專利名稱：一種非接觸智能卡芯片的測試裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及非接觸式智能卡芯片測試領(lǐng)域，具體涉及一種具有連續(xù)調(diào)節(jié)測試向量參數(shù)的非接觸式智能卡芯片的測試裝置。
背景技術(shù)：
隨著射頻識(shí)別(Radio Frequency Identification, RFID)技術(shù)和規(guī)范的不斷發(fā)展，基于RFID技術(shù)的非接觸智能卡(Integrated Circuit Card, IC卡)芯片正在被廣泛應(yīng)用。為保證非接觸智能卡芯片的成品率，這要求在大規(guī)模量產(chǎn)測試時(shí)需要一套高效率、高可靠性并具有較高覆蓋率的測試解決方案。非接觸IC卡芯片在設(shè)計(jì)和量產(chǎn)中通常要進(jìn)行的測試項(xiàng)目包括DC測試、接觸測試、天線端子間電容測試、通訊命令測試(功能測試，在不同場強(qiáng)及調(diào)制系數(shù)或不同pause寬度下的測試)等。對于功能測試而言，一般的測試方法要求測試儀本身有混合信號(hào)測試的硬件支持，來發(fā)送/接收RF信號(hào)，完成各種條件下的功能測試，按照IS0/IEC14443-2標(biāo)準(zhǔn)，對以下幾個(gè)重要的測試向量進(jìn)行連續(xù)測試，未調(diào)制工作場強(qiáng)1.5A/m 7.5A/m(TYPE A、TYPEB);調(diào)制系數(shù)8% 14% (TYPE B);脈沖寬度(Pause寬度)(TYPE A);測試儀對這幾種測試向量控制靈活、精確，但測試設(shè)備成本高，對量產(chǎn)來說成本增加明顯。從成本的角度考慮，近似的技術(shù)方案主要依靠測試儀+RF模塊實(shí)現(xiàn)，如圖1所示，測試儀主要提供測試向量的參數(shù)輸入，測試儀有數(shù)字電路的編碼及解碼功能，可完成數(shù)字部分的測試，數(shù)字部分的控制及協(xié)議實(shí)現(xiàn)較為方便快捷，包括ASK調(diào)制系數(shù)掃描、場強(qiáng)掃描輸入電壓，pause寬度掃描；與非接觸式智能卡的通信則要依靠RF模塊，通過RF模塊紐帶作用實(shí)現(xiàn)對非接觸式智能卡芯片的各項(xiàng)測試，通過RF模塊向待測模塊發(fā)送編碼的數(shù)字信號(hào)。RF模塊接收待測模塊返回?cái)?shù)據(jù)并進(jìn)行解調(diào)，然后將解調(diào)后數(shù)據(jù)存儲(chǔ)于測試儀中，測試儀確定返回信號(hào)是否正確。測試系統(tǒng)的精度和穩(wěn)定性取決于RF模塊的性能，此種測試設(shè)備成本相對于前一種較低；無異會(huì)成為我們的選擇項(xiàng)。而此種方案的關(guān)鍵就在于RF模塊的性能優(yōu)劣，現(xiàn)在大部分的射頻模塊應(yīng)用都是面向產(chǎn)品或者說是智能卡標(biāo)簽，因此完全有必要研制出一套場強(qiáng)、調(diào)制系數(shù)、Pause寬度等都可控的射頻前端模塊。

實(shí)用新型內(nèi)容現(xiàn)有的非接觸式智能卡芯片測試方案的關(guān)鍵信號(hào)由測試儀提供，當(dāng)有量產(chǎn)需求時(shí)，需要提供多組測試接口，并且對于RF模塊返回信號(hào)同樣依賴測試儀的資源，對測試儀的硬件資源有較高要求，測試系統(tǒng)成本較高。為了解決上述技術(shù)問題，本實(shí)用新型提供了一種非接觸智能卡芯片的測試裝置，所述測試裝置包括數(shù)字邏輯控制單元、信號(hào)調(diào)理單元和射頻單元，所述數(shù)字邏輯控制單元與計(jì)算機(jī)通信，對計(jì)算機(jī)傳送的功能指令進(jìn)行解析獲得測試向量參數(shù)和命令信息，并對所述命令信息進(jìn)行編碼，將測試向量參數(shù)和編碼后命令信息發(fā)送至信號(hào)調(diào)理單元；將接收到的解調(diào)后的數(shù)據(jù)發(fā)送至計(jì)算機(jī)；[0008]所述信號(hào)調(diào)理單元根據(jù)接收到的測試向量參數(shù)產(chǎn)生兩路電壓信號(hào):高電平Vhigh和低電平Vlw ;并根據(jù)編碼后命令信息對兩路電壓信號(hào)進(jìn)行調(diào)制，為射頻單元提供供電電壓；所述射頻單元向待測芯片發(fā)送加載信號(hào)Vpp，接收待測芯片返回?cái)?shù)據(jù)并進(jìn)行解調(diào)，將解調(diào)后的數(shù)據(jù)發(fā)送至數(shù)字邏輯控制單元。進(jìn)一步地，測試裝置還包括串行接口，所述串行接口(I)設(shè)置在計(jì)算機(jī)和所述數(shù)字邏輯控制單元之間的通路上。進(jìn)一步地，所述數(shù)字邏輯控制單元包括存儲(chǔ)單元、判斷模塊和傳送模塊；所述存儲(chǔ)單元用于存儲(chǔ)待測芯片預(yù)期的返回結(jié)果；所述判斷模塊用于將射頻單元發(fā)送的解調(diào)后的數(shù)據(jù)與存儲(chǔ)在存儲(chǔ)單元中的預(yù)期的返回結(jié)果比較，判斷返回?cái)?shù)據(jù)是否正確；傳送模塊用于將判斷模塊的判斷結(jié)果發(fā)送至計(jì)算機(jī)。進(jìn)一步地，所述數(shù)字邏輯控制單元包括編碼電路，所述編碼電路用于所述命令信息按照10S/IEC14443-2協(xié)議的規(guī)定進(jìn)行編碼。進(jìn)一步地，所述數(shù)字邏輯控制單元為FPGA。進(jìn)一步地，所述信號(hào)調(diào)理單元包括兩路D/A轉(zhuǎn)換電路和調(diào)制信號(hào)產(chǎn)生電路，所述兩路D/A轉(zhuǎn)換電路分別將數(shù)字邏輯控制單元發(fā)送的測試向量參數(shù)轉(zhuǎn)換為兩路電壓信號(hào):高電平Vhigh和低電平Vlw，發(fā)送至調(diào)制信號(hào)產(chǎn)生電路，調(diào)制信號(hào)產(chǎn)生電路根據(jù)數(shù)字邏輯控制單元發(fā)送的編碼后命令信息對兩路電壓信號(hào)進(jìn)行調(diào)制為射頻單元提供供電電壓。進(jìn)一步地，所述信號(hào)調(diào)理單元包括還包括兩個(gè)電壓跟隨器，所述電壓跟隨器設(shè)置在D/A轉(zhuǎn)換電路和調(diào)制信號(hào)產(chǎn)生電路之間的通路上。進(jìn)一步地，所述射頻單元4包括基頻信號(hào)產(chǎn)生電路、射頻功放電路、諧振濾波電路、檢波濾波電路、解調(diào)單元；所述基頻信號(hào)產(chǎn)生電路生成基頻信號(hào)提供給射頻功放電路；所述射頻功放電路的供電電壓由信號(hào)調(diào)理單元的輸出提供，所述射頻功放電路將帶有測試向量參數(shù)的電壓加載到基頻信號(hào)上，并發(fā)送給所述諧振濾波電路；所述諧振濾波電路濾掉接收到信號(hào)中的高次諧波獲得加載信號(hào)Vpp，并將所述加載信號(hào)Vpp發(fā)送至待測芯片；所述檢波濾波電路接收待測芯片返回?cái)?shù)據(jù)并進(jìn)行包絡(luò)檢波，檢出載有數(shù)字信息的子載波信號(hào)；再對檢波后的信號(hào)進(jìn)行濾波獲得濾波后的子載波信號(hào)；并將所述濾波后的子載波信號(hào)發(fā)送至解調(diào)單元；所述解調(diào)單元對接收到的信號(hào)進(jìn)行解碼，獲得解調(diào)后的數(shù)據(jù)，發(fā)送至數(shù)字邏輯控制單兀。進(jìn)一步地，所述射頻單元還包括放大電路，所述放大電路設(shè)置在檢波濾波電路和解調(diào)單元之間的通路上，對所述濾波后的子載波信號(hào)進(jìn)行放大，將放大后的信號(hào)發(fā)送至解調(diào)單元。進(jìn)一步地，所述基頻信號(hào)產(chǎn)生電路包括產(chǎn)生基頻信號(hào)的13.56M晶振，所述射頻功放電路為開關(guān)模式的功率放大器，所述諧振濾波電路為5階Π形無源濾波器。與現(xiàn)有技術(shù)相比，本實(shí)用新型單獨(dú)開發(fā)出射頻功放部分的供電模塊，并且具有數(shù)字控制模塊控制其提供連續(xù)變化的輸出，然后與RF模塊集成，形成一套完整、獨(dú)立的可連續(xù)調(diào)節(jié)測試向量參數(shù)的測試系統(tǒng)，完全可以不依靠測試儀滿足測試的需求，極大降低了整個(gè)測試系統(tǒng)的成本。

圖1為現(xiàn)有技術(shù)的非接觸智能卡芯片的測試裝置的結(jié)構(gòu)示意圖；圖2為本實(shí)用新型實(shí)施例的非接觸智能卡芯片的測試裝置的結(jié)構(gòu)示意圖；圖3為本實(shí)用新型實(shí)施例的信號(hào)調(diào)理單元的結(jié)構(gòu)示意圖；圖4為本實(shí)用新型實(shí)施例的射頻單元的結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實(shí)施方式
為使本實(shí)用新型的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點(diǎn)更加清楚明白，下文中將結(jié)合附圖對本實(shí)用新型的實(shí)施例進(jìn)行詳細(xì)說明。需要說明的是，在不沖突的情況下，本申請中的實(shí)施例及實(shí)施例中的特征可以相互任意組合。本實(shí)用新型主要解決非接觸智能卡芯片在批量生產(chǎn)過程中射頻讀頭的可調(diào)參數(shù)的遍歷測試和測試成本問題:按照IS0/IEC14443-2標(biāo)準(zhǔn)，對幾個(gè)重要的測試向量進(jìn)行連續(xù)測試，未調(diào)制工作場強(qiáng)L5A/m 7.5A/m(TYPE A、TYPEB);調(diào)制系數(shù)8% 14% (TYPE B)；Pause 寬度(TYPE A)。如圖2所示。本實(shí)用新型實(shí)施例提供一種非接觸智能卡芯片的測試裝置，所述測試裝置主要包括數(shù)字邏輯控制單元2、信號(hào)調(diào)理單元3和射頻單元4，所述數(shù)字邏輯控制單元2與計(jì)算機(jī)通信，對計(jì)算機(jī)傳送的功能指令進(jìn)行解析獲得測試向量參數(shù)和命令信息，并對所述命令信息進(jìn)行編碼，將測試向量參數(shù)和編碼后命令信息發(fā)送至信號(hào)調(diào)理單元3 ;所述信號(hào)調(diào)理單元3根據(jù)接收到的測試向量參數(shù)產(chǎn)生兩路電壓信號(hào):高電平Vhigh和低電平Vlw ;并根據(jù)命令信息對兩路電壓信號(hào)進(jìn)行調(diào)制為射頻單元4提供供電電壓，所述射頻單元4向待測芯片發(fā)送加載信號(hào)Vpp，并接收待測芯片返回?cái)?shù)據(jù)并進(jìn)行解調(diào)，將解調(diào)后的數(shù)據(jù)發(fā)送至數(shù)字邏輯控制單元2，數(shù)字邏輯控制單元2將解調(diào)后的數(shù)據(jù)發(fā)送至計(jì)算機(jī)。由數(shù)字邏輯控制單元2+RF單元4結(jié)合的方式，由數(shù)字邏輯控制單元2完成各項(xiàng)測試參數(shù)的生成，無需與測試儀配合，本實(shí)施例的技術(shù)方案成本降低非常明顯。所述測試裝置還可以包括串行接口 1，串行接口 I提供計(jì)算機(jī)與數(shù)字邏輯控制單元2的硬件接口，通過它完成數(shù)據(jù)的傳輸。在計(jì)算機(jī)上可以通過比較直觀的操作界面，發(fā)送相應(yīng)的通訊命令或是功能指令；同時(shí)計(jì)算機(jī)通過串行接口 I接收由數(shù)字邏輯控制單元2返回的信號(hào)或是指令執(zhí)行標(biāo)志碼，與預(yù)期的返回比較，以確定整個(gè)通訊過程是否正確。如果數(shù)字邏輯控制單元2的計(jì)算能力和存儲(chǔ)能力能夠滿足負(fù)載的要求，可以將射頻單元4發(fā)送的解調(diào)后的數(shù)據(jù)與預(yù)期的結(jié)果比較，判斷返回?cái)?shù)據(jù)是否正確，并將判斷結(jié)果發(fā)送至計(jì)算機(jī)。此時(shí)，所述數(shù)字邏輯控制單元2包括存儲(chǔ)單元、判斷模塊和傳送模塊，所述存儲(chǔ)單元用于存儲(chǔ)待測芯片預(yù)期的返回結(jié)果；所述判斷模塊用于將射頻單元(4)發(fā)送的解調(diào)后的數(shù)據(jù)與存儲(chǔ)在存儲(chǔ)單元中的預(yù)期的返回結(jié)果比較，判斷返回?cái)?shù)據(jù)是否正確，[0042]傳送模塊用于將判斷模塊的判斷結(jié)果發(fā)送至計(jì)算機(jī)。從圖1和圖2的對比中可以看出，數(shù)字邏輯控制單元2和信號(hào)調(diào)理單元3取代測試儀實(shí)現(xiàn)相應(yīng)的功能。數(shù)字邏輯控制單元2是測試裝置的核心，數(shù)字邏輯控制單元2由FPGA實(shí)現(xiàn)；它負(fù)責(zé)與計(jì)算機(jī)通過串行接口進(jìn)行通信，數(shù)字邏輯控制單元2利用編碼電路將命令信息按照10S/IEC14443-2協(xié)議的規(guī)定進(jìn)行編碼，由發(fā)送數(shù)據(jù)端(TXD，Transmit Data)輸出給調(diào)制信號(hào)產(chǎn)生電路；接收由接收數(shù)據(jù)端(RXD，ReCeive Data)返回的解調(diào)信號(hào)；根據(jù)場強(qiáng)和調(diào)制系數(shù)控制信號(hào)調(diào)理單元3的輸出；如圖3所示，信號(hào)調(diào)理單元3包括兩路D/A轉(zhuǎn)換電路31和調(diào)制信號(hào)產(chǎn)生電路33，所述兩路D/A轉(zhuǎn)換電路31分別將數(shù)字邏輯控制單元2發(fā)送的測試向量參數(shù)轉(zhuǎn)換為兩路電壓信號(hào):高電平Vhigh和低電平V1ot，發(fā)送至調(diào)制信號(hào)產(chǎn)生電路33，調(diào)制信號(hào)產(chǎn)生電路33根據(jù)數(shù)字邏輯控制單元2發(fā)送的命令信息對兩路電壓信號(hào)進(jìn)行調(diào)制為射頻單元4提供供電電壓；輸出振幅鍵控調(diào)制(ASK,Amplitude Shift Keying)所需的電壓信號(hào)；信號(hào)調(diào)理單元3主要作用是產(chǎn)生兩路RF單元4的供電電壓Vhigh和VlOT，并將這兩路電壓通過調(diào)制信號(hào)產(chǎn)生電路輸出，何時(shí)輸出為Vhigh，何時(shí)輸出為V1ot將取決于命令信息的輸出。如圖4所示，RF單元4與現(xiàn)有技術(shù)的實(shí)現(xiàn)基本相同。將這三部分集成即可實(shí)現(xiàn)對測試向量參數(shù)進(jìn)行連續(xù)調(diào)節(jié)的測試。其中RF部分的應(yīng)用比較普遍，在一些智能卡讀卡器機(jī)具中，也有用此部分電路實(shí)現(xiàn)，對于普通應(yīng)用來說場強(qiáng)和調(diào)制系數(shù)固定。所述信號(hào)調(diào)理單元3還包括兩個(gè)電壓跟隨器32，所述電壓跟隨器32設(shè)置在D/A轉(zhuǎn)換電路31和調(diào)制信號(hào)產(chǎn)生電路33之間的通路上，實(shí)現(xiàn)D/A轉(zhuǎn)換電路31和調(diào)制信號(hào)產(chǎn)生電路33的信號(hào)隔離。D/A轉(zhuǎn)換電路31，將FPGA輸出的數(shù)字信號(hào)轉(zhuǎn)換為模擬信號(hào)，它的精度及轉(zhuǎn)換速率沒有特殊要求，因?yàn)樵诟淖儓鰪?qiáng)和調(diào)制系數(shù)時(shí)即調(diào)整Vhigh和V1ot的值時(shí)，幅度相對較大，所以選擇普通的8位D/A芯片即可；電壓跟隨器32，主要對D/A轉(zhuǎn)換電路31與調(diào)制信號(hào)產(chǎn)生電路33進(jìn)行隔離，同時(shí)增強(qiáng)D/A轉(zhuǎn)換電路31輸出的驅(qū)動(dòng)能力；調(diào)制信號(hào)產(chǎn)生電路33用兩路模擬開關(guān)芯片實(shí)現(xiàn)，命令信息是由FPGA輸出的符合協(xié)議的數(shù)字信號(hào)，通過命令信息的數(shù)字信號(hào)I和O的改變決定輸出調(diào)制信號(hào)Vhigh或V1ot ；由IS0/IEC 14443-2可知調(diào)制系數(shù)(modulation index)定義為(a_b) / (a+b),其中a、b分別為信號(hào)幅度的最大值和最小值,此處的Vhigh和V1ot并非實(shí)際的信號(hào)幅度最大值和最小值，但和實(shí)際有一致的對應(yīng)關(guān)系，通過輸出不同的Vhigh和V1ot的電壓組合，可實(shí)現(xiàn)不同的調(diào)制系數(shù)。而在射頻功放和諧振濾波網(wǎng)絡(luò)固定的情況下，Vhigh的大小決定了輸出功率的大小，即輸出場強(qiáng)的大小。如圖4所示,所述射頻單元4包括基頻信號(hào)產(chǎn)生電路41、射頻功放電路42、諧振濾波電路43、檢波濾波電路44、解調(diào)單元45 ；所述基頻信號(hào)產(chǎn)生電路41生成基頻信號(hào)提供給射頻功放電路42 ；所述射頻功放電路42供電電壓由信號(hào)調(diào)理單元3的輸出提供，所述射頻功放電路42將帶有測試向量參數(shù)的電壓加載到基頻信號(hào)上，并發(fā)送給所述諧振濾波電路43 ；所述諧振濾波電路43濾掉接收到信號(hào)中的高次諧波獲得加載信號(hào)Vpp，并將所述加載信號(hào)Vpp發(fā)送至待測芯片；所述檢波濾波電路44接收待測芯片返回?cái)?shù)據(jù)并進(jìn)行包絡(luò)檢波，檢出載有數(shù)字信息的子載波信號(hào)；再對檢波后的信號(hào)進(jìn)行濾波獲得濾波后的子載波信號(hào)；并將所述濾波后的子載波信號(hào)發(fā)送至解調(diào)單元45 ；[0051]所述解調(diào)單元45對接收到的信號(hào)進(jìn)行解碼，獲得解調(diào)后的數(shù)據(jù)，發(fā)送至數(shù)字邏輯控制單元2。所述射頻單元4還包括放大電路46，所述放大電路46設(shè)置在檢波濾波電路44和解調(diào)單元45之間的通路上，對所述濾波后的子載波信號(hào)進(jìn)行放大，將放大后的信號(hào)發(fā)送至解調(diào)單元45。所述基頻信號(hào)產(chǎn)生電路41的基頻信號(hào)由13.56M晶振產(chǎn)生，所述射頻功放電路42為開關(guān)模式的功率放大器，所述諧振濾波電路43為5階Π形無源濾波器?；l信號(hào)產(chǎn)生電路41的基頻信號(hào)由13.56M晶振通過驅(qū)動(dòng)電路產(chǎn)生提供給射頻功放電路42的MOSFET管柵極；射頻功放電路42為E類功放，它是一種開關(guān)模式功率放大器，此功放的理想效率為100%，實(shí)際為90%左右，其柵極由基頻信號(hào)源提供，功放MOSFET漏極直流供電電壓則直接由信號(hào)調(diào)理單元3的輸出提供，信號(hào)調(diào)理單元3的輸出電平已經(jīng)是帶有數(shù)字信息的電平，這樣就實(shí)現(xiàn)了將數(shù)據(jù)加載到基頻信號(hào)上；諧振濾波電路43為5階Π形無源濾波器，起到濾波作用，同時(shí)其作為射頻功放電路42的負(fù)載網(wǎng)絡(luò)，將直接影響到射頻功放電路42的效率，射頻功放電路42輸出的帶有數(shù)字信息的信號(hào)通過5階Π形無源濾波器濾掉高次諧波；發(fā)送部分可輸出符合要求范圍的交流信號(hào)Vpp，此信號(hào)可直接加在待測芯片兩個(gè)焊盤端(PAD端)，當(dāng)符合協(xié)議的智能卡芯片接收到信號(hào)后產(chǎn)生應(yīng)答，由解調(diào)單元45對應(yīng)答信號(hào)進(jìn)行解調(diào)。檢波濾波電路44包括檢波電路和濾波電路兩部分，檢波電路為倍壓二極管檢波，對待測部分返回的信號(hào)進(jìn)行包絡(luò)檢波，將載有數(shù)字信息的子載波信號(hào)檢出；濾波電路為有源帶通濾波器，檢波后的信號(hào)能過此濾波網(wǎng)絡(luò)后，可得到較純凈的子載波信號(hào)；放大電路46為交流小信號(hào)放大形式，由濾波網(wǎng)絡(luò)出來的信號(hào)幅度較低，放大后可得到易于處理的信號(hào)，經(jīng)過波形整形后，輸出可識(shí)別的數(shù)字信號(hào)；解調(diào)單元45對前級(jí)輸出的數(shù)字信號(hào)采樣并進(jìn)行解碼，并發(fā)送至數(shù)字邏輯控制單元2。雖然本實(shí)用新型所揭露的實(shí)施方式如上，但所述的內(nèi)容只是為了便于理解本實(shí)用新型而采用的實(shí)施方式，并非用以限定本實(shí)用新型。任何本實(shí)用新型所屬技術(shù)領(lǐng)域內(nèi)的技術(shù)人員，在不脫離本實(shí)用新型所揭露的精神和范圍的前提下，可以在實(shí)施的形式上及細(xì)節(jié)上作任何的修改與變化，但本實(shí)用新型的專利保護(hù)范圍，仍須以所附的權(quán)利要求書所界定的范圍為準(zhǔn)。
權(quán)利要求1.一種非接觸智能卡芯片的測試裝置，其特征在于，所述測試裝置包括數(shù)字邏輯控制單元(2)、信號(hào)調(diào)理單元(3)和射頻單元(4)， 所述數(shù)字邏輯控制單元(2)與計(jì)算機(jī)通信，對計(jì)算機(jī)傳送的功能指令進(jìn)行解析獲得測試向量參數(shù)和命令信息，并對所述命令信息進(jìn)行編碼，將測試向量參數(shù)和編碼后命令信息發(fā)送至信號(hào)調(diào)理單元(3);將接收到的解調(diào)后的數(shù)據(jù)發(fā)送至計(jì)算機(jī)； 所述信號(hào)調(diào)理單元⑶根據(jù)接收到的測試向量參數(shù)產(chǎn)生兩路電壓信號(hào):高電平Vhigh和低電平VlOT;并根據(jù)編碼后命令信息對兩路電壓信號(hào)進(jìn)行調(diào)制，為射頻單元⑷提供供電電壓； 所述射頻單元(4)向待測芯片發(fā)送加載信號(hào)Vpp，接收待測芯片返回?cái)?shù)據(jù)并進(jìn)行解調(diào)，將解調(diào)后的數(shù)據(jù)發(fā)送至數(shù)字邏輯控制單元(2)。
2.如權(quán)利要求1所述的測試裝置，其特征在于:所述測試裝置還包括串行接口(1)，所述串行接口(I)設(shè)置在計(jì)算機(jī)和所述數(shù)字邏輯控制單元(2)之間的通路上。
3.如權(quán)利要求1或2所述的測試裝置，其特征在于:所述數(shù)字邏輯控制單元(2)包括存儲(chǔ)單元、判斷模塊和傳送模塊。
4.如權(quán)利要求1或2所述的測試裝置，其特征在于:所述數(shù)字邏輯控制單元(2)包括編碼電路，所述編碼電路用于所述命令信息按照10S/IEC14443-2協(xié)議的規(guī)定進(jìn)行編碼。
5.如權(quán)利要求1或2所述的測試裝置，其特征在于:所述數(shù)字邏輯控制單元(2)為FPGA。
6.如權(quán)利要求1或2所述的測試裝置，其特征在于:所述信號(hào)調(diào)理單元(3)包括兩路D/A轉(zhuǎn)換電路(31)和調(diào)制信號(hào)產(chǎn)生電路(33)，所述兩路D/A轉(zhuǎn)換電路(31)分別將數(shù)字邏輯控制單元⑵發(fā)送的測試向量參數(shù)轉(zhuǎn)換為兩路電壓信號(hào):高電平Vhigh和低電平V1ot，發(fā)送至調(diào)制信號(hào)產(chǎn)生電路(33)，調(diào)制信號(hào)產(chǎn)生電路(33)根據(jù)數(shù)字邏輯控制單元(2)發(fā)送的編碼后命令信息對兩路電壓信號(hào)進(jìn)行調(diào)制為射頻單元(4)提供供電電壓。
7.如權(quán)利要求6所述的測試裝置，其特征在于:所述信號(hào)調(diào)理單元(3)包括還包括兩個(gè)電壓跟隨器(32)，所述電壓跟隨器(32)設(shè)置在D/A轉(zhuǎn)換電路(31)和調(diào)制信號(hào)產(chǎn)生電路(33)之間的通路上。
8.如權(quán)利要求1或2所述的測試裝置，其特征在于:所述射頻單元(4)包括基頻信號(hào)產(chǎn)生電路(41)、射頻功放電路(42)、諧振濾波電路(43)、檢波濾波電路(44)、解調(diào)單元(45)； 所述基頻信號(hào)產(chǎn)生電路(41)生成基頻信號(hào)提供給射頻功放電路(42)； 所述射頻功放電路(42)的供電電壓由信號(hào)調(diào)理單元(3)的輸出提供，所述射頻功放電路(42)將帶有測試向量參數(shù)的電壓加載到基頻信號(hào)上，并發(fā)送給所述諧振濾波電路(43)； 所述諧振濾波電路(43)濾掉接收到信號(hào)中的高次諧波獲得加載信號(hào)Vpp，并將所述加載信號(hào)Vpp發(fā)送至待測芯片； 所述檢波濾波電路(44)接收待測芯片返回?cái)?shù)據(jù)并進(jìn)行包絡(luò)檢波，檢出載有數(shù)字信息的子載波信號(hào)；再對檢波后的信號(hào)進(jìn)行濾波獲得濾波后的子載波信號(hào)；并將所述濾波后的子載波信號(hào)發(fā)送至解調(diào)單元(45)； 所述解調(diào)單元(45)對接收到的信號(hào)進(jìn)行解碼，獲得解調(diào)后的數(shù)據(jù)，發(fā)送至數(shù)字邏輯控制單兀(2) ο
9.如權(quán)利要求8所述的測試裝置，其特征在于:所述射頻單元(4)還包括放大電路(46)，所述放大電路(46)設(shè)置在檢波濾波電路(44)和解調(diào)單元(45)之間的通路上，對所述濾波后的子載波信號(hào)進(jìn)行放大，將放大后的信號(hào)發(fā)送至解調(diào)單元(45)。
10.如權(quán)利要求8所述的測試裝置，其特征在于:所述基頻信號(hào)產(chǎn)生電路(41)包括產(chǎn)生基頻信號(hào)的13.56M晶振，所述射頻功放電路(42)為開關(guān)模式的功率放大器，所述諧振濾波電路(43)為5階Π 形無源濾波器。
專利摘要一種非接觸智能卡芯片的測試裝置，涉及非接觸式智能卡芯片測試領(lǐng)域，解決了現(xiàn)有技術(shù)對測試儀的硬件資源有較高要求，測試系統(tǒng)成本較高的問題。所述測試裝置包括數(shù)字邏輯控制單元、信號(hào)調(diào)理單元和射頻單元，數(shù)字邏輯控制單元對計(jì)算機(jī)傳送的功能指令進(jìn)行解析獲得測試向量參數(shù)和命令信息，并對所述命令信息進(jìn)行編碼，并發(fā)送至信號(hào)調(diào)理單元；信號(hào)調(diào)理單元根據(jù)測試向量參數(shù)產(chǎn)生兩路電壓信號(hào)；并根據(jù)命令信息對兩路電壓信號(hào)進(jìn)行調(diào)制為射頻單元提供供電電壓，射頻單元向待測芯片發(fā)送加載信號(hào)Vpp，并接收待測芯片返回?cái)?shù)據(jù)并進(jìn)行解調(diào)，將解調(diào)后的數(shù)據(jù)發(fā)送至數(shù)字邏輯控制單元。本實(shí)用新型可以不依靠測試儀滿足測試的需求，極大降低了整個(gè)測試系統(tǒng)的成本。
文檔編號(hào)G01R31/28GK203025317SQ20122046004
公開日2013年6月26日 申請日期2012年9月10日 優(yōu)先權(quán)日2012年9月10日
發(fā)明者熊偉 申請人:大唐微電子技術(shù)有限公司