專利名稱：一種新的波導(dǎo)雙工器測試工裝的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及的是ー種新的波導(dǎo)雙エ器測試エ裝。
背景技術(shù)：
傳統(tǒng)的雙エ器檢驗(yàn)測試エ裝是將測試エ裝直接與器件相連接，但是為了保證測試精度，需要將測試系統(tǒng)與器件緊固的用螺釘相連接，一方面降低了工作效率，另ー方面對波導(dǎo)ロ鍍層(尤其是鍍銀器件)和器件上的螺紋造成傷害。

實(shí)用新型內(nèi)容針對現(xiàn)有技術(shù)上存在的不足，本實(shí)用新型提供ー種新型結(jié)構(gòu)的波導(dǎo)雙エ器測試エ裝。本實(shí)用新型是通過如下的技術(shù)方案來實(shí)現(xiàn)一種新的波導(dǎo)雙エ器測試エ裝，所述測試エ裝的反面的兩端對稱分布兩個(gè)測試系統(tǒng)定位連接凹槽，所述測試系統(tǒng)定位連接凹槽內(nèi)設(shè)置螺釘孔，所述兩個(gè)測試系統(tǒng)定位連接凹槽內(nèi)均設(shè)置ー個(gè)凹槽銷釘孔，所述凹槽銷釘孔貫穿于整個(gè)測試エ裝；所述測試エ裝的正面中央設(shè)置有ー個(gè)正方形凹槽，所述凹槽外四個(gè)頂角處對稱分布四個(gè)銷釘孔，所述銷釘孔均貫穿于整個(gè)測試エ裝。上述兩個(gè)測試系統(tǒng)定位連接凹槽內(nèi)均是正方形狀的，均設(shè)置4個(gè)螺釘孔。本實(shí)用新型與現(xiàn)有技術(shù)相比有益的效果是本實(shí)用新型通過測試エ裝與エ裝上凹陷的法蘭定位相連接，器件與エ裝通過銷釘?shù)亩ㄎ贿B接，提高檢驗(yàn)測試的效率，降低對器件鍍層和器件上螺釘孔的損傷。
以下結(jié)合附圖
和具體實(shí)施方式
來詳細(xì)說明本實(shí)用新型；圖I為本實(shí)用新型反面的結(jié)構(gòu)示意圖；圖2為本實(shí)用新型正面的結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實(shí)施方式
為使本實(shí)用新型實(shí)現(xiàn)的技術(shù)手段、創(chuàng)作特征、達(dá)成目的與功效易于明白了解，下面結(jié)合具體實(shí)施方式
，進(jìn)ー步闡述本實(shí)用新型。如圖I、如圖2所示，一種新的波導(dǎo)雙エ器測試エ裝，所述測試エ裝的反面的兩端對稱分布兩個(gè)測試系統(tǒng)定位連接凹槽1，所述測試系統(tǒng)定位連接凹槽I內(nèi)設(shè)置螺釘孔3，所述兩個(gè)測試系統(tǒng)定位連接凹槽I內(nèi)均設(shè)置ー個(gè)凹槽銷釘孔2，所述凹槽銷釘孔2貫穿于整個(gè)測試エ裝；所述測試エ裝的正面中央設(shè)置有ー個(gè)正方形凹槽4，所述凹槽4外四個(gè)頂角處對稱分布四個(gè)銷釘孔5，所述銷釘孔5均貫穿于整個(gè)測試エ裝。兩個(gè)測試系統(tǒng)定位連接凹槽I內(nèi)均是正方形狀的，均設(shè)置4個(gè)螺釘孔3。、[0013]測試エ裝上測試系統(tǒng)定位連接凹槽，在裝配時(shí)，將測試系統(tǒng)的法蘭嵌入凹槽處，然后用螺釘緊固。測試的時(shí)候，只需要將連接好系統(tǒng)的測試エ裝與器件相對接即可，測試エ裝上面的銷釘孔可以很好的對器件和エ裝的位置進(jìn)行定位。以上顯示和描述了本實(shí)用新型的基本原理和主要特征和本實(shí)用新型的優(yōu)點(diǎn)。本行業(yè)的技術(shù)人員應(yīng)該了解，本實(shí)用新型不受上述實(shí)施例的限制，上述實(shí)施例和說明書中描述的只是說明本實(shí)用新型的原理，在不脫離本實(shí)用新型精神和范圍的前提下，本實(shí)用新型還會(huì)有各種變化和改進(jìn)，這些變化和改進(jìn)都落入要求保護(hù)的本實(shí)用新型范圍內(nèi)。本實(shí)用新型要求保護(hù)范圍由所附的權(quán)利要求書及其等·效物界定。
權(quán)利要求1.一種新的波導(dǎo)雙エ器測試エ裝，其特征在于所述測試エ裝的反面的兩端對稱分布兩個(gè)測試系統(tǒng)定位連接凹槽，所述測試系統(tǒng)定位連接凹槽內(nèi)設(shè)置螺釘孔，所述兩個(gè)測試系統(tǒng)定位連接凹槽內(nèi)均設(shè)置ー個(gè)凹槽銷釘孔，所述凹槽銷釘孔貫穿于整個(gè)測試エ裝；所述測試エ裝的正面中央設(shè)置有ー個(gè)正方形凹槽，所述凹槽外四個(gè)頂角處對稱分布四個(gè)銷釘孔，所述銷釘孔均貫穿于整個(gè)測試エ裝。
2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的ー種新的波導(dǎo)雙エ器測試エ裝，其特征在于所述兩個(gè)測試系統(tǒng)定位連接凹槽內(nèi)均是正方形狀的，均設(shè)置4個(gè)螺釘孔。
專利摘要本實(shí)用新型涉及一種新的波導(dǎo)雙工器測試工裝，所述測試工裝的反面的兩端對稱分布兩個(gè)測試系統(tǒng)定位連接凹槽，所述測試系統(tǒng)定位連接凹槽內(nèi)設(shè)置螺釘孔，所述兩個(gè)測試系統(tǒng)定位連接凹槽內(nèi)均設(shè)置一個(gè)凹槽銷釘孔，所述凹槽銷釘孔貫穿于整個(gè)測試工裝；所述測試工裝的正面中央設(shè)置有一個(gè)正方形凹槽，所述凹槽外四個(gè)頂角處對稱分布四個(gè)銷釘孔，所述銷釘孔均貫穿于整個(gè)測試工裝。本實(shí)用新型通過測試工裝與工裝上凹陷的法蘭定位相連接，器件與工裝通過銷釘?shù)亩ㄎ贿B接，提高檢驗(yàn)測試的效率，降低對器件鍍層和器件上螺釘孔的損傷。
文檔編號G01D11/00GK202452995SQ20122005540
公開日2012年9月26日 申請日期2012年2月20日 優(yōu)先權(quán)日2012年2月20日
發(fā)明者張雷, 章竹林, 陸聆 申請人:南京灝眾通信技術(shù)有限公司