專利名稱：基于ni數(shù)據(jù)采集設(shè)備的多針連接器電氣性能測(cè)試系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及一種多針連接器的電氣性能測(cè)試系統(tǒng)，尤其是指一種基于NI數(shù)據(jù)采集設(shè)備的多針連接器電氣性能測(cè)試系統(tǒng)。本實(shí)用新型廣泛適用于要求檢測(cè)多針連接器電學(xué)性能的各個(gè)領(lǐng)域，尤其是適用于大型企業(yè)對(duì)批量多針連接器電學(xué)性能的測(cè)試，操作簡(jiǎn)單方便、靈活性及多用性強(qiáng)。
背景技術(shù)：
目前，在通信、醫(yī)療、測(cè)試等設(shè)備中與外界通訊的連接器的電氣性能要求越來(lái)越高，越來(lái)越多的設(shè)備需要測(cè)試連接器多針間的短開(kāi)路狀況。然而目前對(duì)多針連接器電氣性能測(cè)試設(shè)備主要有開(kāi)路和短路測(cè)試。在測(cè)試多針 間的電氣性能時(shí)要么測(cè)試是否短路，要么測(cè)試是否開(kāi)路，不能任意配置多針間的短、開(kāi)路狀況。如果把連接器裝配到電路板上，則連接器的多針間短路和開(kāi)路狀況會(huì)并存。因此，傳統(tǒng)的測(cè)試設(shè)備就無(wú)法對(duì)其進(jìn)行測(cè)試測(cè)試，而是直接由作業(yè)人員用萬(wàn)用表一個(gè)一個(gè)針進(jìn)行測(cè)試，測(cè)試時(shí)間長(zhǎng)，效率差，而且還會(huì)因?yàn)樽鳂I(yè)人員的操作失誤造成誤測(cè)。
發(fā)明內(nèi)容為了快速方便精確的對(duì)多針連接器的電氣性能進(jìn)行測(cè)試測(cè)試，本實(shí)用新型提出了一種基于NI數(shù)據(jù)采集設(shè)備的多針連接器電氣性能的測(cè)試系統(tǒng)。該測(cè)試系統(tǒng)操作簡(jiǎn)單方便，靈活性強(qiáng)可以任意配置測(cè)試針的數(shù)量，多用性強(qiáng)可以任意配置多針間短開(kāi)路狀況，而且使用環(huán)境要求低、應(yīng)用廣泛在需要測(cè)試連接器的領(lǐng)域都可以使用，因此適用于大型企業(yè)對(duì)批量多針連接器電學(xué)性能的測(cè)試。本實(shí)用新型所采用的技術(shù)方案為本方案以USB-6501 NI數(shù)據(jù)采集卡為例對(duì)多針連接器進(jìn)行電氣性能測(cè)試。首先通過(guò)NI數(shù)據(jù)采集卡對(duì)需要測(cè)試針上輸出一個(gè)電壓，然后通過(guò)NI數(shù)據(jù)采集卡去檢測(cè)其余針上的電壓，判斷是否是所有的針全部測(cè)試完畢，如果沒(méi)有測(cè)試完畢，則需要繼續(xù)對(duì)測(cè)試針上輸出一個(gè)電壓，再通過(guò)NI數(shù)據(jù)采集卡去檢測(cè)其余針上的電壓，再判斷是否是所有的針全部測(cè)試完畢，直至所有的針全部測(cè)試完畢。如果測(cè)試完畢，則使用自行編寫(xiě)的基于Labview的測(cè)試程序?qū)⒉杉臄?shù)據(jù)與標(biāo)準(zhǔn)的數(shù)據(jù)列進(jìn)行比較，如果相同，則表示所有的針之間的短開(kāi)路狀況符合我們的要求；如果沒(méi)有則說(shuō)明測(cè)試的連接器不符合我們的要求?；贜I數(shù)據(jù)采集設(shè)備的多針連接器電氣性能測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于包括測(cè)試程序、NI數(shù)據(jù)采集卡、USB數(shù)據(jù)線、排線及待測(cè)多針連接器，其中NI數(shù)據(jù)采集卡用于發(fā)送和采集數(shù)據(jù)。其連接特征為測(cè)試多針連接器通過(guò)排線連接NI數(shù)據(jù)采集卡，NI數(shù)據(jù)采集卡通過(guò)USB數(shù)據(jù)線連接電腦，電腦上的Labview測(cè)試程序來(lái)控制整個(gè)測(cè)試系統(tǒng)。進(jìn)一步地，前述的基于NI數(shù)據(jù)采集設(shè)備的多針連接器電氣性能測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于測(cè)試程序利用Labview測(cè)試軟件來(lái)與數(shù)據(jù)采集卡進(jìn)行通訊，處理數(shù)據(jù)，并針對(duì)用戶需要任意配置測(cè)試針的數(shù)量或任意配置多針間短開(kāi)路狀況來(lái)設(shè)置標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)列。[0010]進(jìn)一步地 ，前述的基于NI數(shù)據(jù)采集設(shè)備的多針連接器電氣性能測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于測(cè)試程序在輸入口采集的數(shù)據(jù)形成一個(gè)數(shù)據(jù)列，通過(guò)數(shù)據(jù)列與標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)列的比較來(lái)判斷多針間的短開(kāi)路狀況進(jìn)一步地，前述的基于NI數(shù)據(jù)采集設(shè)備的多針連接器電氣性能測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于該系統(tǒng)在測(cè)試結(jié)束后，不僅顯示測(cè)試的多針連接器時(shí)候通過(guò)測(cè)試，對(duì)未通過(guò)測(cè)試的多針連接器還會(huì)在測(cè)試程序中顯示。本實(shí)用新型的系統(tǒng)穩(wěn)定、快速方便精確、對(duì)環(huán)境要求不高，可以應(yīng)用廣泛在需要測(cè)試連接器的領(lǐng)域，尤其適用于大型企業(yè)對(duì)批量多針連接器電學(xué)性能的測(cè)試，成本低，速度快。

圖I為基于NI數(shù)據(jù)采集設(shè)備的多針連接器電氣性能測(cè)試系統(tǒng)結(jié)構(gòu)圖。圖中各附圖標(biāo)記的含義為I 測(cè)試程序；2 NI數(shù)據(jù)采集卡；3 USB數(shù)據(jù)線；4 排線；5 待測(cè)多針連接器。圖2為基于NI數(shù)據(jù)采集設(shè)備的多針連接器電氣性能測(cè)試系統(tǒng)的測(cè)試流程圖。圖3為基于Labview的測(cè)試程序操作界面。
具體實(shí)施方式
為了快速方便精確的對(duì)多針連接器的電氣性能進(jìn)行測(cè)試測(cè)試，本實(shí)用新型提出了一種基于NI數(shù)據(jù)采集設(shè)備的多針連接器電氣性能的測(cè)試系統(tǒng)。該測(cè)試系統(tǒng)操作簡(jiǎn)單方便，靈活性強(qiáng)可以任意配置測(cè)試針的數(shù)量，多用性強(qiáng)可以任意配置多針間短開(kāi)路狀況，而且使用環(huán)境要求低、應(yīng)用廣泛在需要測(cè)試連接器的領(lǐng)域都可以使用，因此適用于大型企業(yè)對(duì)批量多針連接器電學(xué)性能的測(cè)試。該電氣性能測(cè)試系統(tǒng)包含測(cè)試程序I ;NI數(shù)據(jù)采集卡2 ；USB數(shù)據(jù)線3 ;排線4 ;待測(cè)多針連接器5。下面具體詳細(xì)說(shuō)明基于NI USB-6501數(shù)據(jù)采集卡的多針連接器電氣性能測(cè)試系統(tǒng)的具體實(shí)施方式
?；贚abview的測(cè)試程序界面如圖3所示。連接好系統(tǒng)后，直接點(diǎn)擊VI界面的運(yùn)行，程序會(huì)自動(dòng)以以下的五步驟進(jìn)行運(yùn)行，程序運(yùn)行后會(huì)自動(dòng)的顯示出來(lái)是PASS還是FAIL。該程序不僅控制整個(gè)系統(tǒng)的測(cè)試進(jìn)程，還可以針對(duì)用戶需要任意配置測(cè)試針的數(shù)量或任意配置多針間短開(kāi)路狀況來(lái)設(shè)置標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)列。第一步NI USB-6501數(shù)據(jù)采集卡上的24PIN可以任意連接到需要測(cè)試的連接器上。那么，在對(duì)相應(yīng)的連接器進(jìn)行測(cè)試時(shí)，把待測(cè)多針連接器接連到USB-6501 NI數(shù)據(jù)采集卡的I/O上。第二步設(shè)置NI USB-6501數(shù)據(jù)采集卡上其中一個(gè)通道為輸出口，其余為輸入口。第三步在輸出口上輸出一個(gè)電壓，然后通過(guò)USB-6501 NI數(shù)據(jù)采集卡去檢測(cè)其余針上的電壓，判斷是否是所有的針全部測(cè)試完畢，如果沒(méi)有測(cè)試完畢，則需要繼續(xù)對(duì)測(cè)試針上輸出一個(gè)電壓，再通過(guò)USB-6501 NI數(shù)據(jù)采集卡去檢測(cè)其余針上的電壓，再判斷是否是所有的針全部測(cè)試完畢，直至所有的針全部測(cè)試完畢。第四步按照第二步和第三步的方法測(cè)試完所有的連接器針。[0024]第五步把所有輸入口上的電壓采集到電腦里面形成一個(gè)數(shù)據(jù)列，通過(guò)比較此數(shù)據(jù)列與標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)列的關(guān)系，來(lái)判斷此連接器的短開(kāi)路狀況。用此標(biāo)準(zhǔn)的數(shù)據(jù)列可以配置特定的針之間連通與否。通過(guò)以上結(jié)構(gòu)及檢測(cè)方法的描述，本實(shí)用新型的實(shí)質(zhì)性特征已明確，其效果主要?dú)w結(jié)為以下幾點(diǎn)I、該實(shí)用新型可以針對(duì)用戶需要測(cè)試多針連接器任意配置測(cè)試針的數(shù)量或任意配置多針間短開(kāi)路狀況。2、本實(shí)用新型的系統(tǒng)穩(wěn)定、快速方便精確、對(duì)環(huán)境要求不高。3、本實(shí)用新型尤其適用于大型企業(yè)對(duì)針連接器電學(xué)性能的測(cè)試，成本低，速度快。綜上所述，本實(shí)用新型可以快速準(zhǔn)確測(cè)試多針連接器任意配置測(cè)試針的數(shù)量或任意配置多針間短開(kāi)路狀況，通過(guò)對(duì)實(shí)施例的具體描述，其結(jié)構(gòu)特征及測(cè)試方法已被詳細(xì)地公示，但凡基于上述實(shí)施例及其測(cè)試方法所作的等效替換或簡(jiǎn)單修改，均應(yīng)該被包含于本實(shí)用新型專利請(qǐng)求的專利保護(hù)范圍之內(nèi)。
權(quán)利要求1.基于NI數(shù)據(jù)采集設(shè)備的多針連接器電氣性能測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于包括測(cè)試程序、NI數(shù)據(jù)采集卡、USB數(shù)據(jù)線、排線及待測(cè)多針連接器，其中NI數(shù)據(jù)采集卡用于發(fā)送和 采集數(shù)據(jù)，其連接特征為測(cè)試多針連接器通過(guò)排線連接NI數(shù)據(jù)采集卡，NI數(shù)據(jù)采集卡通過(guò)USB數(shù)據(jù)線連接電腦，電腦上的Labview測(cè)試程序來(lái)控制整個(gè)測(cè)試系統(tǒng)。
專利摘要本實(shí)用新型涉及一種多針連接器的電氣性能測(cè)試系統(tǒng)，尤其是指一種基于NI數(shù)據(jù)采集設(shè)備的多針連接器電氣性能測(cè)試系統(tǒng)。本實(shí)用新型快速方便精確的對(duì)多針連接器的電氣性能進(jìn)行測(cè)試，操作簡(jiǎn)單方便，靈活性強(qiáng)可以任意配置測(cè)試針的數(shù)量，多用性強(qiáng)可以任意配置多針間短開(kāi)路狀況，而且使用環(huán)境要求低、應(yīng)用廣泛在需要測(cè)試連接器的領(lǐng)域都可以使用，尤其適用于大型企業(yè)對(duì)批量多針連接器電學(xué)性能的測(cè)試。
文檔編號(hào)G01R31/02GK202794409SQ201220119089
公開(kāi)日2013年3月13日 申請(qǐng)日期2012年3月27日 優(yōu)先權(quán)日2012年3月27日
發(fā)明者闞仁根, 陳志超, 劉宏欣, 劉華, 袁海驥 申請(qǐng)人:科納技術(shù)(蘇州)有限公司