自動(dòng)分析裝置以及方法
【專利摘要】自動(dòng)且在短時(shí)間內(nèi)實(shí)現(xiàn)利用了使用至少一個(gè)旋轉(zhuǎn)驅(qū)動(dòng)軸的水平驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)的分注探針的定位。使用具有以下組成部分的自動(dòng)分析裝置，分注探針；作為分注探針的水平移動(dòng)機(jī)構(gòu)具有至少一個(gè)旋轉(zhuǎn)驅(qū)動(dòng)軸的分注探針驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)；對(duì)位時(shí)分注探針?biāo)佑|的部分形成為圓形狀的定位部件；檢測(cè)分注探針與定位部件的接觸的接觸檢測(cè)機(jī)構(gòu)；以及控制部?？刂撇恐或?qū)動(dòng)控制一個(gè)驅(qū)動(dòng)軸，使分注探針接觸到定位部件的圓形狀的部分，接下來，只驅(qū)動(dòng)控制之前已經(jīng)進(jìn)行了驅(qū)動(dòng)的軸以外的一個(gè)驅(qū)動(dòng)軸，使分注探針接觸到定位部件的圓形狀的部分。之后，控制部基于檢測(cè)出接觸的各點(diǎn)的位置信息等來計(jì)算出定位分注探針的所希望的位置的中心點(diǎn)的位置信息。
【專利說明】自動(dòng)分析裝置以及方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及具有分注驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)的自動(dòng)分析裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]以往，存在提供了能夠?qū)⒃嚇犹结樆蛘咴噭┨结樃呔鹊囟ㄎ坏淖詣?dòng)分析裝置(參照專利文獻(xiàn)I)的文獻(xiàn)。專利文獻(xiàn)I記載了在自動(dòng)分析裝置中設(shè)置檢測(cè)出探針向固體或者液體接近或者接觸的檢測(cè)部。另外，在該文獻(xiàn)中記載了將具有能夠進(jìn)行反應(yīng)容器的中心位置的檢測(cè)的中心位置檢測(cè)部的夾具安裝到反應(yīng)容器。并且，在該文獻(xiàn)記載了通過用檢測(cè)部檢測(cè)移動(dòng)中的探針是否接近了或者接觸了夾具的中心位置檢測(cè)部，來將探針定位在反應(yīng)容器的中心的技術(shù)。
[0003]另外，提供了驅(qū)動(dòng)探針的前端而與定位槽的側(cè)壁點(diǎn)接觸，檢測(cè)該接觸，從而定位探針的前端的探針驅(qū)動(dòng)裝置(參照專利文獻(xiàn)2)。
[0004]現(xiàn)有技術(shù)文獻(xiàn)
[0005]專利文獻(xiàn)
[0006]專利文獻(xiàn)1:日本特開2009 - 300152號(hào)公報(bào)
[0007]專利文獻(xiàn)2:日本專利第3996851號(hào)說明書

【發(fā)明內(nèi)容】

[0008]發(fā)明所要解決的課題
[0009]專利文獻(xiàn)I記載了在具備包含旋轉(zhuǎn)驅(qū)動(dòng)軸的二維水平移動(dòng)機(jī)構(gòu)的分注驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)中，將探針自動(dòng)地定位到停止位置的方法。然而，該方法中，依次確認(rèn)有可能成為停止位置的地方是否為反應(yīng)容器的中心位置。因此，用于確認(rèn)的工序數(shù)變多。
[0010]另外，專利文獻(xiàn)2記載了在具備只有直線驅(qū)動(dòng)軸的二維水平移動(dòng)機(jī)構(gòu)的探針驅(qū)動(dòng)裝置中，使探針的前端自動(dòng)地定位的方法。然而，該方法中，沿著各直線驅(qū)動(dòng)軸來驅(qū)動(dòng)探針并檢測(cè)與圓筒型的定位槽的側(cè)壁的接觸點(diǎn)，將其中間點(diǎn)作為各驅(qū)動(dòng)軸方向的中心點(diǎn)。因而，無法適用于包含旋轉(zhuǎn)驅(qū)動(dòng)的分注驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)的探針的定位。
[0011]本發(fā)明的目的在于提供在具備包含至少一個(gè)旋轉(zhuǎn)驅(qū)動(dòng)軸的二維水平移動(dòng)機(jī)構(gòu)的分注驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)中，能夠?qū)⑻结樧詣?dòng)并且短時(shí)間內(nèi)定位的自動(dòng)分析裝置。
[0012]用于解決課題的方法
[0013]作為用于解決前述的課題的一個(gè)例子，本發(fā)明具有以下的構(gòu)成。
[0014](I)分注探針，其分注規(guī)定量的試樣或者試劑
[0015](2)分注驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)，其具有使分注探針沿水平方向二維移動(dòng)的兩個(gè)以上的驅(qū)動(dòng)軸(但是，該驅(qū)動(dòng)軸中的至少一個(gè)是旋轉(zhuǎn)驅(qū)動(dòng)軸)
[0016](3)定位部件，其能夠設(shè)置或者配置于分注探針的吸引位置、排出位置以及清洗位置的至少任一位置(對(duì)位時(shí)上述分注探針接觸的部分的形狀為以對(duì)位位置為中心的圓形狀)[0017](4)接觸檢測(cè)機(jī)構(gòu)，其檢測(cè)出分注探針與定位部件接觸
[0018](5)控制部，其只驅(qū)動(dòng)控制分注探針驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)的兩個(gè)以上的驅(qū)動(dòng)軸中的一個(gè)，使分注探針接觸到定位部件的圓形狀的部分，接下來，只對(duì)之前已經(jīng)進(jìn)行了驅(qū)動(dòng)控制的驅(qū)動(dòng)軸以外的一個(gè)驅(qū)動(dòng)軸進(jìn)行驅(qū)動(dòng)控制，使分注探針接觸到定位部件的圓形狀的部分，基于檢測(cè)出接觸的各點(diǎn)的位置信息、或者檢測(cè)出接觸的各點(diǎn)的位置信息及使分注探針移動(dòng)時(shí)的軌跡信息，計(jì)算出分注探針的吸引位置、排出位置以及清洗位置的至少任一一個(gè)的中心點(diǎn)的位置信息
[0019]發(fā)明的效果
[0020]根據(jù)本發(fā)明，在自動(dòng)分析裝置搭載用于二維移動(dòng)的兩個(gè)以上的驅(qū)動(dòng)軸中至少一個(gè)為旋轉(zhuǎn)驅(qū)動(dòng)軸的分注驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)的情況下，也能夠以與以往相比少的工序數(shù)并且短的時(shí)間內(nèi)，將分注探針的位置自動(dòng)地定位到規(guī)定位置。
[0021]通過以下的實(shí)施方式的說明，上述以外的課題、構(gòu)成以及效果將變得更加清楚。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0022]圖1是表示方式例的自動(dòng)分析裝置的整體構(gòu)成的圖。
[0023]圖2是表示分注驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)的構(gòu)成例的圖。
[0024]圖3A是表示定位部件的剖面構(gòu)造例的圖。
[0025]圖3B是表示定位部件的上表面構(gòu)造的圖。
[0026]圖4是說明分注驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)具有兩個(gè)旋轉(zhuǎn)驅(qū)動(dòng)軸的情況下的利用多個(gè)接觸點(diǎn)的定位處理的流程圖。
[0027]圖5A是說明分注驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)具有兩個(gè)旋轉(zhuǎn)驅(qū)動(dòng)軸的情況下的利用多個(gè)接觸點(diǎn)的定位處理的工序的圖。
[0028]圖5B是說明分注驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)具有兩個(gè)旋轉(zhuǎn)驅(qū)動(dòng)軸的情況下的利用多個(gè)接觸點(diǎn)的定位處理的工序的圖。
[0029]圖5C是說明分注驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)具有兩個(gè)旋轉(zhuǎn)驅(qū)動(dòng)軸的情況下的利用多個(gè)接觸點(diǎn)的定位處理的工序的圖。
[0030]圖是說明分注驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)具有兩個(gè)旋轉(zhuǎn)驅(qū)動(dòng)軸的情況下的利用多個(gè)接觸點(diǎn)的定位處理的工序的圖。
[0031]圖5E是說明分注驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)具有兩個(gè)旋轉(zhuǎn)驅(qū)動(dòng)軸的情況下的利用多個(gè)接觸點(diǎn)的定位處理的工序的圖。
[0032]圖6是說明分注驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)具有直線驅(qū)動(dòng)軸和旋轉(zhuǎn)驅(qū)動(dòng)軸的情況下的利用多個(gè)接觸點(diǎn)的定位處理的流程圖。
[0033]圖7A是說明分注驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)具有直線驅(qū)動(dòng)軸和旋轉(zhuǎn)驅(qū)動(dòng)軸的情況下的利用多個(gè)接觸點(diǎn)的定位處理的工序的圖。
[0034]圖7B是說明分注驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)具有直線驅(qū)動(dòng)軸和旋轉(zhuǎn)驅(qū)動(dòng)軸的情況下的利用多個(gè)接觸點(diǎn)的定位處理的工序的圖。
[0035]圖7C是說明分注驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)具有直線驅(qū)動(dòng)軸和旋轉(zhuǎn)驅(qū)動(dòng)軸的情況下的利用多個(gè)接觸點(diǎn)的定位處理的工序的圖。
[0036]圖7D是說明分注驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)具有直線驅(qū)動(dòng)軸和旋轉(zhuǎn)驅(qū)動(dòng)軸的情況下的利用多個(gè)接觸點(diǎn)的定位處理的工序的圖。
[0037]圖8是說明根據(jù)多個(gè)接觸點(diǎn)和分注探針的移動(dòng)軌跡的定位處理的流程圖。
[0038]圖9A是說明根據(jù)多個(gè)接觸點(diǎn)和分注探針的移動(dòng)軌跡的定位處理的工序的圖。
[0039]圖9B是說明根據(jù)多個(gè)接觸點(diǎn)和分注探針的移動(dòng)軌跡的定位處理的工序的圖。
[0040]圖9C是說明根據(jù)多個(gè)接觸點(diǎn)和分注探針的移動(dòng)軌跡的定位處理的工序的圖。
[0041]圖9D是說明根據(jù)多個(gè)接觸點(diǎn)和分注探針的移動(dòng)軌跡的定位處理的工序的圖。
[0042]圖1OA是說明根據(jù)多個(gè)接觸點(diǎn)和分注探針的移動(dòng)軌跡的定位處理的工序的圖。
[0043]圖1OB是說明根據(jù)多個(gè)接觸點(diǎn)和分注探針的移動(dòng)軌跡的定位處理的工序的圖。
[0044]圖1OC是說明根據(jù)多個(gè)接觸點(diǎn)和分注探針的移動(dòng)軌跡的定位處理的工序的圖。
[0045]圖1OD是說明根據(jù)多個(gè)接觸點(diǎn)和分注探針的移動(dòng)軌跡的定位處理的工序的圖。
[0046]圖1OE是說明根據(jù)多個(gè)接觸點(diǎn)和分注探針的移動(dòng)軌跡的定位處理的工序的圖。
[0047]圖1OF是說明根據(jù)多個(gè)接觸點(diǎn)和分注探針的移動(dòng)軌跡的定位處理的工序的圖。
[0048]圖1lA是說明對(duì)于多處的停止位置的定位處理的工序的圖。
[0049]圖1lB是說明對(duì)于多處的停止位置的定位處理的工序的圖。
[0050]圖1lC是說明對(duì)于多處的停止位置的定位處理的工序的圖。
[0051]圖1lD是說明對(duì)于多處的停止位置的定位處理的工序的圖。
[0052]圖1lE是說明對(duì)于多處的停止位置的定位處理的工序的圖。
【具體實(shí)施方式】
[0053]以下，基于附圖，對(duì)本發(fā)明的實(shí)施方式進(jìn)行說明。應(yīng)予說明，本發(fā)明的實(shí)施方式不限于后述的方式例，在其技術(shù)思想的范圍內(nèi)，能夠進(jìn)行各種變形。
[0054][方式例I]
[0055]本實(shí)施例中，說明分注驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)具備兩個(gè)旋轉(zhuǎn)驅(qū)動(dòng)軸的情況下，通過多個(gè)接觸點(diǎn)的檢測(cè)來進(jìn)行分注探針的定位的例子。
[0056]圖1表示自動(dòng)分析裝置的整體構(gòu)成例。自動(dòng)分析裝置由如下部分構(gòu)成:收納試樣的試樣杯100、配置了多個(gè)試樣杯100的試樣架101、收納試劑的試劑瓶102、配置了多個(gè)試劑瓶102的試劑盤103、使試樣和試劑混合而生成反應(yīng)液的隔室104、配置了多個(gè)隔室104的隔室盤105、能夠?qū)⒁欢康脑嚇訌脑嚇颖?00內(nèi)移動(dòng)到隔室104內(nèi)的試樣分注機(jī)構(gòu)106、能夠?qū)⒁欢康脑噭脑噭┢?02內(nèi)移動(dòng)到隔室104內(nèi)的試劑分注機(jī)構(gòu)107、使試樣和試劑在隔室104內(nèi)攪拌而混合的攪拌單元108、向隔室104內(nèi)的反應(yīng)液照射光，接受得到的光的測(cè)定單元109、清洗隔室104的清洗單元110、控制裝置各部分的控制部111、存儲(chǔ)各種數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)儲(chǔ)存部112、能夠從外部向數(shù)據(jù)儲(chǔ)存部112輸入所需的數(shù)據(jù)的輸入部113、根據(jù)在測(cè)定單元109中得到的光量計(jì)算出吸光度的測(cè)定部114、根據(jù)吸光度推斷成分量的解析部115、能夠顯示數(shù)據(jù)并輸出到外部的輸出部116。
[0057]此外，試劑盤103以及隔室盤105都是盤形狀，以旋轉(zhuǎn)軸為中心被旋轉(zhuǎn)驅(qū)動(dòng)。此外，試劑盤103和隔室104分別排列在試劑盤103以及隔室盤105的外周位置。
[0058]試樣的成分量的分析以如下的順序進(jìn)行。首先，利用試樣分注機(jī)構(gòu)106將試樣杯100內(nèi)的一定量的試樣分注到隔室104內(nèi)。接下來，利用試劑分注機(jī)構(gòu)107將試劑瓶102內(nèi)的一定量的試劑分注到隔室104內(nèi)。接著，利用攪拌單元108對(duì)隔室104內(nèi)的試樣和試劑進(jìn)行攪拌而生成反應(yīng)液。如果需要，則使用試劑分注機(jī)構(gòu)107將多種試劑追加分注到隔室104內(nèi)。在進(jìn)行這些分注時(shí)，通過試樣架101的搬運(yùn)、試劑盤103和隔室盤105的旋轉(zhuǎn)，而使試樣杯100、試劑瓶102、隔室104移動(dòng)到規(guī)定的位置。若反應(yīng)結(jié)束，則利用清洗單元110來清洗隔室104內(nèi)部，接著進(jìn)行下一個(gè)分析。反應(yīng)液的吸光度利用測(cè)定單元109和測(cè)定部114來測(cè)定，并作為吸光度數(shù)據(jù)存儲(chǔ)于數(shù)據(jù)儲(chǔ)存部112。在解析部115中，基于標(biāo)準(zhǔn)曲線數(shù)據(jù)以及朗伯比爾定律對(duì)存儲(chǔ)的吸光度數(shù)據(jù)進(jìn)行解析。通過該解析，能夠分析出包含于試樣的成分量。各部分的控制及分析所需的數(shù)據(jù)從輸入部113輸入至數(shù)據(jù)儲(chǔ)存部112。各種數(shù)據(jù)、解析結(jié)果通過輸出部116顯示以及/或者輸出。
[0059]圖2表示本方式例中使用的分注驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)的構(gòu)成例。該方式例的情況下，在能夠上下驅(qū)動(dòng)的軸121的上端位置，以能夠在XY面內(nèi)旋轉(zhuǎn)的方式安裝有Θ I臂122的一端部。另外，Θ 2臂123的一端部以能夠在XY面內(nèi)旋轉(zhuǎn)的方式安裝于Θ I臂122的作為自由端的前端位置。另外，在Θ 2臂123的作為自由端的前端位置以沿Z軸方向的下方延長的方式安裝有分注探針124。
[0060]另外，分注探針124和注射器125通過管126連接。管126從軸121的臺(tái)座通過軸121、Θ I臂122、Θ 2臂123，連接于分注探針124的一端側(cè)。在注射器125中以能夠移動(dòng)的方式安裝有用于改變其內(nèi)部容積的柱塞127。根據(jù)柱塞127的移動(dòng)位置，從分注探針124的前端進(jìn)行試樣或者試劑的吸引或者排出。另外，在分注探針124連接有靜電容量方式的液面檢測(cè)器128，能夠檢測(cè)出分注探針124與試樣、試劑或者金屬接觸。
[0061]圖3A以及圖3B表示定位部件129的構(gòu)造例。圖3A表示定位部件129和安裝了該定位部件129的隔室104的剖面構(gòu)造，圖3B表示定位部件129的俯視圖。定位部件129是能夠裝卸于隔室104的開口部分的夾具。定位部件129中的安裝于隔室104的部分的形狀只要是能夠安裝于隔室104的形狀就可任意選擇。該方式例的情況下，在安裝狀態(tài)的定位部件129的上端側(cè)設(shè)置有圓筒構(gòu)造130。這里，圓筒構(gòu)造130以其中心軸與定位時(shí)的目標(biāo)點(diǎn)一致的方式形成。
[0062]這里，以能夠裝卸的夾具為例進(jìn)行了說明，但例如在試劑盤103的設(shè)置試劑瓶102的地方預(yù)先形成相同的構(gòu)造，也能夠?qū)崿F(xiàn)本說明書中提出的定位處理。
[0063]定位部件129為金屬制。因此，能夠通過液面檢測(cè)器128來檢測(cè)與分注探針124的接觸。本方式例的情況下，檢測(cè)出分注探針124與圓筒構(gòu)造130的內(nèi)側(cè)面的接觸，根據(jù)其位置信息來進(jìn)行分注探針124的定位。因此，優(yōu)選圓筒構(gòu)造130的大小為，即使有加工誤差、組裝誤差，在分注探針124移動(dòng)到最初的基準(zhǔn)位置時(shí)一定位于其圓筒的內(nèi)部。
[0064]此外，本方式例的情況下，以利用了靜電容量方式的接觸檢測(cè)為例進(jìn)行了說明，但也可以是利用預(yù)先將定位部件129和分注探針124連接到導(dǎo)通檢測(cè)器(未圖示)，檢測(cè)接觸所引起的電導(dǎo)通的方法來檢測(cè)兩個(gè)部件的接觸。
[0065]另外，如圖3A以及3B所示，也可以在圓筒構(gòu)造130的中心部形成凹部131。凹部131作為具有比分注探針124的外徑大的內(nèi)徑的定位確認(rèn)用夾具來使用。例如也可以在后述的定位處理后，在作為目標(biāo)點(diǎn)計(jì)算出的位置上使分注探針124下降，通過檢測(cè)分注探針124是否插入到凹部131，而能夠確認(rèn)分注探針124是否被準(zhǔn)確地定位。
[0066]接下來，使用圖4以及圖5A?圖5E，對(duì)本方式例的定位方法進(jìn)行說明。S卩，對(duì)搭載了具有兩個(gè)旋轉(zhuǎn)驅(qū)動(dòng)軸的水平移動(dòng)機(jī)構(gòu)的分注驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)的定位方法進(jìn)行說明。這里，圖4是表示本方式例的定位處理方法的概要的流程圖。圖5A?圖5E表示定位處理過程中的Θ I臂122、Θ 2臂123以及圓筒構(gòu)造130的位置關(guān)系?？刂撇?11執(zhí)行定位處理。
[0067]圖5A表示以下的說明中使用的坐標(biāo)系和各臂的初始位置以及尺寸。如圖所示，將Θ I臂122的旋轉(zhuǎn)軸作為坐標(biāo)原點(diǎn)，將起始位置(初始位置)的Θ I臂122的軸方向作為X軸。此外，將與X軸正交的軸方向作為Y軸。此外，將Θ I臂122的臂長作為I1，將Θ 2臂123的臂長作為12。
[0068]移動(dòng)分注探針124之后的各臂的角度能夠根據(jù)驅(qū)動(dòng)前的Θ I臂122以及Θ 2臂123的初始角度、給予相對(duì)于該初始角度的移動(dòng)量(旋轉(zhuǎn)量)的各移動(dòng)脈沖數(shù)及移動(dòng)角分辨率來求出。另外，如圖5B所示，分注探針124的移動(dòng)后的坐標(biāo)位置(X，y)能夠根據(jù)各臂的長度和各臂的角度來求出。以下的工序中也相同，能夠求出移動(dòng)后的分注探針124的位置坐標(biāo)?？刂撇?11執(zhí)行該坐標(biāo)位置的計(jì)算。
[0069]首先，如圖5B所示，使分注探針124從初始位置移動(dòng)至規(guī)定的基準(zhǔn)點(diǎn)P(處理200)。這里，基準(zhǔn)點(diǎn)P是沒有部件的制造時(shí)的加工誤差、組裝誤差的情況的停止位置。該分注探針124的水平移動(dòng)通過Θ1臂122以及Θ 2臂123的XY面內(nèi)的旋轉(zhuǎn)驅(qū)動(dòng)來實(shí)現(xiàn)。若分注探針124被定位于基準(zhǔn)點(diǎn)P的坐標(biāo)位置，則控制部111使軸121下降。下降量是下降結(jié)束后，使分注探針124在XY面內(nèi)移動(dòng)時(shí)，其前端部分能夠與定位部件129的圓筒構(gòu)造130的內(nèi)側(cè)面接觸的高度為止。
[0070]本來，期望基準(zhǔn)點(diǎn)P與應(yīng)定位的目標(biāo)點(diǎn)Q —致。然而，有時(shí)應(yīng)定位的目標(biāo)點(diǎn)Q由于加工誤差、組裝誤差而與基準(zhǔn)點(diǎn)P不一致。此時(shí)，需要重新設(shè)定分注驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)的定位，以使基準(zhǔn)點(diǎn)P和目標(biāo)點(diǎn)Q —致。
[0071]因此，如圖5C所示，僅對(duì)Θ 2臂123在XY面內(nèi)進(jìn)行左右旋轉(zhuǎn)驅(qū)動(dòng)，使分注探針124與定位部件129的圓筒構(gòu)造130的內(nèi)表面接觸。圖中位于左側(cè)的接觸點(diǎn)作為點(diǎn)A，位于右側(cè)的接觸點(diǎn)作為點(diǎn)B。而且，每當(dāng)檢測(cè)出接觸，計(jì)算點(diǎn)A及B的坐標(biāo)(xa，ya)以及(xb，yb)(處理 201,202)。
[0072]此外，通過確認(rèn)與點(diǎn)A的接觸，控制部111能夠確認(rèn)定位部件129已被安裝以及液面檢測(cè)器128正常動(dòng)作。無法確認(rèn)與點(diǎn)A的接觸的情況下，控制部111不執(zhí)行以下的動(dòng)作，而停止定位動(dòng)作。此時(shí)，優(yōu)選通過輸出部116向操作者報(bào)告定位動(dòng)作被中止。
[0073]若這樣檢測(cè)出點(diǎn)A以及B的坐標(biāo)，則僅再次驅(qū)動(dòng)Θ 2臂123，使分注探針124返回到基準(zhǔn)點(diǎn)P的位置(處理203)。該處理并不是必須的處理，但通過根據(jù)作為初始位置的基準(zhǔn)點(diǎn)P計(jì)算出接下來檢測(cè)的點(diǎn)C的坐標(biāo)，能夠提高點(diǎn)C的坐標(biāo)的計(jì)算精度。
[0074]若分注探針124返回基準(zhǔn)點(diǎn)P,則如圖所示,這次僅旋轉(zhuǎn)驅(qū)動(dòng)Θ I臂122,移動(dòng)到分注探針124與定位部件129的圓筒構(gòu)造130的內(nèi)表面接觸的位置。該情況下，能夠移動(dòng)的方向?yàn)閮蓚€(gè)。該方式例的情況下，向與點(diǎn)A及點(diǎn)B所在的方向相反的方向，即以遠(yuǎn)離點(diǎn)A及B的方式驅(qū)動(dòng)分注探針124。此時(shí)，將檢測(cè)出接觸的點(diǎn)作為點(diǎn)C (處理204)。與點(diǎn)A以及B的情況相同，控制部111計(jì)算出點(diǎn)C的坐標(biāo)(X。，y。)。
[0075]通過這些接觸點(diǎn)(點(diǎn)A?點(diǎn)C)的檢測(cè)，在控制部111中計(jì)算出各點(diǎn)的坐標(biāo)(xa，ya)?(Xc；，y。)。這些點(diǎn)A?點(diǎn)c是圓周上(更準(zhǔn)確地說,是從定位部件129的內(nèi)壁向內(nèi)側(cè)相距分注探針124的半徑)的點(diǎn)。因此，相當(dāng)于定位部件129的內(nèi)壁面的圓周上的圓的中心即目標(biāo)點(diǎn)Q的坐標(biāo)能夠根據(jù)這三點(diǎn)通過計(jì)算而計(jì)算出來(處理205)。該目標(biāo)點(diǎn)Q給出應(yīng)定位分注探針114的坐標(biāo)位置。
[0076]如圖5E所示，通過從點(diǎn)A~C中將任意的兩點(diǎn)選取兩組，求出其垂直平分線的交點(diǎn)從而能夠計(jì)算出目標(biāo)點(diǎn)Q的坐標(biāo)。垂直平分線的式子能夠由下式提供。
[0077][式I]
[0078]
【權(quán)利要求】
1.一種自動(dòng)分析裝置，具有: 分注探針，其分注規(guī)定量的試樣或者試劑； 分注探針驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)，其具有使上述分注探針沿水平方向二維移動(dòng)的兩個(gè)以上的驅(qū)動(dòng)軸，并且，該驅(qū)動(dòng)軸中的至少一個(gè)是旋轉(zhuǎn)驅(qū)動(dòng)軸； 定位部件，其能夠設(shè)置或者配置于上述分注探針的吸引位置、排出位置以及清洗位置中的至少任一位置，且對(duì)位時(shí)上述分注探針?biāo)佑|的部分形成為圓形狀； 接觸檢測(cè)機(jī)構(gòu)，其檢測(cè)出上述分注探針已與上述定位部件接觸；以及控制部，其只對(duì)上述分注探針驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)的兩個(gè)以上的驅(qū)動(dòng)軸的一個(gè)進(jìn)行驅(qū)動(dòng)控制，使上述分注探針接觸到上述定位部件的圓形狀的部分，接下來，只對(duì)上述已進(jìn)行了驅(qū)動(dòng)控制的驅(qū)動(dòng)軸以外的一個(gè)驅(qū)動(dòng)軸進(jìn)行驅(qū)動(dòng)控制，使上述分注探針接觸到上述定位部件的圓形狀的部分，基于檢測(cè)出上述接觸的各點(diǎn)的位置信息，或者，檢測(cè)出上述接觸的各點(diǎn)的位置信息及使上述分注探針移動(dòng)時(shí)的軌跡信息，計(jì)算出上述分注探針的吸引位置、排出位置以及清洗位置的至少任一一個(gè)的中心點(diǎn)的位置信息。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的自動(dòng)分析裝置，其特征在于， 上述定位部件具有能夠裝卸于上述分注探針的吸引位置、排出位置以及清洗位置的至少任一一個(gè)的位置的形狀部分。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的自動(dòng)分析裝置，其特征在于， 上述接觸檢測(cè)機(jī)構(gòu)是靜電容量檢測(cè)機(jī)構(gòu)或者電導(dǎo)通檢測(cè)機(jī)構(gòu)。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的自動(dòng)分析裝置，其特征在于， η處的停止位置的相互的相對(duì)位置誤差小到能夠忽略的情況下，上述控制部計(jì)算出相對(duì)于上述停止位置中的兩點(diǎn)的中心點(diǎn)的位置信息，通過算術(shù)運(yùn)算來求出相對(duì)于其他η — 2點(diǎn)的中心點(diǎn)的位置信息，其中n≥3。
5.一種自動(dòng)分析方法，是在具有如下構(gòu)成部分的自動(dòng)分析裝置中執(zhí)行的自動(dòng)分析方法，該自動(dòng)分析裝置具有: 分注探針，其分注規(guī)定量的試樣或者試劑； 分注探針驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)，其具有使上述分注探針沿水平方向二維移動(dòng)的兩個(gè)以上的驅(qū)動(dòng)軸，并且，該驅(qū)動(dòng)軸中的至少一個(gè)是旋轉(zhuǎn)驅(qū)動(dòng)軸； 定位部件，其能夠設(shè)置或者配置于上述分注探針的吸引位置、排出位置以及清洗位置中的至少任一位置，且對(duì)位時(shí)上述分注探針?biāo)佑|的部分形成為圓形狀； 接觸檢測(cè)機(jī)構(gòu)，其檢測(cè)出上述分注探針已與上述定位部件接觸；以及 控制部，其控制上述分注探針驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)以及上述接觸檢測(cè)機(jī)構(gòu)， 上述控制部執(zhí)行: 只對(duì)上述分注探針驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)的兩個(gè)以上的驅(qū)動(dòng)軸中的一個(gè)進(jìn)行驅(qū)動(dòng)控制，使上述分注探針接觸到上述定位部件的圓形狀的部分的第I處理； 上述第I處理之后，只對(duì)上述已進(jìn)行了驅(qū)動(dòng)控制的驅(qū)動(dòng)軸以外的一個(gè)驅(qū)動(dòng)軸進(jìn)行驅(qū)動(dòng)控制，使上述分注探針接觸到上述定位部件的圓形狀的部分的第2處理；以及 基于檢測(cè)出上述接觸的各點(diǎn)的位置信息，或者，檢測(cè)出上述接觸的各點(diǎn)的位置信息及使上述分注探針移動(dòng)時(shí)的軌跡信息，計(jì)算出上述分注探針的吸引位置、排出位置以及清洗位置的至少任一一個(gè)的中心點(diǎn)的位置信息的第3處理。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的自動(dòng)分析方法，其特征在于， η處的停止位置的相互的相對(duì)位置誤差小到能夠忽略的情況下，上述控制部計(jì)算出相對(duì)于上述停止位置中兩點(diǎn)的中心點(diǎn)的位置信息，通過算術(shù)運(yùn)算來求出相對(duì)于其他η — 2點(diǎn)的中心點(diǎn)的位置信息，其中 η > 3。
【文檔編號(hào)】G01N35/10GK103547928SQ201280023931
【公開日】2014年1月29日 申請(qǐng)日期:2012年5月15日 優(yōu)先權(quán)日:2011年5月16日
【發(fā)明者】平野匡章, 中村和弘 申請(qǐng)人:株式會(huì)社日立高新技術(shù)