鋼板的缺陷探傷設備的制作方法
【專利摘要】本發(fā)明提供一種探測鋼板缺陷的缺陷探傷設備。鋼板的缺陷探傷設備包括在鋼板的寬度方向上排列的多個探傷單元，多個探傷單元中的每一個包括：磁化部，其包括互相對應的第一磁化極和第二磁化極，并且通過第一磁化極和第二磁化極來產(chǎn)生磁通量，該磁通量用于在相對于軋制方向傾斜規(guī)定角度的方向上磁化鋼板；和檢測部，其通過由磁化部產(chǎn)生的磁通量來檢測由于存在于鋼板內(nèi)部或者表面的缺陷而泄漏的漏磁通。由此，可以通過所述缺陷探傷設備進行準確的缺陷檢測。
【專利說明】 鋼板的缺陷探傷設備
【技術領域】
[0001]本發(fā)明涉及一種利用漏磁通探測存在于鋼板內(nèi)部或者表面的缺陷的設備。
【背景技術】
[0002]鋼板的缺陷檢測技術包括超聲波探傷法(Ultrasonic Test)、漏磁探傷法(Magnetic Flux Leakage)、磁粉探傷法(Magnetic Particle Inspection)、潤流探傷法、以及光學探傷法等。
[0003]在這些方法中，漏磁探傷法是，在以規(guī)定方向磁化鋼板時利用磁傳感器或霍爾傳感器來檢測由于鋼板的缺陷而向外部泄漏的部分磁通量的方法。這種漏磁探傷法對強磁性體的表面或表層下產(chǎn)生的裂紋(crack)缺陷的檢測具有優(yōu)異的性能，在對比文獻(韓國專利第2010-0076838號)中公開了基于所述漏磁通的探傷設備的一例。
[0004]在所述對比文獻(韓國專利第2010-0076838號)中，如圖1所示，磁化器120配置在纏繞于輥子Iio的鋼板10的上部。在磁化器120的下部區(qū)域交替配置有電磁極121a、121b，在磁化器120的上部區(qū)域纏繞有線圈122。此時，如果通過線圈122使相反方向的電流流過電磁極121a、121b，則鋼板10從N極的電磁極121a向S極的電磁極121b的方向被磁化。這時,通過布置在電磁極121a、121b之間的傳感器131來感測漏磁通，由此檢測鋼板10的缺陷。另一方面，所述的電磁極121a、121b以如下方式構成:互相以規(guī)定距離隔開，并且相對于軋制方向以一定角度Θ傾斜，而且以螺旋狀形成至鋼板10和輥子110接觸的邊界線A。
[0005]然而，根據(jù)對比文獻，存在如下問題。
[0006]第一，如圖2所示，由于存在不能檢測磁通量的未檢測區(qū)域R1，因此難以進行準確的缺陷檢測，并且使分別在N極的電磁極121a和S極的電磁極121b的端部形成的磁通量的方向和強度形成得不均勻(參照附圖標記201和R2)。
[0007]第二，如圖1所示，磁化器120是多個電磁極121a、121b以一體形成的一體型結構，因此只能更換如電磁極121a、121b或傳感器131的部分單元，從而難以進行維護和管理。
[0008]第三，同時檢測出存在于鋼板10的表面和內(nèi)部的缺陷，因此不能分開檢測表面缺陷和內(nèi)部缺陷或者準確地確定內(nèi)部缺陷的位置。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0009]發(fā)明要解決的課題
[0010]根據(jù)本發(fā)明的一實施方案，提供一種如下鋼板的缺陷探傷設備，其能夠準確地檢測鋼板表面或者內(nèi)部的缺陷。
[0011]根據(jù)本發(fā)明的一實施方案，提供一種鋼板的缺陷探傷設備，其能夠有效地進行探傷設備的維護和管理。
[0012]根據(jù)本發(fā)明的一實施方案，提供一種鋼板的缺陷探傷設備，其能夠分開檢測表面缺陷和內(nèi)部缺陷或者準確地確定內(nèi)部缺陷的位置。
[0013]解決課題的方法
[0014]根據(jù)本發(fā)明的實施方案，提供一種缺陷探傷設備，其為探測鋼板缺陷的缺陷探傷設備，其包括在所述鋼板的寬度方向上排列的多個探傷單元，所述多個探傷單元中的每一個包括:磁化部，其包括互相對應的第一磁化極和第二磁化極，并且通過所述第一磁化極和所述第二磁化極來產(chǎn)生磁通量，該磁通量在相對于所述鋼板的軋制方向傾斜規(guī)定角度的方向上磁化所述鋼板；和檢測部，其通過由所述磁化部產(chǎn)生的磁通量來檢測由于存在于所述鋼板內(nèi)部或者表面的缺陷而泄漏的漏磁通。
[0015]根據(jù)本發(fā)明的實施方案，所述第二磁化極可以在與所述第一磁化極傾斜的方向垂直相交的方向上與所述第一磁化極間隔規(guī)定距離，并被配置為平行于所述第一磁化極，所述第一磁化極和所述第二磁化極可以具有相同的長度。
[0016]根據(jù)本發(fā)明的實施方案，所述第一磁化極和所述第二磁化極可以相對于所述軋制方向以45度傾斜而配置。
[0017]根據(jù)本發(fā)明的實施方案，所述多個探傷單元可以以按單元分別拆卸的模塊化形式設置。
[0018]根據(jù)本發(fā)明的實施方案，所述磁化部可以包括永磁體和向所述永磁體的兩側延伸的磁軛(yoke)，所述第一磁化極可以設置在所述磁軛的一個端部，所述第二磁化極可以設置在所述磁軛的另一個端部。
[0019]根據(jù)本發(fā)明的實施方案，所述永磁體可以為圓柱形永磁體，所述圓柱形永磁體可以設置在所述磁化部中，使得所述圓柱形永磁體繞在圓柱的長度方向上延伸的圓柱的軸線旋轉，并且可以調(diào)整在所述磁軛中引起的磁通量的大小。
[0020]根據(jù)本發(fā)明的實施方案，所述多個探傷單元可以包括:配置在所述鋼板上部的上側探傷單元；和配置在所述鋼板下部的下側探傷單元。
[0021]根據(jù)本發(fā)明的實施方案，所述缺陷探傷設備可以進一步包括缺陷分析部，所述缺陷分析部基于分別由所述上側探傷單元和所述下側探傷單元測量的信號的相位和幅度，分析所述鋼板的厚度方向的缺陷位置。
[0022]根據(jù)本發(fā)明的實施方案，所述檢測部包括多個霍爾傳感器，彼此相鄰的霍爾傳感器之間的間隔為60um或60um以下。
[0023]根據(jù)本發(fā)明的實施方案，多個探傷單元可以以使得在相鄰的探傷單元之間相鄰的磁化極彼此相同的方式配置第一磁化極和第二磁化極。
[0024]發(fā)明的效果
[0025]根據(jù)本發(fā)明的一實施方案，構成磁化部的兩個磁化極可以具有相同的長度，由此可以進行準確的缺陷檢測。
[0026]并且，根據(jù)本發(fā)明的一實施方案，多個探傷單元可以以模塊化形式設置，從而能夠單獨拆卸，由此可以提高探傷設備的維護和管理效率。
[0027]而且，根據(jù)本發(fā)明的一實施方案，可以在鋼板的上部和下部均配置探傷單元而檢測漏磁通，由此可以分開檢測表面缺陷和內(nèi)部缺陷或者準確地確定內(nèi)部缺陷的位置。
【專利附圖】

【附圖說明】[0028]圖1是示出現(xiàn)有技術中的探傷設備的結構的視圖。
[0029]圖2的視圖示出了當從上方俯視時圖1的探傷設備，以說明現(xiàn)有技術中存在的問題。
[0030]圖3是本發(fā)明一實施方案的探傷設備的結構圖。
[0031]圖4a是示出本發(fā)明一實施方案的探傷單元的內(nèi)部結構的視圖。
[0032]圖4b是示出本發(fā)明一實施方案的、設置在平面和輥子上部的多個探傷單元的視圖。
[0033]圖4c是示出本發(fā)明一實施方案的磁化極的配置方向的視圖。
[0034]圖5a是示出配置在本發(fā)明一實施方案的鋼板上部和下部的探傷單元的視圖。
[0035]圖5b至圖5c是示出本發(fā)明一實施方案的配置在鋼板上部和下部的探傷單元基于缺陷位置的輸出信號的視圖。
[0036]圖5d至圖5e是說明由配置在鋼板上部和下部的探傷單元的輸出信號分析缺陷位置的方法的視圖。
[0037]實施本發(fā)明的最佳方案
[0038]以下，參照【專利附圖】

【附圖說明】本發(fā)明的實施方案。但是，本發(fā)明的實施方案可以以各種其他方式變更，并且本發(fā)明的范圍并不僅限定于下述的實施方案。為了更明確地說明附圖中的要素的形狀和大小等可以放大表示，并且附圖中的相同附圖標記表示的要素是相同或相似的要素。
[0039]圖3是本發(fā)明一實施方案的缺陷探傷設備的結構圖。本發(fā)明一實施方案的探傷設備可以包括:電源單元310，其向檢測部320b提供動力；多個探傷單元(在圖3中，僅示出一個探傷單元320)，其在鋼板10的寬度方向上排列；放大器330，其放大由探傷單元320所檢測的漏磁通；及缺陷檢測單元340，其基于由放大器330放大的漏磁通檢測鋼板10的缺陷(Defect，下稱“D”)。另一方面，探傷單元320可以包括:磁化部320a，其以規(guī)定方向磁化鋼板10 ;及檢測部320b，其檢測由鋼板10的缺陷D產(chǎn)生的漏磁通。
[0040]以下，對探傷單元進行詳細說明。
[0041]圖4a是示出本發(fā)明一實施方案的一個探傷單元的內(nèi)部結構的視圖。
[0042]如圖4a所示,一個探傷單元320包括永磁體(Permanent Magnet,PM)和向永磁體PM的兩側延伸的磁軛，第一磁化極320c設置在磁軛的一個端部，第二磁化極320d設置在磁軛的另一個端部。所述的永磁體PM為圓柱形永磁體，且繞在圓柱的長度方向上延伸的圓柱的軸線可旋轉地設置在磁化部320中，而且可以調(diào)整被磁軛傳輸?shù)拇磐康拇笮?。即，隨著永磁體PM繞在圓柱的長度方向上延伸的圓柱的軸線進行旋轉，可以改變第一磁化極320c和第二磁化極320d之間所形成的磁通量的大小。
[0043]具體地，在永磁體PM的N極和S極以豎直方向配置的情況下，在第一磁化極320c和第二磁化極320d之間可以形成最小的磁通量；在永磁體PM的N極和S極以水平方向配置的情況下，在第一磁化極320c和第二磁化極320d之間可以形成最大的磁通量。第一磁化極320c和第二磁化極320d沿著相對于軋制方向以規(guī)定角度傾斜的方向配置在鋼板10的上部，對此在下面參照圖4b進行說明。
[0044]而且，在第一磁化極320c和第二磁化極320d之間配置檢測部320b，該檢測部320b以與第一磁化極320c和第二磁化極320d隔開規(guī)定距離的狀態(tài)配置在圓柱形永磁體PM的長度方向上。所述的檢測部320b用于檢測由鋼板10的內(nèi)部或者表面缺陷產(chǎn)生的漏磁通，并且可以包括磁傳感器或霍爾傳感器。而且，檢測部320b為多個霍爾元件形成的排列，相鄰的霍爾傳感器HS1、HS2之間的間隔L可以為60um或60um以下。如上所述，根據(jù)本發(fā)明的實施方案，通過使相鄰的霍爾傳感器HS1、HS2之間的間隔明顯減小，可以進行更精密的缺陷檢測。
[0045]并且，根據(jù)本發(fā)明的實施方案，探傷單元320以模塊化(modular)形式設置，因此可以按單元分別進行拆卸。并且，探傷單元320內(nèi)部的第一磁化極320c、第二磁化極320d、永磁體PM、以及檢測部320b均以模塊化形式設置，因此可以按單元分別進行拆卸。如上所述，通過將探傷設備以模塊化形式設置，可以提高探傷設備的維護和管理效率。
[0046]另一方面，圖4b是示出本發(fā)明一實施方案的、設置在平面和輥子上部的多個探傷單元的視圖，圖4c是示出本發(fā)明一實施方案的磁化極的配置方向的視圖。
[0047]根據(jù)本發(fā)明的實施方案，如圖4b的附圖標記410所示，鋼板10的缺陷探傷設備可以包括多個探傷單元(如圖4a中詳細所述)，多個探傷單元320-325分別在鋼板10的寬度方向排列，并且可以配置在相對于鋼板10的軋制方向以規(guī)定角度Θ傾斜的方向上。這種多個探傷單元320-325也可以被配置為在豎直方向上與鋼板10隔開規(guī)定距離。雖然在圖4b中僅示出了六個探傷單元320-325，但這是為了便于說明，其數(shù)量可以根據(jù)需要進行各種各樣的變更，這對于本領域技術人員是顯而易見的。
[0048]并且，根據(jù)實施方案，如圖4b的附圖標記420所示，多個探傷單元320-325在鋼板10的寬度方向上排列在鋼板10的上部，鋼板10卷繞于輥子R表面，并且多個探傷單元320-325可以配置在相對于鋼板10的軋制方向以規(guī)定角度Θ傾斜的方向上。
[0049]以下，參照圖4c詳細說明探傷單元內(nèi)的磁化極的配置方向。為了有助于理解本發(fā)明，在圖4c中僅示出了三個探傷單元320至322，但探傷單元的數(shù)量與圖4b中所示的探傷單元的數(shù)量相同。并且，為了有助于理解本發(fā)明，與圖4c相結合，以一個探傷單元320作為基準進行說明，但需要明確的是，該配置方向也可以適用于其余探傷單元321至322。
[0050]如圖4c所示，第一磁化極320c和第二磁化極320d具有相反的極性，第二磁化極320d可以被配置在與第一磁化極320c傾斜方向垂直相交的方向上，與第一磁化極320c間隔規(guī)定距離并平行于第一磁化極320c，并且第一磁化極320c和第二磁化極320d可以具有相同的長度。此時，第一磁化極320c和第二磁化極320d與軋制方向構成的角度Θ可以為45度。所述角度僅僅是實施例，可以根據(jù)需要進行變更，對本領域技術人員而言是顯而易見的。
[0051]如上所述，根據(jù)本發(fā)明的一實施方案，通過使構成磁化部320a的兩個磁化極320c、320d具有相同的長度，可以使在磁化極320c、320d的兩端部形成的磁通量的方向和強度均勻，從而可以進行準確的缺陷檢測。
[0052]對根據(jù)上述一實施方案的探傷設備的運行原理進行說明。
[0053]如圖3至圖4c所示，通過電源單元310向檢測部320b提供動力，并且通過排列在鋼板10的寬度方向上的多個探傷單元320-325來檢測由缺陷D產(chǎn)生的漏磁通。具體地，如果以一個探傷單元320為基準進行說明，則通過在相對于軋制方向以規(guī)定角度傾斜的方向上形成的磁化部320a來產(chǎn)生磁通量，并且所發(fā)生的磁通量穿過鋼板10。此時，檢測部320b檢測由鋼板10的缺陷D產(chǎn)生的漏磁通。所檢測的漏磁通傳遞至放大器330。[0054]之后，放大器330以規(guī)定比例放大在探傷單元320檢測的漏磁通，然后將已放大的漏磁通傳遞至缺陷檢測單元340。最后，缺陷檢測單元340可以基于放大器330放大的漏磁通檢測鋼板10的缺陷D。
[0055]另一方面，圖5a是示出本發(fā)明一實施方案的配置在鋼板上部和下部的探傷單元的視圖，與圖4a不同，在鋼板10的上部和下部均配置探傷單元320、520而檢測漏磁通，由此分開檢測表面缺陷和內(nèi)部缺陷或者準確地確定內(nèi)部缺陷的位置。而且，圖5b和圖5c的視圖示出本發(fā)明一實施方案的配置在鋼板上部和下部的探傷單元的基于缺陷位置的輸出信號。
[0056]以下，對本發(fā)明一實施方案的探傷設備和探傷設備的運行原理進行說明。
[0057]如圖5a所示，可以在鋼板10的上部配置上側探傷單元320，且可以在相對應的鋼板10的下部配置下側探傷單元520。在圖5a中，在鋼板10的上部配置有一個上側探傷單元320，在鋼板10的下部配置有一個下側探傷單元520，但這是為了有助于理解本發(fā)明，如圖4b所示，毫無疑問可以分別在鋼板10的上部和下部配置多個探傷單元。
[0058]另一方面，附圖標記530指示了圖5a的上部分圖中，存在于鋼板10的厚度方向的缺陷的放大視圖，并且指示缺陷D可以沿著鋼板10的厚度方向532存在于各個不同的位置。例如，如附圖標記531所示,示出了如下缺陷D:D1形成在鋼板10的上部表面?zhèn)然蜞徑谏喜勘砻鎮(zhèn)?；D2形成在鋼板10的上部內(nèi)部側；D3形成在鋼板10的中央；D4形成在鋼板10的下部內(nèi)部側；D5形成在鋼板10的下部表面?zhèn)然蜞徑谙虏勘砻鎮(zhèn)取?br> [0059]圖5b和圖5c示出了上部探傷單元320和下部探傷單元520對所述的各個缺陷Dl至D5的輸出信號。在圖5b和圖5c中，附圖標記540指示上部探傷單元320的輸出信號，附圖標記541指示下部探傷單元520的輸出信號。
[0060]如圖5b和圖5c所示，可知:根據(jù)缺陷的位置Dl至D5，來自上部探傷單元320和下部探傷單元520的輸出信號的幅度和相位上存在差異。即，可知:在鋼板10的上部表面?zhèn)然蛏喜勘砻鎮(zhèn)雀浇纬扇毕軩l的情況下，來自上部探傷單元320的輸出信號540的相位與來自下部探傷單元520的輸出信號541的相位是相反的，并且來自上部探傷單元320的輸出信號540的幅度大于來自下部探傷單元520的輸出信號541的幅度。由此可知缺陷D形成在鋼板10的上部表面?zhèn)然蜞徑谏喜勘砻鎮(zhèn)取?br> [0061]相反，可知:在鋼板10的下部表面?zhèn)然蛳虏勘砻鎮(zhèn)雀浇纬扇毕軩5的情況下，來自下部探傷單元520的輸出信號541的相位與來自上部探傷單元320的輸出信號540的相位是相反的，且來自下部探傷單元520的輸出信號541的幅度大于來自上部探傷單元320的輸出信號540。由此可知缺陷D形成在鋼板10的下部表面?zhèn)然蜞徑谙虏勘砻鎮(zhèn)取?br> [0062]另一方面，可知:在鋼板10的中央形成缺陷D3的情況下，來自上部探傷單元320的輸出信號540與來自下部探傷單元520的輸出信號541具有相同的幅度，僅僅相位相反。由此可知缺陷D形成在鋼板10的中央部。
[0063]如上所述，通過對來自上部探傷單元320和下部探傷單元520的輸出信號的幅度和相位進行比較，可以分析缺陷D的位置。
[0064]除上述示意性方法之外，可以通過計算輸入各種因子的缺陷函數(shù)DF(DefectFunction)來分析缺陷位置DP，對此參照圖5d和圖5e進行說明。
[0065]圖5d是用于說明為計算從來自上部探傷單元320的輸出信號540和來自下部探傷單元520的輸出信號541得出的缺陷函數(shù)DF而提供的因子的圖。
[0066]在圖5d中，AM是指兩個輸出信號540、541的幅度之差，Al是指來自下部探傷單元520的輸出信號541的面積，A2是指來自上部探傷單元320的輸出信號540的面積，S是指連接輸出信號的最大值和最小值的直線的斜率。
[0067]根據(jù)本發(fā)明的一實施方案，除了上述各種因子之外，還可以基于若干因子通過以下數(shù)學式I求出缺陷函數(shù)DF。
[0068][數(shù)學式I]
[0069]DF = f (ΔΜ, A, S, fff, L)
[0070]此時，DF是缺陷函數(shù)，AM是兩個輸出信號的幅度之差，A是輸出信號的面積，S是連接輸出信號的最大值和最小值的直線的斜率，Wf是缺陷的種類(圓、橢圓、線等)，L是用于補償檢測部和鋼板之間的間隔的值。
[0071]輸入了上述因子AM、A、S、Wf、L的缺陷函數(shù)DF可以以各種形式實現(xiàn)，但是需要明確的是，在本發(fā)明中并非具體限定于此。
[0072]然而，在圖5e中求出了只輸入上述因素AM、A、S、Wf、L中的ΛM的缺陷函數(shù)DF，并且參照圖5e，舉例說明由求出的缺陷函數(shù)DF分析缺陷位置DP的方法。作為前提，假設鋼板10的厚度為1.2mm,并且從鋼板10表面至中心的距離為0.6mm。
[0073]首先，缺陷檢測單元(圖3中的340)根據(jù)從鋼板10的表面至鋼板10的中心的缺陷位置DP求出兩個輸出信號540、541的幅度之差AM(S卩，缺陷函數(shù)DF)，之后獲得如圖5e所示的圖表。此時，缺陷位置DP為I是指距離鋼板10的上部表面0.6mm的點(S卩，鋼板的中心部)；缺陷位置DP為0.1是指在鋼板10的上部表面的點。
[0074]之后，缺陷檢測單元(圖3中的340)計算從上部探傷單元320和下部探傷單元520得到的輸出信號540、541的幅度之差ΛM，并將所計算的幅度之差AM與圖5e的圖表進行比較，由此可以分析缺陷位置DP。
[0075]例如，在圖5e中，在兩個輸出信號的幅度之差ΛΜ( S卩，缺陷函數(shù)DF)為I的情況下(AM為I的情況下，兩個輸出信號的幅度之差AM最大，因此可以預先得知:在鋼板10的上部表面存在缺陷D)，缺陷位置DP為0.1是指缺陷D位于鋼板10的上部表面。
[0076]作為另一例子，在兩個輸出信號的幅度之差AM(S卩，缺陷函數(shù)DF)為O情況下(AM為O的情況下，兩個輸出信號的幅度之差AM最小，因此可以預先得知:在鋼板10的中心部存在缺陷D)，缺陷位置DP為I是指缺陷D位于距離鋼板10的上部表面0.6mm的點(中心部)。
[0077]在兩個輸出信號的幅度之差AM為I至O之間的情況下，如圖5e所示，可以分析出，缺陷D存在于從鋼板10的上部表面至中心部(距離鋼板10的上部表面0.6mm的位置)之間的特定位置。
[0078]如上所述，根據(jù)本發(fā)明的一實施方案，在鋼板的上部和下部均配置探傷單元而檢測漏磁通，由此可以分開檢測表面缺陷和內(nèi)部缺陷或者準確地確定內(nèi)部缺陷的位置。
[0079]本發(fā)明并不限定于所述的實施方案和附圖。通過隨附的權利要求書來限定保護范圍，并且在不脫離權利要求書所記載的本發(fā)明的技術構思的范圍內(nèi)，可以進行各種各樣的形式的轉換、變形、以及變更，這對于具有本領域普通知識的技術人員而言是顯而易見的。
【權利要求】
1.一種探測鋼板缺陷的缺陷探傷設備，所述缺陷探傷設備包括在所述鋼板的寬度方向上排列的多個探傷單元， 所述多個探傷單元中的每一個包括: 磁化部，其包括互相對應的第一磁化極和第二磁化極，并且通過所述第一磁化極和所述第二磁化極來產(chǎn)生磁通量，該磁通量用于在相對于所述鋼板的軋制方向傾斜規(guī)定角度的方向上磁化所述鋼板；和 檢測部，其通過由所述磁化部產(chǎn)生的磁通量來檢測由于存在于所述鋼板內(nèi)部或者表面的缺陷而泄漏的漏磁通。
2.根據(jù)權利要求1所述的缺陷探傷設備，其特征在于， 所述第二磁化極在與所述第一磁化極傾斜的方向垂直相交的方向上與所述第一磁化極間隔規(guī)定距離，并被配置為平行于所述第一磁化極。
3.根據(jù)權利要求2所述的缺陷探傷設備，其特征在于， 所述第一磁化極和所述第二磁化極具有相同的長度。
4.根據(jù)權利要求1所述的缺陷探傷設備，其特征在于， 所述第一磁化極和所述第二磁化極相對于所述軋制方向以45度傾斜而配置。
5.根據(jù)權利要求1所述的缺陷探傷設備，其特征在于， 所述多個探傷單元以按單元分別拆卸的模塊化形式設置。
6.根據(jù)權利要求1所述的缺陷探傷設備，其特征在于， 所述磁化部包括永磁體以及向所述永磁體的兩側延伸的磁軛， 所述第一磁化極設置在所述磁軛的一個端部，所述第二磁化極設置在所述磁軛的另一個端部。
7.根據(jù)權利要求6所述的缺陷探傷設備，其特征在于， 所述永磁體為圓柱形永磁體。
8.根據(jù)權利要求7所述的缺陷探傷設備，其特征在于， 所述圓柱形永磁體設置在所述磁化部中，使得所述圓柱形永磁體繞在圓柱的長度方向上延伸的圓柱的軸線旋轉， 并且能夠調(diào)整在所述磁軛中引起的磁通量的大小。
9.根據(jù)權利要求1所述的缺陷探傷設備，其特征在于， 所述多個探傷單元包括: 配置在所述鋼板上部的上側探傷單元；和 配置在所述鋼板下部的下側探傷單元。
10.根據(jù)權利要求9所述的缺陷探傷設備，其特征在于， 所述缺陷探傷設備進一步包括缺陷分析部， 所述缺陷分析部基于分別由所述上側探傷單元和所述下側探傷單元測量的信號的相位和幅度，分析所述鋼板的厚度方向的缺陷位置。
11.根據(jù)權利要求1所述的缺陷探傷設備，其特征在于， 所述檢測部包括多個霍爾傳感器，彼此相鄰的霍爾傳感器之間的間隔為60um或60um以下。
【文檔編號】G01N27/82GK103998924SQ201280062114
【公開日】2014年8月20日 申請日期:2012年11月30日 優(yōu)先權日:2011年12月15日
【發(fā)明者】李柱昇, 崔世鎬, 崔相佑, 尹鐘弼, 姜信煥, 吳基莊 申請人:Posco公司