專利名稱：便攜式中文界面數(shù)字集成電路功能測(cè)試儀的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及一種便攜式中文界面數(shù)字集成電路功能測(cè)試儀，屬檢測(cè)儀器儀表的技術(shù)領(lǐng)域。
背景技術(shù)：
集成電路測(cè)試儀是對(duì)集成電路進(jìn)行測(cè)試的專用儀器設(shè)備。當(dāng)前，市場(chǎng)上集成電路測(cè)試儀種類很多，集成電路參數(shù)測(cè)試儀是對(duì)集成電路的各項(xiàng)參數(shù)進(jìn)行測(cè)試，是專業(yè)級(jí)的集成電路測(cè)試儀，功能齊全、價(jià)格昂貴、體積較大、操作復(fù)雜。集成電路功能測(cè)試儀是對(duì)集成電路的功能進(jìn)行判定，看是否功能失效是通用級(jí)的集成電路測(cè)試儀，價(jià)格較高，多為英文界
面，操作界面不友好，用戶特殊芯片無法檢測(cè)，對(duì)被檢測(cè)芯片及檢測(cè)電路無保護(hù)報(bào)警，易導(dǎo)致死機(jī)等實(shí)際問題。

實(shí)用新型內(nèi)容針對(duì)以上通用集成電路功能測(cè)試儀中存在的問題，本實(shí)用新型提出一種新型便攜式中文界面數(shù)字集成電路功能測(cè)試儀，不僅能檢測(cè)通用一般芯片，還增加了特殊芯片的檢測(cè)和被檢芯片和檢測(cè)電路的保護(hù)報(bào)警設(shè)計(jì)，并且操作界面為中文菜單界面，操作簡(jiǎn)單，結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、降低成本。本實(shí)用新型采用的技術(shù)方案集成電路功能測(cè)試儀由單片機(jī)I、鍵盤2、串行接口
3、芯片測(cè)試接口 4、中文液晶顯示器6和報(bào)警電路7組成，單片機(jī)I通過I/O端口分別與鍵盤2、芯片測(cè)試接口 4和中文液晶顯示器6連接，單片機(jī)I通過串行接口 3與上位機(jī)5連接，報(bào)警電路7與芯片測(cè)試接口連接。所述的單片機(jī)I采STC89C516RD+單片機(jī)，鍵盤2的接口芯片采用CH450芯片；串行接口 3采用串行接口芯片MAX232，中文液晶顯示器6采用MZLH03-12864中文IXD顯示器。本實(shí)用新型的有益效果實(shí)現(xiàn)了中文菜單的人機(jī)對(duì)話，使操作過程簡(jiǎn)單易學(xué)；增加了保護(hù)報(bào)警功能，使得被檢測(cè)芯片在檢測(cè)過程中，避免了人為的操作錯(cuò)誤的損壞；增加了一些特殊芯片的檢測(cè)，提高了設(shè)備的可靠性和實(shí)用性，同時(shí)降低了成本。

圖I為本實(shí)用新型結(jié)構(gòu)連接示意圖；圖2為本實(shí)用新型單片機(jī)芯片檢測(cè)接口電路連接圖；圖3為本實(shí)用新型電源和芯片檢測(cè)保護(hù)報(bào)警電路連接圖；圖4為本實(shí)用新型工作流程框圖。圖中1_單片機(jī)、2-鍵盤、3-串行接口、4-芯片測(cè)試接口、5-上位機(jī)、6-中文液晶顯示器、7-報(bào)警電路。
具體實(shí)施方式

以下結(jié)合附圖對(duì)本實(shí)用新型做進(jìn)一步說明，以方便技術(shù)人員理解。如圖I所示集成電路功能測(cè)試儀由單片機(jī)I、鍵盤2、串行接口 3、芯片測(cè)試接口
4、中文液晶顯示器6和報(bào)警電路7組成，單片機(jī)I通過I/O端口分別與鍵盤2、芯片測(cè)試接口 4和中文液晶顯示器6連接，單片機(jī)I通過串行接口 3與上位機(jī)5連接，報(bào)警電路7與芯片測(cè)試接口 4連接。鍵盤2的接口芯片采用CH450芯片；串行接口 3采用串行接口芯片MAX232，將上位機(jī)和測(cè)試儀連接起來，通過上位機(jī)上實(shí)現(xiàn)單片機(jī)程序調(diào)試和系統(tǒng)程序燒寫；中文液晶顯
示器6采用MZLH03-12864中文IXD顯示器。如圖2所示所述的單片機(jī)I采STC89C516RD+單片機(jī)，單片機(jī)的Pl 口和P2 口作為芯片檢測(cè)接口連接被檢測(cè)芯片，P3 口中的P3. 6腳用于控制14/16管腳芯片地的轉(zhuǎn)換，P3. 7腳用于控制16/20管腳芯片地的轉(zhuǎn)換，8腳芯片和特殊芯片74LS73芯片的檢測(cè)接口使用特殊連接實(shí)現(xiàn)，單片機(jī)I與被檢測(cè)芯片之間需串接470 Ω電阻，串接電阻對(duì)單片機(jī)的I/O 口起限流保護(hù)的作用。鍵盤2通過PO 口的PO. 3、P0. 2和PO. I與單片機(jī)I連接，串行接口 3通過P3 口的P3. I和P3. O與單片機(jī)I連接，中文液晶顯示器6通過PO 口的PO. 7、PO. 6、PO. 5、PO. 4和PO. 3與單片機(jī)I連接。實(shí)際操作中，操作者經(jīng)常會(huì)把芯片插反，或者把已經(jīng)有問題的芯片拿來檢測(cè)，接入檢測(cè)電路后，芯片可能會(huì)過流發(fā)熱燒毀，或者燒毀檢測(cè)接口電路，造成損失或單片機(jī)檢測(cè)系統(tǒng)死機(jī)，本實(shí)用新型增加了保護(hù)報(bào)警電路，如圖3所示保護(hù)報(bào)警電路示意圖；單片機(jī)系統(tǒng)的電源和被檢測(cè)芯片電源分開，分別用兩個(gè)7805三端穩(wěn)壓電源來實(shí)現(xiàn)，被檢測(cè)芯片電源的故障不會(huì)影響單片機(jī)系統(tǒng)的正常工作，而且被檢測(cè)芯片電源設(shè)計(jì)了保護(hù)報(bào)警電路，由LS2蜂鳴器，Q4和DL1發(fā)光二極管實(shí)現(xiàn)聲光電報(bào)警，由D3, R40, Dff1, R41, R42, U7, Rff1和Q3實(shí)現(xiàn)限流保護(hù)控制，其中調(diào)節(jié)RW1可以改變限流值的大小，限流值從25mTl. 5A，超過限流值，電路自動(dòng)切斷測(cè)試芯片電源，保護(hù)了測(cè)試芯片，并通過紅色發(fā)光二極管發(fā)光和蜂鳴器發(fā)聲報(bào)警，提醒操作者改正。如圖4所示本實(shí)用新型工作流程框圖，系統(tǒng)內(nèi)部軟件部分主要由主程序和若干子程序構(gòu)成，子程序有中文顯示子程序、鍵盤矩陣掃描子程序、按鍵鍵值處理子程序和判別子程序組成，主要功能是對(duì)芯片好壞判別和對(duì)芯片型號(hào)判別。開機(jī)后，先執(zhí)行主程序的系統(tǒng)初始化工作，然后調(diào)用中文顯示子程序，顯示出請(qǐng)輸入型號(hào)的提示，操作者可通過中文液晶顯示器6輸入芯片型號(hào)，進(jìn)行芯片好壞判別，并用中文液晶顯示器6顯示測(cè)試結(jié)果。操作者還可通過中文液晶顯示器6輸入芯片的管腳數(shù)，執(zhí)行型號(hào)判別，如果輸入芯片型號(hào)，中文液晶顯示器6顯示“芯片型號(hào)”，說明芯片型號(hào)檢測(cè)完稱，顯示“無匹配芯片”，說明芯片型號(hào)不在檢測(cè)范圍內(nèi)。本實(shí)用新型還可以對(duì)8腳、14腳、16腳和20腳芯片進(jìn)行好壞判別和型號(hào)判別，還可以判別如74LS73和NE555非標(biāo)準(zhǔn)芯片；如果沒有該型號(hào)芯片或芯片已損壞，系統(tǒng)將提示重新輸入。本實(shí)用新型通過具體實(shí)施過程進(jìn)行說明的，在不脫離本實(shí)用新型范圍的情況下，還可以對(duì)本實(shí)用新型專利進(jìn)行各種變換及等同代替，因此，本實(shí)用新型專利不局限于所公開的具體實(shí)施過程，而應(yīng)當(dāng)包括落入本實(shí)用新型專利權(quán)利要求范 圍內(nèi)的全部實(shí)施方案。
權(quán)利要求1.一種便攜式中文界面數(shù)字集成電路功能測(cè)試儀，其特征在于集成電路功能測(cè)試儀由單片機(jī)、鍵盤、串行接口、芯片測(cè)試接口、中文液晶顯示器和報(bào)警電路組成，單片機(jī)通過I/O端口分別與鍵盤、芯片測(cè)試接口和中文液晶顯示器連接，單片機(jī)通過串行接口與上位機(jī)連接，報(bào)警電路與芯片測(cè)試接口連接。
2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的一種便攜式中文界面數(shù)字集成電路功能測(cè)試儀，其特征在于所述的單片機(jī)采STC89C516RD+單片機(jī)。
3.根據(jù)權(quán)利要求I所述的一種便攜式中文界面數(shù)字集成電路功能測(cè)試儀，其特征在于鍵盤的接口芯片采用CH450芯片。
4.根據(jù)權(quán)利要求I所述的一種便攜式中文界面數(shù)字集成電路功能測(cè)試儀，其特征在于串行接口采用串行接口芯片MAX232。
5.根據(jù)權(quán)利要求I所述的一種便攜式中文界面數(shù)字集成電路功能測(cè)試儀，其特征在于中文液晶顯示器采用MZLH03-12864中文IXD顯示器。
專利摘要本實(shí)用新型涉及一種新型便攜式中文界面數(shù)字集成電路功能測(cè)試儀，屬檢測(cè)儀器儀表的技術(shù)領(lǐng)域，集成電路功能測(cè)試儀由單片機(jī)、鍵盤、串行接口、芯片測(cè)試接口、中文液晶顯示器和報(bào)警電路組成，單片機(jī)通過I/O端口分別與鍵盤、芯片測(cè)試接口和中文液晶顯示器連接，單片機(jī)通過串行接口與上位機(jī)連接，報(bào)警電路與芯片測(cè)試接口的電源電路連接。本實(shí)用新型實(shí)現(xiàn)了中文菜單的人機(jī)對(duì)話，使操作過程簡(jiǎn)單易學(xué)；增加了保護(hù)報(bào)警功能，使得被檢測(cè)芯片在檢測(cè)過程中，避免了人為的操作錯(cuò)誤的損壞；增加了一些特殊芯片的檢測(cè)，提高了設(shè)備的可靠性和實(shí)用性，同時(shí)降低了成本。
文檔編號(hào)G01R31/28GK202583410SQ201220251340
公開日2012年12月5日 申請(qǐng)日期2012年5月31日 優(yōu)先權(quán)日2012年5月31日
發(fā)明者金建輝, 盧誠(chéng) 申請(qǐng)人:昆明理工大學(xué)