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      一種半導(dǎo)體分立器件測(cè)試系統(tǒng)的制作方法

      文檔序號(hào):5992917閱讀:260來源:國(guó)知局
      專利名稱:一種半導(dǎo)體分立器件測(cè)試系統(tǒng)的制作方法
      技術(shù)領(lǐng)域
      本實(shí)用新型涉及電子設(shè)備測(cè)試儀技術(shù)領(lǐng)域,特別與一種半導(dǎo)體分立器件測(cè)試系統(tǒng)有關(guān)。
      背景技術(shù)
      臺(tái)灣冠魁公司的TVR6000是目前業(yè)界產(chǎn)業(yè) 化程度最高、應(yīng)用最廣泛、性能最優(yōu)秀的二極管多功能分類專業(yè)測(cè)試設(shè)備,在國(guó)際同類產(chǎn)品處理國(guó)際領(lǐng)先水平。TVR6000測(cè)試機(jī)是以單機(jī)形式提供測(cè)試服務(wù)的一體機(jī),機(jī)內(nèi)雖然是多板卡結(jié)構(gòu),但各板卡功能固定,位置固定,不能提供技術(shù)的橫向升級(jí)和縱向升級(jí),為解決橫向升級(jí)的問題,必須要重新設(shè)計(jì)機(jī)器,并命名為6000系列,各機(jī)之間設(shè)計(jì)思路不同,還造成很多內(nèi)部相同板卡重置的現(xiàn)象,造成資源浪費(fèi)和干擾問題的出現(xiàn),并爭(zhēng)奪機(jī)內(nèi)的系統(tǒng)總線,工作電源
      坐寸ο為了解決上述問題,本發(fā)明人設(shè)計(jì)出一種半導(dǎo)體分立器件測(cè)試系統(tǒng),本案由此產(chǎn)生。

      實(shí)用新型內(nèi)容本實(shí)用新型的目的是提供一種半導(dǎo)體分立器件測(cè)試系統(tǒng),是以自由組合形式提供測(cè)試服務(wù)的測(cè)試平臺(tái),可根據(jù)用戶的測(cè)試組態(tài)方案類選擇各色各樣測(cè)試功能的板卡,使用靈活方便。為了達(dá)到上述目的,本實(shí)用新型通過以下技術(shù)方案來實(shí)現(xiàn)一種半導(dǎo)體分立器件測(cè)試系統(tǒng),包括主控平臺(tái)系統(tǒng)、總線通訊系統(tǒng)、各個(gè)測(cè)試功能卡、顯示系統(tǒng);各測(cè)試功能模塊獨(dú)立掛置在總線通訊系統(tǒng)上,總線通訊系統(tǒng)連接到主控平臺(tái)系統(tǒng)中,主控平臺(tái)系統(tǒng)連接顯示系統(tǒng),將測(cè)試結(jié)果數(shù)據(jù)加以顯示。所述的各個(gè)測(cè)試功能卡通過數(shù)據(jù)線并列連接兩個(gè)測(cè)試工位。所述的主控平臺(tái)系統(tǒng)連接有為主控平臺(tái)系統(tǒng)供電的電源系統(tǒng)、將數(shù)據(jù)輸入的鍵盤輸入系統(tǒng)、以及用于反饋信號(hào)狀態(tài)的狀態(tài)指示系統(tǒng)。所述的測(cè)試功能卡包括VF測(cè)試卡、VR測(cè)試卡、IR測(cè)試卡。采用上述方案后,本實(shí)用新型具有諸多有益效果本實(shí)用新型中采用總線的方式,將各個(gè)獨(dú)立測(cè)試卡直接掛接上總線通訊系統(tǒng)上形成數(shù)據(jù)交換傳遞,這樣只需要根據(jù)用戶的測(cè)試組態(tài)方案,選擇相適應(yīng)的板卡,主控平臺(tái)系統(tǒng)能自動(dòng)識(shí)別和控制新的板卡,達(dá)到既插既用的目的,同時(shí)也解決橫向升級(jí)的問題。本實(shí)用新型中具有兩個(gè)測(cè)試工位,可同時(shí)測(cè)試,測(cè)試效率提高一倍,更經(jīng)濟(jì)更實(shí)
      惠O本實(shí)用新型中的主控平臺(tái)程序按功能要求分別加載給不同測(cè)試卡上,由測(cè)試卡獨(dú)立完成,簡(jiǎn)化了主控平臺(tái)的工作程序,同時(shí),可再在相同的時(shí)間段內(nèi),兩個(gè)工作流程并列運(yùn)行,所用的時(shí)間較短,可以解決系統(tǒng)資源的重置等問題。
      圖I為本實(shí)用新型較佳實(shí)施例的功能模塊連接示意圖。
      具體實(shí)施方式
      結(jié)合附圖,對(duì)本實(shí)用新型較佳實(shí)施例做進(jìn)一步詳細(xì)說明。一種半導(dǎo)體分立器件測(cè)試系統(tǒng),主要涉及到的部件包括主控平臺(tái)系統(tǒng)I、總線通訊系統(tǒng)2、各個(gè)測(cè)試功能卡、LED顯不系統(tǒng)3、電源系統(tǒng)4、鍵盤輸入系統(tǒng)5、狀態(tài)指不系統(tǒng)6、弟一測(cè)試工位81、第二測(cè)試工位82。其中本實(shí)施例中測(cè)試功能卡包括VF測(cè)試卡71、VR測(cè)試卡72、IR測(cè)試卡73。主控平臺(tái)系統(tǒng)I (MCU)是本實(shí)用新型的核心控制平臺(tái),通過總線通訊系統(tǒng)2與各個(gè)測(cè)試功能卡進(jìn)行數(shù)據(jù)交換,對(duì)應(yīng)的程序下載到各個(gè)測(cè)試功能卡中,并將各個(gè)測(cè)試功能卡 上的測(cè)試所得的數(shù)據(jù)通過總線通訊系統(tǒng)2進(jìn)行反饋,并反饋顯示在LED顯示系統(tǒng)3中。主控平臺(tái)系統(tǒng)I上連接有電源系統(tǒng)4為其供電。本實(shí)施例中采用50Hz的AC220V的電源通過開關(guān)電源供電,對(duì)于電容來說開關(guān)電源是準(zhǔn)直流,充電迅速,測(cè)試速率明顯提高,可以應(yīng)對(duì)高速的測(cè)試應(yīng)用,使得整機(jī)重量減清,體積變小,電源的效率大幅升高。鍵盤輸入系統(tǒng)5是采用鍵盤形式與主控平臺(tái)系統(tǒng)I進(jìn)行連接,通過鍵盤操作將信息輸入至主控平臺(tái)系統(tǒng)I中。狀態(tài)指示系統(tǒng)6是采用各種發(fā)光二極管構(gòu)成,連接在主控平臺(tái)系統(tǒng)I上,用于反饋內(nèi)部信號(hào)狀態(tài)。實(shí)施例中總線通訊系統(tǒng)2采用CAN總線形式,各個(gè)測(cè)試功能卡包括VF測(cè)試卡71、VR測(cè)試卡72、IR測(cè)試卡73都各自獨(dú)立掛置連接在CAN總線上。VF測(cè)試卡71、VR測(cè)試卡72、IR測(cè)試卡73可以采用原有TVR6000測(cè)試機(jī)的測(cè)試卡模塊,VF測(cè)試卡完成VF的測(cè)試,VR測(cè)試卡完成VR的測(cè)試,IR測(cè)試卡完成IR的測(cè)試,其內(nèi)部結(jié)構(gòu)和原理與原有結(jié)構(gòu)相同,因此不做贅述。本實(shí)用新型中可以在CAN總線上橫向拓展多個(gè)測(cè)試卡,一般8個(gè)為宜。同時(shí)本實(shí)施例中,每個(gè)VF測(cè)試卡71、VR測(cè)試卡72、IR測(cè)試卡73并聯(lián)接連在兩個(gè)測(cè)試工位上,第一測(cè)試工位81、第二測(cè)試工位82,這樣方便同時(shí)進(jìn)行兩個(gè)獨(dú)立測(cè)試,提高測(cè)試效率。上述實(shí)施例僅用于解釋說明本實(shí)用新型的發(fā)明構(gòu)思,而非對(duì)本實(shí)用新型權(quán)利保護(hù)的限定,凡利用此構(gòu)思對(duì)本實(shí)用新型進(jìn)行非實(shí)質(zhì)性的改動(dòng),均應(yīng)落入本實(shí)用新型的保護(hù)范圍。
      權(quán)利要求1.一種半導(dǎo)體分立器件測(cè)試系統(tǒng),其特征在于包括主控平臺(tái)系統(tǒng)、總線通訊系統(tǒng)、各個(gè)測(cè)試功能卡、顯示系統(tǒng);各測(cè)試功能模塊獨(dú)立掛置在總線通訊系統(tǒng)上,總線通訊系統(tǒng)連接到主控平臺(tái)系統(tǒng)中,主控平臺(tái)系統(tǒng)連接顯示系統(tǒng),將測(cè)試結(jié)果數(shù)據(jù)加以顯示。
      2.如權(quán)利要求I所述的一種半導(dǎo)體分立器件測(cè)試系統(tǒng),其特征在于所述的各個(gè)測(cè)試功能卡通過數(shù)據(jù)線并列連接兩個(gè)測(cè)試工位。
      3.如權(quán)利要求I所述的一種半導(dǎo)體分立器件測(cè)試系統(tǒng),其特征在于所述的主控平臺(tái)系統(tǒng)連接有為主控平臺(tái)系統(tǒng)供電的電源系統(tǒng)、將數(shù)據(jù)輸入的鍵盤輸入系統(tǒng)、以及用于反饋信號(hào)狀態(tài)的狀態(tài)指示系統(tǒng)。
      4.如權(quán)利要求I所述的一種半導(dǎo)體分立器件測(cè)試系統(tǒng),其特征在于所述的測(cè)試功能卡包括VF測(cè)試卡、VR測(cè)試卡、IR測(cè)試卡。
      專利摘要本實(shí)用新型主要公開了一種半導(dǎo)體分立器件測(cè)試系統(tǒng),包括主控平臺(tái)系統(tǒng)、總線通訊系統(tǒng)、各個(gè)測(cè)試功能卡、顯示系統(tǒng)。各測(cè)試功能模塊獨(dú)立掛置在總線通訊系統(tǒng)上,總線通訊系統(tǒng)連接到主控平臺(tái)系統(tǒng)中,主控平臺(tái)系統(tǒng)連接顯示系統(tǒng),將測(cè)試結(jié)果數(shù)據(jù)加以顯示。本實(shí)用新型是一種自由組合形式提供測(cè)試服務(wù)的測(cè)試平臺(tái),可根據(jù)用戶的測(cè)試組態(tài)方案類選擇各色各樣測(cè)試功能的板卡,使用靈活方便。
      文檔編號(hào)G01R31/26GK202770958SQ20122044584
      公開日2013年3月6日 申請(qǐng)日期2012年9月4日 優(yōu)先權(quán)日2012年9月4日
      發(fā)明者張新華, 張若煜 申請(qǐng)人:紹興文理學(xué)院
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