專利名稱：用于檢測內(nèi)徑的塞規(guī)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實用新型涉及塞規(guī)技術(shù)領(lǐng)域，具體講是一種用于檢測內(nèi)徑的塞規(guī)。
背景技術(shù)：
用于檢測內(nèi)徑的塞規(guī)是批量檢測孔徑的量具，一般為兩個圓頭，一頭稱為通規(guī)，是孔徑的下偏差，另一頭稱為止規(guī)，是孔徑的上偏差，在檢測孔徑時，通規(guī)能塞進(jìn)去而止規(guī)塞不進(jìn)去，則此孔徑是合格的，就是在公差范圍之內(nèi)的，否則就是不合格的，而上述用于檢測內(nèi)徑的塞規(guī)檢測部長期以來均為圓柱狀，未見其他結(jié)構(gòu)，圓柱狀的塞規(guī)檢測量程較窄。

實用新型內(nèi)容本實用新型要解決的技術(shù)問題是，提供一種檢測部為非圓柱狀，檢測量程較寬的 用于檢測內(nèi)徑的塞規(guī)。本實用新型的技術(shù)方案是，本實用新型用于檢測內(nèi)徑的塞規(guī)，它包括本體，本體一端設(shè)有用于檢測內(nèi)徑的檢測部，該檢測部為球面。本實用新型的工作原理是，當(dāng)檢測內(nèi)徑時，例如將塞規(guī)垂直放置，帶有孔的環(huán)、筒等工件水平放置，孔朝上，將球面伸入孔中用于檢測內(nèi)徑，球面進(jìn)入孔內(nèi)的程度會根據(jù)內(nèi)徑偏小、偏大情況不同，若內(nèi)徑偏小，則球面進(jìn)入孔內(nèi)的程度小，即塞規(guī)下降的高度小，若內(nèi)徑偏大，則球面進(jìn)入孔內(nèi)的程度大，即塞規(guī)下降的高度大，這樣，塞規(guī)下降的高度大小就能夠獲知內(nèi)徑的實測大小，從而與理論內(nèi)徑對比來判斷該實測大小的內(nèi)徑是否合格，由于球面變徑程度大，使得塞規(guī)檢測量程較寬，能夠適用于較小的內(nèi)徑檢測，也適用于較大的內(nèi)徑檢測。采用上述結(jié)構(gòu)后，本實用新型與現(xiàn)有技術(shù)相比，具有以下優(yōu)點結(jié)合上述技術(shù)方案和工作原理可知，本實用新型檢測部為非圓柱狀，具有檢測量程較寬的優(yōu)點。作為改進(jìn)，所述球面為半圓球球面，這樣設(shè)計更為合理，且便于生產(chǎn)，降低生產(chǎn)成本。

圖I是本實用新型用于檢測內(nèi)徑的塞規(guī)的結(jié)構(gòu)示意圖。圖中所示，I、本體,2、檢測部。
具體實施方式
下面結(jié)合圖I對本實用新型作進(jìn)一步說明。本實用新型用于檢測內(nèi)徑的塞規(guī)，它包括本體1，本體I 一端設(shè)有用于檢測內(nèi)徑的檢測部2，該檢測部2為球面。所述球面為半圓球球面。
權(quán)利要求1.一種用于檢測內(nèi)徑的塞規(guī)，它包括本體(1)，其特征在于，本體(I) 一端設(shè)有用于檢測內(nèi)徑的檢測部(2 )，該檢測部(2 )為球面。
2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的用于檢測內(nèi)徑的塞規(guī)，其特征在于，所述球面為半圓球球面。
專利摘要本實用新型公開了一種檢測部為非圓柱狀，檢測量程較寬的用于檢測內(nèi)徑的塞規(guī)，它包括本體(1)，本體(1)一端設(shè)有用于檢測內(nèi)徑的檢測部(2)，該檢測部(2)為球面。
文檔編號G01B5/12GK202747954SQ20122040045
公開日2013年2月20日 申請日期2012年8月13日 優(yōu)先權(quán)日2012年8月13日
發(fā)明者鄔國平, 王圈庫 申請人:寧波伏爾肯機(jī)械密封件制造有限公司