容，依據(jù)本發(fā)明的技術(shù)實(shí)質(zhì)對(duì)以上實(shí)施例所作的任何簡單修改、等同變化及修飾，均屬于本發(fā)明技術(shù)方案的保護(hù)范圍。
【權(quán)利要求】
1.一種射頻線圈測試通道的匹配方法，所述射頻線圈測試通道至少包括一個(gè)，各射頻線圈測試通道的接口通過連接線與各射頻線圈通道的接頭連接，其特征在于，包括: 在所述各射頻線圈通道的接頭處接入不同阻值的取樣電阻，得到所述各射頻線圈測試通道的取樣值； 對(duì)所述各射頻線圈測試通道進(jìn)行測量，得到所述各射頻線圈測試通道的測試數(shù)據(jù)； 將所述各射頻線圈測試通道的測試數(shù)據(jù)與所述各射頻線圈測試通道的取樣值進(jìn)行匹配，得到匹配結(jié)果； 根據(jù)所述匹配結(jié)果，重新定義所述各射頻線圈測試通道。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的射頻線圈測試通道的匹配方法，其特征在于，所述射頻線圈測試通道為射頻通道，所述各射頻線圈測試通道的取樣值為所述各射頻線圈測試通道上的電壓與所述各射頻線圈通道的接頭處接入的取樣電阻的比值。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的射頻線圈測試通道的匹配方法，其特征在于，所述射頻線圈測試通道為直流供電通道，所述各射頻線圈測試通道的取樣值為所述各射頻線圈測試通道上的電壓與所述各射頻線圈通道的接頭處接入的取樣電阻的比值。
4.根據(jù)權(quán)利要求2或3所述的射頻線圈測試通道的匹配方法，其特征在于，所述對(duì)所述各射頻線圈測試通道進(jìn)行測量，得到所述各射頻線圈測試通道的測試數(shù)據(jù)包括: 將所述各射頻線圈測試通道的電流信號(hào)轉(zhuǎn)換成電壓信號(hào)； 對(duì)所述電壓信號(hào)進(jìn)行模數(shù)轉(zhuǎn)換，得到所述測試數(shù)據(jù)。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的射頻線圈測試通道的匹配方法，其特征在于，所述射頻線圈測試通道為線圈編碼通道，所述各射頻線圈測試通道的取樣值為所述各射頻線圈通道的接頭處接入的取樣電阻的識(shí)別碼。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的射頻線圈測試通道的匹配方法，其特征在于，所述測試數(shù)據(jù)為所述取樣電阻的識(shí)別碼。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的射頻線圈測試通道的匹配方法，其特征在于，所述識(shí)別碼是依據(jù)所述各射頻線圈通道的接頭處接入的取樣電阻的阻值預(yù)先定義的。
8.一種射頻線圈測試通道的匹配裝置，所述射頻線圈測試通道至少包括一個(gè)，各射頻線圈測試通道的接口通過連接線與各射頻線圈通道的接頭連接，其特征在于，包括: 存儲(chǔ)單元，用于存儲(chǔ)在所述各射頻線圈通道的接頭處接入不同阻值的取樣電阻后得到的所述各射頻線圈測試通道的取樣值； 測量單元，用于對(duì)所述各射頻線圈測試通道進(jìn)行測量，得到所述各射頻線圈測試通道的測試數(shù)據(jù)； 匹配單元，用于將所述測量單元測量的所述各射頻線圈測試通道的測試數(shù)據(jù)與所述存儲(chǔ)單元存儲(chǔ)的所述各射頻線圈測試通道的取樣值進(jìn)行匹配，得到匹配結(jié)果； 定義單元，用于根據(jù)所述匹配單元得到的匹配結(jié)果，重新定義所述各射頻線圈測試通道。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的射頻線圈測試通道的匹配裝置，其特征在于，所述射頻線圈測試通道為射頻通道，所述各射頻線圈測試通道的取樣值為所述各射頻線圈測試通道上的電壓與所述各射頻線圈通道的接頭處接入的取樣電阻的比值。
10.根據(jù)權(quán)利要求8所述的射頻線圈測試通道的匹配裝置，其特征在于，所述射頻線圈測試通道為直流供電通道，所述各射頻線圈測試通道的取樣值為所述各射頻線圈測試通道上的電壓與所述各射頻線圈通道的接頭處接入的取樣電阻的比值。
11.根據(jù)權(quán)利要求9或10所述的射頻線圈測試通道的匹配裝置，其特征在于，所述測試量單元包括: 電流電壓轉(zhuǎn)換單元，用于將所述各射頻線圈測試通道的電流信號(hào)轉(zhuǎn)換成電壓信號(hào)； 模數(shù)轉(zhuǎn)換單元，用于將所述電壓信號(hào)進(jìn)行模數(shù)轉(zhuǎn)換，得到所述測試數(shù)據(jù)。
12..根據(jù)權(quán)利要求8所述的射頻線圈測試通道的匹配裝置，其特征在于，所述射頻線圈測試通道為線圈編碼通道，所述各射頻線圈測試通道的取樣值為所述各射頻線圈通道的接頭處接入的取樣電阻的識(shí)別碼。
13.根據(jù)權(quán)利要求12所述的射頻線圈測試通道的匹配裝置，其特征在于，所述測試數(shù)據(jù)為所述取樣電阻的識(shí)別碼。
14.根據(jù)權(quán)利要求13所述的射頻線圈測試通道的匹配裝置，其特征在于，所述識(shí)別碼是依據(jù)所述各射頻線圈通道的接頭處接入的取樣電阻的阻值預(yù)先定義的。
15.一種射頻線圈測試裝置，包括射頻線圈測試通道，其特征在于，還包括權(quán)利要求8至14任一項(xiàng)所述的射頻線圈測試通道的匹配裝置。
16.一種磁共振系統(tǒng)，包括射頻線圈和射頻線圈測試通道，其特征在于，還包括權(quán)利要求8至14任一項(xiàng)所述的射頻線圈測試通道的匹配裝置。
【文檔編號(hào)】G01R33/20GK103901370SQ201210588056
【公開日】2014年7月2日 申請(qǐng)日期:2012年12月30日 優(yōu)先權(quán)日:2012年12月30日
【發(fā)明者】陽昭衡 申請(qǐng)人:上海聯(lián)影醫(yī)療科技有限公司