專利名稱：變頻空調(diào)控制器的測(cè)試電路及測(cè)試裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域，特別涉及一種變頻空調(diào)控制器的測(cè)試電路及測(cè)試
>J-U ρ α裝直。
背景技術(shù)：
目前，變頻空調(diào)控制器對(duì)于交流輸入的欠電壓、過 電壓、過電流，PFC (PowerFactor Correction，功率因數(shù))輸出的直流電壓的欠電壓、過電壓、過電流都進(jìn)行了軟件保護(hù)。同時(shí)，在一定的范圍內(nèi)，需要對(duì)變頻空調(diào)的壓縮機(jī)做降頻或者限頻保護(hù)，當(dāng)超過預(yù)設(shè)的變頻空調(diào)正常工作的頻率范圍時(shí)，需要對(duì)該變頻空調(diào)進(jìn)行停機(jī)保護(hù)。參照?qǐng)D1，圖I是現(xiàn)有技術(shù)中變頻空調(diào)的電壓采樣測(cè)試電路；如圖I所示，現(xiàn)有技術(shù)中，變頻空調(diào)的電壓采樣電路采用電阻分壓電路，電阻Rl的一端接電源，另一端與電阻R2串聯(lián)后接地，兩端插座CNl并聯(lián)在電阻R2的兩端；在工程師對(duì)軟件的保護(hù)性能進(jìn)行現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試時(shí)，要么需要改變實(shí)際輸入電壓，要么需要?jiǎng)?chuàng)造出一個(gè)虛擬的輸入電壓給單片機(jī)，而后者要容易一些。創(chuàng)造虛擬輸入電壓的辦法通常是改變分壓電阻Rl，R2的阻值，由于電阻RU R2均為阻值不可調(diào)節(jié)的電阻，因此，采用該測(cè)試電路進(jìn)行測(cè)試時(shí)，在實(shí)際輸出電壓不變的情況下，若要達(dá)到針對(duì)不同的工作頻率均能進(jìn)行測(cè)試的目的，就需要根據(jù)計(jì)算得出的理論電阻值頻繁地更換電阻Rl或者電阻R2 ;在工程師進(jìn)行實(shí)際的軟件測(cè)試時(shí)，創(chuàng)造上述這樣的測(cè)試環(huán)境和測(cè)試條件都是極其繁雜的事情，而人為地不斷進(jìn)行繁瑣和復(fù)雜測(cè)試也很容易出錯(cuò)，且對(duì)進(jìn)行測(cè)試的工程師的技術(shù)也有較高的要求。

實(shí)用新型內(nèi)容本實(shí)用新型的主要目的是提供一種變頻空調(diào)控制器的測(cè)試電路及測(cè)試裝置，旨在為MCU (Micro Controller Unit,單片機(jī))軟件提供虛擬的電參數(shù)變化。本實(shí)用新型提供一種變頻空調(diào)控制器的測(cè)試電路，包括第一固定電阻和插座，所述第一固定電阻的一端與電源連接，還包括可調(diào)電阻，所述第一固定電阻的另一端與所述可調(diào)電阻串聯(lián)后接地；所述插座并聯(lián)在所述可調(diào)電阻的兩端。優(yōu)選地，還包括第二固定電阻；所述第二固定電阻的一端與所述可調(diào)電阻連接，另一端接地；所述插座的一端與所述第一電阻和可調(diào)電阻的連接處相連，所述插座的另一端接地。優(yōu)選地，所述可調(diào)電阻的額定阻值大于預(yù)置測(cè)試電壓下所需的總阻值與所述第二固定電阻阻值的差值。本實(shí)用新型還提供一種變頻空調(diào)控制器的測(cè)試裝置，包括上述的變頻空調(diào)控制器的測(cè)試電路，即包括第一固定電阻和插座，所述第一固定電阻的一端與電源連接，還包括可調(diào)電阻，所述第一固定電阻的另一端與所述可調(diào)電阻串聯(lián)后接地；所述插座并聯(lián)在所述可調(diào)電阻的兩端。優(yōu)選地，還包括第二固定電阻；所述第二固定電阻的一端與所述可調(diào)電阻連接，另一端接地；所述插座的一端與所述第一電阻和可調(diào)電阻的連接處相連，所述插座的另一端接地。優(yōu)選地，所述可調(diào)電阻的額定阻值大于預(yù)置測(cè)試電壓下所需的總阻值與所述第二固定電阻阻值的差值。優(yōu)選地，還包括用于容納所述可調(diào)電阻的外殼、用于固定所述外殼的固定板以及用于調(diào)節(jié)所述可調(diào)電阻的旋鈕和轉(zhuǎn)軸，所述外殼固定在所述固定板上，所述轉(zhuǎn)軸與所述外殼固定連接后穿過所述固定板并與所述固定板固定連接；所述旋鈕套接在所述轉(zhuǎn)軸上并與所述轉(zhuǎn)軸固定連接。優(yōu)選地，還包括刻度盤，所述刻度盤設(shè)置在所述固定板和所述旋鈕之間并套接在所述轉(zhuǎn)軸上，與所述轉(zhuǎn)軸固定連接。優(yōu)選地，還包括若干限位柱，所述限位柱固定在所述固定板上，且所述限位柱的長(zhǎng)度大于所述刻度盤的厚度，用于限制所述刻度盤的旋轉(zhuǎn)范圍。優(yōu)選地，還包括用于支撐所述固定板的基座，所述基座與所述固定板的底端固定連接。本實(shí)用新型一種變頻空調(diào)控制器的測(cè)試電路及測(cè)試裝置，通過將現(xiàn)有技術(shù)中固定阻值的電阻設(shè)計(jì)為可調(diào)電阻并與相關(guān)元器件進(jìn)行配合，在電路實(shí)際輸入輸出電壓不變的情況下，不需要對(duì)電路中的電參數(shù)進(jìn)行實(shí)際的拆換或調(diào)節(jié)即可為MCU軟件創(chuàng)造出模擬的電參數(shù)變化，具有簡(jiǎn)化軟件測(cè)試過程、降低軟件測(cè)試難度的有益效果，提高軟件測(cè)試的效率和測(cè)試的準(zhǔn)確率。

圖I是現(xiàn)有技術(shù)中變頻空調(diào)的電壓采樣測(cè)試電路；圖2是本實(shí)用新型變頻空調(diào)控制器的測(cè)試電路第一實(shí)施例結(jié)構(gòu)示意圖；圖3是本實(shí)用新型變頻空調(diào)控制器的測(cè)試電路第二實(shí)施例結(jié)構(gòu)示意圖；圖4是根據(jù)圖2的電路原理設(shè)計(jì)的變頻空調(diào)控制器的測(cè)試裝置一實(shí)施例結(jié)構(gòu)示意圖；圖5是圖4所示的變頻空調(diào)控制器的測(cè)試裝置正視圖的結(jié)構(gòu)示意圖。本實(shí)用新型目的的實(shí)現(xiàn)、功能特點(diǎn)及優(yōu)點(diǎn)將結(jié)合實(shí)施例，參照附圖做進(jìn)一步說明。
具體實(shí)施方式
應(yīng)當(dāng)理解，此處所描述的具體實(shí)施例僅僅用以解釋本實(shí)用新型，并不用于限定本實(shí)用新型。參照?qǐng)D2，圖2是本實(shí)用新型變頻空調(diào)控制器的測(cè)試電路一實(shí)施例結(jié)構(gòu)示意圖；如圖2所示，本實(shí)用新型變頻空調(diào)控制器的測(cè)試電路采用電阻分壓電路；第一固定電阻Rl的一端接電源Vbulk，另一端與可調(diào)電阻R3、第二固定電阻R4串聯(lián)后接地；兩端插座CNl與可調(diào)電阻R3和第二固定電阻R4并聯(lián)，設(shè)置可調(diào)電阻R3與電阻Rl相連的一端為電壓測(cè)試點(diǎn)Vtest，采用的插座為兩端插座。對(duì)比現(xiàn)有技術(shù)中變頻空調(diào)的電壓采樣測(cè)試電路圖1，變頻空調(diào)的電壓采樣電路采用電阻分壓電路，分壓后的電壓小于MCU的A/D(Analog to Digital,模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換)端口的輸入電壓；對(duì)于電路中的電流采用如下方式進(jìn)行處理將電路中的電流進(jìn)行電流一電壓轉(zhuǎn)換后，經(jīng)過運(yùn)算放大器放大，然后按電壓的采樣進(jìn)行處理和計(jì)算。如果保持待測(cè)試的電壓不變，而將分壓電路的下電阻(即圖I中的電阻R2)替代為可調(diào)電阻(gp圖2中的可調(diào)電阻R3)，則可以在實(shí)際的電壓不變的情況下，創(chuàng)造出虛擬的電壓變化提供給單片機(jī)MCU，借此完成對(duì)空調(diào)控制器在所有需要測(cè)試的額定工作電壓下的軟件測(cè)試工作。如圖2所示，本實(shí)用新型變頻空調(diào)控制器的測(cè)試電路的具體工作原理為假設(shè)待改變和測(cè)量的電壓為Vbulk，經(jīng)過現(xiàn)有技術(shù)圖I中的電阻Rl和電阻R2分壓后的電壓Vtest送單片機(jī)MCU進(jìn)行測(cè)量和計(jì)算。測(cè)試點(diǎn)處的電壓Vtest與待測(cè)量電壓Vbulk的關(guān)系如下述公式所示Vtest=R2 /(R1+R2)* Vbulk,單片機(jī)的計(jì)算程序中將測(cè)量到的Vtest還原為Vbulk，即將公式Vtest=R2/(Rl+R2)* Vbulk經(jīng)過簡(jiǎn)單變形后，得到待測(cè)量電壓Vbulk的計(jì)算公式為Vbulk= (Rl+R2)/R2* Vtest ;采用本實(shí)用新型的測(cè)試方法，即將圖I所示電路中的R2使用可調(diào)電阻R3與固定電阻R4替代，則得到下述計(jì)算公式Vbu I k= (RI +R3+R4) / (R3+R4) * Vt e s t ;在實(shí)際的Vbu I k不變的情況下，通過改變可調(diào)電阻R3與電阻R4的阻值之和即阻值(R3+R4)就可以給單片機(jī)的A/D采樣電路輸入一個(gè)虛擬的隨(R3+R4)阻值而改變的 Vbulk 值。根據(jù)公式 Vbulk= (R1+R3+R4)/ (R3+R4) * Vtest 得到(R3+R4)阻值的計(jì)算公式為R3+R4= Vtest /( Vbulk-Vtest) *R1 ;其中定義Vbulk為需要改變的電壓，Vtest為原電路(即圖I所示電路)和待虛擬電壓條件下的分壓電壓。采用本實(shí)用新型變頻空調(diào)控制器的測(cè)試電路的具體實(shí)施方法為需要選擇合適的串聯(lián)電阻R4和可調(diào)電阻R3。先計(jì)算在最小測(cè)試電壓下的(R3+R4)的值，根據(jù)計(jì)算結(jié)果，在規(guī)格化電阻的系列里找合適的固定電阻R4;選擇固定電阻R4具體阻值應(yīng)遵循如下原則電阻R4的阻值應(yīng)小于最小測(cè)試電壓Vtest下的(R3+R4)的值。然后計(jì)算在最大測(cè)試電壓Vtest下的(R3+R4)的值，根據(jù)計(jì)算結(jié)果，在規(guī)格化的可調(diào)電阻系列選用合適的可調(diào)電阻值R3。選擇可調(diào)電阻R3的原則是R3的阻值應(yīng)大于最大測(cè)試電壓Vtest下的(R3+R4)的值減去根據(jù)上述步驟選用的固定電阻R4的值。例如額定電壓Vbulk是350V(Volt，伏特)，需要模擬的測(cè)試電壓Vtest是310V 400V，現(xiàn)有技術(shù)圖I中所示的電路中，上電阻Rl的阻值為2000K (千，1000)歐姆，下電阻R2的阻值為5. IK歐姆，在模擬最低電壓310V時(shí)，測(cè)試點(diǎn)Vtest電壓值根據(jù)電壓Vtest與待測(cè)量電壓Vbulk的關(guān)系式得出Vtest=R2/(R1+R2)*Vbulk=5. IK/(2000K+5. IK)*310V=0. 788V ；如果在輸入電壓350V不變的情況下，模擬出0. 788V的測(cè)試點(diǎn)的電壓，則需(R3+R4)的值為R3+R4= Vtest /( Vbulk-Vtest)*R1=0. 788V/(350V-0. 788V)*2000K =4. 51Κ按電阻規(guī)格系列，選用電阻R4的阻值為3. 9Κ?dú)W姆。按同樣的方法可以計(jì)算出，最大測(cè)試電壓400V時(shí)，需要的(R3+R4)的阻值和是5. 83Κ?dú)W姆，因?yàn)?. 83Κ-3. 9Κ=1. 93Κ，按可調(diào)電阻規(guī)格系列選用規(guī)格為2Κ的可調(diào)電阻。參照?qǐng)D3，圖3是本實(shí)用新型變頻空調(diào)控制器的測(cè)試電路第二實(shí)施例結(jié)構(gòu)示意圖；根據(jù)上述測(cè)試電路的測(cè)試原理，本領(lǐng)域的技術(shù)人員不難得出，如圖2所示的測(cè)試電路中的下電阻即可調(diào)電阻R3和固定電阻R4，可以僅僅使用圖3所示的一個(gè)可調(diào)電阻R3替代，只要圖3所示的可調(diào)電阻R3的有效阻值滿足該測(cè)試電路的電參數(shù)要求即可。圖3所示的測(cè)試電路的下電阻僅使用可調(diào)電阻R3的情況，其電路工作原理及可調(diào)電阻R3阻值的選取請(qǐng)參照上述實(shí)施例的具體描述，在此不再贅述。[0033]本實(shí)用新型變頻空調(diào)控制器的測(cè)試電路通過將現(xiàn)有技術(shù)中的固定電阻設(shè)計(jì)為滿足電路參數(shù)要求的可調(diào)電阻，在電路實(shí)際輸入輸出電壓不變的情況下，不需要對(duì)電路中的電參數(shù)進(jìn)行實(shí)際的拆換或調(diào)節(jié)即可為MCU軟件創(chuàng)造出模擬的電參數(shù)變化，具有簡(jiǎn)化軟件測(cè)試過程、降低軟件測(cè)試難度的有益效果，提高了軟件測(cè)試的效率和測(cè)試的準(zhǔn)確率。根據(jù)上述測(cè)試電路，制造出的測(cè)試裝置請(qǐng)參照?qǐng)D4，圖4是根據(jù)圖2的電路原理設(shè)計(jì)的變頻空調(diào)控制器的測(cè)試裝置一實(shí)施例結(jié)構(gòu)示意圖；如圖4所示，本實(shí)用新型變頻空調(diào)控制器的測(cè)試裝置具體包括用于容納所述可調(diào)電阻的外殼I、用于固定所述外殼I的固定板2以及用于調(diào)節(jié)所述可調(diào)電阻的旋鈕3和轉(zhuǎn)軸4 ;所述外殼I固定在所述固定板2上，所述轉(zhuǎn)軸4與所述外殼I固定連接后穿過所述固定板2與所述固定板2固定連接，所述旋鈕3套接在所述轉(zhuǎn)軸4上與所述轉(zhuǎn)軸4固定連接。在一優(yōu)選的實(shí)施例中，所述測(cè)試裝置還包括刻度盤5，所述刻度盤5設(shè)置在所述固定板2和所述旋鈕3之間并套接在所述轉(zhuǎn)軸4上與所述轉(zhuǎn)軸4固定連接，且該刻度盤5可隨轉(zhuǎn)軸4和旋鈕3 —起轉(zhuǎn)動(dòng)，用于調(diào)節(jié)所述可調(diào)電阻R3。所述測(cè)試裝置還包括若干限位柱6，所述限位柱6固定在所述固定板2上，且所述限位柱6的長(zhǎng)度大于所述刻度盤5的厚度，用于限制所述刻度盤5的旋轉(zhuǎn)范圍。所述測(cè)試裝置還包括用于支撐所述固定板2的基座7，所述基座7與所述固定板2的底端固定連接。 在一優(yōu)選的實(shí)施例中所述固定板2可以采用有機(jī)玻璃板或者電工膠木等材料，所述外殼I與固定板2可以采用膠結(jié)或螺絲固定的方法固定在一起。刻度盤5與可調(diào)電阻的轉(zhuǎn)軸4固定在一起，可以采用膠結(jié)或者緊配合的方法連接。完成后，刻度盤5可以隨轉(zhuǎn)軸4和旋鈕3—起轉(zhuǎn)動(dòng)。限位柱6為小圓柱形塑膠或者金屬棒，固定在可調(diào)電阻固定板2上。由于刻度盤5上帶有臺(tái)階，在限位柱6的配合下，可以實(shí)現(xiàn)可調(diào)電阻R3的最大和最小調(diào)節(jié)范圍的限制；即轉(zhuǎn)動(dòng)刻度盤5到最小位置處和最大位置處時(shí)，固定限位柱6，限制住可調(diào)電阻R3的可調(diào)范圍?；?是用來將可調(diào)電阻固定板2放置在臺(tái)面的，與固定板2膠結(jié)在一起。本領(lǐng)域的技術(shù)人員可以理解，只要將上述各部件按要求組合在一起形成本實(shí)用新型所需的測(cè)試裝置即可，本申請(qǐng)對(duì)上述測(cè)試裝置各部件的制造材料不做具體限制；各部件之間的連接只要能達(dá)到上述測(cè)試裝置的測(cè)試目的，則其技術(shù)效果與圖4所示的技術(shù)方案相同。參照?qǐng)D5，圖5是圖4所示的變頻空調(diào)控制器的測(cè)試裝置正視圖的結(jié)構(gòu)示意圖。如圖5所示，在一優(yōu)選的實(shí)施例中，可以在可調(diào)電阻固定板2上絲印箭頭標(biāo)志8，作為刻度盤5上的讀數(shù)基準(zhǔn)?？潭缺P5上不直接絲印各個(gè)位置電阻值，而是直接絲印模擬輸出的電壓值。圖5中的數(shù)字是示范數(shù)值，正中間的刻度對(duì)應(yīng)的是額定條件下的電壓，如圖5示例中為350V?？潭缺P5其他位置的電壓標(biāo)示采用下述方法計(jì)算先計(jì)算出應(yīng)該的可調(diào)電阻R3的阻值，然后再旋轉(zhuǎn)到該位置，在箭頭標(biāo)志8下方所正對(duì)的刻度盤5的具體位置標(biāo)出該電壓的具體數(shù)值。下面以在刻度盤5上如何標(biāo)示360V的刻度線來具體說明如何在刻度盤5上獲取電壓標(biāo)示刻度線。計(jì)算出圖I所示電路條件下360V測(cè)試點(diǎn)所對(duì)應(yīng)的電壓值Vtest=R2/(R1+R2)*Vbulk=5. IK/(2000K+5. IK)*360V=0. 916V ；再計(jì)算模擬條件下的(R3+R4)的阻值R3+R4= Vtest /( Vbulk-Vtest) *R1=0. 916V/(350V-0. 916V) *2000Κ=5· 25K ;根據(jù)上述計(jì)算出的電阻R4的阻值為3. 9Κ?dú)W姆，則可調(diào)電阻R3的阻值應(yīng)該為[0042]5. 25K-3. 9Κ=1. 35Κ ;即所需可調(diào)電阻R3的阻值為I. 35Κ?dú)W姆，此時(shí)，旋轉(zhuǎn)可調(diào)電阻阻值到I. 35Κ位置處，在箭頭標(biāo)志8下方所正對(duì)的刻度盤5的位置標(biāo)出360V?？潭缺P5上所需的具體數(shù)值可根據(jù)實(shí)際測(cè)試的需要進(jìn)行標(biāo)示，在刻度盤5上標(biāo)示具體數(shù)值的位置的選取均可根據(jù)上述計(jì)算方法獲取。當(dāng)完成對(duì)刻度盤5上所需刻度的標(biāo)示后，轉(zhuǎn)動(dòng)刻度盤5分別到最大位置處和最小位置處，并在該最大位置處和最小位置處將限位柱6進(jìn)行固定，限制可調(diào)電阻R3的可調(diào)節(jié)范圍，避免測(cè)試人員的人為誤操作。在實(shí)際的變頻空調(diào)控制器PCB (Printed Circuit Board,印刷電路板)設(shè)計(jì)中，可在圖I所示的電阻R2旁邊設(shè)置一個(gè)兩端插座CN1，該兩端插座CNl與電阻R2并聯(lián)連接，連接方式如圖I所示。在制作上述測(cè)試裝置的PCB時(shí)，在可調(diào)電阻的引出腳串聯(lián)焊接所述可調(diào)電阻R3后，引出一兩端插座CNl，該兩端插座與變頻空調(diào)控制器PCB板相應(yīng)的插座相匹配；然后，拆掉原變頻空調(diào)控制器PCB上的電阻R2，將可調(diào)電阻R3的兩端插座插入測(cè)試插座即可。這樣做既改進(jìn)了原先的測(cè)試方法，又改進(jìn)了原先使用的測(cè)試電路板，使原先使用的測(cè)試電路板經(jīng)過改進(jìn)也能采用本實(shí)用新型所描述的測(cè)試方法和測(cè)試裝置進(jìn)行軟件測(cè)試，避免了廢舊電路板的浪費(fèi)，在一定程度上節(jié)約了測(cè)試成本。 本實(shí)用新型變頻空調(diào)控制器的測(cè)試裝置基于上述測(cè)試電路原理而設(shè)計(jì)制造，在電路實(shí)際輸入輸出電壓不變的情況下，不需要對(duì)電路中的電參數(shù)進(jìn)行實(shí)際的拆換或調(diào)節(jié)即可為MCU軟件創(chuàng)造出模擬的電參數(shù)變化，具有簡(jiǎn)化軟件測(cè)試過程、降低軟件測(cè)試難度的有益效果，提高了軟件測(cè)試的效率和測(cè)試的準(zhǔn)確率，也在很大程度上節(jié)約了測(cè)試成本。以上所述僅為本實(shí)用新型的優(yōu)選實(shí)施例，并非因此限制本實(shí)用新型的專利范圍，凡是利用本實(shí)用新型說明書及附圖內(nèi)容所作的等效結(jié)構(gòu)變換，或直接或間接運(yùn)用在其他相關(guān)的技術(shù)領(lǐng)域，均同理包括在本實(shí)用新型的專利保護(hù)范圍內(nèi)。
權(quán)利要求1.一種變頻空調(diào)控制器的測(cè)試電路，包括第一固定電阻和插座，所述第一固定電阻的一端與電源連接，其特征在于，還包括可調(diào)電阻，所述第一固定電阻的另一端與所述可調(diào)電阻串聯(lián)后接地；所述插座并聯(lián)在所述可調(diào)電阻的兩端。
2.如權(quán)利要求I所述的測(cè)試電路，其特征在于，還包括第二固定電阻；所述第二固定電阻的一端與所述可調(diào)電阻連接，另一端接地；所述插座的一端與所述第一電阻和可調(diào)電阻的連接處相連，所述插座的另一端接地。
3.如權(quán)利要求2所述的測(cè)試電路，其特征在于，所述可調(diào)電阻的額定阻值大于預(yù)置測(cè)試電壓下所需的總阻值與所述第二固定電阻阻值的差值。
4.一種變頻空調(diào)控制器的測(cè)試裝置，其特征在于，包括權(quán)利要求I至3任一項(xiàng)所述的變頻空調(diào)控制器的測(cè)試電路。
5.如權(quán)利要求4所述的測(cè)試裝置，其特征在于，還包括用于容納所述可調(diào)電阻的外殼、用于固定所述外殼的固定板以及用于調(diào)節(jié)所述可調(diào)電阻的旋鈕和轉(zhuǎn)軸，所述外殼固定在所述固定板上，所述轉(zhuǎn)軸與所述外殼固定連接后穿過所述固定板并與所述固定板固定連接；所述旋鈕套接在所述轉(zhuǎn)軸上并與所述轉(zhuǎn)軸固定連接。
6.如權(quán)利要求5所述的測(cè)試裝置，其特征在于，還包括刻度盤，所述刻度盤設(shè)置在所述固定板和所述旋鈕之間并套接在所述轉(zhuǎn)軸上，與所述轉(zhuǎn)軸固定連接。
7.如權(quán)利要求6所述的測(cè)試裝置，其特征在于，還包括若干限位柱，所述限位柱固定在所述固定板上，且所述限位柱的長(zhǎng)度大于所述刻度盤的厚度，用于限制所述刻度盤的旋轉(zhuǎn)范圍。
8.如權(quán)利要求5至7任一項(xiàng)所述的測(cè)試裝置，其特征在于，還包括用于支撐所述固定板的基座，所述基座與所述固定板的底端固定連接。
專利摘要本實(shí)用新型提供了一種變頻空調(diào)控制器的測(cè)試電路，包括第一固定電阻和插座，所述第一固定電阻的一端與電源連接，還包括可調(diào)電阻，所述第一固定電阻的另一端與所述可調(diào)電阻串聯(lián)后接地；所述插座并聯(lián)在所述可調(diào)電阻的兩端。本實(shí)用新型還提供一種變頻空調(diào)控制器的測(cè)試裝置，該測(cè)試裝置根據(jù)上述測(cè)試電路而制造。本實(shí)用新型通過將現(xiàn)有技術(shù)中固定阻值的電阻設(shè)計(jì)為可調(diào)電阻并與相關(guān)元器件進(jìn)行配合，在電路實(shí)際輸入輸出電壓不變的情況下，不需要對(duì)電路中的電參數(shù)進(jìn)行實(shí)際的拆換或調(diào)節(jié)即可為MCU軟件創(chuàng)造出模擬的電參數(shù)變化，具有簡(jiǎn)化軟件測(cè)試過程、降低軟件測(cè)試難度的有益效果，提高了軟件測(cè)試的效率和測(cè)試的準(zhǔn)確率，節(jié)約了測(cè)試成本。
文檔編號(hào)G01R31/00GK202661571SQ201220316739
公開日2013年1月9日 申請(qǐng)日期2012年7月2日 優(yōu)先權(quán)日2012年7月2日
發(fā)明者宋護(hù)朝, 孫冬晨 申請(qǐng)人:佛山市順德區(qū)和而泰電子科技有限公司