專利名稱：一種奇數(shù)齒或花鍵大徑的測量設(shè)備的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及一種用于測量待測量的奇數(shù)齒輪或花鍵大徑的測量方法的相應(yīng)的測量設(shè)備。
背景技術(shù)：
三坐標(biāo)即三坐標(biāo)測量機(jī)，是指在三維可測的空間范圍內(nèi)，能夠根據(jù)測頭系統(tǒng)返回的點(diǎn)數(shù)據(jù)，通過三坐標(biāo)的軟件系統(tǒng)計(jì)算各類幾何形狀、尺寸等測量能力的儀器，又稱為三坐標(biāo)測量儀或三坐標(biāo)量床?，F(xiàn)在各行業(yè)中對奇數(shù)齒輪大徑的測量，由于無法使用通用量具如游標(biāo)卡尺、外徑千分尺等進(jìn)行測量，一般需采用三座標(biāo)測量，而三座標(biāo)需在專門的場所，且測量效率低、成本較高，從而直接影響了現(xiàn)場的生產(chǎn)。

實(shí)用新型內(nèi)容鑒于上述現(xiàn)有技術(shù)存在的問題，提出了本實(shí)用新型。本實(shí)用新型要解決的技術(shù)問題是，如何利用奇數(shù)齒或花鍵大徑的測量方法對現(xiàn)有測量工具進(jìn)行改進(jìn)的問題。為解決上述技術(shù)問題，本實(shí)用新型提供了如下技術(shù)方案:一種依照奇數(shù)齒或花鍵大徑的測量方法的測量設(shè)備，包括主尺部件以及測量部件，所述測量部件包括外測量端和內(nèi)測量端，所述外 測量端或內(nèi)測量端設(shè)置為帶有一定凹陷角度的測量端，所述一定凹陷角度為180° -360° /Z，其中，Z為奇數(shù)齒的齒數(shù)。作為本實(shí)用新型所述測量設(shè)備一種優(yōu)選方案，其中:所述主尺部件的刻度根據(jù)
權(quán)利要求1.一種奇數(shù)齒或花鍵大徑的測量設(shè)備，包括主尺部件以及測量部件，所述測量部件包括外測量端和內(nèi)測量端，其特征在于:所述外測量端或內(nèi)測量端設(shè)置為帶有一定凹陷角度的測量端，所述一定凹陷角度為180° -360° /Z，其中，Z為奇數(shù)齒的齒數(shù)。
2.如權(quán)利要求1所述的測量設(shè)備，其特征在于:所述主尺部件的刻度根據(jù)
3.如權(quán)利要求1所述的測量設(shè)備，其特征在于:所述主尺部件為游標(biāo)卡尺結(jié)構(gòu)。
4.如權(quán)利要求3所述的測量設(shè)備，其特征在于:所述游標(biāo)卡尺結(jié)構(gòu)為數(shù)顯卡尺結(jié)構(gòu)。
5.如權(quán)利要求1所述的測量設(shè)備，其特征在于:所述主尺部件為外徑千分尺結(jié)構(gòu)。
6.如權(quán)利要求5所述的測量設(shè)備，其特征在于:所述外徑千分尺結(jié)構(gòu)為數(shù)顯卡尺結(jié)構(gòu)。
7.如權(quán)利要求5所述的測量設(shè)備，其特征在于:所述主尺部件的螺距根據(jù)
專利摘要本實(shí)用新型公開了一種奇數(shù)齒或花鍵大徑的測量設(shè)備,該設(shè)備包括主尺部件以及測量部件，所述測量部件包括外測量端和內(nèi)測量端，所述外測量端或內(nèi)測量端設(shè)置為帶有一定凹陷角度的測量端，所述一定凹陷角度為180°-360°/Z，其中，Z為奇數(shù)齒的齒數(shù)。本實(shí)用新型能夠解決各種規(guī)格奇數(shù)齒輪、花鍵的大徑在生產(chǎn)現(xiàn)場的快速測量的問題，具有生產(chǎn)成本低、方便快捷等優(yōu)點(diǎn)，極其適于生產(chǎn)應(yīng)用。
文檔編號(hào)G01B5/08GK202994048SQ20122072473
公開日2013年6月12日 申請日期2012年12月25日 優(yōu)先權(quán)日2012年12月25日
發(fā)明者吳海艷, 王英惠 申請人:江蘇森威集團(tuán)飛達(dá)股份有限公司