專利名稱：一種新型熔點儀的制作方法
技術領域：
本實用新型屬于分析儀器技術領域，具體講就是涉及一種測定物質熔點的新型熔點儀。
背景技術：
物質的熔點是指該物質由固態(tài)變?yōu)橐簯B(tài)時的溫度。物質在結晶狀態(tài)時反射光線，在熔融狀態(tài)時透射光線。因此，物質在熔化過程中隨著溫度的升高會產生透光度的躍變，在有機化學領域中，熔點測定是辨認物質本性的基本手段，也是純度測定的重要方法之一，熔點儀就是一種測定物質熔點來分析物質本性的分析儀器。因此，熔點儀在化學工業(yè)、醫(yī)藥研究中具有重要地位，是生產藥物、香料、染料及其他有機晶體物質的必備儀器?，F(xiàn)在市場上常見的自動熔點儀存在不能檢測深色樣品的缺陷，同時自動熔點儀用電熱絲加熱爐來測量樣品熔點，對電熱爐絕緣要求較高，另外，電熱絲易損壞。而傳統(tǒng)的目視熔點儀利用硅油加熱攪拌來觀察樣品熔點，硅油時間長了容易凝結，要定期更換。

實用新型內容本實用新型所要解決的技術難題是提供一種新型熔點儀，采用光電檢測技術，既能實現(xiàn)自動檢測功能，也具有人工目視測量的功能，提高了熔點的檢測精度及可靠性，擴大了檢測樣品范圍，結構簡單，價格便宜。技術方案為了解決上述技術難題，本實用新型設計一種新型熔點儀，其特征在于它包括底座，底座內固定有安裝支架，安裝支架上裝有電熱爐，電熱爐上安裝有毛細管，電熱爐兩端安裝有加熱棒，鉬電阻固定在電熱爐左端面上，底座內電熱爐前方安裝支架上裝有發(fā)光二極管，下方裝有硅光電池，電熱爐前端安裝有電熱爐擋塊，外殼和底座組成封閉盒體，外殼上開有觀察窗和顯示屏。所述毛細管內徑I. Omm.外徑I. 4mm。有益效果自白熾燈源發(fā)生的光，經光纖穿過電熱爐和毛細管座的透光孔會聚在毛細管中，透過熔融樣品的光，由硅光電池接收。當溫度上升時，樣品在熔解的過程中，光通量變大，經微機記錄，顯示熔化曲線及初熔和終熔溫度。通過一個閉環(huán)系統(tǒng)及軟件對溫度的自動校正，實現(xiàn)電熱爐的跟隨功能，同時也消除了季節(jié)溫差對預置溫度的影響，同時還可以通過眼睛觀察毛細管中的樣品，當溫度上升到樣品熔點時，記錄樣品初熔、終熔點。

附圖I是本實用新型內部熔融物質部件結構示意圖附圖2是本實用新型廣品不意圖。
具體實施方式

以下結合附圖和實施例，對本實用新型做進ー步說明。如附圖I和2所示，ー種新型熔點儀，包括底座1，底座I內固定有安裝支架2，安裝支架2上裝有電熱爐3，電熱爐3上安裝有毛細管4，電熱爐3兩端安裝有加熱棒5，鉬電阻6固定在電熱爐3左端面上，底座I內電熱爐3前方安裝支架2上裝有發(fā)光二極管7，下方裝有硅光電池8，電熱爐3前端安裝有電熱爐擋塊9，外殼10和底座I組成封閉盒體，夕卜殼10上開有觀察窗IOa和顯不屏10b。所述毛細管4內徑I. Omm.外徑I. 4mm。自發(fā)光二極管7發(fā)生的光，穿過電熱爐3和毛細管4座的透光孔會聚在毛細管4中，透過熔融樣品的光，由硅光電池8接收。當溫度上升時，樣品在熔解的過程中，光通量變大，經微機記錄，顯示熔化曲線及初熔和終熔溫度。通過ー個閉環(huán)系統(tǒng)及軟件對溫度的自動校正，實現(xiàn)電熱爐3的跟隨功能，同時也消除了季節(jié)溫差對預置溫度的影響，同時還可以通 過眼睛觀察毛細管中的樣品，當溫度上升到樣品熔點吋，記錄樣品初熔、終熔點。
權利要求1.一種新型熔點儀，其特征在于它包括底座(1)，底座(I)內固定有安裝支架(2)，安裝支架⑵上裝有電熱爐(3)，電熱爐(3)上安裝有毛細管(4)，電熱爐(3)兩端安裝有加熱棒(5)，鉬電阻(6)固定在電熱爐(3)左端面上，底座⑴內電熱爐(3)前方安裝支架(2)上裝有發(fā)光二極管(7)，下方裝有硅光電池(8)，電熱爐(3)前端安裝有電熱爐擋塊(9)，外殼(10)和底座(I)組成封閉盒體，外殼(10)上開有觀察窗(IOa)和顯示屏(10b)。
2.如權利要求I所述的一種新型熔點儀，其特征在于所述毛細管(4)內徑I.Omm.外徑 I. 4mmο
專利摘要一種新型熔點儀，包括底座(1)，底座(1)內固定有安裝支架(2)，安裝支架(2)上裝有電熱爐(3)，電熱爐(3)上安裝有毛細管(4)，電熱爐(3)兩端安裝有加熱棒(5)，鉑電阻(6)固定在電熱爐(3)左端面上，底座(1)內電熱爐(3)前方安裝支架(2)上裝有發(fā)光二極管(7)，下方裝有硅光電池(8)，電熱爐(3)前端安裝有電熱爐擋塊(9)，外殼(10)和底座(1)組成封閉盒體，外殼(10)上開有觀察窗(10a)和顯示屏(10b)。本實用新型采用光電檢測技術，既能實現(xiàn)自動檢測功能，也具有人工目視測量的功能，提高了熔點的檢測精度及可靠性，擴大了檢測樣品范圍，結構簡單，價格便宜。
文檔編號G01N25/04GK202522530SQ20122011185
公開日2012年11月7日 申請日期2012年3月22日 優(yōu)先權日2012年3月22日
發(fā)明者史瓊, 朱中華 申請人:上海儀電物理光學儀器有限公司