三軸磁力測(cè)試座與三軸磁力測(cè)試系統(tǒng)的制作方法
【專利摘要】本發(fā)明是有關(guān)于一種三軸磁力測(cè)試座與三軸測(cè)試系統(tǒng)，特別是有關(guān)一種可以提供三個(gè)軸向的磁力進(jìn)行測(cè)試的一體式三軸磁力測(cè)試座以及應(yīng)用此三軸磁力測(cè)試座之測(cè)試系統(tǒng)。此三軸磁力測(cè)試座與三軸測(cè)試系統(tǒng)借由三組纏繞于該測(cè)試座不同軸向的線圈，取代傳統(tǒng)環(huán)繞測(cè)整個(gè)測(cè)試機(jī)臺(tái)且僅能提供單軸磁場(chǎng)的螺線管，而對(duì)待測(cè)元件提供不同軸向的磁場(chǎng)，以進(jìn)行單軸、雙軸、與三軸磁力測(cè)試。
【專利說(shuō)明】三軸磁力測(cè)試座與三軸磁力測(cè)試系統(tǒng)
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明是有關(guān)于一種三軸磁力測(cè)試座與三軸測(cè)試系統(tǒng)，特別是有關(guān)一種可以提供三個(gè)軸向的磁力進(jìn)行測(cè)試的三軸磁力測(cè)試座以及應(yīng)用此三軸磁力測(cè)試座之測(cè)試系統(tǒng)。
【背景技術(shù)】
[0002]隨著微機(jī)電元件系統(tǒng)的發(fā)展，各種具有不同功能的小型且高性能的感應(yīng)器被研發(fā)出來(lái)，例如加速度感應(yīng)器、壓力感應(yīng)器(或壓力計(jì))、磁力感應(yīng)器(或磁力計(jì))等。這些感應(yīng)器除了一般的電性測(cè)試之外,往往還需要對(duì)其感測(cè)性能進(jìn)行測(cè)試,例如磁力感測(cè)、加速度感測(cè)等，所以傳統(tǒng)用于電性測(cè)試的測(cè)試機(jī)臺(tái)往往需要加載一些外加裝置才能進(jìn)行感測(cè)性能的測(cè)試。由于磁力感應(yīng)器之測(cè)試需要在一測(cè)試磁場(chǎng)，因此，往往需要在一般的測(cè)試機(jī)臺(tái)上加裝螺線管(solenoid)而產(chǎn)生外加磁場(chǎng)，以進(jìn)行磁力測(cè)試。
[0003]然而，由于螺線管采用多重纏繞導(dǎo)線，所以其不但結(jié)構(gòu)復(fù)雜、體積龐大、功率消耗亦較大，并且往往需要外掛電源來(lái)提供螺線管產(chǎn)生磁場(chǎng)所需的電力，因此，造成測(cè)試成本上升。其次，螺線管所產(chǎn)生的外加磁場(chǎng)范圍較大而籠罩測(cè)試機(jī)臺(tái)的測(cè)試區(qū)內(nèi)的所有待測(cè)元件，所以僅能對(duì)測(cè)試區(qū)內(nèi)所有的磁力感應(yīng)器(或磁力計(jì))提供同一磁力測(cè)試環(huán)境進(jìn)行測(cè)試，而無(wú)法對(duì)測(cè)試區(qū)內(nèi)的個(gè)別磁力感應(yīng)器(或磁力計(jì))提供個(gè)別的磁力測(cè)試環(huán)境進(jìn)行測(cè)試，因此，在測(cè)試上彈性較小。再者，由于外加磁場(chǎng)范圍大所以其磁場(chǎng)分布不夠均勻，使得磁力感應(yīng)器(或磁力計(jì))測(cè)試的結(jié)果受到其在外加磁場(chǎng)內(nèi)的位置所影響，所以容易造成測(cè)試誤差或是誤判，而影響測(cè)試的良率與可靠性。
[0004]另外，由于外加電源往往無(wú)法精確地提供小電流(micro級(jí)電流)，而無(wú)法精確地產(chǎn)生測(cè)試所需的磁場(chǎng)大小，因此，往往無(wú)法對(duì)磁力感應(yīng)器(或磁力計(jì))特性進(jìn)行精密與精確的測(cè)試，而獲得其確切的磁力特性。由于螺線管的體積龐大，因此，往往無(wú)法在測(cè)試機(jī)臺(tái)上同時(shí)加裝多組螺線管以提供多個(gè)軸向(例如雙軸、三軸)的磁力測(cè)試，而僅能提供單軸的磁力測(cè)試，而不符合日新月異的測(cè)試需求。
[0005]有鑒于此，因此亟需要提出一種結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、體積小、消耗功率低、成本低、可以精確且均勻地產(chǎn)生測(cè)試測(cè)試所需的磁場(chǎng)大小、以及可以提供多軸向磁力測(cè)試的磁力感應(yīng)器(或磁力計(jì))的測(cè)試裝置，使其可以整合于傳統(tǒng)的測(cè)試機(jī)臺(tái)，不但可以降低成本、簡(jiǎn)化設(shè)計(jì)，且可以增加測(cè)試彈性，以利測(cè)試產(chǎn)能與可靠性的提高。
[0006]由此可見(jiàn)，上述現(xiàn)有的感應(yīng)器在結(jié)構(gòu)與使用上，顯然仍存在有不便與缺陷，而亟待加以進(jìn)一步改進(jìn)。因此如何能創(chuàng)設(shè)一種新型結(jié)構(gòu)的三軸磁力測(cè)試座與三軸磁力測(cè)試系統(tǒng)，亦成為當(dāng)前業(yè)界極需改進(jìn)的目標(biāo)。
【發(fā)明內(nèi)容】
[0007]本發(fā)明的目的在于，克服現(xiàn)有的感應(yīng)器存在的缺陷，而提供一種新型結(jié)構(gòu)的三軸磁力測(cè)試座與三軸磁力測(cè)試系統(tǒng)，所要解決的技術(shù)問(wèn)題是使其提供一種結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、體積小、消耗功率低、成本低的三軸向磁力測(cè)試座，可以精確且均勻地產(chǎn)生測(cè)試所需的磁場(chǎng)大小與不同軸向的磁場(chǎng)，而對(duì)待測(cè)元件進(jìn)行單軸、雙軸、以及三軸的磁力測(cè)試，以對(duì)個(gè)別待測(cè)元件提供個(gè)別的磁力測(cè)試環(huán)境，且可以增加測(cè)試彈性，以利測(cè)試產(chǎn)能與可靠性的提高，非常適于實(shí)用。
[0008]本發(fā)明的另一目的在于，提供一種新型結(jié)構(gòu)的三軸磁力測(cè)試座與三軸磁力測(cè)試系統(tǒng)，所要解決的技術(shù)問(wèn)題是使其提供一種三軸向磁力測(cè)試系統(tǒng)，借由整合結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、體積小、消耗功率低、成本低的三軸向磁力測(cè)試座，可以精確且均勻地產(chǎn)生測(cè)試所需的磁場(chǎng)大小與不同軸向的磁場(chǎng)，而對(duì)個(gè)別待測(cè)元件提供個(gè)別的磁力測(cè)試環(huán)境，并對(duì)待測(cè)元件進(jìn)行單軸、雙軸、以及三軸的磁力測(cè)試，進(jìn)而降低成本、簡(jiǎn)化設(shè)計(jì)，且可以增加測(cè)試彈性，以利測(cè)試產(chǎn)能與可靠性的提高，從而更加適于實(shí)用。
[0009]本發(fā)明的目的及解決其技術(shù)問(wèn)題是采用以下技術(shù)方案來(lái)實(shí)現(xiàn)的。依據(jù)本發(fā)明提出的一種三軸磁力測(cè)試座，其中包含:承載座，用以容置待測(cè)元件進(jìn)行磁力測(cè)試；第一軸向線圈設(shè)置于該承載座中用以提供第一軸向磁場(chǎng)；固定裝置，用以容置該承載座并將該三軸磁力測(cè)試座固定于測(cè)試機(jī)臺(tái)上；一對(duì)第二軸向線圈，纏繞于該固定裝置上，用以提供第二軸向磁場(chǎng)；一對(duì)第三軸向線圈，纏繞于該固定裝置上，用以提供第三軸向磁場(chǎng)；以及電路板，設(shè)置于該承載座下方，用以做為該承載座與該測(cè)試機(jī)臺(tái)之間的電性連接。
[0010]本發(fā)明的目的及解決其技術(shù)問(wèn)題還可采用以下技術(shù)措施進(jìn)一步實(shí)現(xiàn)。
[0011]前述的三軸磁力測(cè)試座，其特征在于該承載座包含:底座；待測(cè)元件容置座，設(shè)置于該底座上并突出于該底座，用以容置待測(cè)元件；該第一軸向線圈，纏繞于該待測(cè)元件容置座，用以對(duì)該待測(cè)元件容置座中放置的待測(cè)元件提供第一軸向的磁場(chǎng)；以及蓋板，覆蓋于該底座上，而將該待測(cè)元件容置座與該第一軸向線圈容置于該蓋板與該底座之間，該蓋板具有開(kāi)口，而該待測(cè)元件容置座借由該開(kāi)口而裸露出來(lái)。
[0012]前述的三軸磁力測(cè)試座，其特征在于該底座的頂部表面上具有固定部，用以供該待測(cè)元件容置座套設(shè)于該底座的頂部表面上，而將該待測(cè)元件容置座固設(shè)于該底座上。
[0013]前述的三軸磁力測(cè)試座，其特征在于該待測(cè)元件容置座包含:容置頂座，該容置頂座上具有以容置待測(cè)元件的容置槽；支撐底座，該支撐底座底部具有固定槽，借由將該固定槽套于該底座的該固定部上，而將該待測(cè)元件容置座套設(shè)于該底座上；以及介于該支撐底座與該容置頂座之間的柱狀連結(jié)，用以連接該支撐底座與該容置頂座，該第一軸向線圈纏繞于該柱狀連結(jié)上。
[0014]前述的三軸磁力測(cè)試座，其特征在于該固定裝置包含:固定座，用以將該三軸磁力測(cè)試座固定于該測(cè)試機(jī)臺(tái)上；以及外罩，罩于該固定座上用以支撐或承載該第二軸向線圈與該第三軸線圈，并且該外罩內(nèi)部具有容置該承載座的承載座容置空間。
[0015]前述的三軸磁力測(cè)試座，其特征在于該固定座上具有支撐柱，用以承載該承載座與該電路板而將其支撐于該承載座容置空間中，并固定于其中。
[0016]前述的三軸磁力測(cè)試座，其特征在于該外罩底部具有支撐柱孔，該支撐柱孔貫穿該外罩底部到達(dá)該承載座容置空間的底部，該支撐柱通過(guò)該支撐柱孔而承載與支撐該承載座與電路板。
[0017]前述的三軸磁力測(cè)試座，其特征在于該外罩頂部具有待測(cè)元件取放孔，該待測(cè)元件取放孔貫穿該外罩頂部到達(dá)該承載座容置空間的頂部，用以進(jìn)行待測(cè)元件的取放。
[0018]前述的三軸磁力測(cè)試座，其特征在于該外罩一側(cè)具有電路板延伸孔，該電路板延伸孔貫穿該外罩的一側(cè)到達(dá)該承載座容置空間的一側(cè)，用以供該電路板通過(guò)而與該測(cè)試機(jī)臺(tái)連接。
[0019]本發(fā)明的目的及解決其技術(shù)問(wèn)題還采用以下技術(shù)方案來(lái)實(shí)現(xiàn)。依據(jù)本發(fā)明提出的一種三軸磁力測(cè)試系統(tǒng)，其中包含:至少三軸磁力測(cè)試座，用以容置待測(cè)元件并提供不同軸向磁場(chǎng)的進(jìn)行測(cè)試，該三軸磁力測(cè)試座包含:承載座，用以容置待測(cè)元件進(jìn)行磁力測(cè)試；第一軸向線圈設(shè)置于該承載座中用以提供第一軸向的磁力；固定裝置，用以容置該承載座并將該三軸磁力測(cè)試座固定于該測(cè)試機(jī)臺(tái)上；一對(duì)第二軸向線圈，纏繞于該固定裝置上，用以提供第二軸向磁場(chǎng)；一對(duì)第三軸向線圈，纏繞于該固定裝置上，用以提供第三軸向磁場(chǎng)；電路板，設(shè)置于該承載座下方，用以做為該承載座與該測(cè)試機(jī)臺(tái)之間的電性連接；檢選分類裝置(handler)，用以拾取與放置該放待測(cè)元件于該三軸磁力測(cè)試座進(jìn)行測(cè)試；以及測(cè)試機(jī)臺(tái)，用以分別控制該三軸磁力測(cè)試座及該檢選分類裝置。
[0020]本發(fā)明的目的及解決其技術(shù)問(wèn)題還可采用以下技術(shù)措施進(jìn)一步實(shí)現(xiàn)。
[0021]前述的三軸磁力測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于該承載座包含:底座；待測(cè)元件容置座，設(shè)置于該底座上并突出于該底座，用以容置待測(cè)元件；該第一軸向線圈，纏繞于該待測(cè)元件容置座，用以對(duì)該待測(cè)元件容置座中放置的待測(cè)元件提供第一軸向磁場(chǎng)；以及蓋板，覆蓋于該底座上，而將該待測(cè)元件容置座與該第一軸向線圈容置于該蓋板與該底座之間，該蓋板具有開(kāi)口，而該待測(cè)元件容置座借由該開(kāi)口而裸露出來(lái)。
[0022]前述的三軸磁力測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于該待測(cè)元件容置座包含:容置頂座，該容置頂座上具有以容置待測(cè)元件的容置槽；支撐底座，該支撐底座底部具有固定槽，借由將該固定槽套于該底座的該固定部上，而將該待測(cè)元件容置座套設(shè)于該底座上；以及介于該支撐底座與該容置頂座之間的柱狀連結(jié)，用以連接該支撐底座與該容置頂座，該第一軸向線圈纏繞于該柱狀連結(jié)上。
[0023]前述的三軸磁力測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于該固定裝置包含:固定座，用以將該三軸磁力測(cè)試座固定于該測(cè)試機(jī)臺(tái)上；以及外罩，罩于該固定座上用以支撐或承載該第二軸向線圈與該第三軸線圈，并且該外罩內(nèi)部具有容置該承載座的承載座容置空間。
[0024]前述的三軸磁力測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于該外罩頂部具有待測(cè)元件取放孔，該待測(cè)元件取放孔貫穿該外罩頂部到達(dá)該承載座容置空間的頂部，用以進(jìn)行待測(cè)元件的取放。
[0025]前述的三軸磁力測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于該外罩一側(cè)具有電路板延伸孔，該電路板延伸孔貫穿該外罩的一側(cè)到達(dá)該承載座容置空間的一側(cè)，用以供該電路板通過(guò)而與該測(cè)試機(jī)臺(tái)連接。
[0026]前述的三軸磁力測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于該檢選分類裝置為轉(zhuǎn)盤式檢選分類裝置或直線式檢選分類裝置。
[0027]本發(fā)明與現(xiàn)有技術(shù)相比具有明顯的優(yōu)點(diǎn)和有益效果。由以上技術(shù)方案可知，本發(fā)明的主要技術(shù)內(nèi)容如下:提供一種三軸向磁力測(cè)試座，其包含用以容置待測(cè)元件進(jìn)行磁力測(cè)試的承載座、設(shè)置于承載座中而用以提供第一軸向磁力第一軸向線圈、用以容置承載座并用以將三軸磁力測(cè)試座固定于測(cè)試機(jī)臺(tái)上的固定裝置、一對(duì)纏繞于固定裝置上而用以提供第二軸向磁力的第二軸向線圈、一對(duì)纏繞于固定裝置上而用以提供第三軸向磁力的第三軸向線圈、以及設(shè)置于承載座下方而用以做為承載座與測(cè)試機(jī)臺(tái)之間的電性連接的電路板。此三軸向磁力測(cè)試座借由三組不同的磁力線圈提供不同軸向的磁力。由于此三組磁力線圈僅需環(huán)繞或嵌設(shè)于單一測(cè)試座，所以其所使用的磁力線圈遠(yuǎn)小于傳統(tǒng)測(cè)試機(jī)臺(tái)內(nèi)產(chǎn)生外加磁場(chǎng)的螺線管，而具有結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、體積小、消耗功率低、成本低、磁場(chǎng)均勻，以及可以精確地反應(yīng)電流而產(chǎn)生不同大小的磁場(chǎng)等優(yōu)點(diǎn)。其次，此三軸向磁力測(cè)試座所需電流不大，所以裝設(shè)于測(cè)試機(jī)臺(tái)上的時(shí)候，可以直接以本身即可精確控制電流的測(cè)試機(jī)臺(tái)來(lái)控制供給磁力線圈的電流大小，而不需要無(wú)法精確控制微電流的外載電源。因此，此三組磁力線圈可以精確且均勻地產(chǎn)生測(cè)試所需的磁場(chǎng)大小與不同軸向的磁場(chǎng)，而可以增加測(cè)試彈性，以利測(cè)試產(chǎn)能與可靠性的提高。
[0028]本發(fā)明提供一種三軸向磁力測(cè)試系統(tǒng)，其包含至少用以容置待測(cè)元件并提供不同軸向磁場(chǎng)的進(jìn)行測(cè)試的本發(fā)明的三軸磁力測(cè)試座、用以拾取與放置放待測(cè)元件于三軸磁力測(cè)試座進(jìn)行測(cè)試的檢選分類裝置(handler)、以及用以分別控制三軸磁力測(cè)試座及檢選分類裝置的測(cè)試機(jī)臺(tái)。此三軸向磁力測(cè)試系統(tǒng)借由將本發(fā)明的三軸磁力測(cè)試座整合于傳統(tǒng)的測(cè)試機(jī)臺(tái)，而可以對(duì)個(gè)別待測(cè)元件提供個(gè)別的磁力測(cè)試環(huán)境，并對(duì)待測(cè)元件進(jìn)行單軸、雙軸、以及三軸的磁力測(cè)試，進(jìn)而降低成本、簡(jiǎn)化設(shè)計(jì)，且可以增加測(cè)試彈性，以利測(cè)試產(chǎn)能與可靠性的提高。
[0029]借由上述技術(shù)方案，本發(fā)明三軸磁力測(cè)試座與三軸磁力測(cè)試系統(tǒng)至少具有下列優(yōu)點(diǎn)及有益效果:本發(fā)明提供一種具有結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、體積小、消耗功率低、成本低、磁場(chǎng)均勻，以及可以精確地反應(yīng)電流而產(chǎn)生不同大小的磁場(chǎng)等優(yōu)點(diǎn)的三軸向磁力測(cè)試座與三軸向磁力測(cè)試系統(tǒng)，進(jìn)而降低成本、簡(jiǎn)化設(shè)計(jì)，且可以增加測(cè)試彈性，以利測(cè)試產(chǎn)能與可靠性的提高。
[0030]上述說(shuō)明僅是本發(fā)明技術(shù)方案的概述，為了能夠更清楚了解本發(fā)明的技術(shù)手段，而可依照說(shuō)明書的內(nèi)容予以實(shí)施，并且為了讓本發(fā)明的上述和其它目的、特征和優(yōu)點(diǎn)能夠更明顯易懂，以下特舉較佳實(shí)施例，并配合附圖，詳細(xì)說(shuō)明如下。 【專利附圖】
【附圖說(shuō)明】
[0031]圖1A與圖1B分別為本發(fā)明一實(shí)施例的三軸向磁力測(cè)試座的立體示意圖與俯視圖。
[0032]圖2為本發(fā)明一實(shí)施例的三軸向磁力測(cè)試座的分解圖。
[0033]圖3為本發(fā)明一實(shí)施例的三軸向磁力測(cè)試座的立體剖面圖。
[0034]圖4A與圖4B為本發(fā)明一實(shí)施例的三軸向磁力測(cè)試座中的承載座的立體圖與剖面圖。
[0035]圖4C為本發(fā)明一實(shí)施例的三軸向磁力測(cè)試座中的待測(cè)元件容置座的示意圖。
[0036]圖4D為本發(fā)明一實(shí)施例的三軸向磁力測(cè)試座中的蓋板的背面立體圖。
[0037]圖5為本發(fā)明一實(shí)施例的三軸向磁力測(cè)試座中的外罩的背面立體圖。
[0038]圖6為本發(fā)明一實(shí)施例的三軸向磁力測(cè)試的示意圖。
[0039]圖7為本發(fā)明另一實(shí)施例的三軸向磁力測(cè)試的示意圖。
[0040]【主要元件符號(hào)說(shuō)明】
[0041]10:三軸磁力測(cè)試座
[0042]20:轉(zhuǎn)盤式檢選分類裝置
[0043]20’:直線式檢選分類裝置
[0044]22:轉(zhuǎn)盤式吸嘴[0045]22’:機(jī)械手臂或單一吸嘴
[0046]30、30’:三軸磁力測(cè)試系統(tǒng)
[0047]100:承載座102:蓋板
[0048]104:開(kāi)口106:第一連結(jié)孔
[0049]108:第二連結(jié)孔 110:底座
[0050]112:固定部114:第三連結(jié)孔
[0051]116:第四連結(jié)孔 118:第一軸向線圈
[0052]120:待測(cè)元件容置座121:容置槽
[0053]122:容置頂座123:待測(cè)元件 [0054]124:柱狀連結(jié)125:孔洞
[0055]126:支撐底座127:固定槽
[0056]128:電路板130:第五連結(jié)孔
[0057]132:第六連結(jié)孔 133:槽
[0058]134:固定底座 135:探針
[0059]136:第一固定孔 138:第二固定孔
[0060]200:固定裝置 202:固定座
[0061]204:支撐柱206:穿孔
[0062]210、210’:外罩 212:支撐柱孔
[0063]214:承載座容置空間
[0064]216:電路板延伸孔
[0065]218:待測(cè)元件取放孔
[0066]220、222:第二軸向線圈凹槽
[0067]224、226:第三軸向線圈凹槽
[0068]228、230:第二軸向線圈
[0069]232、234:第三軸向線圈
[0070]236、238:固定件
[0071]240:第三固定孔
[0072]242:第四固定孔
【具體實(shí)施方式】
[0073]為更進(jìn)一步闡述本發(fā)明為達(dá)成預(yù)定發(fā)明目的所采取的技術(shù)手段及功效，以下結(jié)合附圖及較佳實(shí)施例，對(duì)依據(jù)本發(fā)明提出的三軸磁力測(cè)試座與三軸磁力測(cè)試系統(tǒng)其【具體實(shí)施方式】、結(jié)構(gòu)、特征及其功效，詳細(xì)說(shuō)明如后。
[0074]請(qǐng)同時(shí)參閱圖1A、圖1B、圖2與圖3，其分別為本發(fā)明之一實(shí)施例三軸磁力測(cè)試座10的立體示意圖、俯視圖、分解圖、以及立體剖面圖。三軸磁力測(cè)試座10包含用以容置待測(cè)元件123進(jìn)行磁力測(cè)試的承載座100、設(shè)置于承載座100中而用以提供第一軸向磁力第一軸向線圈118、用以容置承載座100并用以將三軸磁力測(cè)試座10固定于測(cè)試機(jī)臺(tái)上的固定裝置200、一對(duì)纏繞于固定裝置200上而用以提供第二軸向磁力的第二軸向線圈228、230、一對(duì)纏繞于固定裝置200上而用以提供第三軸向磁力的第三軸向線圈232、234、以及設(shè)置于承載座100下方而用以做為承載座100與測(cè)試機(jī)臺(tái)之間的電性連接的電路板128，而由這些元件組合而成。
[0075]請(qǐng)?jiān)俅螀㈤唸D2及圖4A與圖4B，其分別為三軸向磁力測(cè)試座10中的承載座100的立體圖與剖面圖。承載座100包含底座110、待測(cè)元件容置座120、第一軸向線圈118、以及蓋板102，而由這些元件組合而成。底座110的頂部表面上具有固定部112，用以供待測(cè)元件容置座120套設(shè)于底座110的頂部表面上，而將該待測(cè)元件容置座120固設(shè)于底座110上。固定部112為突起結(jié)構(gòu)，例如柱狀結(jié)構(gòu)、插銷結(jié)構(gòu)、或其它可以插入待測(cè)元件容置座120底部的結(jié)構(gòu)。底座110的底部具有容置固定底座134的凹槽133，而探針135可以通過(guò)固定底座134、底座110與待測(cè)元件容置座120，而電性連接待測(cè)元件容置座120 (或其上待測(cè)元件123)與電路板128，以做為待測(cè)元件容置座120上放置的待測(cè)元件123與電路板128之間的測(cè)試信號(hào)傳遞。另外，底座110具有第三連結(jié)孔114與第四連結(jié)孔116，并且第三連結(jié)孔114與第四連結(jié)孔116皆貫穿底座110。
[0076]請(qǐng)同時(shí)參閱圖1、圖2、圖4A、圖4B、以及圖4C，其中，圖4C為三軸向磁力測(cè)試座10中的待測(cè)元件容置座120的示意圖。待測(cè)元件容置座120用以容置待測(cè)元件123進(jìn)行測(cè)試，其設(shè)置于底座110上并突出于底座110，而用以承載待測(cè)元件123以將其支撐于各個(gè)不同軸向線圈(第一軸向線圈118、第二軸向線圈228、230、與第三軸向線圈232、234)所產(chǎn)生的磁場(chǎng)的中心位置，而可對(duì)待測(cè)元件123施加最均勻的不同軸向的磁場(chǎng)。待測(cè)元件容置座120包含容置頂座122、支撐底座126、以及介于支撐底座126與容置頂座122之間而連接支撐底座126與容置頂座122的柱狀連結(jié)124。
[0077]容置頂座122上具有以容置待測(cè)元件的容置槽121，容置槽121上具有對(duì)應(yīng)探針135的孔洞125，可供探針135通過(guò)而接觸容置槽121內(nèi)的待測(cè)元件123，而傳遞測(cè)試信號(hào)給待測(cè)元件123。柱狀連結(jié)124為中空的柱體或圓柱體，使得探針135通過(guò)其內(nèi)部而進(jìn)入容置槽121與待測(cè)元件123接觸。第一軸向線圈118纏繞于柱狀連結(jié)124的外部，而在第一軸向線圈118通電流時(shí)產(chǎn)生第一軸向的磁場(chǎng)，對(duì)待測(cè)元件容置座120中放置的待測(cè)元件123施加第一軸向的磁場(chǎng)。支撐底座126的底部具有固定槽127，借由固定槽127套于底座110的固定部112上，而將待測(cè)元件容置座120套設(shè)并固定于底座110上。
[0078]請(qǐng)同時(shí)參閱圖2、參閱圖4A、圖4B、以及圖4D，其中，圖4D為三軸向磁力測(cè)試座10中的蓋板102的背面立體圖。蓋板102覆蓋于底座110上，而將待測(cè)元件容置座120與第一軸向線圈118容置于蓋板102與底座110之間。蓋板102具有開(kāi)口 104，而待測(cè)元件容置座120 (或容置槽121)則借由開(kāi)口 104而裸露出來(lái)，以供進(jìn)行待測(cè)元件123的取放。另夕卜，蓋板102具有第一連結(jié)孔106與第二連結(jié)孔108，第一連結(jié)孔106與第二連結(jié)孔108皆貫穿蓋板102。第一連結(jié)孔106與底座110上的第三連結(jié)孔114相對(duì)應(yīng)，而在蓋板102與底座110組合于承載座100，第一連結(jié)孔106與第三連結(jié)孔114由上往下排列成一直線。第二連結(jié)孔108與底座110上的第四連結(jié)孔116相對(duì)應(yīng)，而在蓋板102與底座110組合于承載座100，第二連結(jié)孔108與第四連結(jié)孔116由上往下排列成一直線。其次，在蓋板102的一側(cè)面(例如背面)具有第一固定孔136與第二固定孔13 8，用做將承載座100固定于固定裝置200中之用。
[0079]參閱圖2，電路板128具有第五連結(jié)孔130與第六連結(jié)孔132。第五連結(jié)孔130分別與蓋板102的第一連結(jié)孔106以及底座110的第三連結(jié)孔114對(duì)應(yīng)，而在電路板128組合于承載座100下方時(shí),第一連結(jié)孔106、第三連結(jié)孔114、以及第五連結(jié)孔130由上往下排列成直線，而可以借由固定件(圖中未示)貫穿第一連結(jié)孔106、第三連結(jié)孔114、以及第五連結(jié)孔130，而將承載座100鎖固于該電路板128上。第六連結(jié)孔132分別與蓋板102的第二連結(jié)孔108以及底座110的第四連結(jié)孔116對(duì)應(yīng)，而在電路板128組合于承載座100下方時(shí)，第二連結(jié)孔108、第四連結(jié)孔116、以及第六連結(jié)孔132由上往下排列成一直線，而可以借由一固定件(圖中未示)貫穿第二連結(jié)孔108、第四連結(jié)孔116、以及第六連結(jié)孔132，而將承載座100鎖固于該電路板128上。
[0080]請(qǐng)同時(shí)參閱圖2與圖3，固定裝置200包含用以將三軸磁力測(cè)試座10固定于測(cè)試機(jī)臺(tái)上的固定座202、以及罩于固定座202上而用以支撐或承載第二軸向線圈228、230與第三軸線圈232、234的外罩210，其中，外罩210內(nèi)部具有承載座容置空間214，用以容置承載座100。承載座容置空間214最好包含不同軸向線圈(第一軸向線圈118、第二軸向線圈228、230、與第三軸向線圈232、234)所產(chǎn)生的磁場(chǎng)的中心位置，使得待測(cè)元件可以在各軸向最均勻的磁場(chǎng)中進(jìn)行測(cè)試。固定座202上具有支撐柱204，用以承載承載座100與電路板128，而將其支撐于承載座容置空間214中，并固定于其中，特別是使得承載座100內(nèi)容置的待測(cè)元件123可以位于各個(gè)不同軸向線圈(第一軸向線圈118、第二軸向線圈228、230、與第三軸向線圈232、234)所產(chǎn)生的磁場(chǎng)的中心位置，而被施加以最均勻的磁場(chǎng)進(jìn)行磁力測(cè)試。另外，固定座202上具有一個(gè)或多個(gè)穿孔206，用以供固定件(圖中未示)，以將三軸磁力測(cè)試座10 (或固定座202)鎖固于測(cè)試機(jī)臺(tái)上。
[0081]請(qǐng)同時(shí)參閱圖2、圖3、與圖5，其中，圖5為三軸向磁力測(cè)試座10中的外罩210的背面立體圖。外罩210除了內(nèi)部具有承載座容置空間214之外，在外罩210的底部具有支撐柱孔212，支撐柱孔212貫穿外罩210的底部而到該承載座容置空間214的底部，用以供支撐柱204通過(guò)支撐柱孔212進(jìn)入承載座容置空間214以承載與支撐承載座100與電路板128。在外罩210的頂部則具有待測(cè)元件取放孔218，待測(cè)元件取放孔218貫穿外罩210的頂部而到達(dá)該承載座容置空間214的頂部，而裸露出整個(gè)承載座100的頂部或容置頂座122 (包含其上的容置槽121)，使得測(cè)試機(jī)臺(tái)的拾取裝置或吸嘴可以通過(guò)待測(cè)元件取放孔218而進(jìn)行待測(cè)元件的取放。另外，在外罩的一側(cè)(通常為前側(cè))具有電路板延伸孔216，電路板延伸孔216貫穿外罩210的一側(cè)(通常為前側(cè))而到達(dá)承載座容置空間214的一側(cè)，電路板128可以通過(guò)電路板延伸孔216而向外延伸，以與測(cè)試機(jī)臺(tái)連接，做為信號(hào)與電流的傳遞。再者，在外罩210的另一側(cè)(通常為背面)，即外罩210對(duì)應(yīng)蓋板102上設(shè)置有第一固定孔136與第二固定孔138的側(cè)面(例如背面)的一側(cè)，具有第三固定孔240與第四固定孔242。第三固定孔240對(duì)應(yīng)第一固定孔136，在承載座100與固定裝置200組裝而將承載座100置于承載座容置空間214時(shí)，第三固定孔240與第一固定孔136由外而內(nèi)排列成直線，而可以借由固定件236貫穿第三固定孔240與第一固定孔136，而將承載座100鎖固于固定裝置200 (或承載座容置空間214)中。第四固定孔242對(duì)應(yīng)第二固定孔138，在承載座100與固定裝置200組裝而將承載座100置于承載座容置空間214時(shí)，第四固定孔242與第二固定孔138由外而內(nèi)排列成直線，而可以借由固定件238貫穿第四固定孔242與第二固定孔138，而將承載座100鎖固于固定裝置200 (或承載座容置空間214)中。
[0082]外罩210的外部具有一對(duì)第二軸向線圈凹槽220、222，其中，第二軸向線圈凹槽220與222分別用以容置與支撐第二軸向線圈228與230，而使第二軸向線圈228、230纏繞與固定于外罩210的外部。另外，外罩210的外部還具有一對(duì)第三軸向線圈凹槽224、226，其中，第三軸向線圈凹槽224與226分別用以容置與支撐第三軸向線圈232與234，而使第三軸向線圈232、234纏繞與固定于外罩210的外部。第二軸向線圈凹槽220、222與第三軸向線圈凹槽224、226彼此垂直而設(shè)置于外罩210上，所以第二軸向線圈228、230與第三軸向線圈232、234也是彼此垂直而設(shè)置于外罩210上。
[0083]雖然圖1A、圖1B、圖2、圖3、以及圖5所示外罩210為圓形球體或類似圓形的球體，但是，在本發(fā)明其它實(shí)施例中，外罩也可以是其它任何能有效支撐成對(duì)的第二軸向線圈與成對(duì)的第三軸向線圈的幾何形狀，例如外罩為一鏤空的圓形球體或類似圓形的鏤空球體，或是環(huán)狀支架。
[0084]另外，三軸磁力測(cè)試座10的上的第一軸向線圈118、第二軸向線圈228、230、以及第三軸向線圈232、234皆與電路板128(電性)連接，并經(jīng)由電路板128與測(cè)試機(jī)臺(tái)，例如自動(dòng)化測(cè)試設(shè)備(ATE)，電性連接。因此，測(cè)試機(jī)臺(tái)可以通過(guò)電路板128而提供電流給第一軸向線圈118、第二軸向線圈228、230、以及第三軸向線圈232、234，而產(chǎn)生不同軸向的磁場(chǎng)與控制不同軸向磁場(chǎng)的產(chǎn)生，并且經(jīng)由控制所提供的電流大小，而控制第一軸向線圈118、第二軸向線圈228、230、以及第三軸向線圈232、234所產(chǎn)生的磁場(chǎng)大小。
[0085]由于嵌入或環(huán)繞承載座100的第一軸向線圈118、第二軸向線圈228、230、以及第三軸向線圈232、234遠(yuǎn)小于傳統(tǒng)測(cè)試機(jī)臺(tái)內(nèi)產(chǎn)生外加磁場(chǎng)的螺線管，并且結(jié)構(gòu)較簡(jiǎn)單、體積較小，因此，其產(chǎn)生磁場(chǎng)所需的電流較小，消耗功率也較低，所以測(cè)試機(jī)臺(tái)本身所提供的電力即足夠使第一軸向線圈118、第二軸向線圈228、230、以及第三軸向線圈232、234產(chǎn)生不同軸向的磁場(chǎng)進(jìn)行測(cè)試，而不需要外掛額外的電源。再者，由于第一軸向線圈118、第二軸向線圈228、230、以及第三軸向線圈232、234體積小，對(duì)于電流較為敏感，而能精確地反應(yīng)將電流的變化反應(yīng)到磁場(chǎng)(或磁力)大小的變化，因此，可以直接借由測(cè)試機(jī)臺(tái)的可程序化的電力單元(power unit)精確地產(chǎn)生微(micro)安培級(jí)的電流，而精確地產(chǎn)生待測(cè)元件所需的磁場(chǎng)大小，以利測(cè)試產(chǎn)能與可靠性的提高。另外，由于第一軸向線圈118、第二軸向線圈228、230、以及第三軸向線圈232、234體積小，所以其所產(chǎn)生的磁場(chǎng)范圍也比較小，所以磁場(chǎng)比較均勻且集中，而不會(huì)影響到放置于周邊的其它三軸磁力測(cè)試座內(nèi)的待測(cè)元件，所以可以對(duì)個(gè)別三軸磁力測(cè)試座內(nèi)的待測(cè)元件提供個(gè)別磁力測(cè)試環(huán)境，而可以增加測(cè)試彈性，以利測(cè)試產(chǎn)能與可靠性的提高。
[0086]另外，由于本發(fā)明的三軸向磁力測(cè)試座中的各個(gè)零件不但結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、便于制造、所使用的材料成本低廉，因此，相較于需外掛額外電源與外加螺線管于傳統(tǒng)測(cè)試機(jī)臺(tái)且僅能提供單軸磁場(chǎng)的設(shè)計(jì)，不但成本較為低廉且可以提供單軸、雙軸、以及三軸的磁力測(cè)試。值得注意的是，為了避免磁力干擾，所以本發(fā)明三軸向磁力測(cè)試座中的各個(gè)零件，例如承載座、固定裝置等，都需要以非導(dǎo)磁材質(zhì)制作。
[0087]參閱圖2,在三軸向磁力測(cè)試座10中,第一軸向線圈118為螺線管線圈,第一軸向?yàn)閆軸，而該第一軸向線圈則為Z軸線圈，用以產(chǎn)生Z軸磁場(chǎng)。第二軸向線圈228、230為霍姆赫茲線圈，第二軸向?yàn)閄軸，而第二軸向線圈228、230則為X軸線圈，用以產(chǎn)生X軸磁場(chǎng)。第三軸向線圈232、234為霍姆赫茲線圈，第三軸向?yàn)閅軸，而第三軸向線圈232、234則為Y軸線圈，用以產(chǎn)生Y軸磁場(chǎng)。
[0088]另外，本發(fā)明更提供一種三軸磁力測(cè)試系統(tǒng)，其由一個(gè)或多個(gè)前述的本發(fā)明三軸磁力測(cè)試座10、搭配目前市面上的一般檢選分類裝置(handler)與測(cè)試機(jī)臺(tái)所組成。在此三軸磁力測(cè)試系統(tǒng)，測(cè)試機(jī)臺(tái)分別與三軸磁力測(cè)試座以及檢選分類裝置(電性)連接，而控制三軸磁力測(cè)試座及檢選分類裝置運(yùn)作，而檢選分類裝置則用以拾取與放置放待測(cè)元件于三軸磁力測(cè)試座進(jìn)行測(cè)試。此三軸磁力測(cè)試系統(tǒng)借由本發(fā)明之三軸磁力測(cè)試座,而對(duì)個(gè)別的待測(cè)元件施加不同軸向的磁場(chǎng)，與提供不同的磁力測(cè)試環(huán)境，以對(duì)待測(cè)元件施加精確且均勻的磁場(chǎng)，而進(jìn)行單軸、雙軸、與三軸磁力測(cè)試。
[0089]本發(fā)明三軸磁力測(cè)試座可以搭配不同的檢選分類裝置而組成不同形式的三軸磁力測(cè)試系統(tǒng)。參閱圖6，三軸磁力測(cè)試座10可以搭配轉(zhuǎn)盤式檢選分類裝置(turrethandler) 20，而組成以轉(zhuǎn)盤式吸嘴22進(jìn)行待測(cè)元件取放的三軸磁力測(cè)試系統(tǒng)30。參閱圖7，三軸磁力測(cè)試座10可以搭配直線式檢選分類裝置(pick & place handler) 20’，而組成以機(jī)械手臂或單一吸嘴22’進(jìn)行待測(cè)元件取放的三軸磁力測(cè)試系統(tǒng)30’。
[0090]有鑒于上述實(shí)施例，本發(fā)明提供一種具有結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、體積小、消耗功率低、成本低、磁場(chǎng)均勻，以及可以精確地反應(yīng)電流而產(chǎn)生不同大小的磁場(chǎng)等優(yōu)點(diǎn)的三軸向磁力測(cè)試座與三軸向磁力測(cè)試系統(tǒng)，進(jìn)而降低成本、簡(jiǎn)化設(shè)計(jì)，且可以增加測(cè)試彈性，以利測(cè)試產(chǎn)能與可靠性的提高。
[0091]以上所述，僅是本發(fā)明的較佳實(shí)施例而已，并非對(duì)本發(fā)明作任何形式上的限制，雖然本發(fā)明已以較佳實(shí)施例揭露如上，然而并非用以限定本發(fā)明，任何熟悉本專業(yè)的技術(shù)人員，在不脫離本發(fā)明技術(shù)方案范圍內(nèi)，當(dāng)可利用上述揭示的技術(shù)內(nèi)容作出些許更動(dòng)或修飾為等同變化的等效實(shí)施例，但凡是未脫離本發(fā)明技術(shù)方案的內(nèi)容，依據(jù)本發(fā)明的技術(shù)實(shí)質(zhì)對(duì)以上實(shí)施例所作的任何簡(jiǎn)單修改、等同變化與修飾，均仍屬于本發(fā)明技術(shù)方案的范圍內(nèi)。
【權(quán)利要求】
1.一種三軸磁力測(cè)試座，其特征在于包含: 承載座，用以容置待測(cè)元件進(jìn)行磁力測(cè)試； 第一軸向線圈設(shè)置于該承載座中用以提供第一軸向磁場(chǎng)； 固定裝置，用以容置該承載座并將該三軸磁力測(cè)試座固定于測(cè)試機(jī)臺(tái)上； 一對(duì)第二軸向線圈，纏繞于該固定裝置上，用以提供第二軸向磁場(chǎng)； 一對(duì)第三軸向線圈，纏繞于該固定裝置上，用以提供第三軸向磁場(chǎng)；以及 電路板，設(shè)置于該承載座下方，用以做為該承載座與該測(cè)試機(jī)臺(tái)之間的電性連接。
2.如權(quán)利要求1所述的三軸磁力測(cè)試座，其特征在于該承載座包含: 底座； 待測(cè)元件容置座，設(shè)置于該底座上并突出于該底座，用以容置待測(cè)元件； 該第一軸向線圈，纏繞于該待測(cè)元件容置座，用以對(duì)該待測(cè)元件容置座中放置的待測(cè)元件提供第一軸向的磁場(chǎng)；以及 蓋板，覆蓋于該底座上，而將該待測(cè)元件容置座與該第一軸向線圈容置于該蓋板與該底座之間，該蓋板具有開(kāi)口，而該待測(cè)元件容置座借由該開(kāi)口而裸露出來(lái)。
3.如權(quán)利要 求2所述的三軸磁力測(cè)試座，其特征在于該底座的頂部表面上具有固定部，用以供該待測(cè)元件容置座套設(shè)于該底座的頂部表面上，而將該待測(cè)元件容置座固設(shè)于該底座上。
4.如權(quán)利要求3所述的三軸磁力測(cè)試座，其特征在于該待測(cè)元件容置座包含: 容置頂座，該容置頂座上具有以容置待測(cè)元件的容置槽； 支撐底座，該支撐底座底部具有固定槽，借由將該固定槽套于該底座的該固定部上，而將該待測(cè)元件容置座套設(shè)于該底座上；以及 介于該支撐底座與該容置頂座之間的柱狀連結(jié)，用以連接該支撐底座與該容置頂座，該第一軸向線圈纏繞于該柱狀連結(jié)上。
5.如權(quán)利要求2所述的三軸磁力測(cè)試座，其特征在于該固定裝置包含: 固定座，用以將該三軸磁力測(cè)試座固定于該測(cè)試機(jī)臺(tái)上；以及 外罩，罩于該固定座上用以支撐或承載該第二軸向線圈與該第三軸線圈，并且該外罩內(nèi)部具有容置該承載座的承載座容置空間。
6.如權(quán)利要求5所述的三軸磁力測(cè)試座，其特征在于該固定座上具有支撐柱，用以承載該承載座與該電路板而將其支撐于該承載座容置空間中，并固定于其中。
7.如權(quán)利要求6所述的三軸磁力測(cè)試座，其特征在于該外罩底部具有支撐柱孔，該支撐柱孔貫穿該外罩底部到達(dá)該承載座容置空間的底部，該支撐柱通過(guò)該支撐柱孔而承載與支撐該承載座與電路板。
8.如權(quán)利要求5所述的三軸磁力測(cè)試座，其特征在于該外罩頂部具有待測(cè)元件取放孔，該待測(cè)元件取放孔貫穿該外罩頂部到達(dá)該承載座容置空間的頂部，用以進(jìn)行待測(cè)元件的取放。
9.如權(quán)利要求5所述的三軸磁力測(cè)試座,其特征在于該外罩一側(cè)具有電路板延伸孔，該電路板延伸孔貫穿該外罩的一側(cè)到達(dá)該承載座容置空間的一側(cè)，用以供該電路板通過(guò)而與該測(cè)試機(jī)臺(tái)連接。
10.一種三軸磁力測(cè)試系統(tǒng),其特征在于包含:至少三軸磁力測(cè)試座，用以容置待測(cè)元件并提供不同軸向磁場(chǎng)的進(jìn)行測(cè)試，該三軸磁力測(cè)試座包含: 承載座，用以容置待測(cè)元件進(jìn)行磁力測(cè)試； 第一軸向線圈設(shè)置于該承載座中用以提供第一軸向的磁力； 固定裝置，用以容置該承載座并將該三軸磁力測(cè)試座固定于該測(cè)試機(jī)臺(tái)上； 一對(duì)第二軸向線圈，纏繞于該固定裝置上，用以提供第二軸向磁場(chǎng)； 一對(duì)第三軸向線圈，纏繞于該固定裝置上，用以提供第三軸向磁場(chǎng)； 電路板，設(shè)置于該承載座下方，用以做為該承載座與該測(cè)試機(jī)臺(tái)之間的電性連接； 檢選分類裝置，用以拾取與放置該放待測(cè)元件于該三軸磁力測(cè)試座進(jìn)行測(cè)試；以及 測(cè)試機(jī)臺(tái)，用以分別控制該三軸磁力測(cè)試座及該檢選分類裝置。
11.如權(quán)利要求10所述的三軸磁力測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于該承載座包含: 底座； 待測(cè)元件容置座，設(shè)置于該底座上并突出于該底座，用以容置待測(cè)元件； 該第一軸向線圈，纏繞于該待測(cè)元件容置座，用以對(duì)該待測(cè)元件容置座中放置的待測(cè)元件提供第一軸向磁場(chǎng)；以及 蓋板，覆蓋于該底座上，而將該待測(cè)元件容置座與該第一軸向線圈容置于該蓋板與該底座之間，該蓋板具有開(kāi)口，而該待測(cè)元件容置座借由該開(kāi)口而裸露出來(lái)。
12.如權(quán)利要求11所述的三軸磁力測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于該待測(cè)元件容置座包含: 容置頂座，該容置頂座上具有以容置待測(cè)元件的容置槽； 支撐底座，該支撐底座底部具有固定槽，借由將該固定槽套于該底座的該固定部上，而將該待測(cè)元件容置座套設(shè)于該底座上；以及 介于該支撐底座與該容置頂座之間的柱狀連結(jié)，用以連接該支撐底座與該容置頂座，該第一軸向線圈纏繞于該柱狀連結(jié)上。
13.如權(quán)利要求12所述的三軸磁力測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于該固定裝置包含: 固定座，用以將該三軸磁力測(cè)試座固定于該測(cè)試機(jī)臺(tái)上；以及 外罩，罩于該固定座上用以支撐或承載該第二軸向線圈與該第三軸線圈，并且該外罩內(nèi)部具有容置該承載座的承載座容置空間。
14.如權(quán)利要求13所述的三軸磁力測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于該外罩頂部具有待測(cè)元件取放孔，該待測(cè)元件取放孔貫穿該外罩頂部到達(dá)該承載座容置空間的頂部，用以進(jìn)行待測(cè)元件的取放。
15.如權(quán)利要求13所述的三軸磁力測(cè)試系統(tǒng),其特征在于該外罩一側(cè)具有電路板延伸孔，該電路板延伸孔貫穿該外罩的一側(cè)到達(dá)該承載座容置空間的一側(cè)，用以供該電路板通過(guò)而與該測(cè)試機(jī)臺(tái)連接。
16.如權(quán)利要求10所述的三軸磁力測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于該檢選分類裝置為轉(zhuǎn)盤式檢選分類裝置或直線式檢選分類裝置。
【文檔編號(hào)】G01R35/00GK103901381SQ201310035199
【公開(kāi)日】2014年7月2日 申請(qǐng)日期:2013年1月29日 優(yōu)先權(quán)日:2012年12月27日
【發(fā)明者】丁偉修, 林威成 申請(qǐng)人:京元電子股份有限公司