專利名稱：分布電容檢測(cè)裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及一種分布電容檢測(cè)裝置。
背景技術(shù)：
分布電容是由非電容形態(tài)形成的一種分布參數(shù)，在自然界中廣泛存在。分布電容會(huì)對(duì)傳感器的靈敏度和電路的測(cè)量精度有一定的影響，特別是由它們所引起的一些外界干擾，必須降低或消除。同樣的儀器、器械由于加工、出廠的不同，其上存在的 分布電容的大小也會(huì)不同，在安裝傳感器或設(shè)計(jì)電路時(shí)，必須對(duì)相應(yīng)位置存在的分布電容的大小進(jìn)行檢測(cè)，以確保不會(huì)因分布電容過(guò)大而對(duì)傳感器或電路造成干擾。

實(shí)用新型內(nèi)容本實(shí)用新型所要解決的技術(shù)問(wèn)題是提供一種可準(zhǔn)確檢測(cè)出分布電容大小的分布電容檢測(cè)裝置。本實(shí)用新型解決上述問(wèn)題所采用的技術(shù)方案為它包括檢測(cè)探針、檢測(cè)芯片、串口轉(zhuǎn)接模塊和顯示模塊；所述的檢測(cè)探針與檢測(cè)芯片連接，檢測(cè)芯片與串口轉(zhuǎn)接模塊連接，串口轉(zhuǎn)接模塊與顯示模塊連接。作為優(yōu)選，所述顯示模塊采用計(jì)算機(jī)的顯示屏。作為優(yōu)選，所述檢測(cè)芯片的型號(hào)為CY8C21234。與現(xiàn)有技術(shù)相比，本實(shí)用新型的優(yōu)點(diǎn)在于以檢測(cè)探針為電容的一個(gè)極，以檢測(cè)芯片所在的電路板上的電源地為電容的另一個(gè)極，通過(guò)檢測(cè)芯片的檢測(cè)可以方便、準(zhǔn)確地測(cè)出各種物體上所需測(cè)量點(diǎn)存在的分布電容的大小并通過(guò)顯示模塊顯示出來(lái)，從而可以判斷是否需要采取手段減小該點(diǎn)的分布電容的大小以避免因分布電容過(guò)大而對(duì)該處的傳感器或電路造成干擾。作為改進(jìn)，所述檢測(cè)裝置還包括主控MCU、步進(jìn)電機(jī)和LED指示燈；所述的主控MCU和LED指示燈均與檢測(cè)芯片連接；所述的步進(jìn)電機(jī)與主控MCU電連接，與檢測(cè)探針固定連接；增加的主控MCU、步進(jìn)電機(jī)和LED指示燈可與檢測(cè)芯片配合實(shí)現(xiàn)各種依靠監(jiān)測(cè)分布電容的大小變化來(lái)完成的控制功能。作為優(yōu)選，所述的主控MCU的型號(hào)為P89C668。

圖I為本實(shí)用新型分布電容檢測(cè)裝置的框圖。
具體實(shí)施方式
如圖所示，本實(shí)用新型分布電容檢測(cè)裝置，它包括檢測(cè)探針、檢測(cè)芯片、串口轉(zhuǎn)接模塊和顯示模塊；所述的檢測(cè)探針與檢測(cè)芯片連接，檢測(cè)芯片與串口轉(zhuǎn)接模塊連接，串口轉(zhuǎn)接模塊與顯示模塊連接；串口轉(zhuǎn)接模塊為業(yè)內(nèi)公知的常規(guī)電路，在此不再贅述；顯示模塊采用計(jì)算機(jī)的顯示屏，串口轉(zhuǎn)接模塊與顯示模塊連接即與計(jì)算機(jī)的COM接口連接，利用計(jì)算機(jī)內(nèi)強(qiáng)大的軟件支持，可以使檢測(cè)出的分布電容值信息得到更好的顯示，在分布電容值變化的情況下，還可以實(shí)現(xiàn)波形顯示，使對(duì)比分析更清晰明了，檢測(cè)出的分布電容值還可以保存在計(jì)算機(jī)內(nèi)。所述檢測(cè)裝置還包括主控MCU、步進(jìn)電機(jī)和LED指示燈；所述的主控MCU和LED指示燈均與檢測(cè)芯片連接；所述的步進(jìn)電機(jī)與主控MCU電連接，與檢測(cè)探針固定連接；主控MCU、步進(jìn)電機(jī)和LED指示燈可與檢測(cè)芯片配合實(shí)現(xiàn)各種依靠監(jiān)測(cè)分布電容的大小變化來(lái)完成的控制功能。所述檢測(cè)芯片的型號(hào)為CY8C21234。所述的主控MCU的型號(hào)為P89C668。本實(shí)用新型中，以檢測(cè)探針為電容的一個(gè)極，以檢測(cè)芯片所在的電路板上的電源·地為電容的另一個(gè)極，檢測(cè)芯片內(nèi)的16位偽隨機(jī)數(shù)列發(fā)生器先控制開(kāi)關(guān)對(duì)電容進(jìn)行充電，充電時(shí)由檢測(cè)芯片提供電源，完成充電后，16位偽隨機(jī)數(shù)列發(fā)生器控制開(kāi)關(guān)斷開(kāi)電容與電源的連接使其放電，放電時(shí)形成的電壓信號(hào)經(jīng)設(shè)在檢測(cè)探針上的信號(hào)放大器放大后送入檢測(cè)芯片內(nèi)的比較器與基準(zhǔn)電壓進(jìn)行比較并形成相應(yīng)數(shù)量的脈沖，檢測(cè)芯片對(duì)脈沖進(jìn)行計(jì)數(shù)及數(shù)據(jù)處理后，計(jì)算出分布電容的值，然后發(fā)送至顯示模塊顯示。在實(shí)現(xiàn)控制功能時(shí)，檢測(cè)芯片會(huì)對(duì)脈沖進(jìn)行計(jì)數(shù)并在脈沖數(shù)量達(dá)到設(shè)定的閾值時(shí)發(fā)送控制信號(hào)給主控MCU，主控MCU控制步進(jìn)電機(jī)運(yùn)轉(zhuǎn),步進(jìn)電機(jī)控制檢測(cè)探針的運(yùn)動(dòng)。
權(quán)利要求1.一種分布電容檢測(cè)裝置，其特征在于它包括檢測(cè)探針、檢測(cè)芯片、串口轉(zhuǎn)接模塊和顯示模塊；所述的檢測(cè)探針與檢測(cè)芯片連接，檢測(cè)芯片與串口轉(zhuǎn)接模塊連接，串口轉(zhuǎn)接模塊與顯示模塊連接。
2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的分布電容檢測(cè)裝置，其特征在于所述檢測(cè)裝置還包括主控MCU、步進(jìn)電機(jī)和LED指示燈；所述的主控MCU和LED指示燈均與檢測(cè)芯片連接；所述的步進(jìn)電機(jī)與主控M⑶電連接，與檢測(cè)探針固定連接。
3.根據(jù)權(quán)利要求I所述的分布電容檢測(cè)裝置，其特征在于所述顯示模塊采用計(jì)算機(jī)的顯示屏。
4.根據(jù)權(quán)利要求I所述的分布電容檢測(cè)裝置，其特征在于所述檢測(cè)芯片的型號(hào)為CY8C21234。
5.根據(jù)權(quán)利要求2所述的分布電容檢測(cè)裝置，其特征在于所述的主控MCU的型號(hào)為P89C668。
專利摘要本實(shí)用新型公開(kāi)了一種分布電容檢測(cè)裝置，它包括檢測(cè)探針、檢測(cè)芯片、串口轉(zhuǎn)接模塊和顯示模塊；所述的檢測(cè)探針與檢測(cè)芯片連接，檢測(cè)芯片與串口轉(zhuǎn)接模塊連接，串口轉(zhuǎn)接模塊與顯示模塊連接。本實(shí)用新型以檢測(cè)探針為電容的一個(gè)極，以檢測(cè)芯片所在的電路板上的電源地為電容的另一個(gè)極，通過(guò)檢測(cè)芯片的檢測(cè)可以方便、準(zhǔn)確地測(cè)出各種物體上所需測(cè)量點(diǎn)存在的分布電容的大小并通過(guò)顯示模塊顯示出來(lái)，從而可以判斷是否需要采取手段減小該點(diǎn)的分布電容的大小以避免因分布電容過(guò)大而對(duì)該處的傳感器或電路造成干擾。
文檔編號(hào)G01R27/32GK202710666SQ20122000090
公開(kāi)日2013年1月30日 申請(qǐng)日期2012年1月4日 優(yōu)先權(quán)日2012年1月4日
發(fā)明者鄒繼華, 肖尚清, 任懷方 申請(qǐng)人:寧波美康盛德生物科技有限公司