專(zhuān)利名稱(chēng)：一種光學(xué)測(cè)試裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型屬于導(dǎo)引頭測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種光學(xué)測(cè)試裝置。
背景技術(shù)：
由于紅外導(dǎo)引頭光軸與機(jī)械軸不重合度、光軸與電軸的不重合度，以及導(dǎo)引頭測(cè)角元件的非線性度構(gòu)成綜合指向誤差，需要搭建標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試光路來(lái)標(biāo)定該綜合指向誤差，因此應(yīng)構(gòu)建精度較高且性價(jià)比高的測(cè)試光路或測(cè)試裝置。 紅外導(dǎo)引頭測(cè)試時(shí)需要搭建測(cè)試光路，在校準(zhǔn)轉(zhuǎn)臺(tái)的導(dǎo)引頭安裝面與測(cè)試光路垂直時(shí)，一般使用的是平行平晶，再利用內(nèi)調(diào)焦望遠(yuǎn)鏡調(diào)整，此方法校準(zhǔn)光路的精度存在誤差，因此需要設(shè)計(jì)能夠提高綜合指向誤差測(cè)試精度的裝置。
發(fā)明內(nèi)容本實(shí)用新型的目的是提供一種能夠提高綜合指向誤差測(cè)試精度的光學(xué)測(cè)試裝置。本實(shí)用新型所采用的技術(shù)方案是一種光學(xué)測(cè)試裝置，包括基準(zhǔn)平板以及位于基準(zhǔn)平板上的平行平晶，平行平晶通過(guò)壓環(huán)固定在基準(zhǔn)平板上，基準(zhǔn)平板通過(guò)測(cè)試支架垂直于水平面放置。如上所述的一種光學(xué)測(cè)試裝置，其中所述測(cè)試支架由相互垂直的底板和側(cè)板組成，側(cè)板上開(kāi)有圓形孔，基準(zhǔn)平板置于圓形孔內(nèi)，且基準(zhǔn)平板的兩端與圓形孔的內(nèi)壁固定連接。如上所述的一種光學(xué)測(cè)試裝置，其中所述平行平晶的平行度為0.6 μ m、面形為
O.2。如上所述的一種光學(xué)測(cè)試裝置，其中所述平行平晶位于基準(zhǔn)平板的中心位置。如上所述的一種光學(xué)測(cè)試裝置，其中所述壓環(huán)將平行平晶壓靠在基準(zhǔn)平板上，并通過(guò)螺釘與基準(zhǔn)平板固連。本實(shí)用新型的有益效果是本實(shí)用新型提供的裝置結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，便于測(cè)量過(guò)程中的操作；由于平行平晶與壓環(huán)的結(jié)構(gòu)，使得裝置整體相當(dāng)于一塊高精度的反射鏡，在導(dǎo)引頭測(cè)試時(shí)光路標(biāo)定時(shí)，可靠性好，測(cè)試精度高。

圖I為本實(shí)用新型提供的一種光學(xué)測(cè)試裝置的結(jié)構(gòu)圖；圖2為圖I基準(zhǔn)平板結(jié)構(gòu)圖；圖3為基準(zhǔn)平板與平行平晶的連接示意圖；其中，I、測(cè)試支架，2、基準(zhǔn)平板，3、平行平晶，4、壓環(huán)。
具體實(shí)施方式
[0017]
以下結(jié)合附圖和實(shí)施例對(duì)本實(shí)用新型提出的一種一種光學(xué)測(cè)試裝置進(jìn)行介紹如圖I所示，一種光學(xué)測(cè)試裝置，包括基準(zhǔn)平板2以及位于基準(zhǔn)平板2上的平行平晶3，平行平晶3通過(guò)壓環(huán)4固定在基準(zhǔn)平板2上，基準(zhǔn)平板2通過(guò)測(cè)試支架I垂直于水平面放置。為獲得更好的效果，各部件應(yīng)進(jìn)行如下選擇測(cè)試支架I由相互垂直的底板和側(cè)板組成，側(cè)板上開(kāi)有圓形孔，基準(zhǔn)平板2置于圓形孔內(nèi)，且基準(zhǔn)平板2的兩端與圓形孔的內(nèi)壁固定連接。平行平晶3的平行度為O. 6 μ m、面形為O. 2，平行平晶3位于基準(zhǔn)平板2的中心位置。壓環(huán)4將平行平晶3壓靠在基準(zhǔn)平板2上，并通過(guò)螺釘與基準(zhǔn)平板2固連。 基準(zhǔn)平板2為開(kāi)有孔的矩形平板，用以減輕其重量。
權(quán)利要求1.一種光學(xué)測(cè)試裝置，包括基準(zhǔn)平板(2)以及位于基準(zhǔn)平板(2)上的平行平晶(3)，平行平晶(3 )通過(guò)壓環(huán)(4 )固定在基準(zhǔn)平板(2 )上，基準(zhǔn)平板(2 )通過(guò)測(cè)試支架(I)垂直于水平面放置。
2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的一種光學(xué)測(cè)試裝置，其特征在于所述測(cè)試支架(I)由相互垂直的底板和側(cè)板組成，側(cè)板上開(kāi)有圓形孔，基準(zhǔn)平板(2)置于圓形孔內(nèi)，且基準(zhǔn)平板(2)的兩端與圓形孔的內(nèi)壁固定連接。
3.根據(jù)權(quán)利要求I所述的一種光學(xué)測(cè)試裝置，其特征在于所述平行平晶(3)的平行度為O. 6 μ m、面形為O. 2。
4.根據(jù)權(quán)利要求I所述的一種光學(xué)測(cè)試裝置，其特征在于所述平行平晶(3)位于基準(zhǔn)平板(2)的中心位置。
5.根據(jù)權(quán)利要求I所述的一種光學(xué)測(cè)試裝置，其特征在于所述壓環(huán)(4)將平行平晶(3 )壓靠在基準(zhǔn)平板(2 )上，并通過(guò)螺釘與基準(zhǔn)平板(2 )固連。
專(zhuān)利摘要本實(shí)用新型屬于導(dǎo)引頭測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種光學(xué)測(cè)試裝置。目的是提供一種能夠提高綜合指向誤差測(cè)試精度的光學(xué)測(cè)試裝置。該裝置包括基準(zhǔn)平板(2)以及位于基準(zhǔn)平板(2)上的平行平晶(3)，平行平晶(3)通過(guò)壓環(huán)(4)固定在基準(zhǔn)平板(2)上，基準(zhǔn)平板(2)通過(guò)測(cè)試支架1垂直于水平面放置。該裝置結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，便于測(cè)量過(guò)程中的操作；由于平行平晶與壓環(huán)的結(jié)構(gòu)，使得裝置整體相當(dāng)于一塊高精度的反射鏡，在導(dǎo)引頭測(cè)試時(shí)光路標(biāo)定時(shí)，可靠性好，測(cè)試精度高。
文檔編號(hào)G01B11/26GK202661051SQ201220207479
公開(kāi)日2013年1月9日 申請(qǐng)日期2012年5月10日 優(yōu)先權(quán)日2012年5月10日
發(fā)明者王延新, 劉思陽(yáng), 谷楊 申請(qǐng)人:中國(guó)航天科工集團(tuán)第三研究院第八三五八研究所