專利名稱：一種用于x射線衍射儀中密封樣品的裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實 用新型屬于放射性測量技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及ー種用于X射線衍射儀中密封樣品的裝置。
背景技術(shù)：
X射線衍射儀是運用衍射原理，利用已知波長的特征X射線作為入射光轟擊晶體，通過測量所產(chǎn)生的衍射X射線的空間分布，以確定樣品的微觀結(jié)構(gòu)，其主要用于定性分析。X射線衍射儀主要由X射線發(fā)生器(含X射線管、靶件和冷卻系統(tǒng))、測角儀和輻射探測器組成。根據(jù)測角儀工作方式的不同分為旋轉(zhuǎn)樣品臺(Θ - Θ )和固定樣品臺(Θ -2 Θ )兩種模式。對于放射性粉末樣品，多采用固定樣品臺模式。操作這些樣品吋，衍射儀及周圍環(huán)境極易被沾污，特別是含钚樣品暴露在空氣中時，還會形成極高的氣溶膠濃度，操作難度很大，危險性極高。為防止放射性樣品對儀器甚至實驗室環(huán)境的沾污，使操作人員避免不必要的外照射和內(nèi)照射損傷，現(xiàn)有的技術(shù)是將整臺的大型儀器(如X射線衍射儀)放置于手套箱或放射性通風柜進行測量操作，這不僅占用大量的實驗室空間，而且對大型儀器的維護和維修帶來諸多不便。另外，大型儀器絕大部分為金屬材質(zhì)，一旦被完全沾污，當其無法使用后便成為ー個固體放射性廢物，無法回收再利用，直接造成了資源的浪費和固體放射性廢物體積量的激増。

實用新型內(nèi)容(一)實用新型目的本實用新型的目的在于提供一種用于X射線衍射儀中密封樣品的裝置，該裝置可防止放射性粉末樣品對X射線衍射儀和實驗室環(huán)境造成污染，避免操作人員受到不必要的外照射和內(nèi)照射。(ニ)技術(shù)方案為了實現(xiàn)上述目的，本實用新型提供了用于X射線衍射儀中密封樣品的裝置，該裝置是由左支撐體、右支撐體、底座(4)、樣品臺(5)構(gòu)成，其中左支撐體與右支撐體之間置有塑料薄膜。所述的左、右支撐體均由上支撐體(I)、下支撐體(2)構(gòu)成，其形狀可為弓形或方形，塑料薄膜固定于上支撐體(I)和下支撐體(2)之間，實現(xiàn)方式是將塑料薄膜固定于左、右支撐體的下支撐體上(2)，然后將左、右支撐體的上支撐體(I)置于下支撐體(2)上以支撐和固定塑料薄膜；所述的底座(4)上置有固定架(3)，支撐體(I)、下支撐體(2)、底座(4)均與固定架
(3)固定連接，底座(4)的作用是用于支撐整個密封裝置和放置樣品臺(5)；所述的樣品臺(5)是用于放置測量樣品。所述的上支撐體(I)和下支撐體(2)的形狀為弓形。(三)有益效果[0013]采用本實用新型提供的密封樣品的裝置對放射性粉末樣品進行密封，可直接置于X射線衍射儀樣品臺進行測量，既不影響2 Θ掃描范圍在100 900內(nèi)的測量從而得到準確的測量結(jié)果，也不會對儀器及周圍環(huán)境造成污染。

圖I密封裝置示意圖；圖2XRD譜圖和標準卡片對比圖(弓形支撐體)；
具體實施方式
下面結(jié)合說明書附圖和具體實施方式
對本實用新型作進ー步闡述。 實施例I圖I為本實用新型提供的密封樣品的裝置。該裝置是由左支撐體、右支撐體、底座(4)、樣品臺(5)構(gòu)成，其中左支撐體與右支撐體之間置有塑料薄膜。所述的左、右支撐體均由上支撐體(I)、下支撐體(2)構(gòu)成，其形狀可為弓形或方形，塑料薄膜固定于上支撐體(I)和下支撐體(2)之間，實現(xiàn)方式是將塑料薄膜固定于下支撐體上(2)，然后將上支撐體(I)置于下支撐體(2)上以支撐和固定塑料薄膜；所述的底座(4)上置有固定架(3)，支撐體
(I)、下支撐體(2)、底座(4)均與固定架(3)固定連接，底座(4)的作用是用于支撐整個密封裝置和放置樣品臺(5);所述的樣品臺(5)是用于放置測量樣品。使用中，首先將放射性粉末樣品制成樣品片，置于樣品臺上，然后將樣品臺放在底座上，將密封用塑料薄膜粘在下支撐體上后用上支撐體壓住并將上、下支撐體用螺紋與固定架連接，最后，將固定架與底座用螺紋連接，本實施例中所用樣品為ThO2粉末。將樣品放入整個密封裝置后，放在北京普析通用公司生產(chǎn)的XD-3型X射線衍射儀上進行測量，X射線衍射儀參數(shù)如表I所示 表IX射線衍射儀參數(shù)表[0022]
權(quán)利要求1.一種用于X射線衍射儀中密封樣品的裝置，其特征在于，該裝置由左支撐體、右支撐體、底座(4)、樣品臺(5)構(gòu)成，其中左支撐體與右支撐體之間置有塑料薄膜。
2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的ー種用于X射線衍射儀中密封樣品的裝置，其特征在于，所述的左支撐體和右支撐體均由上支撐體(I)和下支撐體(2)構(gòu)成，其可為弓形或方形，塑料薄膜固定于上支撐體(I)和下支撐體(2)之間。
3.根據(jù)權(quán)利要求I所述的ー種用于X射線衍射儀中密封樣品的裝置，其特征在于，所述的底座(4)上置有固定架(3)，支撐體(I)、下支撐體(2)、底座(4)均與固定架(3)固定連接。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的ー種用于X射線衍射儀中密封樣品的裝置，其特征在于，所述的固定連接的方式為螺紋連接。
5.根據(jù)權(quán)利要求2所述的ー種用于X射線衍射儀中密封樣品的裝置，其特征在于，所述的上支撐體(I)和下支撐體(2 )的形狀為弓形。
專利摘要本實用新型屬于放射性測量技術(shù)領(lǐng)域，公開了一種用于X射線衍射儀中密封樣品的裝置。該裝置由左支撐體、右支撐體、底座(4)、樣品臺(5)構(gòu)成，其中左支撐體與右支撐體之間置有塑料薄膜。該裝置可防止放射性粉末樣品對X射線衍射儀和實驗室環(huán)境造成污染，避免操作人員受到不必要的外照射和內(nèi)照射。
文檔編號G01N23/20GK202661409SQ20122024093
公開日2013年1月9日 申請日期2012年5月28日 優(yōu)先權(quán)日2012年5月28日
發(fā)明者劉協(xié)春, 羅方祥, 李會蓉, 黃征 申請人:中國原子能科學研究院