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      一種電極的校驗(yàn)治具的制作方法

      文檔序號(hào):5993931閱讀:203來源:國知局
      專利名稱:一種電極的校驗(yàn)治具的制作方法
      技術(shù)領(lǐng)域
      一種電極的校驗(yàn)治具技術(shù)領(lǐng)域[0001]本實(shí)用新型屬于模具加工領(lǐng)域,尤其是涉及一種電極的校驗(yàn)治具。
      背景技術(shù)
      [0002]在模具的生產(chǎn)過程中需要對(duì)制作模具的電極進(jìn)行檢驗(yàn),在現(xiàn)有的技術(shù)中一般采用將電極放在校驗(yàn)支座后,通過校驗(yàn)支座的中間的孔找電極的中心,然后再對(duì)電極進(jìn)行測(cè)量, 存在檢驗(yàn)精度不夠高,偏差較大等技術(shù)問題。發(fā)明內(nèi)容[0003]本實(shí)用新型要解決的問題是提供一種電極的校驗(yàn)治具,尤其適合在對(duì)電極的檢測(cè)和校驗(yàn)中使用。[0004]為解決上述技術(shù)問題,本實(shí)用新型采用的技術(shù)方案是一種電極的校驗(yàn)治具,包括底座,所述底座上設(shè)有校驗(yàn)臺(tái),所述校驗(yàn)臺(tái)上設(shè)有支撐柱,所述支撐柱上設(shè)有支座,所述支座的一個(gè)側(cè)面活動(dòng)連接有螺紋柱。[0005]進(jìn)一步的,所述校驗(yàn)臺(tái)為圓形。[0006]進(jìn)一步的,所述支撐柱為四個(gè),關(guān)于校驗(yàn)臺(tái)的中心對(duì)稱。[0007]進(jìn)一步的,所述支座為U型。[0008]進(jìn)一步的,所述螺紋柱為四個(gè)。[0009]本實(shí)用新型具有的優(yōu)點(diǎn)和積極效果是由于采用上述技術(shù)方案,將待校驗(yàn)的電極用螺紋柱固定在支座上再分中,可以很方便的對(duì)電極進(jìn)行打平和找中心,有效地減小誤差; 具有結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單,使用方便,檢測(cè)效率高等優(yōu)點(diǎn)。


      [0010]圖I是本實(shí)用新型一種電極的校驗(yàn)治具的結(jié)構(gòu)示意圖。[0011]圖中[0012]I、底座 2、校驗(yàn)臺(tái) 3、支撐柱[0013]4、支座 5、螺紋柱 6、電極具體實(shí)施方式
      [0014]如圖I所示,本實(shí)用新型一種電極的校驗(yàn)治具,包括底座1,所述底座I上設(shè)有校驗(yàn)臺(tái)2,所述校驗(yàn)臺(tái)2為圓形,所述校驗(yàn)臺(tái)2上設(shè)有支撐柱3,所述支撐柱3為四個(gè),關(guān)于校驗(yàn)臺(tái)2的中心對(duì)稱,所述支撐柱3上設(shè)有支座4,所述支座4為U型,所述支座4的一個(gè)側(cè)面活動(dòng)連接有螺紋柱5,所述螺紋柱5為四個(gè)。[0015]本實(shí)例的工作過程使用時(shí),將待校驗(yàn)的電極6放入支座4上用螺紋柱5固定后, 可以很方便的對(duì)電極6進(jìn)行打平和找中心,有效地減小誤差。[0016]以上對(duì)本實(shí)用新型的一個(gè)實(shí)施例進(jìn)行了詳細(xì)說明,但所述內(nèi)容僅為本實(shí)用新型的較佳實(shí)施例,不能被認(rèn)為用于限定本實(shí)用新型的實(shí)施范圍。凡依本實(shí)用新型申請(qǐng)范圍所作的均等變化與改進(jìn)等,均應(yīng)仍歸屬于本實(shí)用新型的專利涵蓋范圍之內(nèi)。
      權(quán)利要求1.一種電極的校驗(yàn)治具,其特征在于包括底座,所述底座上設(shè)有校驗(yàn)臺(tái),所述校驗(yàn)臺(tái)上設(shè)有支撐柱,所述支撐柱上設(shè)有支座,所述支座的一個(gè)側(cè)面活動(dòng)連接有螺紋柱。
      2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的一種電極的校驗(yàn)治具,其特征在于所述校驗(yàn)臺(tái)為圓形。
      3.根據(jù)權(quán)利要求I所述的一種電極的校驗(yàn)治具,其特征在于所述支撐柱為四個(gè),關(guān)于校驗(yàn)臺(tái)的中心對(duì)稱。
      4.根據(jù)權(quán)利要求I所述的一種電極的校驗(yàn)治具,其特征在于所述支座為U型。
      5.根據(jù)權(quán)利要求I所述的一種電極的校驗(yàn)治具,其特征在于所述螺紋柱為四個(gè)。
      專利摘要本實(shí)用新型提供一種電極的校驗(yàn)治具,包括底座,所述底座上設(shè)有校驗(yàn)臺(tái),所述校驗(yàn)臺(tái)為圓形,所述校驗(yàn)臺(tái)上設(shè)有支撐柱,所述支撐柱為四個(gè),關(guān)于校驗(yàn)臺(tái)的中心對(duì)稱,所述支撐柱上設(shè)有支座,所述支座為U型,所述支座的一個(gè)側(cè)面活動(dòng)連接有螺紋柱,所述螺紋柱為四個(gè)。本實(shí)用新型的有益效果是將待校驗(yàn)的電極用螺紋柱固定在支座上再分中,可以很方便的對(duì)電極進(jìn)行打平和找中心,有效地減小誤差;具有結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單,使用方便,檢測(cè)效率高等優(yōu)點(diǎn)。
      文檔編號(hào)G01B21/00GK202814366SQ201220466148
      公開日2013年3月20日 申請(qǐng)日期2012年9月13日 優(yōu)先權(quán)日2012年9月13日
      發(fā)明者王立征 申請(qǐng)人:天津市瑞福科技發(fā)展有限公司
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