用于攝像機(jī)的檢查裝置以及用于檢查攝像機(jī)的方法
【專利摘要】本發(fā)明涉及一種用于攝像機(jī)的檢查裝置，尤其是一種用于機(jī)動車中的駕駛員輔助系統(tǒng)中的攝像機(jī)的檢查裝置，所述檢查裝置包括用于攝像機(jī)的保持裝置和控制裝置，所述攝像機(jī)用于至少兩個(gè)光源，所述至少兩個(gè)光源用于將測試光發(fā)射到攝像機(jī)上，其中，所述保持裝置和所述至少兩個(gè)光源中的至少一個(gè)光源在其相對位置和姿勢方面彼此固定地設(shè)置，所述控制裝置構(gòu)造用于如此操作所述至少兩個(gè)光源，使得分別按時(shí)間順序一個(gè)光源接通并且至少一個(gè)另外的光源關(guān)斷。本發(fā)明同樣涉及用于攝像機(jī)的檢查方法以及檢查系統(tǒng)。
【專利說明】用于攝像機(jī)的檢查裝置以及用于檢查攝像機(jī)的方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及一種用于攝像機(jī)的檢查裝置以及一種用于檢查攝像機(jī)的方法。本發(fā)明同樣涉及檢查裝置的應(yīng)用以及檢查系統(tǒng)。
【背景技術(shù)】
[0002]在現(xiàn)有技術(shù)中以多種方式使用攝像機(jī)，其中也用在汽車技術(shù)中。所述攝像機(jī)可以例如連同駕駛員輔助系統(tǒng)一起用于觀測機(jī)動車前方的交通空間。所述攝像機(jī)具有高動態(tài)性和與其相關(guān)的大亮度范圍，以便能夠?qū)崿F(xiàn)不但在白天而且在晚上以所期望的質(zhì)量進(jìn)行拍攝。由于所述大亮度范圍，所述攝像機(jī)對光學(xué)器件中的瑕疵敏感，所述瑕疵引起干擾光或散射光。光學(xué)器件瑕疵可能通過邊框反射、透鏡補(bǔ)償中的錯(cuò)誤、顆?；騽澓墼斐?。然后，在攝像機(jī)的圖像區(qū)域中可看到偽像形式的干擾光或散射光。偽像可能出現(xiàn)在攝像機(jī)的圖像區(qū)域中的不同位置上并且由圖像觀察者感知為干擾性的或質(zhì)量降低的。此外可能的是，由于干擾光實(shí)現(xiàn)所確定的細(xì)節(jié)和/或較暗的物體的感光過度，其隨后不再能夠在攝像機(jī)的圖像中識別。
[0003]為了在光學(xué)器件中的瑕疵方面檢驗(yàn)這樣的高動態(tài)攝像機(jī)，通常在暗環(huán)境中用光源的光來照射所述高動態(tài)攝像機(jī)，以及分析處理攝像機(jī)從光源拍攝的相應(yīng)圖像。在此，旋轉(zhuǎn)或翻轉(zhuǎn)所述高動態(tài)攝像機(jī)，從而可以用光源的光來照射高動態(tài)攝像機(jī)的整個(gè)圖像區(qū)域以及可以分析處理高動態(tài)攝像機(jī)的相應(yīng)拍攝的圖像。為了分析處理高動態(tài)攝像機(jī)的圖像，由觀察者實(shí)施目視檢查，所述觀察者例如在偽像方面檢查在顯示器上顯示的、由高動態(tài)攝像機(jī)拍攝的圖像。所述檢查借助瑕疵類別進(jìn)行，所述瑕疵目錄顯示典型的瑕疵。然后觀察者根據(jù)瑕疵類別評估相應(yīng)的偽像。瑕疵標(biāo)準(zhǔn)例如是從光源位置發(fā)出的光暈狀輻射的亮度、寬度和/或長度。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]在權(quán)利要求1中限定了一種用于攝像機(jī)的檢查裝置，尤其是用于機(jī)動車中的駕駛員輔助系統(tǒng)的攝像機(jī)的檢查裝置，其包括一個(gè)用于攝像機(jī)的保持裝置、至少兩個(gè)用于將測試光發(fā)射到攝像機(jī)上的光源和一個(gè)控制裝置，其中所述保持裝置和所述至少兩個(gè)光源中的至少一個(gè)光源在其相對位置和姿勢方面彼此固定地設(shè)置，并且所述控制裝置構(gòu)造用于如此操作所述至少兩個(gè)光源，使得分別按時(shí)間順序一個(gè)光源接通而至少一個(gè)另外的光源關(guān)斷，其中所述控制裝置構(gòu)造用于與攝像機(jī)的圖像的圖像采集同步地操作所述至少兩個(gè)光源。
[0005]在權(quán)利要求7中限定了一種用于攝像機(jī)的檢查方法，尤其是用于機(jī)動車中的駕駛員輔助系統(tǒng)中的攝像機(jī)，優(yōu)選適于在根據(jù)權(quán)利要求1至6中至少一項(xiàng)所述的檢查裝置上執(zhí)行，所述檢查方法包括以下步驟:將攝像機(jī)設(shè)置在保持裝置中、借助至少兩個(gè)光源將測試光發(fā)射到攝像機(jī)上、通過攝像機(jī)拍攝所述測試光以及分析處理所拍攝的測試光，其中在其相對位置和姿勢方面彼此固定地設(shè)置所述保持裝置和所述至少兩個(gè)光源中的至少一個(gè)光源，并且其中如此操作所述至少兩個(gè)光源，使得分別按時(shí)間順序一個(gè)光源接通并且至少一個(gè)另外的光源關(guān)斷，并且其中與攝像機(jī)的圖像的圖像采集同步地操作至少兩個(gè)光源。
[0006]在權(quán)利要求8中限定了用于至少部分透明的物體的檢查系統(tǒng)，所述檢查系統(tǒng)包括根據(jù)權(quán)利要求1-6中至少一項(xiàng)所述的檢查裝置、攝像機(jī)和用于待檢查的、至少部分透明的物體的物體保持裝置以及分析處理裝置，其中物體保持裝置設(shè)置在至少兩個(gè)光源和攝像機(jī)的光路中，所述分析處理裝置與攝像機(jī)連接，用于尤其自動地分析處理由攝像機(jī)拍攝的測試光。
[0007]檢查裝置、檢查方法以及檢查系統(tǒng)具有如下優(yōu)點(diǎn):由此可以簡單且快速地實(shí)施高動態(tài)攝像機(jī)和/或至少部分透明的物體的檢驗(yàn)。此外，可以更緊湊地實(shí)施檢查系統(tǒng)以及檢
查裝置。
[0008]本發(fā)明的有利擴(kuò)展方案在從屬權(quán)利要求中描述。
[0009]根據(jù)本發(fā)明的有利擴(kuò)展方案，至少兩個(gè)光源中的至少一個(gè)光源包括準(zhǔn)直器裝置和/或構(gòu)造為發(fā)光二極管。在此實(shí)現(xiàn)的優(yōu)點(diǎn)是，由此可以提供更緊湊的裝置。此外，發(fā)光二極管與傳統(tǒng)的光源相比可以更快地通斷并且產(chǎn)生在強(qiáng)度和波長方面更穩(wěn)定的光。
[0010]根據(jù)本發(fā)明的另一有利擴(kuò)展方案，設(shè)置有可與待檢查的攝像機(jī)連接的分析處理裝置，用于自動地分析處理由攝像機(jī)接收的測試光。在此實(shí)現(xiàn)的優(yōu)點(diǎn)是，由此能夠以簡單且可靠的方式快速且低成本地分析處理攝像機(jī)的瑕疵或者偽像。
[0011]根據(jù)本發(fā)明的另一有利擴(kuò)展方案，各個(gè)光源和攝像機(jī)之間的光路基本上是相同的。通過所述方式確保:光源中的每一個(gè)以相同的強(qiáng)度入射到攝像機(jī)上并且由此能夠?qū)崿F(xiàn)借助光源分析處理攝像機(jī)圖像時(shí)最大限度的可靠性和精確度并且因此能夠?qū)崿F(xiàn)偽像的探測。
[0012]根據(jù)本發(fā)明的另一有利擴(kuò)展方案，光路小于75cm、尤其小于50cm、優(yōu)選小于40cm。由此方式提供非常緊湊的檢查裝置。
[0013]根據(jù)本發(fā)明的另一有利擴(kuò)展方案，至少兩個(gè)光源規(guī)則地、尤其柵格狀地設(shè)置。通過所述方式，光源在通過攝像機(jī)拍攝的圖像中在相應(yīng)的光源的斑點(diǎn)處產(chǎn)生規(guī)則的格柵尺寸，從而簡化在偽像方面對攝像機(jī)的檢查。
[0014]根據(jù)所述檢查系統(tǒng)的另一有利擴(kuò)展方案，至少兩個(gè)光源和待檢查的攝像機(jī)如此設(shè)置，使得光源以規(guī)則的格柵尺寸設(shè)置在光源的測試光通過攝像機(jī)的拍攝圖像上。通過所述方式，光源在通過攝像機(jī)拍攝的圖像中在相應(yīng)光源的斑點(diǎn)處產(chǎn)生規(guī)則的格柵尺寸，從而簡化在偽像方面對攝像機(jī)的檢查。
[0015]根據(jù)所述檢查系統(tǒng)的另一有利擴(kuò)展方案，物體保持裝置設(shè)置成可移動的并且尤其可借助控制裝置控制。在此實(shí)現(xiàn)的優(yōu)點(diǎn)是，在可能的偽像方面尤其自動地簡單且快速地檢查通過攝像機(jī)拍攝的、穿過至少部分透明的物體透射的測試光的整個(gè)圖像，并且能夠例如推斷出至少部分透明的物體的表面特性。
[0016]根據(jù)本發(fā)明的另一有利擴(kuò)展方案，攝像機(jī)具有至少104、尤其至少105、優(yōu)選IO7的動態(tài)范圍。在此實(shí)現(xiàn)的優(yōu)點(diǎn)是，能夠借助檢查系統(tǒng)更容易地檢驗(yàn)光學(xué)器件的表面損壞、所述光學(xué)器件的覆蓋程度等。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0017]本發(fā)明的其他特征和優(yōu)點(diǎn)通過以下借助附圖對實(shí)施例的描述得出。在此示出:[0018]圖1示意性地示出根據(jù)本發(fā)明的第一個(gè)實(shí)施方式的檢查裝置的橫截面；
[0019]圖2示出由待檢查的攝像機(jī)拍攝的光源的圖像，所述光源具有根據(jù)圖1的檢查裝置；
[0020]圖3示出具有根據(jù)圖1的檢查裝置的準(zhǔn)直器裝置的光源。
【具體實(shí)施方式】
[0021]圖1示意性地示出根據(jù)本發(fā)明的第一實(shí)施方式的檢查裝置的橫截面。
[0022]在圖1中，參考標(biāo)記I表示用于攝像機(jī)4的檢查裝置，所述攝像機(jī)包括光學(xué)器件4a。攝像機(jī)4與分析處理裝置7、8連接，其中以參考標(biāo)記7表示分析處理裝置，所述分析處理裝置自動地分析處理攝像機(jī)4的所拍攝的圖像。參考標(biāo)記8表示監(jiān)視器，在所述監(jiān)視器上顯示攝像機(jī)4的圖像并且必要時(shí)為用戶顯示分析處理裝置7的經(jīng)分析處理的結(jié)果。攝像機(jī)4設(shè)置在保持裝置5中，所述保持裝置尤其相對于光源2a_2e固定地設(shè)置。光源2a_2e至少部分圓形地圍繞攝像機(jī)4的成像光學(xué)器件4a設(shè)置，從而所述光源可以以各自的光L2、L3加載攝像機(jī)4。在此，光源2a-2e分別包括準(zhǔn)直器裝置3，所述準(zhǔn)直器裝置使來自相應(yīng)的發(fā)光二極管3’的光基本上平行以借助所述光加載攝像機(jī)4的成像光學(xué)器件4a。
[0023]在此，光源2a_2e分別與控制裝置6連接。在圖1中示出了光源2b和2c與控制裝置6的連接。當(dāng)然，其他光源2a、2d和2e也分別與控制裝置6連接。
[0024]為了能夠借助攝像機(jī)4盡可能可靠地僅僅拍攝光源2a至2e的光，檢查裝置尤其如此構(gòu)造，使得背景輻射在例如通過成像光學(xué)器件4a的反射的情況下盡可能減小，所述反射可以從檢查裝置I的壁再次到達(dá)成像光學(xué)器件4a上。為此，例如在光源處設(shè)置薄板11，該薄板防止這種反向散射。這改善了通過攝像機(jī)4拍攝的圖像上的偽像的可識別性。檢查裝置I在此如此構(gòu)造，使得由檢查裝置I的較暗區(qū)域反射少于一個(gè)光源2a_2e的輻射密度的0.1%、尤其0.05%、優(yōu)選0.02%的照射功率。
[0025]控制裝置6在此同樣如此構(gòu)造，使得所述控制裝置能夠如此控制光源2a_2e，使得可以改變或匹配光源2a_2e的相應(yīng)光場、其亮度和/或飽和。此外，光源2a_2e構(gòu)造為穩(wěn)定的光源2a_2e，也就是說，所述光源在預(yù)給定的波長帶中具有基本上恒定的照射功率?？刂蒲b置6同樣與分析處理單元7連接并且如此構(gòu)造，使得控制裝置6在此使攝像機(jī)4在拍攝圖像時(shí)的圖像采集和光源2a_2e的接通與關(guān)斷同步。
[0026]為了在光學(xué)偽像等方面檢查設(shè)置在保持裝置5中的攝像機(jī)4，現(xiàn)在依次分別單獨(dú)對于一個(gè)預(yù)給定的時(shí)間間隔接通光源2a_2e，并且借助由攝像機(jī)4拍攝的圖像例如借助監(jiān)視器8分別進(jìn)行分析:在通過攝像機(jī)4拍攝的圖像上是否和/或在怎樣的程度上存在偽像。有利地借助計(jì)算機(jī)輔助的圖像處理實(shí)施所述分析，尤其來自一個(gè)光源2a_2e的攝像機(jī)4的圖像的分析處理實(shí)時(shí)地進(jìn)行并且能夠?qū)崿F(xiàn)光學(xué)器件中的散射光偽像的極其快速且客觀的評估。為此，可以借助自動化的處理——例如借助在周圍格柵狀設(shè)置的像素的明/暗比較在其典型特性——例如放射狀偽像的長度、厚度和角度方面求得偽像并且然后根據(jù)瑕疵類別對其進(jìn)行分類。如果然后例如給每一個(gè)偽像分配一個(gè)特征值，則可以借助特征值和/或不同類型的偽像的特征值的總和判斷:攝像機(jī)是否符合所期望的無瑕疵性。
[0027]攝像機(jī)4的光學(xué)器件中可能出現(xiàn)的散射光偽像的分析的結(jié)果被中間存儲在分析處理裝置7中并且之后當(dāng)檢查光源2a_2e與攝像機(jī)4之間的光路中的至少部分透明的物體10時(shí)用作參考模型。在對攝像機(jī)4的散射光偽像進(jìn)行分析和分析處理之后，檢查裝置I是經(jīng)校準(zhǔn)的并且現(xiàn)在可以用于測量至少部分透明的物體10的表面損壞。通過所述方式還可以分析其覆蓋程度，例如通過結(jié)露、污染、結(jié)冰等或者表征物鏡的物鏡品質(zhì)。然后，例如物鏡上的劃痕在施加設(shè)置在保持裝置12中的至少部分透明的物體10時(shí)在光源2a_2e的圖像中顯示為遠(yuǎn)離所拍攝的光源2a_2e的圖像的中心的放射性對稱的輻射。在此，在分析處理至少部分透明的物體10時(shí)相應(yīng)考慮并且在分析時(shí)尤其計(jì)算出攝像機(jī)4的成像光學(xué)器件4a的在檢查裝置I的先前校準(zhǔn)中中間存儲的可能的散射光偽像。
[0028]同樣可以實(shí)現(xiàn)，借助檢查裝置I測量光學(xué)表面的制造質(zhì)量——例如拋光品質(zhì)等等，因?yàn)槠涓淖児庠?a_2e與攝像機(jī)4之間的光學(xué)路徑中的散射光特性。最終，也可以測量物鏡反射，所述物鏡反射可能導(dǎo)致在高動態(tài)應(yīng)用中攝像機(jī)的物鏡性能的降低。這樣的應(yīng)用例如是駕駛員輔助系統(tǒng)中的車輛攝像機(jī)以及安全攝像機(jī)，其性能可能例如通過入射到視域中的太陽輻射嚴(yán)重影響或者降低。同樣可以實(shí)現(xiàn):如果物鏡設(shè)有防反射涂層，則借助由檢查裝置I實(shí)施的散射光檢查來確定和/或檢驗(yàn)涂層的質(zhì)量。
[0029]在圖1中作為至少部分透明的物體示出了車輛的風(fēng)擋玻璃10。所述風(fēng)擋玻璃在檢查裝置I中施加到光源2a-2e與攝像機(jī)4之間的光學(xué)路徑中，以便探測風(fēng)擋玻璃10的損壞、污染或磨損。然后，如前描述地，交替地接通光源2a_2e，并且借助攝影機(jī)4拍攝以及分析處理光源2a-2d的光穿過風(fēng)擋玻璃10的透射。如果借助于攝像機(jī)4拍攝的圖像具有散射光偽像，則可能探測到損壞。在此，控制裝置6與分析處理裝置7連接并且如此構(gòu)造，使得控制裝置6在此使攝像機(jī)4的圖像采集和光源2a_2e的接通和關(guān)斷同步。
[0030]圖2示出由待檢查的攝像機(jī)拍攝的、具有根據(jù)圖1的檢查裝置的光源的圖像。
[0031]在圖2中示出了借助攝像機(jī)4在監(jiān)視器8上顯示的光源2b的圖像。在圖像中可以看到格柵尺寸100，其基本上正方形地構(gòu)造并且位于圖像上。此外，格柵的每一個(gè)交點(diǎn)基本上相應(yīng)于一個(gè)光源2a-2e。在圖2中在右上方區(qū)域中示出了所拍攝的光源2b的光L2。在所拍攝的光的中間可以看見基本上對稱的亮斑20，所述亮斑具有基本上圓形的光暈20a。此夕卜，在徑向上并且根據(jù)圖2向左下方示出了兩個(gè)相對于暗背景突出的輻射20b。所述輻射偏離光源2b的理想的、即徑向?qū)ΨQ的光分布并且因此顯示散射光偽像。根據(jù)輻射20b的長度、厚度將其分類為成像錯(cuò)誤或散射光偽像。
[0032]圖3示出根據(jù)圖1的檢查裝置的光源的準(zhǔn)直器裝置。
[0033]在圖3中示出了具有準(zhǔn)直器裝置3的光源2a。在此，光源2a在殼體中包括發(fā)光二極管3’，所述發(fā)光二極管基本上在徑向上發(fā)射光30。因此，光30的輻射不是平行的。所述輻射現(xiàn)在到達(dá)準(zhǔn)直器裝置3上，所述準(zhǔn)直器裝置包括光闌20，所述光闌遮蔽外部的光輻射，即那些比預(yù)給定更遠(yuǎn)離光闌的中點(diǎn)的光輻射。剩余的光輻射30穿過光闌20并且到達(dá)物鏡21上，尤其無色的NIR物鏡(NIR:近紅外)。在光輻射穿過物鏡21之后，所述光輻射基本上是平行的(圖3中附有參考標(biāo)記31)。
[0034]總體而言，本發(fā)明具有多個(gè)優(yōu)點(diǎn)。本發(fā)明能夠?qū)崿F(xiàn)物鏡反射的可靠測量，所述物鏡反射尤其導(dǎo)致在高動態(tài)應(yīng)用中物鏡性能的降低。本發(fā)明同樣能夠?qū)崿F(xiàn)借助散射光和/或干擾光在光學(xué)瑕疵方面檢驗(yàn)和評估攝像機(jī)、物鏡、玻璃罩、防塵罩或者至少部分光學(xué)透明的和/或反射的界面。此外能夠?qū)崿F(xiàn)對涂層、表面的或者涂層的拋光質(zhì)量進(jìn)行檢查，例如在防反射涂層的情況下。另一優(yōu)點(diǎn)是，能夠以簡單且可靠的方式借助檢查裝置或者檢查系統(tǒng)客觀且快速地進(jìn)行檢驗(yàn)。
[0035]盡管已借助優(yōu)選的實(shí)施例描述了本發(fā)明，但本發(fā)明不限于此而是可以通過多種方式進(jìn)行修改。
【權(quán)利要求】
1.一種用于攝像機(jī)(4)的檢查裝置(1)，尤其是一種用于機(jī)動車中的駕駛員輔助系統(tǒng)的攝像機(jī)的檢查裝置，所述檢查裝置包括一個(gè)用于攝像機(jī)(4)的保持裝置(5)、至少兩個(gè)用于將測試光(L2，L3)發(fā)射到所述攝像機(jī)(4)上的光源(2a，2b，2c，2d，2e)和一個(gè)控制裝置(6)，其中，所述保持裝置(5)和所述至少兩個(gè)光源(2a，2b，2c，2d，2e)中的至少一個(gè)光源在其相對位置和姿勢方面彼此固定地設(shè)置，所述控制裝置構(gòu)造用于如此操作所述至少兩個(gè)光源(2a，2b，2c，2d，2e)，使得分別按時(shí)間順序一個(gè)光源(2a，2b，2c，2d，2e)接通并且至少一個(gè)另外的光源(2a，2b，2c，2d，2e)關(guān)斷，其中，所述控制裝置(6)構(gòu)造用于與所述攝像機(jī)(4)的圖像的圖像采集同步地操作所述至少兩個(gè)光源(2a，2b，2c，2d，2e)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢查裝置，其中，所述至少兩個(gè)光源(2a，2b,2c, 2d，2e)中的至少一個(gè)光源包括準(zhǔn)直器裝置(3，20，21)和/或構(gòu)造為發(fā)光二極管(3’)。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的檢查裝置，其中，設(shè)置有可與待檢查的攝像機(jī)(4)連接的分析處理裝置(7)，用于自動地分析處理由所述攝像機(jī)(4)接收的測試光(L2，L3)。
4.根據(jù)權(quán)利要求1-3中至少一項(xiàng)所述的檢查裝置，其中，各個(gè)光源(2a，2b，2c，2d，2e)與所述攝像機(jī)(4)之間的光路(L2，L3)基本上是相同的。
5.根據(jù)權(quán)利要求1-4中至少一項(xiàng)所述的檢查裝置，其中，所述光路(L2，L3)小于75cm、尤其小于50cm、優(yōu)選小于40cm。
6.根據(jù)權(quán)利要求1-5中至少一項(xiàng)所述的檢查裝置，其中，所述至少兩個(gè)光源(2a，2b，2c,2d,2e)通過規(guī)則的方式、尤其柵格狀地設(shè)置。
7.一種用于攝像機(jī)(4)的檢查方法，尤其是一種用于機(jī)動車中的駕駛員輔助系統(tǒng)中的攝像機(jī)的檢查方法，優(yōu)選適于在根據(jù)權(quán)利要求1-6中至少一項(xiàng)所述的檢查裝置上執(zhí)行，所述檢查方法包括如下步驟: 將所述攝像機(jī)(4)設(shè)置在保持裝置(5)中， 借助至少兩個(gè)光源(2a，2b，2c，2d，2e)將測試光(L2，L3)發(fā)射到所述攝像機(jī)(4)上， 通過所述攝像機(jī)(4)拍攝所述測試光(L2，L3),以及 分析處理所拍攝的測試光(L2，L3),其中， 在其相對位置和姿勢方面彼此固定地設(shè)置所述保持裝置(5)和所述至少兩個(gè)光源(2a，2b，2c，2d，2e)中的至少一個(gè)光源，其中，如此操作所述兩個(gè)光源(2a，2b，2c，2d，2e)，使得分別按時(shí)間順序一個(gè)光源(2a，2b, 2c, 2d，2e)接通并且所述至少一個(gè)另外的光源(2a，2b，2c，2d，2e)關(guān)斷，其中，與所述攝像機(jī)(4)的圖像的圖像采集同步地操作所述至少兩個(gè)光源(2a,2b,2c,2d,2e)。
8.一種用于至少部分透明的物體(10)的檢查系統(tǒng)，所述檢查系統(tǒng)包括 根據(jù)權(quán)利要求1-6中至少一項(xiàng)所述的檢查裝置(I)； 攝像機(jī)(4)； 用于待檢查的至少部分透明的物體(10)的物體保持裝置(12)，其中，所述物體保持裝置(12)設(shè)置在所述至少兩個(gè)光源(2a，2b，2c，2d，2e)與所述攝像機(jī)(4)之間的光路中； 分析處理裝置(7)，所述分析處理裝置與所述攝像機(jī)(4)連接用于尤其是自動地分析處理由所述攝像機(jī)(4)拍攝的測試光(L2，L3)。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的檢查系統(tǒng)，其中， 所述至少兩個(gè)光源(2a，2b, 2c, 2d, 2e)和所述待檢查的攝像機(jī)(4)如此設(shè)置，使得所述光源(2a，2b，2c，2d，2e)以規(guī)則的格柵尺寸(100)布置在測試光(L2，L3)通過所述攝像機(jī)(4)的拍攝圖像上。
10.根據(jù)權(quán)利要求8和9中至少一項(xiàng)所述的檢查系統(tǒng)，其中， 所述物體保持裝置(12)可移動地設(shè)置并且尤其能夠借助控制裝置(6)進(jìn)行控制。
11.根據(jù)權(quán)利要求8-10中至少一項(xiàng)所述的檢查系統(tǒng)，其中， 所述攝像機(jī)(4)具有至少 104、尤其至少105、優(yōu)選IO7的動態(tài)范圍。
【文檔編號】G01M11/02GK103548349SQ201280024392
【公開日】2014年1月29日 申請日期:2012年3月20日 優(yōu)先權(quán)日:2011年5月19日
【發(fā)明者】U·塞格, U·阿佩爾, C·賴澤恩爾 申請人:羅伯特·博世有限公司