專利名稱：基于多愛潑斯坦方圈的電工鋼片比總損耗測量方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種基于多愛潑斯坦方圈的電工鋼片比總損耗測量方法，屬于電磁測量技術(shù)領(lǐng)域。
背景技術(shù)：
電工鋼片比總損耗測量的技術(shù)難點在于被測樣品采用雙搭接結(jié)構(gòu)構(gòu)成磁路，搭接部分磁路不均勻，因而等效磁路長度難于確定。雖然現(xiàn)行標準規(guī)定的25cm愛潑斯坦方圈能夠測量樣件的比總損耗，但由于其磁路長度規(guī)定為定值0.94m，使得被測樣品比總損耗不完全等同于樣品均勻區(qū)域的比總損耗，有一定的誤差，不能準確地得到被測樣品的均勻比總損耗。發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明目的是提供一種基于多愛潑斯坦方圈的電工鋼片比總損耗測量方法，采用二級加權(quán)平均法，將兩組方圈計 算得到的有效磁路長度做二級加權(quán)處理，得到不同磁密下對應(yīng)的不同的磁路長度；同時，可以根據(jù)測量結(jié)果更準確地計算出被測樣品均勻比總損耗，解決背景技術(shù)存在的上述問題。
本發(fā)明的技術(shù)方案是:基于多愛潑斯坦方圈的電工鋼片比總損耗測量方法，采用三種尺寸的愛潑斯坦(Epstein)方圈模型進行同一組被測電工鋼片樣品的總損耗測量；根據(jù)二級加權(quán)平均法，分別對兩組愛潑斯坦方圈進行有效磁路長度的求解計算，最終得到不同磁密下對應(yīng)的不同的磁路長度；同時，利用二級加權(quán)平均法實現(xiàn)比總損耗的計算，比背景技術(shù)用的單愛潑斯坦方圈和雙愛潑斯坦方圈的比總損耗測量更為準確。
所述的三種尺寸的愛潑斯坦方圈，長度分別為25cm、20cm及17.5cm三種尺寸的愛潑斯坦方圈。
更具體的測量方法: 被測電工鋼片樣品長度為L，在四個空心線圈內(nèi)搭接組成測試結(jié)構(gòu)，角部用砝碼壓緊，分別在三種尺寸的愛潑斯坦(Epstein)方圈上進行同一組樣品的總損耗測量，三個愛潑斯坦方圈長度尺寸分別為25cm、20cm及17.5cm ； 假設(shè)長度尺寸分別為25cm和20cm的兩個方圈總損耗的差值只與愛潑斯坦方圈鐵軛長度差有關(guān)，產(chǎn)生損耗差值的鐵軛區(qū)域為愛潑斯坦方圈鐵軛中段區(qū)域，假設(shè)這一區(qū)域的磁通密度分布和損耗分布是均勻的，每個被測電工鋼片樣品的有效測量區(qū)域長度差用表示；因此，兩個長度尺寸分別為25cm和20cm愛潑斯坦方圈的損耗差可以表示為:
權(quán)利要求
1.一種基于多愛潑斯坦方圈的電工鋼片比總損耗測量方法，其特征在于:采用三種尺寸的愛潑斯坦(Epstein)方圈模型進行同一組被測電工鋼片樣品的總損耗測量；根據(jù)二級加權(quán)平均法，分別對兩組愛潑斯坦方圈進行有效磁路長度的求解計算，最終得到不同磁密下對應(yīng)的不同的磁路長度；同時，利用二級加權(quán)平均法實現(xiàn)比總損耗的計算。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于多愛潑斯坦方圈的電工鋼片比總損耗測量方法，其特征在于:所述的三種尺寸的愛潑斯坦方圈，長度分別為25cm、20cm及17.5cm三種尺寸的愛潑斯坦方圈。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的基于多愛潑斯坦方圈的電工鋼片比總損耗測量方法，其特征在于更具體的測量方法: 被測電工鋼片樣品長度為L，在四個空心線圈內(nèi)搭接組成測試結(jié)構(gòu)，角部用砝碼壓緊，分別在三種尺寸的愛潑斯坦(Epstein)方圈上進行同一組樣品的總損耗測量，三個愛潑斯坦方圈長度尺寸分別為25cm、20cm及17.5cm ； 假設(shè)長度尺寸分別為25cm和20cm的兩個方圈總損耗的差值只與愛潑斯坦方圈鐵軛長度差有關(guān)，產(chǎn)生損耗差值的鐵軛區(qū)域為愛潑斯坦方圈鐵軛中段區(qū)域，假設(shè)這一區(qū)域的磁通密度分布和損耗分布是均勻的，每個被測電工鋼片樣品的有效測量區(qū)域長度差用表示；因此，兩個長度尺寸分別為25cm和20cm愛潑斯坦方圈的損耗差可以表示為:
全文摘要
本發(fā)明涉及一種基于多愛潑斯坦方圈的電工鋼片比總損耗測量方法，屬于電磁測量技術(shù)領(lǐng)域。技術(shù)方案是采用三種尺寸的愛潑斯坦(Epstein)方圈模型進行同一組被測電工鋼片樣品的總損耗測量；根據(jù)二級加權(quán)平均法，分別對兩組愛潑斯坦方圈進行有效磁路長度的求解計算，最終得到不同磁密下對應(yīng)的不同的磁路長度；同時，利用二級加權(quán)平均法實現(xiàn)比總損耗的計算。本發(fā)明的有益效果是除被測電工鋼片樣品外，其它構(gòu)件制作材料均為非鐵磁材料，排除了試件之外鐵磁材料對測量結(jié)果的影響；本發(fā)明可用于各種牌號電工鋼片比總損耗測量，用于愛潑斯坦(Epstein)方圈有效磁路長度、變壓器、電機類產(chǎn)品的損耗分析。
文檔編號G01R33/12GK103149544SQ201310072379
公開日2013年6月12日 申請日期2013年3月7日 優(yōu)先權(quán)日2013年3月7日
發(fā)明者范亞娜, 劉濤, 程志光, 王曉燕, 劉蘭榮, 趙志剛 申請人:保定天威集團有限公司