專利名稱：一種新型充電器老化測試架的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實用新型涉及一種測試架，尤其是一種新型充電器老化測試架。
背景技術(shù)：
隨著現(xiàn)代科學(xué)技術(shù)的發(fā)展和進步，很多行業(yè)都取得了突飛猛進的發(fā)展，特別是電子產(chǎn)品充電器行業(yè)，越來越多的產(chǎn)品采用了新的材料或者新的工藝，但是為了達到滿意的合格率，幾乎所有產(chǎn)品在出廠前都要先經(jīng)過老化測試，來確定產(chǎn)品性能的穩(wěn)定性，從而保證產(chǎn)品出廠的合格率，或在產(chǎn)品出現(xiàn)故障需返廠維修時，也需運用老化測試技術(shù)對產(chǎn)品進行檢測。因此在不縮減老化測試時間的條件下怎樣提高工作效率及有效降低生產(chǎn)或維護成本是制造商們面臨的重大問題。
實用新型內(nèi)容本實用新型的目的是提供一種能有效降低維護成本、減少誤測率、增加老化與測試聯(lián)接的可靠性的新型充電器老化測試架。為了實現(xiàn)上述目的，本實用新型采用如下技術(shù)方案它包括測試聯(lián)動組件、固定組件、驅(qū)動氣缸及骨架，所述的測試聯(lián)動組件包括聯(lián)接針板及設(shè)置于其上的聯(lián)接探針，所述的固定組件由兩側(cè)設(shè)有防磨損金屬塊的產(chǎn)品機架組成，所述的產(chǎn)品機架與驅(qū)動氣缸相連，所述的驅(qū)動氣缸設(shè)在骨架上。優(yōu)選地所述的產(chǎn)品機架上設(shè)有多個產(chǎn)品單元，所述的產(chǎn)品單元外側(cè)設(shè)有防損壞保護硅膠座，并與USB電源充電器DC端輸出接頭相連，所述的DC端輸出接頭上設(shè)有若干DC測試及老化輸出銅釘。優(yōu)選地所述的產(chǎn)品機架上還設(shè)有測試及老化固定銅套，且在產(chǎn)品機架上呈對稱分布。由于采用了上述方案，產(chǎn)品測試與老化時DC輸出端直接采用PCB包硅膠的USB接觸，在與產(chǎn)品接觸USB的PCB板上直接焊上銅釘做測試與老化的DC輸出，同時產(chǎn)品與USB的聯(lián)接采用水平式插撥(即臥式插撥)，AC輸入端可用探針直接與產(chǎn)品的AC腳接觸，減化機架結(jié)構(gòu)提高機架的抗摔性，簡化及省去導(dǎo)線的聯(lián)接，降低維護成本、減少誤測率、增加老化與測試聯(lián)接的可靠性。

圖I是本實用新型實施例的結(jié)構(gòu)示意圖。圖2是本實用新型實施例的產(chǎn)品機架示意圖。
具體實施方式
如圖1-2所示，本實用新型實施例的新型充電器老化測試架。它包括測試聯(lián)動組件、固定組件、驅(qū)動氣缸及骨架，所述的測試聯(lián)動組件包括聯(lián)接針板I及設(shè)置于其上的聯(lián)接探針2，聯(lián)接針板I不動，聯(lián)接探針2處于伸出狀態(tài)，所述的固定組件由兩側(cè)設(shè)有防磨損金屬塊3的產(chǎn)品機架4組成，所述的產(chǎn)品機架4與驅(qū)動氣缸5相連，所述的驅(qū)動氣缸5設(shè)在骨架6上并可以自由滑動，驅(qū)動氣缸5通氣使產(chǎn)品機架4上升，當(dāng)驅(qū)動氣缸5把聯(lián)接探針2壓縮到一定程度時，產(chǎn)品的輸入與輸出通過聯(lián)接探針2與外部的設(shè)備完全接通；所述的產(chǎn)品機架4上設(shè)有多個產(chǎn)品單元7，所述的產(chǎn)品單元7外側(cè)設(shè)有防損壞保護硅膠座8，并與USB電源充電器DC端輸出接頭9相連，所述的DC端輸出接頭9上設(shè)有若干DC測試及老化輸出銅釘10 ;所述的產(chǎn)品機架4上還設(shè)有測試及老化固定銅套11，且在產(chǎn) 品機架4上呈對稱分布；產(chǎn)品測試與老化時DC輸出端直接采用PCB包硅膠的USB接觸，在與產(chǎn)品接觸USB的PCB板上直接焊上銅釘做測試與老化的DC輸出，同時產(chǎn)品與USB的聯(lián)接采用水平式插撥(即臥式插撥)，AC輸入端可用探針直接與產(chǎn)品的AC腳接觸，減化機架結(jié)構(gòu)提高機架的抗摔性，簡化及省去導(dǎo)線的聯(lián)接，降低維護成本、減少誤測率、增加老化與測試聯(lián)接的可靠性。以上所述僅為本實用新型的優(yōu)選實施例，并非因此限制本實用新型的專利范圍，凡是利用本實用新型說明書及附圖內(nèi)容所作的等效結(jié)構(gòu)或等效流程變換，或直接或間接運用在其他相關(guān)的技術(shù)領(lǐng)域，均同理包括在本實用新型的專利保護范圍內(nèi)。
權(quán)利要求1.一種新型充電器老化測試架，它包括測試聯(lián)動組件、固定組件、驅(qū)動氣缸及骨架，其特征在于所述的測試聯(lián)動組件包括聯(lián)接針板及設(shè)置于其上的聯(lián)接探針，所述的固定組件由兩側(cè)設(shè)有防磨損金屬塊的產(chǎn)品機架組成，所述的產(chǎn)品機架與驅(qū)動氣缸相連，所述的驅(qū)動氣缸設(shè)在骨架上。
2.如權(quán)利要求I所述的新型充電器老化測試架，其特征在于所述的產(chǎn)品機架上設(shè)有多個產(chǎn)品單元，所述的產(chǎn)品單元外側(cè)設(shè)有防損壞保護硅膠座，并與USB電源充電器DC端輸出接頭相連，所述的DC端輸出接頭上設(shè)有若干DC測試及老化輸出銅釘。
3.如權(quán)利要求2所述的新型充電器老化測試架，其特征在于所述的產(chǎn)品機架上還設(shè)有測試及老化固定銅套，且在產(chǎn)品機架上呈對稱分布。
專利摘要本實用新型涉及一種測試架，尤其是一種新型充電器老化測試架。它包括測試聯(lián)動組件、固定組件、驅(qū)動氣缸及骨架，所述的測試聯(lián)動組件包括聯(lián)接針板及設(shè)置于其上的聯(lián)接探針，所述的固定組件由兩側(cè)設(shè)有防磨損金屬塊的產(chǎn)品機架組成，所述的產(chǎn)品機架與驅(qū)動氣缸相連，所述的驅(qū)動氣缸設(shè)在骨架上。由于本實用新型產(chǎn)品測試與老化時DC輸出端直接采用PCB包硅膠的USB接觸，在與產(chǎn)品接觸USB的PCB板上直接焊上銅釘做測試與老化的DC輸出，同時產(chǎn)品與USB的聯(lián)接采用水平式插撥(即臥式插撥)，AC輸入端可用探針直接與產(chǎn)品的AC腳接觸，減化機架結(jié)構(gòu)提高機架的抗摔性，簡化及省去導(dǎo)線的聯(lián)接，降低維護成本、減少誤測率、增加老化與測試聯(lián)接的可靠性。
文檔編號G01R31/00GK202600066SQ20122018138
公開日2012年12月12日 申請日期2012年4月26日 優(yōu)先權(quán)日2012年4月26日
發(fā)明者李育濤 申請人:李育濤