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      一種檢測(cè)光纖微彎損耗的裝置的制作方法

      文檔序號(hào):5984340閱讀:586來(lái)源:國(guó)知局
      專利名稱:一種檢測(cè)光纖微彎損耗的裝置的制作方法
      技術(shù)領(lǐng)域
      一種檢測(cè)光纖微彎損耗的裝置技術(shù)領(lǐng)域[0001]本實(shí)用新型涉及光纖檢驗(yàn)領(lǐng)域,具體涉及光纖光學(xué)特性中的微彎損耗檢測(cè)方法。
      技術(shù)背景[0002]光纖的彎曲損耗可以分為微彎損耗和宏彎損耗,光纖的常規(guī)檢驗(yàn)都是檢驗(yàn)光纖的宏彎損耗,微彎損耗不受人們的重視。隨著對(duì)光纖技術(shù)的不斷研究,人們發(fā)現(xiàn)微彎損耗對(duì)光纖的性能有一定的影響。[0003]所謂微彎損耗就是光纖受到不均勻應(yīng)力的作用,例如受到側(cè)壓力或者套塑光纖受到溫度變化時(shí),光纖軸產(chǎn)生微小不規(guī)則彎曲,其結(jié)果是傳導(dǎo)模變換為輻射模而導(dǎo)致光能損耗。微彎是一些隨機(jī)的、曲率半徑可以與光纖的橫截面尺寸相比擬的畸變。 纖芯包層接口在幾何上的不完善,可能會(huì)造成在相應(yīng)區(qū)域上微觀的凸起或凹陷。盡管光是在光纖的直分段中傳輸,光束碰到這些不完善的地方會(huì)改變其方向。光束最初以臨界傳播角傳輸,經(jīng)過(guò)在這些不完善點(diǎn)處的反射以后,傳播角會(huì)發(fā)生變化,結(jié)果就是不再滿足全內(nèi)反射條件,部分光被折射掉,即泄露出纖芯,這就是微彎損耗的機(jī)制。 許多廠家都在做關(guān)于微彎損耗的研究,也提出了一些廠內(nèi)的檢驗(yàn)方法,但是都存在很大的缺陷實(shí)用性不強(qiáng)、準(zhǔn)確性差、 重復(fù)性比較差。如(I)可膨脹圓桶法在一個(gè)圓桶上覆一層砂紙,把光纖繞在上面,然后光纖加熱膨脹,看其衰減后曲線。這種方法需要復(fù)繞機(jī)且對(duì)環(huán)境的要求比較高,因此成本較高實(shí)用性交叉;因?yàn)閺?fù)繞的張力以及復(fù)繞設(shè)備不同,測(cè)試的結(jié)果重復(fù)性比較差。(2)固定直徑圓筒法固定石英鼓法原理和可膨脹圓桶法一樣,也存在類似的缺點(diǎn)。(3)金屬網(wǎng)格法成本低,便于推廣使用。其實(shí)驗(yàn)裝置如圖I所示,包括I公斤重的金屬蓋板I、金屬網(wǎng)格2、橡膠板3、設(shè)有定位柱5的基座4,所述金屬蓋板I、金屬網(wǎng)格2和橡膠板3上均設(shè)置了與定位柱相配合的定位孔6,所述橡膠板3上還設(shè)置了直徑為98 mm的標(biāo)記圓8,該橡膠板上有個(gè)用于放置光纖交叉的缺口,由于該缺口的存在標(biāo)記圓的長(zhǎng)度減少了 8 _。檢測(cè)時(shí),取樣品光纖2m,先將光纖接入光功率計(jì),再把光纖在60mm的圓柱上松繞一圈,濾掉高截模,然后把余下的測(cè)試光纖用膠帶固定在標(biāo)記圓8上,然后再將金屬網(wǎng)格2、蓋板I、重物依次放在光纖上,以檢測(cè)重物對(duì)固定在標(biāo)記圓上的光纖的壓迫,所造成的微彎損耗。這種方法的缺陷有 (I)光纖繞成98_的圓時(shí)會(huì)出現(xiàn)誤差,不同的人在繞圈時(shí)大小不同形狀也可能有差異,且繞圈會(huì)增加光纖的扭轉(zhuǎn)使光纖測(cè)試數(shù)據(jù)有偏差,重復(fù)性降低,精度也會(huì)降低(2)膠帶的使用也使光纖的受力不均勻,同時(shí)微彎的形成也不準(zhǔn)確。(3)橡膠片上使標(biāo)記圓的長(zhǎng)度少8mm的缺口也增加了不確定因素。因此金屬網(wǎng)格法也存在重復(fù)性、準(zhǔn)確性差的缺點(diǎn)。(4)定位柱只有兩個(gè),定位準(zhǔn)確不高。實(shí)用新型內(nèi)容[0004]本實(shí)用新型目的是提供一種檢測(cè)微彎損耗的裝置,該裝置操作簡(jiǎn)單、方便。[0005]本實(shí)用新型的另一目的是提供采用該裝置檢測(cè)光纖微彎損耗的方法,該方法操作簡(jiǎn)單、方便,檢測(cè)結(jié)果準(zhǔn)確性高,重復(fù)性好。[0006]本實(shí)用新型提供一種檢測(cè)光纖微彎損耗的裝置,包括金屬蓋板、金屬網(wǎng)格、橡膠板和設(shè)有定位柱的金屬基座,所述金屬蓋板、金屬網(wǎng)格和橡膠板上均設(shè)置了與定位柱相配合的定位孔,所述橡膠板上還設(shè)置了兩條間距為20-30mm、長(zhǎng)度為145_155mm的標(biāo)記線,所述金屬網(wǎng)格的長(zhǎng)度與所述標(biāo)記線相同。[0007]所述金屬基座上的定位柱為4個(gè),所述金屬蓋板、金屬網(wǎng)格和橡膠板上的定位孔分別為4個(gè)。[0008]所述金屬網(wǎng)格是長(zhǎng)方形。[0009]有益效果[0010]本實(shí)用新型檢測(cè)光纖微彎損耗的裝置,與現(xiàn)有的檢測(cè)裝置相比,操作簡(jiǎn)單、方便。 采用本實(shí)用新型檢測(cè)光纖微彎損耗與原金屬網(wǎng)格法相比,該方法不需要沿著圓形的標(biāo)記固定光纖,僅需要將光纖固定在線狀的標(biāo)記上,因此操作簡(jiǎn)單、準(zhǔn)確、方便。膠帶不在標(biāo)記線上的固定光纖,因此,膠帶不會(huì)造成光纖受力不均勻,也就不會(huì)增加不確定因素對(duì)測(cè)試結(jié)果的 影響。


      [0011]圖I是金屬網(wǎng)格法的檢測(cè)裝置,其中I-金屬蓋板,2-金屬網(wǎng)格,3-橡膠板,4-金屬基座,5-定位柱,6-定位孔,8-標(biāo)記圓。[0012]圖2是本實(shí)用新型微彎損耗的檢測(cè)裝置,其中I-金屬蓋板,2-金屬網(wǎng)格,3-橡膠板,4-金屬基座,5-定位柱,6-定位孔,7-標(biāo)記線。
      具體實(shí)施方式
      [0013]實(shí)施例I本實(shí)用新型檢測(cè)光纖微彎損耗的裝置的結(jié)構(gòu)[0014]本實(shí)用新型檢測(cè)光纖微彎損耗的裝置,包括金屬蓋板I、金屬網(wǎng)格2、橡膠板3和設(shè)有定位柱5的金屬基座4,所述金屬蓋板I、金屬網(wǎng)格2和橡膠板3上均設(shè)置了與定位柱5 相配合的定位孔6,所述橡膠板3上還設(shè)置了兩條間距為20-30mm、長(zhǎng)度為145_155mm的標(biāo)記線7,所述金屬網(wǎng)格2的長(zhǎng)度與所述標(biāo)記線長(zhǎng)度相同。[0015]所述金屬基座4上的定位柱5為4個(gè),所述金屬蓋板I、金屬網(wǎng)格2和橡膠板3上的定位孔6分別為4個(gè)。[0016]所述金屬網(wǎng)格2是長(zhǎng)方形。[0017]實(shí)施例2采用本實(shí)用新型裝置檢測(cè)光纖微彎損耗的方法[0018]在檢測(cè)過(guò)程中,除了需要本實(shí)用新型檢測(cè)光纖微彎損耗的裝置,還需要一根柱子, 一臺(tái)光功率計(jì)。所述柱子的直徑為60-200mm,優(yōu)選60 mm。[0019]具體方法為將檢測(cè)光纖微彎損耗的裝置放置在柱子與光功率計(jì)之間,橡膠板3 固定在金屬基座4上,該方法還包括如下步驟[0020](I)將待測(cè)光纖的自由端留出40-50cm接入光功率計(jì),再將其后的光纖在不受力的狀態(tài)下用膠帶固定在其中一條標(biāo)記線7上,然后沿著柱子繞一圈濾掉高階模,再將繞柱子后的光纖在不受力的狀態(tài)下用膠帶固定在另外一條標(biāo)記線7上,最后留出另外一段 40-50cm長(zhǎng)度的自由端接入光功率計(jì);[0021](2)將金屬網(wǎng)格2上的定位孔6套在金屬基座4的定位柱5上,覆蓋標(biāo)記線7上的光纖;將金屬蓋板I上的定位孔6套在金屬基座4的定位柱5上,壓在金屬網(wǎng)格2上,記錄此時(shí)光功率計(jì)顯示的數(shù)值;[0022](3)在金屬蓋板I上加上重物,記錄此時(shí)光功率計(jì)上顯示的數(shù)值;[0023](4)步驟(2)與步驟(3)之間差值即為固定在標(biāo)記線7上的光纖在步驟(3)所述重物壓迫下的微彎損耗。[0024]所述膠帶的固定位置橡膠板上的非標(biāo)記線位置。[0025]與原金屬網(wǎng)格法相比,該方法不需要沿著圓形的標(biāo)記固定光纖,僅需要將光纖固定在線狀的標(biāo)記上,因此操作簡(jiǎn)單、準(zhǔn)確、方便。由于膠帶不在標(biāo)記線上固定光纖,因此,膠帶不會(huì)造成光纖受力不均勻,也就不會(huì)增加不確定因素對(duì)測(cè)試結(jié)果的影響。所以本實(shí)用新型檢測(cè)方法準(zhǔn)確性高,重復(fù)性好。[0026]實(shí)施例3使用本實(shí)用新型裝置檢測(cè)與原金屬網(wǎng)格法的對(duì)比[0027]同一盤光纖取樣20個(gè),使用本實(shí)用新型裝置檢測(cè)及原金屬網(wǎng)格法進(jìn)行測(cè)試,比較兩種方法測(cè)試數(shù)據(jù)。在所用光功率計(jì)(多單模光纖一般用1310nm光源、單模光纖一般用 1550nm光源)、濾掉高階膜的方法(在直徑為60mm的柱上松繞一圈)、橡膠板(硬度為75)、金屬網(wǎng)格(規(guī)格70目)、金屬蓋板重量相同的情況下,僅改變加在金屬蓋板上重物的重量,所得的測(cè)試結(jié)果如下表[0028]表I金屬蓋板上重物重量為2kg時(shí)的檢測(cè)結(jié)果
      權(quán)利要求1.一種檢測(cè)光纖微彎損耗的裝置,包括金屬蓋板、金屬網(wǎng)格、橡膠板和設(shè)有定位柱的金屬基座,所述金屬蓋板、金屬網(wǎng)格和橡膠板上均設(shè)置了與定位柱相配合的定位孔,其特征在于所述橡膠板上還設(shè)置了兩條間距為20-30mm、長(zhǎng)度為145_155mm的標(biāo)記線,所述金屬網(wǎng)格的長(zhǎng)度與所述標(biāo)記線長(zhǎng)度相同。
      2.根據(jù)權(quán)利要求I所述檢測(cè)光纖微彎損耗的裝置,其特征在于所述金屬基座上的定位柱為4個(gè),所述金屬蓋板、金屬網(wǎng)格和橡膠板上的定位孔分別為4個(gè)。
      3.根據(jù)權(quán)利要求I或2所述檢測(cè)光纖微彎損耗的裝置,其特征在于所述金屬網(wǎng)格是長(zhǎng)方形。
      專利摘要本實(shí)用新型提供一種檢測(cè)光纖微彎損耗的裝置,涉及光纖檢驗(yàn)領(lǐng)域。所述檢測(cè)光纖微彎損耗的裝置,包括金屬蓋板、金屬網(wǎng)格、橡膠板和設(shè)有定位柱的金屬基座,所述金屬蓋板、金屬網(wǎng)格和橡膠板上均設(shè)置了與定位柱相配合的定位孔,所述橡膠板上還設(shè)置了兩條間距為20-30mm、長(zhǎng)度為145-155mm的標(biāo)記線,所述金屬網(wǎng)格的長(zhǎng)度與所述標(biāo)記線相同。本實(shí)用新型檢測(cè)光纖微彎損耗的裝置,與現(xiàn)有的檢測(cè)裝置相比,操作簡(jiǎn)單、方便。
      文檔編號(hào)G01M11/02GK202735067SQ201220291228
      公開日2013年2月13日 申請(qǐng)日期2012年6月20日 優(yōu)先權(quán)日2012年6月20日
      發(fā)明者王小泉, 謝曉紅, 趙強(qiáng) 申請(qǐng)人:南京烽火藤倉(cāng)光通信有限公司
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