專利名稱：一種高密度連接器雙頭針測試裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實用新型涉及一種高密度連接器雙頭針測試裝置。
背景技術(shù)：
當(dāng)前，高密度連接器使用雙頭針測試時，往往采用在針板上鉆打臺階孔，探針插入針板，此針板稱之為載針板；載針板下面以臺階孔形式來限位探針的板稱之為探針限位板；以表面鉆打穿孔的浮動板通過壓簧壓縮來控制升降，探針在浮動板孔中無干涉穿過，此浮動板稱之為浮動載板；以載針板(或其他對應(yīng)結(jié)構(gòu))外形限位的方式來控制浮動載板的漂移誤差的方式實現(xiàn)，此方法存在以下問題(I)考慮到雙頭針針尾較細時(O.1 mm左右時)，探針限位板的臺階孔不易加工，加工難，檢測難等問題；(2)采用外形限位，存在定位誤差大，加工精度考慮因素較多，操作磨損不宜清潔，阻礙浮動載板升降，嚴重時，會使浮動載板偏離，導(dǎo)致磨削探針，最終致使斷針。

實用新型內(nèi)容為了節(jié)約電能，本實用新型提供一種高密度連接器雙頭針測試裝置。本實用新型的上述目的通過以下的技術(shù)方案來實現(xiàn)一種高密度連接器雙頭針測試裝置，其特征在于包括浮動載板、載針板和雙頭針，載針板上設(shè)有探針限位板和雙導(dǎo)柱，探針限位板上設(shè)有PCB定位柱，所述浮動載板和載針板之間設(shè)有壓簧，壓簧內(nèi)套入導(dǎo)向柱。本實用新型的有益效果是采用本實用新型的結(jié)構(gòu)，可大大提高雙頭針的測試使用壽命，在產(chǎn)品的測試使用過程中，從根本上提高良率，降低誤操作對探針的影響，同時降低誤測率。

圖1為本實用新型的結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實施方式
以下結(jié)合附圖對本實用新型進一步詳述如圖1所示，一種高密度連接器雙頭針測試裝置，其特征在于包括浮動載板1、載針板2和雙頭針3，載針板2上設(shè)有探針限位板4和雙導(dǎo)柱5，雙導(dǎo)柱5實現(xiàn)載針板2的精確導(dǎo)向定位，探針限位板4上設(shè)有PCB定位柱6，所述浮動載板I和載針板2之間設(shè)有壓簧7，壓簧7內(nèi)套入導(dǎo)向柱8，導(dǎo)向柱8實現(xiàn)對壓簧7的徑向力進行減弱，降低對測試機構(gòu)的影響。通過外部施力，浮動載板I在雙導(dǎo)柱5的導(dǎo)向作用下，向下運動，雙頭針3露出，與高密度連接器接觸，實現(xiàn)測試功能。所述浮動載板I在雙導(dǎo)柱5的導(dǎo)向下，自由升降，降低磨削，為防止其在雙導(dǎo)柱5導(dǎo)向過程中存在操作受力不均導(dǎo)致的模組下壓偏離問題，在壓簧7中套入導(dǎo)向柱8，一方面對壓簧7起到垂直導(dǎo)向，另一方面對壓簧7的反作用力起到抵消作用，同時起到輔助導(dǎo)向的作用；在吃針行程上，在保證浮動載板I升降的平行度的同時，減少吃針行程40%以上，從根本上降低斷針的概率,增加良率。以上所述，僅是本實用新型的較佳實施例而已，并非對本實用新型作任何形式上的限制，任何熟悉本專業(yè)的技術(shù)人員，在不脫離本實用新型技術(shù)方案范圍內(nèi)，當(dāng)可利用上述揭示的技術(shù)內(nèi)容作出些許更動或修飾為等同變化的等效實施例，但凡是未脫離本實用新型技術(shù)方案的內(nèi)容，依據(jù)本實用新型的技術(shù)實質(zhì)對以上實施例所作的任何簡單修改、等同變化與修飾，均仍屬于本實用新型技術(shù)方案的范圍內(nèi)。
權(quán)利要求1. 一種高密度連接器雙頭針測試裝置，其特征在于包括浮動載板、載針板和雙頭針， 載針板上設(shè)有探針限位板和雙導(dǎo)柱，探針限位板上設(shè)有PCB定位柱，所述浮動載板和載針板之間設(shè)有壓簧，壓簧內(nèi)套入導(dǎo)向柱。
專利摘要本實用新型公開了一種高密度連接器雙頭針測試裝置，其特征在于包括浮動載板、載針板和雙頭針，載針板上設(shè)有探針限位板和雙導(dǎo)柱，探針限位板上設(shè)有PCB定位柱，所述浮動載板和載針板之間設(shè)有壓簧，壓簧內(nèi)套入導(dǎo)向柱。本實用新型的有益效果是采用本實用新型的結(jié)構(gòu)，可大大提高雙頭針的測試使用壽命，在產(chǎn)品的測試使用過程中，從根本上提高良率，降低誤操作對探針的影響，同時降低誤測率。
文檔編號G01R1/07GK202836600SQ20122054892
公開日2013年3月27日 申請日期2012年10月25日 優(yōu)先權(quán)日2012年10月25日
發(fā)明者劉國輝, 黃建平 申請人:蘇州工業(yè)園區(qū)世紀(jì)?？萍加邢薰?br>