專利名稱：T型高度通止規(guī)的制作方法
技術領域：
T型高度通止規(guī)技術領域[0001]本實用新型涉及一種高度檢具，主要是一種T型高度通止規(guī)。[0002]背景技術[0003]合格的產品是有一個度量范圍的，在這個范圍內的都合格，所以米取通規(guī)和止規(guī)來測量很方便。但是一般情況下一對通規(guī)與止規(guī)只能一次檢測一個產品，不能雙手同時檢測，檢測速度慢。實用新型內容[0004]本實用新型所要解決的技術問題是提供一種T型高度通止規(guī)，其結構巧妙，將通規(guī)與止規(guī)設計成T型結構，使得能左、右同時進行檢測，提高工作效率。[0005]為解決上述技術問題，本實用新型采用的技術方案是[0006]一種T型高度通止規(guī)，包括有底板，其特征在于所述的底板上固定有多個通規(guī)立柱，多個通規(guī)立柱上安裝有通規(guī)上板；所述的底板上還固定有止規(guī)立柱，所述的止規(guī)立柱上安裝有止規(guī)上板，所述的通規(guī)上板與止規(guī)上板呈T型結構排布，所述的通規(guī)上板比止規(guī)上板高且通規(guī)上板與止規(guī)上板之間設有間距。[0007]所述的通規(guī)立柱有三根，所述的止規(guī)立柱與中間的通規(guī)立柱平行。[0008]本實用新型中通規(guī)與止規(guī)呈T型結構，左右有開口，能雙手同時檢測。[0009]通規(guī)尺寸為高度上限，止規(guī)尺寸為高度下限。檢測時，將產品放置在底板上，產品先經過止規(guī)上板，尺寸負下差的產品通過止規(guī)上板流入不合格品框；產品再經過通規(guī)上板， 通過的產品為合格件，流入合格框，通不過的產品為尺寸超上差，放入不合格品框分類處理。[0010]本實用新型適用于外徑較大產品的高度檢測。[0011]本實用新型的優(yōu)點是[0012]本實用新型結構巧妙，將通規(guī)與止規(guī)設計成T型結構，使得能左、右同時進行檢測，提高工作效率。


[0013]圖I為本實用新型的結構示意圖。
具體實施方式
[0014]參見圖1，一種T型高度通止規(guī)，包括有底板1，所述的底板I上固定有多個通規(guī)立柱2，多個通規(guī)立柱2上安裝有通規(guī)上板3 ;所述的底板I上還固定有止規(guī)立柱4，所述的止規(guī)立柱4上安裝有止規(guī)上板5，所述的通規(guī)上板3與止規(guī)上板5呈T型結構排布，所述的通規(guī)上板3比止規(guī)上板5高且通規(guī)上板與止規(guī)上板之間設有間距。[0015]所述的通規(guī)立柱2有三根，所述的止規(guī)立柱4與中間的通規(guī)立柱平行。
權利要求1.一種T型高度通止規(guī)，包括有底板，其特征在于所述的底板上固定有多個通規(guī)立柱，多個通規(guī)立柱上安裝有通規(guī)上板；所述的底板上還固定有止規(guī)立柱，所述的止規(guī)立柱上安裝有止規(guī)上板，所述的通規(guī)上板與止規(guī)上板呈T型結構排布，所述的通規(guī)上板比止規(guī)上板高且通規(guī)上板與止規(guī)上板之間設有間距。
2.根據權利要求I所述的一種T型高度通止規(guī)，其特征在于所述的通規(guī)立柱有三根， 所述的止規(guī)立柱與中間的通規(guī)立柱平行。
專利摘要本實用新型公開了一種T型高度通止規(guī)，包括有底板，所述的底板上固定有多個通規(guī)立柱，多個通規(guī)立柱上安裝有通規(guī)上板；所述的底板上還固定有止規(guī)立柱，所述的止規(guī)立柱上安裝有止規(guī)上板，所述的通規(guī)上板與止規(guī)上板呈T型結構排布，所述的通規(guī)上板比止規(guī)上板高且通規(guī)上板與止規(guī)上板之間設有間距。本實用新型結構巧妙，將通規(guī)與止規(guī)設計成T型結構，使得能左、右同時進行檢測，提高工作效率。
文檔編號G01B5/02GK202747969SQ20122039163
公開日2013年2月20日 申請日期2012年8月9日 優(yōu)先權日2012年8月9日
發(fā)明者金陳義 申請人:安徽紅橋金屬制造有限公司