專利名稱：一種用于測量槽、孔深度的千分尺的制作方法
技術領域：
本實用新型涉及ー種測量工具，尤其是涉及ー種用于測量槽、孔深度的千分尺。
背景技術：
現(xiàn)有技術中，千分尺是對物品外形尺寸進行測量的常用工具，千分尺包括弓形尺架和設置于弓形尺架兩端的測頭，其工作方式一般是通過測頭與物品的外表面接觸來獲取數(shù)據(jù)，在測量過程中，測頭與物品表面的接觸狀況影響結果的準確性。而對于物品不規(guī)則的外表面而言，測頭與外表面的接觸受到物品外形的限制，如對外表面的凹槽深度測量過程中，測頭需深入凹槽內(nèi)進行測量，其測量結果的準確性受到測頭能否伸入凹槽內(nèi)、繼而能否與凹槽內(nèi)表面最低點接觸成為測量數(shù)據(jù)是否準確的主要影響因素。如測量圖I所示的圓形 刀片的上表面凹槽深度H時，如采用圖2所示的標準千分尺，則因其上下測頭大小相同，一般為直徑均為Φ6. 5mm，而凹槽寬度小于6. 5mm，上測頭無法深入凹槽內(nèi)，而對于被測物品下表面較大的圓形刀片而言，Φ6. 5mm的測頭端面不足以有效支撐，或使圓形刀片等被測物品無法平穩(wěn)地置于測頭上，以使其保持正確的測量角度，底面難以形成正確的測量基準，無法快速準確地完成測量。

實用新型內(nèi)容本實用新型的目的在于提供一種用于測量槽、孔深度的千分尺，它可用于測量被測物品上的槽、孔深度，具有測量準確、操作方便的優(yōu)點。本實用新型所采用的技術方案為一種用于測量槽、孔深度的千分尺，包括弓形尺架和設置于弓形尺架兩端的上測頭和下測頭，其特征在干所述的上測頭的柱體下端為針式測頭，所述下測頭柱體的上端設置有面積大于測頭柱體的接觸片。作為對本實用新型的進ー步改進，所述針式測頭的針頭點與上測頭柱體同軸設置，所述接觸片是與下測頭柱體同心設置的圓盤。作為對本實用新型的進ー步改進，所述的接觸片與下測頭柱體的直徑比例為3、
Io作為對本實用新型的進ー步改進，所述的上下測頭和接觸片是由硬質合金材料做成。作為對本實用新型的進ー步改進，所述的接觸片的直徑為Φ2(Γ30πιπι，厚度為3 Dmm0本實用新型的有益效果在干由于本實用新型的上測頭下端設置有針形上測頭，可方便上測頭深入需要測量的槽、孔中，可避免因上測頭柱體過大無法完成測量的問題，另一方面，本實用新型在的下測頭設置有面積較大的接觸片，可增大測量工具與被測物品的接觸面積，以利于被測物品處于正確的接觸狀態(tài)，形成符合原設計要求的測量基準。使上測頭的下端頭與上測頭的上平面所形成的測量空間與理論被測參數(shù)相同。這種針式上測頭可以更準的接觸到槽、孔的最大深度，從而最大限度地減小測量誤差，保證測量數(shù)據(jù)的準確性，且操作方便，被測物品置于接觸片上后的測量準備時間短，作業(yè)效率高。本實用新型可以作為標準的深度千分尺使用，尤其適用于硬質合金數(shù)控刀片或硬質合金帶槽刀片的槽型深度測量。
以下結合附圖
對本實用新型作進ー步補充說明。圖I為被測量物品結構示意圖。圖2為現(xiàn)有技術中千分尺的結構示意圖。 圖3為本實用新型的結構示意圖。圖中1-弓形尺架，2-測頭201-上測頭，202-下測頭，3、下測頭接觸片，4、控制裝置，5-針式測頭。
具體實施方式
為了使本實用新型所解決的技術問題、技術方案及有益效果更加清楚明白，
以下結合附圖對本實用新型進行進一歩詳細說明。應當理解，此處所描述的具體實施例僅僅用以解釋本實用新型，并不用于限定本實用新型。實施例I一種用于測量槽、孔深度的千分尺，如圖3所示，包括弓形尺架I和設置于弓形架兩端的測頭2，測頭2包括上測頭201及下測頭202，由設置于弓形尺架I另一端點上的控制裝置4控制，可相對于下測頭202移動上測頭201，上下測頭均為Φ直徑6. 5mm的圓柱體。上測頭201端部設置針式測頭5，下測頭端部設置大于測頭2柱體的接觸片3，接觸片3直徑Φ 20mm,厚度為2mm，上測頭201針式測頭5的針尖與測頭2柱體同心同軸，下測頭202與測頭2柱體同心設置，接觸片3與上測頭201是由硬質合金材料做成，加工過程中保證針式測頭5、接觸片3和測頭2柱體同心度，平面度符合國家標準要求。實施例2一種用于測量槽、孔深度的千分尺，如圖3所示，包括弓形尺架I和設置于弓形架兩端的測頭2，測頭2包括上測頭201及下測頭202，由設置于弓形尺架I另一端點上的控制裝置4控制，可相對于下測頭202移動上測頭201，上下測頭均為Φ直徑6. 5mm的圓柱體。上測頭201端部設置針式測頭5，下測頭端部設置大于測頭2柱體的接觸片3，接觸片3直徑Φ 30mm，厚度為4mm，上測頭201的針式測頭5的針尖與測頭2柱體同心同軸，下測頭202與測頭2柱體同心設置，接觸片3與上測頭201是由硬質合金材料做成，加工過程中保證針式測頭5、接觸片3和測頭2柱體同心度，平面度符合國家標準要求。由于本實用新型的上測頭設置有針式測頭5，上測頭可方便地深入需要測量的槽、孔中，如深入到圖I所示的圓刀片上表面的凹槽中，并與凹槽的底面最深點接觸，而由于本實用新型在的下測頭設置有面積較大的接觸片3，可增大測量工具與被測物品的接觸面積，如圓刀片的下表面由接觸片3托持，使刀片底面形成符合原設計要求的測量基準，從而最大限度地減小測量誤差，保證測量數(shù)據(jù)的準確性，且操作方便，被測物品置于接觸片3上后的測量準備時間短，作業(yè)效率高。[0023]以上實施例僅為本實用新型的優(yōu)選實施方式，應當指出，對于本領 域技術人員來說，在不脫離本實用新型原理的前提下，所作出的若干改進，也應視為本實用新型的保護范圍。
權利要求1.一種用于測量槽、孔深度的千分尺，包括弓形尺架和設置于弓形尺架兩端的上測頭和下測頭，其特征在于所述的上測頭的柱體下端為針式測頭，所述下測頭柱體的上端設置有面積大于測頭柱體的接觸片。
2.根據(jù)權利要求I所述的用于測量槽、孔深度的千分尺，其特征在于所述針式測頭的針頭點與上測頭柱體同軸設置，所述接觸片是與下測頭柱體同心設置的圓盤。
3.根據(jù)權利要求I所述的用于測量槽、孔深度的千分尺，其特征在于所述的接觸片與下測頭柱體的直徑比例為3飛1。
4.根據(jù)權利要求I所述的用于測量槽、孔深度的千分尺，其特征在于所述的上下測頭和接觸片是由硬質合金材料做成。
5.根據(jù)權利要求I所述的用于測量槽、孔深度的千分尺，其特征在于所述的接觸片的直徑為Φ 20 30mm,厚度為3 5mm。
專利摘要一種用于測量槽、孔深度的千分尺，包括弓形尺架和設置于弓形尺架兩端的上測頭和下測頭，其特征在于所述的上測頭的柱體下端為針式測頭，所述下測頭柱體的上端設置有面積大于測頭柱體的接觸片。由于本實用新型的上測頭設置有針形上測頭，可方便上測頭深入需要測量的槽、孔中，可避免因上測頭柱體過大無法完成測量的問題，另一方面，本實用新型在的下測頭設置有面積較大的接觸片，可增大測量工具與被測物品的接觸面積，以利于被測物品處于正確的接觸狀態(tài)，形成符合原設計要求的測量基準。它具有測量準確、操作方便的優(yōu)點。
文檔編號G01B3/18GK202452909SQ201220078270
公開日2012年9月26日 申請日期2012年3月5日 優(yōu)先權日2012年3月5日
發(fā)明者陳明, 黃舟 申請人:株洲精工硬質合金有限公司