專利名稱：一種模擬檢測(cè)gis類設(shè)備絕緣狀態(tài)的直流集成試驗(yàn)裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型集成試驗(yàn)裝置屬于電力用模擬檢測(cè)GIS類設(shè)備絕緣狀態(tài)的直流試驗(yàn)技術(shù)領(lǐng)域。
背景技術(shù)：
在GIS內(nèi)部絕緣缺陷中金屬導(dǎo)電微粒是GIS安全運(yùn)行的主要威脅，對(duì)其進(jìn)行檢測(cè)
具有重要意義。金屬導(dǎo)電微粒是GIS內(nèi)部缺陷最重要的典型缺陷，對(duì)其檢測(cè)效果直接決定檢測(cè)方法的優(yōu)劣，然而傳統(tǒng)方法通常在交流電壓下進(jìn)行絕緣檢測(cè)，在較高的交流電壓下，常常出現(xiàn)金屬微粒不起跳或間隙直接閃絡(luò)的狀況，對(duì)GIS絕緣性能有較大的損傷，且效果欠佳。此電壓環(huán)境下GIS內(nèi)微粒運(yùn)動(dòng)模式多為滾動(dòng)或者非貫穿性跳動(dòng)。微粒所發(fā)出的各種信號(hào)較弱，不利于檢測(cè)微粒。直流電壓下微粒起跳電壓和貫穿性跳動(dòng)所需電壓較低，對(duì)GIS絕緣性能有較小的損傷，以及直流電壓?jiǎn)螛O性的緣故，金屬微粒在GIS間隙內(nèi)較容易自由移動(dòng)和穿越整個(gè)間隙，多形成貫穿性跳動(dòng)模式，自由微粒釋放的信號(hào)強(qiáng)度遠(yuǎn)遠(yuǎn)大于靜止?fàn)顟B(tài)，所發(fā)出的超聲和脈沖電流信號(hào)較強(qiáng)，因而該方法更有效。模擬GIS典型缺陷的局放試驗(yàn)中，因采用的金屬微粒微小，經(jīng)常出現(xiàn)電壓將微粒擊飛的情況。本試驗(yàn)裝置中在SF6試驗(yàn)封閉腔體中設(shè)有微粒收集槽，將微粒集中收集，避免微粒殘留于腔體內(nèi)。在現(xiàn)場(chǎng)試驗(yàn)中所采用的直流電源系統(tǒng)較交流電源系統(tǒng)輕便，操作性更強(qiáng)，為GIS定檢預(yù)試提供可操作的試驗(yàn) 檢測(cè)方法，及時(shí)發(fā)現(xiàn)GIS設(shè)備絕緣缺陷，保證GIS輸電安全可
O

實(shí)用新型內(nèi)容本實(shí)用新型集成試驗(yàn)裝置的目的在于提供一套用于電力模擬檢測(cè)GIS類設(shè)備絕緣狀態(tài)的直流集成試驗(yàn)的裝置，實(shí)現(xiàn)試驗(yàn)的快捷高效化，實(shí)時(shí)觀察金屬缺陷對(duì)絕緣影響的試驗(yàn)過(guò)程。本實(shí)用新型集成試驗(yàn)裝置是通過(guò)下列技術(shù)方案來(lái)實(shí)現(xiàn)的。一種模擬檢測(cè)GIS類設(shè)備絕緣狀態(tài)的直流集成試驗(yàn)裝置，本實(shí)用新型特征是:包括內(nèi)嵌式高壓DC電壓發(fā)生器、試驗(yàn)電路模塊、SF6試驗(yàn)封閉腔體、氣壓計(jì)、液晶顯示屏、局放分析系統(tǒng)、控制面板、局放分析系統(tǒng)數(shù)據(jù)傳輸端口，其中:I)高壓DC電壓發(fā)生器、局放分析系統(tǒng)與整套試驗(yàn)設(shè)備裝置一體化集成，SF6試驗(yàn)封閉腔體設(shè)有氣壓計(jì)，在SF6試驗(yàn)封閉腔體上設(shè)有SF6氣罐接口 ；2) SF6試驗(yàn)封閉腔體底部設(shè)有局放缺陷收集槽，用于收集局放試驗(yàn)時(shí)被擊飛的試驗(yàn)金屬微粒；3)在控制面板上設(shè)有USB數(shù)據(jù)傳輸端口，可與外部連接導(dǎo)出數(shù)據(jù)；[0014]4)局放分析系統(tǒng)數(shù)據(jù)傳輸端口與外部計(jì)算機(jī)連接，儲(chǔ)存、分析采集到的信號(hào)。本實(shí)用新型集成試驗(yàn)裝置的有益效果是:a.具有緊湊型結(jié)構(gòu)、高度集成小型化、人性化設(shè)計(jì)，實(shí)現(xiàn)現(xiàn)場(chǎng)試驗(yàn)作業(yè)輕便化、快捷化；b.試驗(yàn)過(guò)程便于全程觀察、觀察部分便利化、人機(jī)操作控制簡(jiǎn)潔化；c.試驗(yàn)數(shù)據(jù)實(shí)時(shí)顯示及保存便利。
以下結(jié)合附圖及實(shí)例進(jìn)一步闡述本實(shí)用新型內(nèi)容。

圖1為直流為集成試驗(yàn)裝置整體示意圖； 圖2為SF6封閉腔體示意圖；圖3為裝置主要電路示意圖。圖中標(biāo)號(hào)為:1、探測(cè)器探頭部件；2、控制面板；3、USB數(shù)據(jù)傳輸端口 ；4、液晶顯示屏；5、局放分析系統(tǒng)數(shù)據(jù)傳輸端口 ；6、氣壓計(jì)；7、觀察視窗；8、電極板；9、試驗(yàn)金屬微粒；10、SF6試驗(yàn)封閉腔體；11、SF6氣罐接口 ；12、局放缺陷收集槽；13、試驗(yàn)電路模塊；14、內(nèi)嵌式高壓DC電壓發(fā)生器；15、局放分析系統(tǒng)。
具體實(shí)施方式
一種模擬檢測(cè)GIS類設(shè)備絕緣狀態(tài)的直流集成試驗(yàn)裝置，本實(shí)用新型特征是:包括內(nèi)嵌式高壓DC電壓發(fā)生器14、試驗(yàn)電路模塊13、SF6試驗(yàn)封閉腔體10、氣壓計(jì)6、液晶顯示屏4、局放分析系統(tǒng)15、控制面板2、局放分析系統(tǒng)數(shù)據(jù)傳輸端口 5，其中:I)高壓DC電壓發(fā)生器14、局放分析系統(tǒng)15與整套試驗(yàn)設(shè)備裝置一體化集成，SF6試驗(yàn)封閉腔體10設(shè)有氣壓計(jì)6，在SF6試驗(yàn)封閉腔體10上設(shè)有SF6氣罐接口 11 ；2)SF6試驗(yàn)封閉腔體10底部設(shè)有局放缺陷收集槽12，用于收集局放試驗(yàn)時(shí)被擊飛的試驗(yàn)金屬微粒9 ；3)在控制面板2上設(shè)有USB數(shù)據(jù)傳輸端口 3，可與外部連接導(dǎo)出數(shù)據(jù)；4)局放分析系統(tǒng)數(shù)據(jù)傳輸端口 5與外部計(jì)算機(jī)連接，儲(chǔ)存、分析采集到的信號(hào)。見(jiàn)圖1，該圖示出了試驗(yàn)檢測(cè)裝置整體圖。成套裝置的主要部分有內(nèi)嵌式高壓DC電壓發(fā)生器14、試驗(yàn)電路模塊13、SF6試驗(yàn)封閉腔體10、局放分析系統(tǒng)15四大塊。其中內(nèi)嵌式高壓DC電壓發(fā)生器14、試驗(yàn)電路模塊13、局放分析系統(tǒng)15詳見(jiàn)后續(xù)圖示。控制面板2進(jìn)行參數(shù)的輸入和調(diào)節(jié)，USB數(shù)據(jù)傳輸端口 3以及局放分析系統(tǒng)數(shù)據(jù)傳輸端口 5與外部計(jì)算機(jī)連接導(dǎo)出數(shù)據(jù)，儲(chǔ)存、分析采集到的信號(hào)，觀察視窗7可實(shí)時(shí)觀察試驗(yàn)過(guò)程中金屬微粒在SF6封閉腔體10中的試驗(yàn)情況，氣壓計(jì)6指示SF6封閉腔體10內(nèi)SF6氣體的氣壓，為試驗(yàn)的順利進(jìn)行提供參考。見(jiàn)圖2，該圖示出了 SF6S驗(yàn)封閉腔體結(jié)構(gòu)圖。圖中的SF6H閉腔體10可獨(dú)立從裝置中拆卸，并帶有SF6氣罐接口 11，供腔體充放SF6氣體所用。腔體底部設(shè)局放缺陷收集槽12，用于收集局放試驗(yàn)時(shí)被擊飛的試驗(yàn)金屬微粒9，將微粒集中收集，避免微粒殘留于腔體內(nèi)。[0034]見(jiàn)圖3，該圖示出了裝置主要電路圖。高壓DC電壓發(fā)生器14、局放分析系統(tǒng)15與試驗(yàn)電路模塊13 —體化集成，電源的產(chǎn)生、試驗(yàn)?zāi)K的進(jìn)程以及信號(hào)的采集完成集成于一套裝置中，實(shí)現(xiàn)試驗(yàn)的快捷便利化，裝置緊湊小型化。
權(quán)利要求1.一種模擬檢測(cè)Gis類設(shè)備絕緣狀態(tài)的直流集成試驗(yàn)裝置，其特征是: 包括內(nèi)嵌式高壓DC電壓發(fā)生器(14)、試驗(yàn)電路模塊(13)、SF6試驗(yàn)封閉腔體(10)、氣壓計(jì)(6)、液晶顯示屏(4)、局放分析系統(tǒng)(15)、控制面板(2)、局放分析系統(tǒng)數(shù)據(jù)傳輸端口(5)，其中: 1)高壓DC電壓發(fā)生器(14)、局放分析系統(tǒng)(15)與整套試驗(yàn)設(shè)備裝置一體化集成，SF6試驗(yàn)封閉腔體(10)設(shè)有氣壓計(jì)(6)，在SF6試驗(yàn)封閉腔體(10)上設(shè)有SF6氣罐接口( 11); 2)SF6試驗(yàn)封閉腔體(10)底部設(shè)有局放缺陷收集槽(12)，用于收集局放試驗(yàn)時(shí)被擊飛的試驗(yàn)金屬微粒(9)； 3)在控制面板(2)上設(shè)有USB數(shù)據(jù)傳輸端口(3)，可與外部連接導(dǎo)出數(shù)據(jù)； 4)局放分析系統(tǒng)數(shù)據(jù)傳輸端口(5)與外部計(jì)算機(jī)連接，儲(chǔ)存、分析采集到的信號(hào)。
專利摘要一種模擬檢測(cè)GIS類設(shè)備絕緣狀態(tài)的直流集成試驗(yàn)裝置，本實(shí)用新型集成試驗(yàn)裝置由內(nèi)嵌式高壓DC電壓發(fā)生器(14)、試驗(yàn)電路模塊(13)、試驗(yàn)電極SF6封閉腔體(10)、氣壓計(jì)(6)、液晶顯示屏(4)、局放分析系統(tǒng)(15)構(gòu)成，內(nèi)嵌式高壓DC電壓發(fā)生器(14)直接連接集成試驗(yàn)電路模塊(13)中，控制面板(2)進(jìn)行參數(shù)的輸入和調(diào)節(jié)，USB數(shù)據(jù)傳輸端口(3)、局放分析系統(tǒng)數(shù)據(jù)傳輸端口(5)提供與外部計(jì)算機(jī)裝置連接并導(dǎo)出數(shù)據(jù)的信息通道。本實(shí)用新型具有緊湊型結(jié)構(gòu)、高度集成小型化、人性化設(shè)計(jì)，實(shí)現(xiàn)現(xiàn)場(chǎng)試驗(yàn)作業(yè)輕便化、快捷化，觀察部分便利化、試驗(yàn)過(guò)程便于全程觀察、人機(jī)操作控制簡(jiǎn)潔化的優(yōu)點(diǎn)。
文檔編號(hào)G01R31/12GK203037801SQ20122060147
公開(kāi)日2013年7月3日 申請(qǐng)日期2012年11月15日 優(yōu)先權(quán)日2012年11月15日
發(fā)明者李璟瑞, 楊卓, 譚向宇, 趙現(xiàn)平, 王科, 王達(dá)達(dá), 彭晶, 張少泉, 馬儀, 陳磊, 徐肖偉, 陳曉云, 王衛(wèi)東, 馬宏明, 文斌, 曾宬 申請(qǐng)人:云南電力試驗(yàn)研究院(集團(tuán))有限公司電力研究院, 云南電網(wǎng)公司技術(shù)分公司