專利名稱：集成式光纖環(huán)圈測試系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實用新型涉及光纖環(huán)圈測試領(lǐng)域，尤其涉及一種集成式光纖環(huán)圈測試系統(tǒng)。
背景技術(shù)：
光纖環(huán)圈是光纖陀螺中最關(guān)鍵的組件，它性能的好壞直接決定了光纖陀螺的性能，因此對光纖環(huán)圈的檢測是光纖陀螺研制過程中必不可少的環(huán)節(jié)之一。通常檢測光纖環(huán)圈都需要搭建一套分離的光纖陀螺系統(tǒng)。如圖1所示，現(xiàn)有光纖環(huán)圈測試系統(tǒng)10是將各光學(xué)元器件和調(diào)制解調(diào)電路板分散安置在一個測試平板上，第一部分為光纖環(huán)圈測試系統(tǒng)，它主要包含光纖陀螺中的光源2、耦合器9、Y波導(dǎo)8、探測器16和調(diào)制解調(diào)電路板5，另一部分即為需要檢測的光纖環(huán)圈，這兩部分通過Y波導(dǎo)8的輸出尾纖和光纖環(huán)圈輸入尾纖進行銜接從而構(gòu)成一套完整的光纖陀螺系統(tǒng)接著又將此測試平板封裝在一個儀器機箱中，再配上其他的電源模塊11、測試系統(tǒng)控制電路板12等裝置就組成了一個完整的光纖環(huán)圈測試系統(tǒng)。這樣分散組裝的方式雖然簡單但對檢測環(huán)路中的光路和電路部分沒有進行封閉保護，易引入周圍環(huán)境中溫度和電磁輻射等干擾，從而降低光纖環(huán)圈測試系統(tǒng)的測試精度。

實用新型內(nèi)容為了克服上述現(xiàn)有技術(shù)的不足，本實用新型的目的是提供一種集成式光纖環(huán)圈測試系統(tǒng)，其能夠?qū)崿F(xiàn)對檢測環(huán)路中光路和調(diào)制解調(diào)電路的屏蔽保護。為了實現(xiàn)上述目的，本實用新型采用如下裝置:集成式光纖環(huán)圈測試系統(tǒng)，其特征在于:包括底座、骨架、外罩，所述骨架設(shè)于所述底座上，所述外罩罩于所述底座與骨架之上，所述底座、骨架、外罩圍成的空間形成密閉的上下分體層疊的電路腔和光路腔，所述電路腔內(nèi)設(shè)調(diào)制解調(diào)電路，所述光路腔內(nèi)設(shè)光路。所述電路腔和光路腔之間具有分隔元件，所述光路的一部分設(shè)置于所述分隔元件上。優(yōu)選地，底座包括外底座和內(nèi)底座，所述外底座由第一空心圓柱體與外接于所述空心圓柱體下端的外盤面一體成型，所述內(nèi)底座包括內(nèi)盤面及設(shè)于所述內(nèi)盤面上的第二空心圓柱體，所述內(nèi)盤面的外邊緣內(nèi)嵌于所述外盤面的底部環(huán)形凹槽內(nèi)。優(yōu)選地，骨架由第三空心圓柱體以及外接于所述第三空心圓柱體兩端的環(huán)形盤面一體成型。優(yōu)選地，第三空心圓柱體內(nèi)側(cè)具有環(huán)形凸臺，所述環(huán)形凸臺上端面設(shè)置有所述分隔元件，下端面與所述第一空心圓柱體固定連接，所述分隔元件、所述第一空心圓柱體，所述內(nèi)盤面共同構(gòu)成所述光路腔。優(yōu)選地，外罩固定于所述底座的外邊緣，所述分隔元件、所述外罩、所述骨架、所述底座圍成所述電路腔。優(yōu)選地，光路包括探測器，所述探測器的電管腳通過所述分隔元件的槽孔與所述調(diào)制解調(diào)電路連接。[0011 ] 優(yōu)選地，光路包括Y波導(dǎo)，所述Y波導(dǎo)輸出的尾纖從所述底座下面的凹槽中弓I出。優(yōu)選地，光路包括光源，所述光源設(shè)置于所述第二空心圓柱體包圍的所述內(nèi)盤面上，所述光源的光通過光纖沿著所述第一空心圓柱體的內(nèi)側(cè)面與所述分隔元件的光路連接。優(yōu)選地，分隔元件是光學(xué)元件板。本實用新型的有益效果是:通過集成式的上下分體層疊式的密閉封裝結(jié)構(gòu)，很好地將檢測環(huán)路中的光路和電路布置在一個密閉腔體中，從而實現(xiàn)對檢測環(huán)路中光路和調(diào)制解調(diào)電路的屏蔽保護。

圖1為現(xiàn)有光纖環(huán)圈測試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖。圖2為本實用新型的正面結(jié)構(gòu)示意圖。圖3為本實用新型的拆解示意圖。圖4為本實用新型的光纖環(huán)圈測試系統(tǒng)的安裝示意圖。圖中，1、底座1.1、外底座1.2、內(nèi)底座2、光源3、骨架4、光學(xué)元件板5、調(diào)制解調(diào)電路板6、外罩7、輸出尾纖8,Y波導(dǎo)9、稱合器10、現(xiàn)有測試系統(tǒng)分布結(jié)構(gòu)11、電源模塊12測試系統(tǒng)控制電路板13、增益平坦濾波器14、凹槽15、環(huán)形凸臺16、集成式光纖環(huán)圈測試系統(tǒng)
具體實施方式
以下結(jié)合附圖對本實用新型的一種具體實施方式
做出說明。參見圖2-4，本實用新型的集成式光纖環(huán)圈測試系統(tǒng)16是一種對原有分散式的光纖環(huán)圈測試系統(tǒng)檢測環(huán)路中的光路和調(diào)制解調(diào)電路進行集成式封裝改進的系統(tǒng)。其包括上下分體層疊式的密閉封裝結(jié)構(gòu)，形成密閉的電路腔和光學(xué)腔。如圖2和3所示，底座I是集成式光纖環(huán)圈測試系統(tǒng)16的基座，其包括外底座1.1和內(nèi)底座1.2，其中外底座1.1由空心的圓柱體以及外接于該圓柱體下端的盤面一體成型，內(nèi)底座1.2包括圓形盤面以及設(shè)置于圓形盤面上的空心圓柱體構(gòu)成，圓形盤面的外邊緣內(nèi)嵌于外底座1.1的下底面的環(huán)形凹槽內(nèi)，兩者通過螺釘固定連接，或者通過其他方式連接，在內(nèi)底座1.2的被空心圓柱體包圍的盤面上，設(shè)置有光源2，該光源2可以是ASE光源，也可以是其他用來測試的公知光源，光源2的各個組成部件可以通過銷釘螺釘固定于內(nèi)底座
1.2的盤面上，也可以是其他的固定方式。骨架3位于底座I之上，呈線盤狀，即頸部是一空心圓柱體，兩端是外接于空心圓柱體的盤面，在空心圓柱體的內(nèi)側(cè)中間部位具有環(huán)狀的凸臺15，骨架3的空心圓柱體依靠在外底座1.2的圓柱體的外側(cè)，凸臺15的下表面與外底座1.2的圓柱體的上端面固定連接，可通過螺釘或者其他固定方式連接。在凸臺15的上表面上承載有光學(xué)元件板4，光學(xué)元件板4的形狀是內(nèi)凹的盤狀結(jié)構(gòu)，盤狀邊緣通過螺釘或者其他方式與凸臺15固定連接，光學(xué)元件板4的下表面上布置有光路系統(tǒng)，包括增益平坦濾波器13，Y波導(dǎo)8，耦合器9，光電探測器16等，光源2輸出的光波通過一段光纖尾纖沿著底座的內(nèi)側(cè)壁蜿蜒而上到達光學(xué)元件板4，與光學(xué)元件板4上的光學(xué)元件組成了光纖環(huán)圈測試系統(tǒng)的第一部分中的光路檢測環(huán)路，而從Y波導(dǎo)輸出尾纖7又通過底座I的內(nèi)側(cè)壁蜿蜒而下，最后從底座I的下表面上的凹槽14中引出。在光學(xué)元件板4上承載有調(diào)制解調(diào)電路板5，其上設(shè)置有調(diào)制解調(diào)電路，調(diào)制解調(diào)電路板5的邊緣通過螺釘或者其他方式與光學(xué)元件板的邊緣固定連接，光學(xué)元件板4下表面的光電探測器16的電管腳通過光學(xué)元件板4的板面上的槽孔從光學(xué)元件板4的上表面穿出，與調(diào)制解調(diào)電路連接，實現(xiàn)光電轉(zhuǎn)換以及信號的傳輸。外罩6的下邊緣與外底座1.1的外邊緣固定連接，將骨架3、光學(xué)元件板4、調(diào)制解調(diào)電路板5以及各種光學(xué)元件以及電路元件全部密封于其內(nèi)，實現(xiàn)整個系統(tǒng)的外部密封。圖4是安裝示意圖，本實用新型的集成式光纖環(huán)圈測試系統(tǒng)16通過底座I上的固定孔固定于機箱平面上，由于集成式的設(shè)計，相比較于圖1的現(xiàn)有的分散布局，從外觀上更整齊，有序，從實現(xiàn)的效果上來看，節(jié)省了安裝面積，并且由于密封式的設(shè)計，極大地減小了外界溫度、電磁等對檢測的干擾，從而有效地提高了檢測的穩(wěn)定性以及精度。以上對本實用新型的一個實例進行了詳細說明，但所述內(nèi)容僅為本實用新型的較佳實施例，不能被認為用于限定本實用新型的實施范圍。凡依本實用新型申請范圍所作的均等變化與改進等，均應(yīng)仍歸屬于本實用新型的專利涵蓋范圍之內(nèi)。
權(quán)利要求1.集成式光纖環(huán)圈測試系統(tǒng)，其特征在于:包括底座、骨架、外罩，所述骨架設(shè)于所述底座上，所述外罩罩于所述底座與骨架之上，所述底座、骨架、外罩圍成的空間形成密閉的上下分體層疊的電路腔和光路腔，所述電路腔內(nèi)設(shè)調(diào)制解調(diào)電路，所述光路腔內(nèi)設(shè)光路。
2.如權(quán)利要求1所述的測試系統(tǒng)，其特征在于:所述電路腔和光路腔之間具有分隔元件，所述光路的一部分設(shè)置于所述分隔元件上。
3.如權(quán)利要求2所述的測試系統(tǒng)，其特征在于:所述底座包括外底座和內(nèi)底座，所述外底座由第一空心圓柱體與外接于所述空心圓柱體下端的外盤面一體成型，所述內(nèi)底座包括內(nèi)盤面及設(shè)于所述內(nèi)盤面上的第二空心圓柱體，所述內(nèi)盤面的外邊緣內(nèi)嵌于所述外盤面的底部環(huán)形凹槽內(nèi)。
4.如權(quán)利要求3所述的測試系統(tǒng)，其特征在于:所述骨架由第三空心圓柱體以及外接于所述第三空心圓柱體兩端的環(huán)形盤面一體成型。
5.如權(quán)利要求4所述的測試系統(tǒng)，其特征在于:所述第三空心圓柱體內(nèi)側(cè)具有環(huán)形凸臺，所述環(huán)形凸臺上端面設(shè)置有所述分隔元件，下端面與所述第一空心圓柱體固定連接，所述分隔元件、所述第一空心圓柱體，所述內(nèi)盤面共同構(gòu)成所述光路腔。
6.如權(quán)利要求2所述的測試系統(tǒng)，其特征在于:所述外罩固定于所述底座的外邊緣，所述分隔元件、所述外罩、所述骨架、所述底座圍成所述電路腔。
7.如權(quán)利要求2所述的測試系統(tǒng)，其特征在于:所述光路包括探測器，所述探測器的電管腳通過所述分隔元件的槽孔與所述調(diào)制解調(diào)電路連接。
8.如權(quán)利要求1所述的測試系統(tǒng)，其特征在于:所述光路包括Y波導(dǎo)，所述Y波導(dǎo)輸出的尾纖從所述底座下面的凹槽中引出。
9.如權(quán)利要求3所述的測試系統(tǒng)，其特征在于:所述光路包括光源，所述光源設(shè)置于所述第二空心圓柱體包圍的所述內(nèi)盤面上，所述光源的光通過光纖沿著所述第一空心圓柱體的內(nèi)側(cè)面與所述分隔元件的光路連接。
10.如權(quán)利要求2-9任一項所述的測試系統(tǒng)，其特征在于:所述分隔元件是光學(xué)元件板。
專利摘要本實用新型提供一種集成式光纖環(huán)圈測試系統(tǒng)，包括底座、骨架、外罩，所述骨架設(shè)于所述底座上，所述外罩罩于所述底座與骨架之上，所述底座、骨架、外罩圍成的空間形成密閉的上下分體層疊的電路腔和光路腔，所述電路腔內(nèi)設(shè)調(diào)制解調(diào)電路，所述光路腔內(nèi)設(shè)光路。采用上述集成式的光纖環(huán)圈測試系統(tǒng)，極大地減小了外界溫度、電磁等對檢測的干擾，從而有效地提高了檢測的穩(wěn)定性以及精度。
文檔編號G01M11/00GK202956260SQ20122072933
公開日2013年5月29日 申請日期2012年12月21日 優(yōu)先權(quán)日2012年12月21日
發(fā)明者楊冬霞, 李偉俊, 王嘉寧 申請人:天津光拓科技有限公司