具有與模式無關(guān)的測試訪問機(jī)制的測試調(diào)度的制作方法
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種用于測試基于電路的系統(tǒng)中的多個核心的測試調(diào)度的方法、裝置和系統(tǒng)的代表性實(shí)施例。測試數(shù)據(jù)被編碼以導(dǎo)出需要少量核心輸入信道的壓縮測試模式。每個壓縮測試模式的核心輸入/輸出信道要求信息被相應(yīng)地確定。壓縮模式被分組成測試模式類別。在測試模式類別的形成之后，對電路輸入和輸出信道以及測試應(yīng)用時隙進(jìn)行分配，可包括將互補(bǔ)的測試模式類別合并成可與特定的測試訪問機(jī)制一起工作的簇。該測試訪問機(jī)制可獨(dú)立于測試數(shù)據(jù)而被設(shè)計。
【專利說明】具有與模式無關(guān)的測試訪問機(jī)制的測試調(diào)度
[0001]相關(guān)申請
[0002]本申請要求2011年I月17日提交的標(biāo)題為“SoC設(shè)計中的EDC信道帶寬管理(EDTChannel Bandwidth Management in SoC Designs)” 且指名 Janusz Rajski 等人為發(fā)明人的申請?zhí)枮?1/433，509的美國臨時專利申請的優(yōu)先權(quán)，該申請通過引用被全部并入本文。
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0003]本發(fā)明涉及測試集成電路的領(lǐng)域。本發(fā)明的各個方面可能對測試壓縮環(huán)境中的測試調(diào)度特別有用。
[0004]發(fā)明背景
[0005]電子設(shè)備工業(yè)中的芯片特征迅速減小到50納米之下以及朝向三維集成電路發(fā)展，對芯片設(shè)計和測試有顯著的影響?，F(xiàn)代的芯片上系統(tǒng)(SoC)和系統(tǒng)級封裝(SiP)設(shè)計嵌入有多于十億個的以千兆赫范圍中的操作頻率運(yùn)行的晶體管。這些設(shè)計可包括各種數(shù)字、模擬、混合信號、存儲器、光學(xué)、微機(jī)電和射頻電路。SoC電路的普及導(dǎo)致測試成本的空前增力口。該成本增加主要?dú)w因于在測試期間訪問嵌入式核心時的困難、長的測試開發(fā)和測試應(yīng)用時間以及所涉及的大量測試數(shù)據(jù)。雖然芯片上網(wǎng)絡(luò)(NoC)系統(tǒng)可減輕一些核心通信問題，這些結(jié)構(gòu)轉(zhuǎn)而進(jìn)一步使SoC測試過程復(fù)雜化。
[0006]芯片上測試壓縮已經(jīng)被認(rèn)為是主流DFT (可測試性設(shè)計)方法之一。通過使用芯片上測試解壓縮和壓縮硬件，測試器可傳送壓縮形式的測試模式，且芯片上解壓縮硬件可將壓縮的測試模式擴(kuò)展(或解壓縮)成將被裝入掃描鏈中的實(shí)際測試數(shù)據(jù)。后者的操作是可能的，因?yàn)橐话阍诮鈮嚎s測試模式中只有少量的比特是被設(shè)計成指向集成電路中的一個或多個特定的故障的指定比特。解壓縮測試模式的其余未指定的比特被稱為“無關(guān)”比特，且一般是由于解壓縮器的結(jié)構(gòu)而被隨機(jī)地確定。具有僅用于指定比特的定義值的測試模式常常被稱為測試立方。在實(shí)際測試數(shù)據(jù)被應(yīng)用之后，測試響應(yīng)數(shù)據(jù)由掃描鏈捕獲，并接著由芯片上壓縮硬件(有時被稱為壓縮器)壓縮。壓縮的測試響應(yīng)數(shù)據(jù)隨后被傳送回到測試器用于分析。
[0007]在SoC設(shè)計中的壓縮技術(shù)的應(yīng)用需要額外的芯片上硬件基礎(chǔ)設(shè)施，包括測試訪問機(jī)制(TAM)和測試封裝。最初，TAM用于將測試激勵從SoC引腳(電路輸入信道)輸送到嵌入式核心，并將測試響應(yīng)從嵌入式核心輸送到SoC引腳(電路輸出信道)，同時測試封裝形成核心和SoC環(huán)境之間的界面。除了專用TAM之外，有成本效益的SoC測試一般需要某種形式的測試調(diào)度。SoC的測試調(diào)度通常涉及對多個測試資源和核心進(jìn)行多次測試。不幸的是，甚至相對簡單的測試調(diào)度算法也一般是NP (非確定性多項(xiàng)式時間)_完全問題。這是因?yàn)闇y試調(diào)度通常被制定為具有某個數(shù)量的處理器的組合開放式車間調(diào)度問題或?yàn)槎S或三維裝箱問題。這些方法將給定的信道分成不相交的子集。每個子集在多處理器調(diào)度問題制定中代表一個測試總線或一個處理器。不同的總線具有不同的寬度?？山又ㄟ^只經(jīng)由測試總線之一訪問每個核心來執(zhí)行核心的測試?？墒褂脤Ｓ寐酚陕窂絹韺y試傳送到核心，同時通過整數(shù)線性編程來解決測試調(diào)度問題。[0008]執(zhí)行TAM優(yōu)化和測試調(diào)度可明顯影響測試時間、測試數(shù)據(jù)量和測試成本。2010年3月16日提交的標(biāo)題為“測試壓縮環(huán)境中的SOC測試(SOC Testing In Test CompressionEnvironment)”的申請?zhí)枮?1/314，569的美國臨時專利申請和2011年3月16日提交的標(biāo)題為“測試壓縮環(huán)境中的測試調(diào)度和測試訪問(Test Scheduling And Test Access InTest Compression Environment)”的申請?zhí)枮镻CT/US2011/028741 的國際專利申請公開了可動態(tài)地分配電路的測試資源的TAM優(yōu)化和測試調(diào)度方法，所述申請(在下文中分別被稱為‘569申請和‘028741申請)通過引用被并入本文。動態(tài)信道分配能夠?qū)崿F(xiàn)將單獨(dú)的解壓縮器與外部測試設(shè)備相連接的通信信道的最佳使用。然而這些方法是與測試模式相關(guān)的解決方案。特別是，只有在測試模式是已知的之后或通過運(yùn)行ATPG (自動測試模式生成)和壓縮過程來獲得測試模式之后，才有可能得到TAM互連網(wǎng)絡(luò)的最佳結(jié)構(gòu)。這個相關(guān)性可能使設(shè)計流程變得復(fù)雜。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0009]本說明書公開了用于測試SoC中的多個核心的測試調(diào)度的方法、裝置和系統(tǒng)的代表性實(shí)施例。對于本發(fā)明的各種實(shí)現(xiàn)方式，測試數(shù)據(jù)被編碼以導(dǎo)出要求少量核心輸入信道的壓縮測試模式。每個壓縮測試模式與所述多個核心中的一個或多個核心以及與核心輸入信道要求信息相關(guān)。本發(fā)明的一些實(shí)施例產(chǎn)生那些要求最少量的核心輸入信道的壓縮測試模式。
[0010]對于每個壓縮測試模式，輸出信道要求信息可接著被確定。確定過程可包括選擇對每個壓縮測試模式的觀察點(diǎn)。在本發(fā)明的一些實(shí)施例中，確定每個壓縮測試模式所需的核心輸出信道的最小子集。
[0011]基于與每個壓縮測試模式、核心輸入信道要求信息和核心輸出信道要求信息相關(guān)的核心，將壓縮模式分組成測試模式類別。分組過程還可進(jìn)一步基于其它特征或特性，例如功率消耗。
[0012]在測試模式類別的形成之后，是分配電路輸入和輸出信道以及分配測試應(yīng)用時隙。分配過程可包括將互補(bǔ)的測試模式類別合并成能夠與特定的TAM —起工作的簇。
[0013]TAM可獨(dú)立于(independent of)測試數(shù)據(jù)而被設(shè)計。TAM可包括輸入交換網(wǎng)絡(luò)和輸出交換網(wǎng)絡(luò)。輸入交換網(wǎng)絡(luò)可包括解復(fù)用器，且在一些情況下包括一個或多個或門(0R)。輸出交換網(wǎng)絡(luò)可包括輸出選擇器和出口單元。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0014]圖1示出可編程計算機(jī)系統(tǒng)，可使用該可編程計算機(jī)系統(tǒng)來實(shí)施本發(fā)明的各種實(shí)施例。
[0015]圖2示出用于工業(yè)設(shè)計的測試模式填充率分布和EDT信道分布。
[0016]圖3示出根據(jù)本發(fā)明的各種實(shí)現(xiàn)方式的SOC測試環(huán)境的例子。
[0017]圖4示出根據(jù)本發(fā)明的各種實(shí)現(xiàn)方式的輸入交換網(wǎng)絡(luò)的例子。
[0018]圖5示出根據(jù)本發(fā)明的各種實(shí)現(xiàn)方式的兩級輸出交換網(wǎng)絡(luò)的例子。
[0019]圖6示出根據(jù)本發(fā)明的各種實(shí)施例的測試調(diào)度工具的例子。
[0020]圖7示出根據(jù)本發(fā)明的各種實(shí)施例的測試調(diào)度的過程。[0021]圖8示出輸入交換網(wǎng)絡(luò)的信道分配的例子。
[0022]圖9示出可用于圖8所示的信道分配的二部圖。
【具體實(shí)施方式】
[0023]一般考慮
[0024]本發(fā)明的各個方面涉及用于測試SoC電路的測試調(diào)度。在下面的描述中，為了解釋的目的闡述了很多細(xì)節(jié)。然而，本領(lǐng)域中的普通技術(shù)人員將認(rèn)識到，可在不使用這些特定細(xì)節(jié)的情況下實(shí)踐本發(fā)明。在其它實(shí)例中，為了突出本發(fā)明，因而沒有詳細(xì)描述公知的特征。
[0025]本文所述的一些技術(shù)可由其中存儲有軟件指令的計算機(jī)可讀介質(zhì)、執(zhí)行軟件指令的可編程計算機(jī)系統(tǒng)或這兩者的某些組合實(shí)現(xiàn)。其中一些所公開的技術(shù)，例如可被實(shí)現(xiàn)為電子設(shè)計自動化(EDA)工具的一部分。這些方法可在單個計算機(jī)上或在網(wǎng)絡(luò)計算機(jī)上執(zhí)行。
[0026]雖然為了方便演示，以特定的順序描述了所公開的方法的操作，應(yīng)理解，這種描述方式包括重新排列，除非下文闡述的特定語言需要特定的排序。例如，順序地描述的操作在一些情況下可被重新排列或同時執(zhí)行。而且，為了簡單起見，所公開的流程圖和方框圖一般沒有顯示出各種方式，在這些方式中，特定的方法可結(jié)合其它方法來使用。此外，詳細(xì)描述有時使用術(shù)語例如“編碼”、“分組”、“分配”和“確定”來描述所公開的方法。這樣的術(shù)語是被執(zhí)行的實(shí)際操作的高級抽象。相應(yīng)于這些術(shù)語的實(shí)際操作將根據(jù)特定的實(shí)現(xiàn)方式而改變，且可容易地被本領(lǐng)域中的普通技術(shù)人員所辨別。
[0027]此外，正如本文所使用的，術(shù)語“設(shè)計”旨在包括(encompass )描述整個集成電路設(shè)備的數(shù)據(jù)。然而該術(shù)語也旨在包括(encompass)描述整個設(shè)備的一個或多個部件(例如集成電路設(shè)備的一部分)的較小的一組數(shù)據(jù)。更進(jìn)一步地，術(shù)語“設(shè)計”還旨在包括(encompass)描述多于一個集成電路裝置的數(shù)據(jù)，例如將用于在單個晶片上形成多個集成電路裝置的數(shù)據(jù)。
[0028]示例性的操作環(huán)境
[0029]可通過由計算系統(tǒng)(例如可編程計算機(jī)或多個可編程計算機(jī)的組合)執(zhí)行軟件指令來實(shí)現(xiàn)本發(fā)明的各種實(shí)施例。此外，本發(fā)明的各種實(shí)施例可由執(zhí)行用于執(zhí)行本發(fā)明的功能的各種軟件指令的計算機(jī)系統(tǒng)，或由用于執(zhí)行本發(fā)明的功能的存儲在計算機(jī)可讀介質(zhì)上的軟件指令來實(shí)現(xiàn)。因此，圖1示出計算機(jī)設(shè)備101的示例性例子。如在該圖中所示，計算設(shè)備101包括具有處理單元105和系統(tǒng)存儲器107的計算單元103。處理單元105可以是用于執(zhí)行軟件指令的任何類型的可編程電子設(shè)備，但通常是微處理器。系統(tǒng)存儲器107可包括只讀存儲器(ROM) 109和隨機(jī)存取存儲器(RAM) 111。如本領(lǐng)域中的普通技術(shù)人員將認(rèn)識到的，只讀存儲器(ROM) 109和隨機(jī)存取存儲器(RAM) 111都可存儲用于由處理單元105執(zhí)行的軟件指令。
[0030]處理單元105和系統(tǒng)存儲器107直接或間接地通過總線113或可替換的通信結(jié)構(gòu)被連接到一個或多個外圍設(shè)備。例如，處理單元105或系統(tǒng)存儲器107可直接或間接地被連接到一個或多個附加的存儲器存儲設(shè)備，例如“硬”磁盤驅(qū)動器115、可移動磁盤驅(qū)動器117、光盤驅(qū)動器119或閃存卡121。處理單元105和系統(tǒng)存儲器107還可以直接或間接地被連接到一個或多個輸入設(shè)備123和一個或多個輸出設(shè)備125。輸入設(shè)備123可包括例如鍵盤、指點(diǎn)設(shè)備(例如鼠標(biāo)、觸摸板、觸控筆、跟蹤球或操縱桿)、掃描儀、攝像機(jī)和麥克風(fēng)。輸出設(shè)備125可包括例如監(jiān)視器顯示器、打印機(jī)和揚(yáng)聲器。對于計算機(jī)101的各種例子，一個或多個外圍設(shè)備115-125可與計算單元103 —起內(nèi)置。可替換地，一個或多個外圍設(shè)備115-125可以被設(shè)置在計算單元103的殼體之外，并通過例如通用串行總線(USB)連接而被連接到總線113。
[0031]對于一些實(shí)現(xiàn)方式，計算單元103可直接或間接地被連接到一個或多個網(wǎng)絡(luò)接口127，用于與構(gòu)成網(wǎng)絡(luò)的其它設(shè)備通信。網(wǎng)絡(luò)接口 127根據(jù)一個或多個通信協(xié)議(例如傳輸控制協(xié)議(TCP)和互聯(lián)網(wǎng)協(xié)議(IP))將來自計算單元103的數(shù)據(jù)和控制信號轉(zhuǎn)化成網(wǎng)絡(luò)消息。接口 127也可使用用于連接到網(wǎng)絡(luò)的任何適當(dāng)?shù)倪B接代理(或代理的組合)，包括例如無線收發(fā)機(jī)、調(diào)制解調(diào)器或以太網(wǎng)連接。這樣的網(wǎng)絡(luò)接口和協(xié)議在本領(lǐng)域中是公知的，且因此將不在這里更詳細(xì)地討論。
[0032]應(yīng)認(rèn)識到，計算設(shè)備101僅作為示例，而不是限制性的。本發(fā)明的各種實(shí)施例可使用一個或多個計算設(shè)備來實(shí)現(xiàn)，所述計算設(shè)備包括圖1所示的計算設(shè)備101的部件，只包括圖1所示的部件的子集，或包括部件(包括圖1中未示出的部件)的可替換組合。例如，本發(fā)明的各種實(shí)施例可使用多處理器計算機(jī)、布置在網(wǎng)絡(luò)中的多個單處理器或多處理器計算機(jī)、或這兩者的組合來實(shí)現(xiàn)。
[0033]動態(tài)信道分配
[0034]很多實(shí)驗(yàn)證據(jù)表明，測試模式(甚至那些使用指向具有多個時鐘壓縮的多個故障的復(fù)雜動態(tài)壓縮(compaction)所產(chǎn)生的測試模式)只在該過程的開始時具有1%到5%的范圍內(nèi)的填充率(指定比特的百分比)。在頭幾個測試模式之后，填充率可下降到低于1%。圖2示出用于工業(yè)設(shè)計的測試模式填充率分布210的例子。如在圖中所看到的，對于多于8，000個的測試模式，填充率在1.1%到0.02%之間變化。在圖中還示出傳送壓縮的測試模式所需的最小數(shù)量的EDT (嵌入式確定性測試)信道一EDT信道分布220。對于使用EDT技術(shù)的SOC，EDT信道是核心輸入信道。EDT信道分布220表明，操作具有固定數(shù)量的電路輸入信道的解壓縮器可導(dǎo)致無效的信道利用。為了優(yōu)化信道利用，用于測試的電路輸入信道可基于其需要在不同的時隙中被分配給不同核心的解壓縮器。在這里，假設(shè)SOC對每個核心具有解壓縮器，且核心由適當(dāng)?shù)臏y試封裝隔離。這個靈活的分配可使更多的核心被并行地測試。被并行地測試的核心越多，測試應(yīng)用時間就越短，并減小了將測試數(shù)據(jù)傳送到多個核心所需的電路輸入信道的數(shù)量。
[0035]像與大部分測試模式相關(guān)的低填充率一樣，一般，在測試響應(yīng)中的觀察點(diǎn)的百分比低，且只有非常少的測試模式需要使用所有核心輸出信道來觀察探測到的故障。因此，用于測試的電路輸出信道也可基于它們在不同的時隙中的需要而被分配到不同的核心。電路輸入信道和電路輸出信道的靈活分配可被稱為動態(tài)信道分配。
[0036]應(yīng)注意，EDT技術(shù)在這里用作說明動態(tài)信道分配的理念的例子。下文也將使用EDT技術(shù)。然而，本領(lǐng)域中的普通技術(shù)人員將認(rèn)識到，本發(fā)明的各種實(shí)施例可應(yīng)用于使用不同的測試壓縮技術(shù)的電路。
[0037]測試訪問機(jī)制(TAM)
[0038]圖3示出根據(jù)本發(fā)明的各種實(shí)現(xiàn)方式的SOC測試環(huán)境的例子。該SOC測試環(huán)境使用包括兩個交換網(wǎng)絡(luò)(輸入交換網(wǎng)絡(luò)和輸出交換網(wǎng)絡(luò))的TAM。輸入交換網(wǎng)絡(luò)使電路輸入信道310與核心輸入信道330連接，而輸出交換網(wǎng)絡(luò)使電路輸出信道320與核心輸出信道340連接。當(dāng)ATE被使用時，電路輸入信道310和電路輸出信道320常常分別被稱為ATE輸入信道和ATE輸出信道。
[0039]輸入交換網(wǎng)絡(luò)可將壓縮的測試數(shù)據(jù)重新路由到不同的核心。輸入交換網(wǎng)絡(luò)(也被稱為輸入互連網(wǎng)絡(luò))的例子在圖4中示出。在本例中的輸入交換網(wǎng)絡(luò)包括n個解復(fù)用器410，其中n是電路輸入信道的數(shù)量。數(shù)量n不能小于最大單個核心的在其核心輸入信道方面的容量?？苫诟鞣N因素(例如電路的尺寸和掃描鏈的數(shù)量)來確定每個核心的核心輸入信道的數(shù)量。
[0040]圖4中的每個解復(fù)用器410用來將一個給定的電路輸入信道連接到幾個核心。相關(guān)的地址寄存器420存儲控制數(shù)據(jù)，該控制數(shù)據(jù)指定對給定組的測試模式將選擇哪個核心及選擇其核心輸入信道中的哪一個信道?？赏ㄟ^相同的電路輸入信道來上傳控制數(shù)據(jù)，作為壓縮的測試矢量的一部分。因?yàn)閹讉€解復(fù)用器(電路輸入信道)可饋送同一個核心輸入信道，可使用或門430來促進(jìn)這種類型的連接。
[0041]對于本發(fā)明的一些實(shí)現(xiàn)方式，每個核心的低階核心輸入信道被最廣泛地使用。因此，或門430通常用于這些核心輸入信道。驅(qū)動這些核心輸入信道的電路輸入信道的數(shù)量
可由下面的方程確定:
[0042]
Ok = f1g2(E-k + Q] (I)
[0043]其中Gk是第k個或門的扇入(fan-1n)，E是核心輸入信道的數(shù)量，且C是用戶定義的常數(shù)(在下面報告的所有實(shí)驗(yàn)中，C < 5)。根據(jù)這個方程，或門輸入端的數(shù)量隨著核心輸入信道標(biāo)號的增加而逐漸降低(步幅是對數(shù)的)。值得注意的是，數(shù)字Gk不能超過n的值(或門的輸入端的數(shù)量不能多于電路輸入信道的數(shù)量)。如果是這種情況，Gk變得等于n。
[0044]給出解復(fù)用器410和或門430，我們可對每個核心布置在電路輸入信道和核心輸入信道之間的連接。用于連接的一種算法使用同步移動的兩個指針。第一個指針掃描核心輸入信道，而另一指針周期性地(取模數(shù)n)訪問電路輸入信道。在每個步驟，根據(jù)這兩個指針的當(dāng)前位置，在電路輸入信道和核心輸入信道之間建立鏈接(即，電線)?？紤]例如圖3所示的具有n=3個電路輸入信道和5個核心的網(wǎng)絡(luò)。首先，根據(jù)方程(1)，將或門放置在某些核心的前面。隨后，核心Ml的三個核心輸入信道被連接到解復(fù)用器1、2和3。接著，核心M2被連接到解復(fù)用器1，而核心M3的三個核心輸入信道被分別連接到解復(fù)用器2、3和I。只要仍然有未連接的核心輸入信道(在本例中，對于核心M4和M5)，則這個過程繼續(xù)。可以在單個核心內(nèi)做一些調(diào)節(jié)，以便簡化所獲得的網(wǎng)絡(luò)布局，并避免在給定的核心和位于輸入互連網(wǎng)絡(luò)的側(cè)面的信道之間的可能形成的長連接，如對核心M5所做的那樣，核心M5的連接被簡單地重新排列。注意，根據(jù)這個算法，有可能確定解復(fù)用器的實(shí)際尺寸和它們的控制寄存器的尺寸。
[0045]輸出交換網(wǎng)絡(luò)(或輸出互連網(wǎng)絡(luò))使核心輸出信道通過接口與電路輸出信道連接。對于本發(fā)明的一些實(shí)現(xiàn)方式，輸出交換網(wǎng)絡(luò)包括如圖5所示的兩個級:輸出數(shù)據(jù)選擇器510和出口單元520。輸出數(shù)據(jù)選擇器510允許在核心的多個核心輸出信道中合并測試響應(yīng)。與X-掩蔽方案(例如在Rajski等人的文章“X-Press:具有可編程選擇器的兩級X_tolerant壓縮器(X-Press:two-stage X~tolerant compactor with programmable selector)，，(IEEE Trans.CAD, 2008年I月，第27卷，第147-159頁)中所討論的X掩蔽方案，該文章通過引用被并入本文)一起工作的常規(guī)異或門樹(XOR trees)可用作輸出數(shù)據(jù)選擇器510。如果不存在由于混疊或未知的狀態(tài)所導(dǎo)致的錯誤掩蔽的風(fēng)險，則通過輸出選擇器進(jìn)行的合并將觀察點(diǎn)組合成少量信道。如早些時候提到的，一般只有很少的測試模式需要所有核心輸出信道來觀察探測到的故障。探測到的故障的數(shù)量減小，使得其余測試模式可以使用核心輸出信道的子集來工作。
[0046]如可在圖5中看到的，簡單的異或樹合并測試響應(yīng)，使得整個核心可通過單個信道被觀察到，如果被允許。在另一方面，額外的觀察點(diǎn)允許我們收集較少的壓縮數(shù)據(jù)，并實(shí)現(xiàn)例如對于給定核心的一組掃描鏈的更準(zhǔn)確的診斷。盡管可以有額外的異或樹，觀察點(diǎn)的數(shù)量也可以是確切地匹配核心輸出信道的數(shù)量。在圖5中，例如，具有四個核心輸出信道的核心Ml可使用被指示為Q、P、R和S的觀察線。為了讀取核心輸出信道b所產(chǎn)生的數(shù)據(jù)，我們需要收集來自Q(a+b+c+d)、P(c+d)和R(a)的數(shù)據(jù)，并接著從Q減去流P和R。此外，在輸出a、c或d之一上產(chǎn)生的任何未知狀態(tài)將不損害從b到達(dá)的數(shù)據(jù)，因?yàn)樗偸窃跀?shù)據(jù)流Q、P和R中出現(xiàn)兩次，且因此將被過濾出去。這種現(xiàn)象類似于通過在Garg等人的文章“在存在未知狀態(tài)時使用具有確定性觀察的X-取消MISR來提高輸出壓縮(Increasing outputcompaction in presence of unknowns using an X—canceling MISR with deterministicobservation)” (Proc.VTS,第 35-42 頁，2008)和 Sharma 等人的文章 “X-過濾器:從壓縮的測試響應(yīng)中過濾未知的響應(yīng)(X-filter:filtering unknowns from compacted testresponses)” (Proc.1TC,第1090-1098頁，2005)中所描述的采用X-過濾方案的現(xiàn)象，這兩篇文章都通過引用被并入本文。因?yàn)橐恍┯^察點(diǎn)比其它觀察點(diǎn)(例如，圖5中的輸出Q)更頻繁地被使用，這些線有可能形成扇出(fan-out),所以它們最終連接到幾個ATE信道，以減小與其它核心并行而不被觀察的概率。
[0047]在輸出交換網(wǎng)絡(luò)中的出口單元520可由復(fù)用器530形成，所述復(fù)用器530使幾個核心與一個電路輸出信道連接。類似于輸入互連網(wǎng)絡(luò)，地址寄存器540可用來指定對于給定組的測試模式哪些核心將被觀察到。輸出信道映射可以以與輸入互連網(wǎng)絡(luò)的方式類似的方式來實(shí)現(xiàn):當(dāng)掃描順序核心(successive cores)的觀察點(diǎn)時,在它們和周期性地被訪問的復(fù)用器(對電路輸出信道的數(shù)量取模數(shù))之間建立鏈接。
[0048]測試調(diào)度工具和方法
[0049]圖6示出根據(jù)本發(fā)明的各種實(shí)施例的測試調(diào)度工具600的例子。如在圖中所看到的，測試調(diào)度工具600包括四個主要單元:編碼單元620、輸出信道確定單元640、分組單元660和調(diào)度單元680。如將在下面更詳細(xì)討論的，測試調(diào)度工具600的一些實(shí)現(xiàn)方式可與測試數(shù)據(jù)數(shù)據(jù)庫605、TAM數(shù)據(jù)庫615和輸出數(shù)據(jù)庫685中的一個或多個協(xié)作(或合并)。雖然測試數(shù)據(jù)數(shù)據(jù)庫605、TAM數(shù)據(jù)庫615和輸出數(shù)據(jù)庫685在圖6中被示為分離的單元，但也可使用單個數(shù)據(jù)存儲介質(zhì)來實(shí)現(xiàn)這些數(shù)據(jù)庫中的一些或全部。
[0050]根據(jù)本發(fā)明的一些實(shí)施例，可通過執(zhí)行一個或多個可編程計算機(jī)/計算機(jī)系統(tǒng)(例如圖1所示的計算系統(tǒng))上的編程指令，來實(shí)現(xiàn)編碼單元620、輸出信道確定單元640、分組單元660和調(diào)度單元680中的一個或多個。相應(yīng)地，本發(fā)明的一些其它實(shí)施例可通過存儲在非臨時計算機(jī)可讀介質(zhì)上的軟件指令來實(shí)現(xiàn)，所述軟件指令用于指示一個或多個可編程計算機(jī)/計算機(jī)系統(tǒng)來執(zhí)行編碼單元620、輸出信道確定單元640、分組單元660和調(diào)度單元680中的一個或多個的功能。如本文所使用的，術(shù)語“非臨時計算機(jī)可讀介質(zhì)”指能夠存儲未來可讀取的數(shù)據(jù)且不傳播電磁波的計算機(jī)可讀介質(zhì)。非臨時計算機(jī)可讀介質(zhì)可以是例如磁性存儲介質(zhì)、光存儲介質(zhì)、“穿孔”表面型設(shè)備或固態(tài)存儲設(shè)備。
[0051]為了容易理解，將參考圖6所示的測試調(diào)度工具600和在圖7所示的流程圖中示出的測試調(diào)度的方法來描述可根據(jù)本發(fā)明的各種實(shí)施例所使用的測試調(diào)度方法。然而應(yīng)認(rèn)識到，可以采用測試調(diào)度工具的可替代實(shí)現(xiàn)方式來執(zhí)行根據(jù)本發(fā)明的各種實(shí)施例所述的測試調(diào)度方法。此外，應(yīng)認(rèn)識到，測試調(diào)度工具600的實(shí)現(xiàn)方式可與用于根據(jù)本發(fā)明的不同實(shí)施例的測試調(diào)度的其它方法一起使用。
[0052]最初，在操作710中，測試調(diào)度工具600接收來自測試數(shù)據(jù)庫605的用于測試在電路中的多個核心的測試數(shù)據(jù)和來自TAM數(shù)據(jù)庫615的用于該電路的TAM的信息。測試數(shù)據(jù)可包括由ATPG得到的測試立方。TAM的信息可包括輸入交換網(wǎng)絡(luò)的信息和輸出交換網(wǎng)絡(luò)的信息，所述輸入交換網(wǎng)絡(luò)將電路輸入信道連接到多個核心中的每個核心的核心輸入信道，所述輸出交換網(wǎng)絡(luò)將電路輸出信道連接到多個核心中的每個核心的核心輸出信道。
[0053]接著，在操作720中，編碼單元620對所接收的測試數(shù)據(jù)編碼，以導(dǎo)出需要少量核心輸入信道的壓縮測試模式。在常規(guī)EDT編碼過程中，測試數(shù)據(jù)作為形成被分配到掃描單元的表達(dá)式的變量而被處理。壓縮測試模式可接著通過對GF (2)中的一組線性方程求解來獲得，如在‘569和‘028741專利申請中所討論的。在求解過程期間，可使用高斯消元法，通過挑選其一系列注入中的引入變量(leading variables)來確定簡化的行梯形矩陣。作為結(jié)果，通過所有的輸入信道被注入的數(shù)據(jù)可能需要找到解。然而，可交換這組線性方程的矩陣的行和列，以便將期望的變量置于某一位置上，將從該位置選擇引入變量。這能夠確定壓縮給定的測試模式所需的最小數(shù)量的輸入信道。例如，選擇引入變量可優(yōu)先考慮其源信道而不是其出現(xiàn)的時間。結(jié)果，甚至通過單個信道注入的數(shù)據(jù)也可足以對給定的測試模式編碼，如在‘569和‘028741專利申請中所示出的。這個方法用于例如構(gòu)造在圖2中所呈現(xiàn)的EDT信道分布220。為了避免重新計算種子變量，同一技術(shù)也假設(shè)EDT輸入信道(當(dāng)SoC使用EDT技術(shù)時是核心輸入信道)以升序被部署，即，單個輸入信道請求總是導(dǎo)致分配EDT輸入信道號1，二輸入信道請求以EDT輸入信道I和2 (而不是I和3，或2和3)結(jié)束，三輸入信道請求將涉及EDT輸入信道1、2和3。
[0054]對于本發(fā)明的一些實(shí)現(xiàn)方式，編碼單元620可能導(dǎo)出需要最小數(shù)量的核心輸入信道的壓縮測試模式。對于本發(fā)明的一些其它實(shí)現(xiàn)方式，編碼單元620可能導(dǎo)出需要數(shù)量大于核心輸入信道的最小數(shù)量的壓縮測試模式。對于本發(fā)明的又一些其它實(shí)現(xiàn)方式，編碼單元620可能導(dǎo)出壓縮測試模式，其中一些壓縮測試模式需要最小數(shù)量的核心輸入信道，而其它壓縮測試模式需要數(shù)量大于最小數(shù)量的核心輸入信道。無論什么方法，每個壓縮測試模式都與待測試的多個核心中的一個或多個核心相關(guān)，并與核心輸入信道要求信息相關(guān)。核心輸入信道要求信息可包括所需的核心輸入信道的數(shù)量。
[0055]接著，在操作730中，輸出信道確定單元640確定每個壓縮測試模式的核心輸出信道要求信息。對于本發(fā)明的一些實(shí)現(xiàn)方式，輸出信道確定單兀640可確定每個壓縮測試模式所需的核心輸出信道的最小子集，以探測目標(biāo)故障，盡管存在X狀態(tài)。如早先提到的，一般非常少的測試模式需要所有核心輸出信道來觀察探測到的故障。這連同測試模式的觀察點(diǎn)的數(shù)量可改變的事實(shí)一起，可用于提高電路輸出信道的帶寬管理。測試模式的觀察點(diǎn)的選擇可基于在特定核心的順序核心輸出信道上所探測的故障的分析、其相互掩蔽和未知狀態(tài)的影響。給出一組測試模式(作為由大部分ATPG工具所采用的內(nèi)部數(shù)據(jù)表示的結(jié)果，一般32或64個矢量被并行地分析)，觀察位置的選擇可根據(jù)下面的操作來執(zhí)行。
[0056]首先，由這組測試模式所探測的故障的列表由輸出信道確定單元640確定。而且，對于來自這組測試模式的每個測試模式P和對于每個指定的觀察點(diǎn)X，當(dāng)應(yīng)用矢量P時在X上可見的故障的單獨(dú)列表Lx，p被創(chuàng)建(特別是，這通過考慮由混疊和X掩蔽所引起的效應(yīng)來完成)。應(yīng)注意，最后的輸出端以及輸出交換網(wǎng)絡(luò)的異或樹的內(nèi)部構(gòu)件可以用作觀察點(diǎn)。
[0057]其次，直到主要故障列表為空時，由輸出信道確定單元640重復(fù)下面的四個操作:I)從主要列表選擇故障(例如故障f)，并找到具有包括所選定的故障的列表的最高順序的觀察點(diǎn)(注意，異或樹的主要輸出具有最高順序)；2)在上面所選擇的觀察點(diǎn)當(dāng)中，選擇具有最長故障列表Lx，p的觀察 點(diǎn)，并當(dāng)應(yīng)用測試模式p時將點(diǎn)X標(biāo)記為觀察點(diǎn)；3)從主要故障列表中刪除出現(xiàn)在列表Lx，p上的所有故障；以及4)如果有早先被分配給測試模式p的觀察點(diǎn)z (從最高順序的觀察點(diǎn)開始)，則驗(yàn)證列表Lz，p是否為Lx，p的子集；且如果是，則取消對這樣的觀察點(diǎn)的標(biāo)記，作為冗余項(xiàng)。
[0058]接著，在操作740中，分組單元660基于與每個壓縮測試模式相關(guān)的核心、核心輸入信道要求信息和核心輸出信道要求信息，來將壓縮測試模式分組成測試模式類別。在本發(fā)明的一些實(shí)施例中，每個壓縮測試模式可由其描述符表征:
[0059]D(t) = (m, c, 11, o2,..., oj)(2)
[0060]其中m是當(dāng)應(yīng)用測試t時將運(yùn)用的模數(shù)，信道容量c是為了這個目的而需要的核心輸入信道的數(shù)量，且{ol，02，...，on}是確定為核心m和測試t的觀察點(diǎn)的列表(或核心輸出信道的列表)。具有相同的描述符的所有測試模式形成測試模式類別。對于本發(fā)明的一些實(shí)現(xiàn)方式，只有當(dāng)兩個描述符的所有分量確切地相同時，它們才是完全相同的。作為一組測試模式，測試模式類別X也可由其模式計數(shù)PU)表示。這個函數(shù)大致反映給定類別的測試應(yīng)用時間。然而，由于以其自己的掃描結(jié)構(gòu)為特征的各種核心，具有相同的模式計數(shù)的兩個類別可在實(shí)際測試時間方面不同，其中如果測試器允許，變化掃描長度可能影響測試應(yīng)用。
[0061]對于本發(fā)明的一些其它實(shí)施例，可通過組合其成員測試模式的單獨(dú)特性(例如功率耗散分布)來進(jìn)一步表征測試模式類別。為了簡化測試調(diào)度，可使用在所有測試矢量上耗散的峰值功率q。因此，測量模式類別的描述符于是成為如下的4元組:
[0062]D(t) = (m, c, 11, o2,..., oj , q)(3)
[0063]當(dāng)移入測試模式并移出測試響應(yīng)時，在核心的組合部分中的轉(zhuǎn)變的數(shù)量可以是在掃描鏈中出現(xiàn)的轉(zhuǎn)變的線性函數(shù)。因此，加權(quán)的轉(zhuǎn)變度量可被應(yīng)用于估計由于掃描模式的交換活動，且然后在核心中消耗的相應(yīng)功率可通過線性外推來計算。該方法在通過引用被并入本文的“在功率約束下用于VLSI系統(tǒng)的調(diào)度測試(Scheduling tests for VLSIsystems under power constraints)，，(IEEE Trans.VLSI, 1997 年 6 月第 5 卷第 175-184頁)中被描述。在屬于給定類別的所有矢量上的功率消耗的最大值q于是可用于引導(dǎo)測試調(diào)度，以便在任何時間都不超過最大允許的功率消耗。
[0064]應(yīng)注意，每個測試模式類別也可被分成多個段，使得來自同一類別的測試模式以不相交的時間間隔被應(yīng)用，好像它們是獨(dú)立的類別一樣。預(yù)先取得類別的能力可提高電路信道利用，縮短總測試應(yīng)用時間，并減小控制數(shù)據(jù)的量。
[0065]最后，在操作750中，調(diào)度單元680基于TAM的信息來分配測試應(yīng)用時隙和用于將測試模式類別傳送到多個核心的電路輸入信道以及用于收集測試模式類別的測試響應(yīng)數(shù)據(jù)的電路輸出信道?；パa(bǔ)的測試模式類別可合并以形成簇。對于給定的由電路輸入和輸出信道所強(qiáng)加的約束、互連網(wǎng)絡(luò)的結(jié)構(gòu)和在本發(fā)明的一些實(shí)施例中所允許的功率消耗，這些簇代表可被并行地測試的核心。如果測試模式類別包括核心的不相交的子集,則測試模式類別是互補(bǔ)的。調(diào)度單元680可維持測試模式類別的分類列表，所述分類列表以具有模式計數(shù)和核心輸入信道容量的最大(在幅值上)乘積的類別開始。最大的分配可在早的時隙中被調(diào)度。
[0066]對于本發(fā)明的各種實(shí)現(xiàn)方式，調(diào)度單元680可將測試模式類別的分類列表中的第一類別分配給合并的當(dāng)前結(jié)果b以形成基類。接著，調(diào)度單元680在所有剩余類別上重復(fù)，并一次將基類擴(kuò)大一個類別，總是從滿足特定約束的列表中取第一類。主要約束規(guī)定，類別的輸入信道容量與當(dāng)前基類的輸入信道容量一起不能超過可用的電路輸入信道。類似地，類別的觀察點(diǎn)與基類成員的觀察點(diǎn)一起必須配合到電路輸出信道中。在本發(fā)明的一些實(shí)施例中，調(diào)度單元680也可考慮其它約束(例如功率耗散)。這些額外的約束可進(jìn)一步限制合并過程。
[0067]給出基類和滿足約束的候選設(shè)置類，調(diào)度單元680可確定是否所涉及的所有核心都可與電路輸入/輸出信道成功地連接。這個連接性問題可由具有頂點(diǎn)的二部圖表示，所述頂點(diǎn)被分成分別代表電路輸入信道和核心輸入信道的兩個不相交的集合C和E，這兩個集合都與當(dāng)前基類和測試模式類別相關(guān)。在圖中的每個緣線(edge)使C中的頂點(diǎn)c與E中的頂點(diǎn)e連接，假定在核心的電路輸入信道c和核心輸入信道e之間存在鏈接(電線)。實(shí)際電路信道分配現(xiàn)在相當(dāng)于在二部圖中的匹配M，S卩，相當(dāng)于緣線集合，使得M的任意兩條緣線都不共享其端點(diǎn)。每個匹配緣線唯一地指示一個期望的連接。明確地，目的是達(dá)到(如果可能)可行的二部匹配，也就是說，達(dá)到一個解，其中每個頂點(diǎn)確切地入射在匹配的緣線上。
[0068]圖8示出輸入交換網(wǎng)絡(luò)的例子。輸入交換網(wǎng)絡(luò)使四個電路輸入信道與三個不同的核心(M1、M2和M3)連接。核心中的兩個(Ml和M2)具有三個EDT輸入信道(一些EDT輸入信道具有或門)，而最后一個核心(M3)具有單個EDT輸入信道。測試模式類別包括需要兩個EDT輸入信道的核心Ml的測試模式和每個核心(圖8中的黑點(diǎn))需要單個EDT輸入信道的核心M2和M3的測試模式。調(diào)度單元680檢查對于這個測試模式類別是否存在這四個電路輸入信道的可能分配。根據(jù)本發(fā)明的各種實(shí)現(xiàn)方式的二部圖的例子在圖9中示出。如圖所示，由粗線表示的這組匹配緣線表示期望的連接。
[0069]盲目地進(jìn)行上面的分配可能首先選擇錯誤的緣線c3_el2。在通過引用并入本文的文章“用于在二部圖中的最大匹配的n5/2算法(An n5/2algorithm for maximummatchings in bipartite graphs)”(《工業(yè)與應(yīng)用數(shù)學(xué)會計算雜志》1973年第2卷第4期第 225-234 頁(SIAM Journal on Computing, vol.2，N0.4，pp.225-231，1973))中所描述的Hopcroft-Karp算法是組織這個過程以獲得表示信道分配的最大二部匹配的一種方法。該算法通過找到最短增廣路徑的最大集合來重復(fù)地增加初始部分匹配的大小。增廣路徑在自由頂點(diǎn)(即，在某個部分匹配M中的緣線的非端點(diǎn)處)開始，在自由頂點(diǎn)處結(jié)束，并在路徑內(nèi)的不匹配和匹配的緣線之間交替。如果M是n大小(size n)的匹配且A是相對于M的增廣路徑，則集合M ? A形成具有n+1大小的匹配。因此，通過找到增廣路徑，算法增加了匹配的大小。如果所得到的匹配是完美的匹配，則找到了解(實(shí)際信道分配)。如本領(lǐng)域中的普通技術(shù)人員將認(rèn)識到的，對輸出互連網(wǎng)絡(luò)和相關(guān)核心的觀察點(diǎn)，重復(fù)相同的過程。
[0070]當(dāng)合并類別b和X時，可能有由它們的模式計數(shù)所驅(qū)動的三個可能的情形。如果P(b)=P(x)，則當(dāng)類別X加入基類時被簡單地從列表移除。如果P(b)〈PU)，則所組成的類別X被添加到基類，但模式計數(shù)被減小到基類的模式計數(shù)。類別X的拷貝也被移動回到具有等于P (X)-P (b)的新模式計數(shù)的列表。最后，如果P(b)>P(X)，則類別X被從列表移除，基類的模式計數(shù)被調(diào)節(jié)到新(較小)值P (X)，且以前的基類被返回到具有等于P (b) -P (x)的模式計數(shù)的列表。
[0071]當(dāng)不再有與基類互補(bǔ)的測試模式類別或約束之一不能被滿足時，形成基類的過程可能終止。調(diào)度單元680可接著從列表移除第一元件，并試圖形成另一基類簇，直到測試模式類別的列表成為空的，在這種情況下，調(diào)度單元680返回基類的列表。該列表可用于確定實(shí)際調(diào)度表(即，根據(jù)該調(diào)度表測試核心的順序)以及實(shí)際信道分配。它可進(jìn)一步被重新排序以在鄰接的時間間隔(時隙)中對相同核心的測試分組。
[0072]結(jié)論
[0073]在說明和描述了所公開的技術(shù)的原理后，本領(lǐng)域中的技術(shù)人員將明顯知道，所公開的實(shí)施例可在布置和細(xì)節(jié)上被修改，而不偏離這樣的原理。鑒于可應(yīng)用所公開的技術(shù)的原理的很多可能的實(shí)施例，應(yīng)認(rèn)識到，所示實(shí)施例僅僅是該技術(shù)的優(yōu)選例子，且不應(yīng)被理解為限制本發(fā)明的范圍。更確切地，本發(fā)明的范圍由下面的權(quán)利要求及其等同形式所限定。我們因此主張出現(xiàn)在這些權(quán)利要求的范圍和精神內(nèi)的所有內(nèi)容作為我們的發(fā)明。
【權(quán)利要求】
1.一種測試調(diào)度的方法，包括: 接收用于測試電路中的多個核心的測試數(shù)據(jù)和所述電路的測試訪問機(jī)制TAM的信息，所述測試訪問機(jī)制TAM的信息包括輸入交換網(wǎng)絡(luò)的信息和輸出交換網(wǎng)絡(luò)的信息，所述輸入交換網(wǎng)絡(luò)將所述多個核心中的每個核心的電路輸入信道連接到核心輸入信道，所述輸出交換網(wǎng)絡(luò)將所述多個核心中的每個核心的電路輸出信道連接到核心輸出信道； 對所述測試數(shù)據(jù)編碼，以導(dǎo)出需要少量所述核心輸入信道的壓縮測試模式，所述壓縮測試模式中的每個與所述多個核心中的一個或多個核心相關(guān)，并與核心輸入信道要求信息相關(guān); 確定所述壓縮測試模式中的每個的核心輸出信道要求信息； 基于與所述壓縮測試模式中的每個相關(guān)的核心、所述核心輸入信道要求信息和所述核心輸出信道要求信息，將所述壓縮測試模式分組成測試模式類別；以及 基于所述測試訪問機(jī)制TAM的信息來分配測試應(yīng)用時隙，所述電路輸入信道和所述電路輸出信道，其中所述電路輸入信道用于將所述測試模式類別傳送到所述多個核心，所述電路輸出信道用于收集所述測試模式類別的測試響應(yīng)數(shù)據(jù)。
2.如權(quán)利要求1所述的方法，其中所述測試數(shù)據(jù)包括測試立方。
3.如權(quán)利要求1所述的方法，其中所述電路輸入信道是所述電路的自動測試設(shè)備ATE輸入信道，而所述電路輸出信道是所述電路的自動測試設(shè)備ATE輸出信道。
4.如權(quán)利要求1所述的方法，其中所述核心輸入信道是所述多個核心的嵌入式確定性測試EDT輸入信道，而所述核心輸出信道是所述多個核心的嵌入式確定性測試EDT輸出信道。
5.如權(quán)利要求1所 述的方法，其中所述輸入交換網(wǎng)絡(luò)包括解復(fù)用器和一個或多個或門。
6.如權(quán)利要求1所述的方法，其中所述輸出交換網(wǎng)絡(luò)包括輸出數(shù)據(jù)選擇器和出口單元，所述輸出數(shù)據(jù)選擇器將離開所述多個核心中的每個核心的測試響應(yīng)進(jìn)行合并。
7.如權(quán)利要求1所述的方法，其中所述輸出數(shù)據(jù)選擇器包括異或樹。
8.如權(quán)利要求1所述的方法，其中所述出口單元包括復(fù)用器。
9.如權(quán)利要求1所述的方法，其中所述核心輸入信道要求信息包括所需的核心輸入信道的數(shù)量，且所述核心輸出信道要求信息包括關(guān)于哪一個或哪些核心輸出信道被需要的特定信息。
10.如權(quán)利要求1所述的方法，其中所述的少量所述核心輸入信道是最少數(shù)量的所述核心輸入信道。
11.如權(quán)利要求1所述的方法，其中所述的確定包括選擇所述壓縮測試模式中的每個的觀察點(diǎn)。
12.如權(quán)利要求1所述的方法，其中所述的確定包括確定所述壓縮測試模式中的每個所需的所述核心輸出信道的最小子集。
13.如權(quán)利要求1所述的方法，其中所述的分組還基于功率消耗。
14.如權(quán)利要求1所述的方法，其中在所述測試模式類別中的每個中的壓縮測試模式與相同的核心相關(guān)，需要相同數(shù)量的所述核心輸入信道，并使用相同的核心輸出信道。
15.如權(quán)利要求1所述的方法，其中所述的分配還基于功率消耗。
16.如權(quán)利要求1所述的方法，其中所述的分配包括將互補(bǔ)的測試模式類別合并成能夠與所述測試訪問機(jī)制TAM —起工作的簇。
17.一種存儲處理器可執(zhí)行指令的處理器可讀介質(zhì)，所述處理器可執(zhí)行指令用于使一個或多個處理器執(zhí)行測試調(diào)度的方法，所述方法包括: 接收用于測試電路中的多個核心的測試數(shù)據(jù)和所述電路的測試訪問機(jī)制TAM的信息，所述測試訪問機(jī)制TAM的信息包括輸入交換網(wǎng)絡(luò)的信息和輸出交換網(wǎng)絡(luò)的信息，所述輸入交換網(wǎng)絡(luò)將所述多個核心中的每個核心的電路輸入信道連接到核心輸入信道，所述輸出交換網(wǎng)絡(luò)將所述多個核心中的每個核心的電路輸出信道連接到核心輸出信道； 對所述測試數(shù)據(jù)編碼，以導(dǎo)出需要少量所述核心輸入信道的壓縮測試模式，所述壓縮測試模式中的每個與所述多個核心中的一個或多個核心相關(guān)，并與核心輸入信道要求信息相關(guān); 確定所述壓縮測試模式中的每個的核心輸出信道要求信息； 基于與所述壓縮測試模式中的每個相關(guān)的核心、所述核心輸入信道要求信息和所述核心輸出信道要求信息，將所述壓縮測試模式分組成測試模式類別；以及 基于所述測試訪問機(jī)制TAM的信息來分配測試應(yīng)用時隙，所述電路輸入信道和所述電路輸出信道，其中所述電路輸入信道用于將所述測試模式類別傳送到所述多個核心，所述電路輸出信道用于收集所述測試模式類別的測試響應(yīng)數(shù)據(jù)。
18.—種包括一個或多個處理器的系統(tǒng)，所述一個或多個處理器被編程為執(zhí)行測試調(diào)度的方法，所述方法包括: 接收用于測試電路中的多個 核心的測試數(shù)據(jù)和所述電路的測試訪問機(jī)制TAM的信息，所述測試訪問機(jī)制TAM的信息包括輸入交換網(wǎng)絡(luò)的信息和輸出交換網(wǎng)絡(luò)的信息，所述輸入交換網(wǎng)絡(luò)將所述多個核心中的每個核心的電路輸入信道連接到核心輸入信道，所述輸出交換網(wǎng)絡(luò)將所述多個核心中的每個核心的電路輸出信道連接到核心輸出信道； 對所述測試數(shù)據(jù)編碼，以導(dǎo)出需要少量所述核心輸入信道的壓縮測試模式，所述壓縮測試模式中的每個與所述多個核心中的一個或多個核心相關(guān)，并與核心輸入信道要求信息相關(guān); 確定所述壓縮測試模式中的每個的核心輸出信道要求信息； 基于與所述壓縮測試模式中的每個相關(guān)的核心、所述核心輸入信道要求信息和所述核心輸出信道要求信息將所述壓縮測試模式分組成測試模式類別；以及 基于所述測試訪問機(jī)制TAM的信息來分配測試應(yīng)用時隙，所述電路輸入信道和所述電路輸出信道，其中所述電路輸入信道用于將所述測試模式類別傳送到所述多個核心，所述電路輸出信道用于收集所述測試模式類別的測試響應(yīng)數(shù)據(jù)。
【文檔編號】G01R31/319GK103430155SQ201280013717
【公開日】2013年12月4日 申請日期:2012年1月17日 優(yōu)先權(quán)日:2011年1月17日
【發(fā)明者】賈納茲·拉杰斯基, 馬克·A·卡薩布, 馬努加爾斯基·格熱戈什, 尼蘭簡·穆克赫杰, 雅各布·詹尼奇, 杰齊·泰澤, 阿維吉特·達(dá)特 申請人:明導(dǎo)公司