專利名稱：高耐久性開關(guān)電磁閥綜合性能試驗系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
高耐久性開關(guān)電磁閥綜合性能試驗系統(tǒng)技術(shù)領(lǐng)域[0001]本實用新型涉及試驗系統(tǒng)技術(shù)領(lǐng)域，特別涉及性能試驗系統(tǒng)技術(shù)領(lǐng)域，具體是指 一種高耐久性開關(guān)電磁閥綜合性能試驗系統(tǒng)。
背景技術(shù)：
[0002]高耐久性開關(guān)電磁閥是電控機(jī)械式自動變速器(AMT)上的重要部件，其是安裝在 離合器助力器內(nèi)部，通過通斷電控制進(jìn)排氣，從而使離合器助力器產(chǎn)生或撤消推力的電磁 閥裝置，國內(nèi)沒有現(xiàn)成的試驗裝置，通常的做法是試驗時將高耐久性開關(guān)閥裝到電控機(jī)械 式自動變速器(AMT)上檢驗開關(guān)閥的性能，試驗周期長，裝卸不方便，只能進(jìn)行好壞判斷。[0003]因此，需要提供一種高耐久性開關(guān)電磁閥綜合性能試驗系統(tǒng)，其性能可靠，使用簡 單，能夠測試開關(guān)電磁閥的多項性能，完全滿足開關(guān)電磁閥的綜合性能的測試要求。實用新型內(nèi)容[0004]本實用新型的目的是克服了上述現(xiàn)有技術(shù)中的缺點，提供一種高耐久性開關(guān)電磁 閥綜合性能試驗系統(tǒng)，該高耐久性開關(guān)電磁閥綜合性能試驗系統(tǒng)設(shè)計巧妙，結(jié)構(gòu)簡潔，性能 可靠，使用簡單，能夠測試開關(guān)電磁閥的多項性能，完全滿足開關(guān)電磁閥的綜合性能的測試 要求，適于大規(guī)模推廣應(yīng)用。[0005]為了實現(xiàn)上述目的，本實用新型的高耐久性開關(guān)電磁閥綜合性能試驗系統(tǒng)，其特 點是，包括占空比信號發(fā)生器、壓縮氣體氣源、氣缸、活塞、活塞桿、遮光板、重塊、光電傳感 器和計時器，所述活塞水平設(shè)置在所述氣缸中從而將所述氣缸分為氣缸上腔和氣缸下腔， 所述活塞桿豎直穿設(shè)所述氣缸且上端連接所述活塞以及下端連接所述重塊，所述遮光板安 設(shè)在所述活塞桿上，所述計時器電路連接所述光電傳感器，所述光電傳感器與所述遮光板 配合設(shè)置用于檢測所述遮光板的上下移動，所述占空比信號發(fā)生器電路連接待試驗的高耐 久性開關(guān)電磁閥，所述壓縮氣體氣源通過所述高耐久性開關(guān)電磁閥氣路連接所述氣缸下 腔。[0006]較佳地，所述高耐久性開關(guān)電磁閥綜合性能試驗系統(tǒng)還包括第一壓力表，所述第 一壓力表連接在所述高耐久性開關(guān)電磁閥和所述氣缸下腔之間的氣路中。[0007]較佳地，所述高耐久性開關(guān)電磁閥綜合性能試驗系統(tǒng)還包括第一分離開關(guān)，所述 第一分離開關(guān)連接在所述高耐久性開關(guān)電磁閥和所述氣缸下腔之間的氣路中。[0008]較佳地，所述高耐久性開關(guān)電磁閥綜合性能試驗系統(tǒng)還包括第二壓力表，所述第 二壓力表連接在所述壓縮氣體氣源和所述高耐久性開關(guān)電磁閥之間的氣路中。[0009]較佳地，所述高耐久性開關(guān)電磁閥綜合性能試驗系統(tǒng)還包括第二分離開關(guān)，所述 第二分離開關(guān)連接在所述壓縮氣體氣源和所述高耐久性開關(guān)電磁閥之間的氣路中。[0010]較佳地，所述高耐久性開關(guān)電磁閥綜合性能試驗系統(tǒng)還包括調(diào)壓閥，所述調(diào)壓閥 連接在所述壓縮氣體氣源和所述高耐久性開關(guān)電磁閥之間的氣路中。[0011]較佳地，所述高耐久性開關(guān)電磁閥綜合性能試驗系統(tǒng)還包括貯氣筒，所述貯氣筒連接在所述壓縮氣體氣源和所述高耐久性開關(guān)電磁閥之間的氣路中。[0012]本實用新型的有益效果具體在于本實用新型的高耐久性開關(guān)電磁閥綜合性能試 驗系統(tǒng)包括占空比信號發(fā)生器、壓縮氣體氣源、氣缸、活塞、活塞桿、遮光板、重塊、光電傳感 器和計時器，所述活塞水平設(shè)置在所述氣缸中從而將所述氣缸分為氣缸上腔和氣缸下腔， 所述活塞桿豎直穿設(shè)所述氣缸且上端連接所述活塞以及下端連接所述重塊，所述遮光板安 設(shè)在所述活塞桿上，所述計時器電路連接所述光電傳感器，所述光電傳感器與所述遮光板 配合設(shè)置用于檢測所述遮光板的上下移動，所述占空比信號發(fā)生器電路連接待試驗的高耐 久性開關(guān)電磁閥，所述壓縮氣體氣源通過所述高耐久性開關(guān)電磁閥氣路連接所述氣缸下 腔，從而通過占空比信號發(fā)生器完成對試驗條件的設(shè)定，來自壓縮氣體氣源的壓縮空氣經(jīng) 高耐久性開關(guān)電磁閥進(jìn)入氣缸下腔中，在氣體作用下，活塞桿上升帶動其上的遮光板上升， 通過光電傳感器時，計時器計時，氣缸下腔充滿氣時氣缸停上動作，通過氣缸容積和光電傳 感器連接的計時器記錄的時間可以換算出開關(guān)電磁閥的流量，設(shè)計巧妙，結(jié)構(gòu)簡潔，性能可 靠，使用簡單，能夠測試開關(guān)電磁閥的多項性能，完全滿足開關(guān)電磁閥的綜合性能的測試要 求，適于大規(guī)模推廣應(yīng)用。


[0013]圖1是本實用新型的一具體實施例的結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實施方式
[0014]為了能夠更清楚地理解本實用新型的技術(shù)內(nèi)容，特舉以下實施例詳細(xì)說明。[0015]請參見圖1所示，本實用新型的高耐久性開關(guān)電磁閥綜合性能試驗系統(tǒng)包括占空 比信號發(fā)生器13、壓縮氣體氣源9、氣缸3、活塞15、活塞桿16、遮光板2、重塊1、光電傳感 器10和計時器11，所述活塞15水平設(shè)置在所述氣缸3中從而將所述氣缸3分為氣缸上腔 和氣缸下腔，所述活塞桿16豎直穿設(shè)所述氣缸3且上端連接所述活塞15以及下端連接所 述重塊1，所述遮光板2安設(shè)在所述活塞桿16上，所述計時器11電路連接所述光電傳感器 10，所述光電傳感器10與所述遮光板2配合設(shè)置用于檢測所述遮光板2的上下移動，所述 占空比信號發(fā)生器13電路連接待試驗的高耐久性開關(guān)電磁閥12，所述壓縮氣體氣源9通過 所述高耐久性開關(guān)電磁閥12氣路連接所述氣缸下腔。壓縮氣體氣源9可以是例如壓縮空 氣氣源。[0016]為了測量所述高耐久性開關(guān)電磁閥12和所述氣缸下腔之間的氣路中的氣壓，請 參見圖1所示，在本實用新型的具體實施例中，所述高耐久性開關(guān)電磁閥綜合性能試驗系 統(tǒng)還包括第一壓力表4，所述第一壓力表4連接在所述高耐久性開關(guān)電磁閥12和所述氣缸 下腔之間的氣路中。[0017]為了及時通斷所述高耐久性開關(guān)電磁閥12和所述氣缸下腔之間的氣路，請參見 圖1所示，在本實用新型的具體實施例中，所述高耐久性開關(guān)電磁閥綜合性能試驗系統(tǒng)還 包括第一分離開關(guān)5，所述第一分離開關(guān)5連接在所述高耐久性開關(guān)電磁閥12和所述氣缸 下腔之間的氣路中。[0018]為了測量所述壓縮氣體氣源9和所述高耐久性開關(guān)電磁閥12之間的氣路中的氣 壓，請參見圖1所示，在本實用新型的具體實施例中，所述高耐久性開關(guān)電磁閥綜合性能試驗系統(tǒng)還包括第二壓力表6，所述第二壓力表6連接在所述壓縮氣體氣源9和所述高耐久性 開關(guān)電磁閥12之間的氣路中。[0019]為了及時通斷所述壓縮氣體氣源9和所述高耐久性開關(guān)電磁閥12之間的氣路，請 參見圖1所示，在本實用新型的具體實施例中，所述高耐久性開關(guān)電磁閥綜合性能試驗系 統(tǒng)還包括第二分離開關(guān)8，所述第二分離開關(guān)8連接在所述壓縮氣體氣源9和所述高耐久性 開關(guān)電磁閥12之間的氣路中。[0020]為了調(diào)節(jié)所述壓縮氣體氣源9和所述高耐久性開關(guān)電磁閥12之間的氣路中的氣 壓，請參見圖1所示，在本實用新型的具體實施例中，所述高耐久性開關(guān)電磁閥綜合性能試 驗系統(tǒng)還包括調(diào)壓閥7，所述調(diào)壓閥7連接在所述壓縮氣體氣源9和所述高耐久性開關(guān)電磁 閥12之間的氣路中。[0021]為了便于操作，請參見圖1所示，在本實用新型的具體實施例中，所述高耐久性開 關(guān)電磁閥綜合性能試驗系統(tǒng)還包括貯氣筒14，所述貯氣筒14連接在所述壓縮氣體氣源9和 所述高耐久性開關(guān)電磁閥12之間的氣路中。[0022]本實用新型使用時，首先完成占空比信號發(fā)生器13完成對試驗條件的設(shè)定，高耐 久性開關(guān)電磁閥12上電工作，將壓縮空氣按流量要求輸入氣缸下腔中，在氣體作用下，活 塞桿16上升,活塞桿16上安裝的遮光板2通過光電傳感器10時,計時器11計時,氣缸下 腔充滿氣時氣缸3停上動作；由于氣缸3容積已知,光電傳感器10可記錄下遮光板2通過 光電傳感器10的時間，通過氣缸3容積和光電傳感器10連接的計時器11記錄的時間可以 換算出高耐久性開關(guān)電磁閥12的流量。顯然，本實用新型可以試驗其它開關(guān)電磁閥。[0023]通過本實用新型，能夠完成以下六項試驗工作，1:流量測試；2 :占空比可調(diào)；3 :密 封測試；4 :壓力顯示；5 :剩磁大小的判斷；6 :開啟動作時間及關(guān)閉動作時間的測量。[0024]經(jīng)過一年多的使用，本實用新型操作簡便，性能可靠，試驗數(shù)據(jù)準(zhǔn)確，完全滿足開 關(guān)電磁閥的綜合性能的測試要求。[0025]綜上，本實用新型的高耐久性開關(guān)電磁閥綜合性能試驗系統(tǒng)設(shè)計巧妙，結(jié)構(gòu)簡潔， 性能可靠，使用簡單，能夠測試開關(guān)電磁閥的多項性能，完全滿足開關(guān)電磁閥的綜合性能的 測試要求，適于大規(guī)模推廣應(yīng)用。[0026]在此說明書中，本實用新型已參照其特定的實施例作了描述。但是，很顯然仍可以 作出各種修改和變換而不背離本實用新型的精神和范圍。因此，說明書和附圖應(yīng)被認(rèn)為是 說明性的而非限制性的。
權(quán)利要求1.一種高耐久性開關(guān)電磁閥綜合性能試驗系統(tǒng)，其特征在于，包括占空比信號發(fā)生器、壓縮氣體氣源、氣缸、活塞、活塞桿、遮光板、重塊、光電傳感器和計時器，所述活塞水平設(shè)置在所述氣缸中從而將所述氣缸分為氣缸上腔和氣缸下腔，所述活塞桿豎直穿設(shè)所述氣缸且上端連接所述活塞以及下端連接所述重塊，所述遮光板安設(shè)在所述活塞桿上，所述計時器電路連接所述光電傳感器，所述光電傳感器與所述遮光板配合設(shè)置用于檢測所述遮光板的上下移動，所述占空比信號發(fā)生器電路連接待試驗的高耐久性開關(guān)電磁閥，所述壓縮氣體氣源通過所述高耐久性開關(guān)電磁閥氣路連接所述氣缸下腔。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的高耐久性開關(guān)電磁閥綜合性能試驗系統(tǒng)，其特征在于，所述高耐久性開關(guān)電磁閥綜合性能試驗系統(tǒng)還包括第一壓力表，所述第一壓力表連接在所述高耐久性開關(guān)電磁閥和所述氣缸下腔之間的氣路中。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的高耐久性開關(guān)電磁閥綜合性能試驗系統(tǒng)，其特征在于，所述高耐久性開關(guān)電磁閥綜合性能試驗系統(tǒng)還包括第一分離開關(guān)，所述第一分離開關(guān)連接在所述高耐久性開關(guān)電磁閥和所述氣缸下腔之間的氣路中。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的高耐久性開關(guān)電磁閥綜合性能試驗系統(tǒng)，其特征在于，所述高耐久性開關(guān)電磁閥綜合性能試驗系統(tǒng)還包括第二壓力表，所述第二壓力表連接在所述壓縮氣體氣源和所述高耐久性開關(guān)電磁閥之間的氣路中。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的高耐久性開關(guān)電磁閥綜合性能試驗系統(tǒng)，其特征在于，所述高耐久性開關(guān)電磁閥綜合性能試驗系統(tǒng)還包括第二分離開關(guān)，所述第二分離開關(guān)連接在所述壓縮氣體氣源和所述高耐久性開關(guān)電磁閥之間的氣路中。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的高耐久性開關(guān)電磁閥綜合性能試驗系統(tǒng)，其特征在于，所述高耐久性開關(guān)電磁閥綜合性能試驗系統(tǒng)還包括調(diào)壓閥，所述調(diào)壓閥連接在所述壓縮氣體氣源和所述高耐久性開關(guān)電磁閥之間的氣路中。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的高耐久性開關(guān)電磁閥綜合性能試驗系統(tǒng)，其特征在于，所述高耐久性開關(guān)電磁閥綜合性能試驗系統(tǒng)還包括貯氣筒，所述貯氣筒連接在所述壓縮氣體氣源和所述高耐久性開關(guān)電磁閥之間的氣路中。
專利摘要本實用新型涉及一種高耐久性開關(guān)電磁閥綜合性能試驗系統(tǒng)，包括占空比信號發(fā)生器、壓縮氣體氣源、氣缸、活塞、活塞桿、遮光板、重塊、光電傳感器和計時器，活塞水平設(shè)置在氣缸中從而將氣缸分為氣缸上腔和氣缸下腔，活塞桿豎直穿設(shè)氣缸且上端連接活塞以及下端連接重塊，遮光板安設(shè)在活塞桿上，計時器電路連接光電傳感器，光電傳感器與遮光板配合設(shè)置用于檢測遮光板的上下移動，占空比信號發(fā)生器電路連接待試驗的高耐久性開關(guān)電磁閥，壓縮氣體氣源通過高耐久性開關(guān)電磁閥氣路連接氣缸下腔。本實用新型設(shè)計巧妙，結(jié)構(gòu)簡潔，性能可靠，使用簡單，能夠測試開關(guān)電磁閥的多項性能，完全滿足開關(guān)電磁閥的綜合性能的測試要求，適于大規(guī)模推廣應(yīng)用。
文檔編號G01M13/00GK202836957SQ20122054494
公開日2013年3月27日 申請日期2012年10月23日 優(yōu)先權(quán)日2012年10月23日
發(fā)明者江山, 王志憲, 趙盛裔, 張文, 袁如本 申請人:東風(fēng)電子科技股份有限公司