專利名稱：膠層厚度測量方法
技術領域：
本發(fā)明涉及測量方法技術領域，特別是在生產(chǎn)膠帶過程中測量膠層厚度的一種膠層厚度測量方法。
背景技術：
目前雙面膠帶的自動生產(chǎn)線一般采用以下方法生產(chǎn)膠帶，先讓離型紙或離型膜通過膠槽，使離型紙或離型膜的一面粘上膠層，然后再把帶膠層的離型紙或離型膜貼附在基材的一側(cè)，即可得到單面膠帶，通過相同的方法把基材的另一側(cè)也貼附上膠層，即可得到雙面膠帶。由于膠層的厚度直接影響膠帶的粘貼性能，因此在生產(chǎn)的過程中實時監(jiān)控離型紙或離型膜上的膠層的厚度顯得尤為重要。目前膠帶生產(chǎn)行業(yè)，測量膠層厚度的方法一般是采用割口測試的方法，即是在生產(chǎn)過程中，從帶膠的離型紙或離型膜的邊沿割出一小塊，然后進行厚度檢測，再把測得的厚度減去離型紙或離型膜的厚度，即可得到膠層的厚度。采用上述的方法雖然簡單，但存在以下問題，邊沿帶有割口的膠帶基材再給基材的另一面粘附膠帶時，割口過對邊機的時候，由于對邊機的測檢裝置檢測不到膠帶的邊沿，無法對邊，為強制對邊，設備會發(fā)出錯誤的指令，致使材料跑偏，從而使雙面膠打皺，造成良品率下降。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明為了解決目前雙面膠生產(chǎn)過程中由于采用割口檢測的方法，導致雙面膠打皺，造成良品率下降的問題，而提供的一種膠層厚度測量方法。為達到上述功 能，本發(fā)明提供的技術方案是:—種膠層厚度測量方法，所述測量方法包括以下步驟:(I)、取出部分原膜，把所述原膜裁剪為原膜片；(2)、把所述原膜片粘附于離型紙或離型膜帶膠表面；(3)、扯下所述原膜片，此時所述原膜片上粘有膠層，得到膠層原膜片；(4)、測量所述膠層原膜片的厚度，再減去所述原膜片的厚度，得到膠層厚度。優(yōu)選地，所述原膜為厚度為80um 120um的PET原膜。優(yōu)選地，所述原膜片的寬度為15mm 25mm,所述原膜片的長度為80mm 120mm。優(yōu)選地，所述PET原膜的厚度為lOOum。優(yōu)選地，所述原膜片的寬度為20mm，所述原膜片的長度為100mm。本發(fā)明的有益效果在于:一種膠層厚度測量方法，通過從原膜上裁剪出原膜片再把所述原膜片，粘附于離型紙或離型膜帶膠表面，接著扯下所述原膜片，此時所述原膜片上粘有膠層，得到膠層原膜片，再測量所述膠層原膜片的厚度，再減去所述原膜片的厚度，即可得到膠層厚度，本發(fā)明的測量方法，適用于隨機檢測，在檢測過程中不需停機，且由于不需要采用傳統(tǒng)的割口的方法，因此可有效防止材料跑偏，導致雙面膠打皺的問題，有效提高了工作效率和產(chǎn)品的成品率。
具體實施例方式本實施例的膠層厚度測量方法，包括以下步驟:(I)、取出部分厚度為IOOum的PET原膜，把所述PET裁剪為原膜片，原膜片的寬度為20mm,原膜片的長度為IOOmm ；(2)、把原膜片粘附于離型紙或離型膜帶膠表面；(3)、扯下原膜片，此時原膜片上粘有膠層，得到膠層原膜片；(4)、測量膠層原膜片的厚度，再減去原膜片的厚度，得到膠層厚度。在實際使用過程中，PET原膜可以采用生產(chǎn)過程中產(chǎn)生的PET原膜邊角料即可，且厚度為IOOum的PET原膜只是本實施例所采用的一種，我們可以跟據(jù)當時的生產(chǎn)實際情況，采用其它種類和厚度規(guī)格的原膜，實驗表明，采用厚度為80um 120um的原膜，測量效果較佳。原膜片的規(guī)格，我們也可以跟據(jù)需要進行裁剪，只要能帶出膠層，且方便測量即可，一般原膜片的寬度為15mm 25mm,長度為80mm 120mm時，使用起來較為方便。以上所述實施例，只是本發(fā)明的較佳實例，并非來限制本發(fā)明的實施范圍，故凡依本發(fā)明申請專利范圍所述的構造、特征及原理所做的等效變化或修飾，均應包括于本發(fā)明專利申請范圍內(nèi)。
權利要求
1.一種膠層厚度測量方法，其特征在于:所述測量方法包括以下步驟: (1)、取出部分原膜，把所述原膜裁剪為原膜片； (2)、把所述原膜片粘附于離型紙或離型膜帶膠表面； (3)、扯下所述原膜片，此時所述原膜片上粘有膠層，得到膠層原膜片； (4)、測量所述膠層原膜片的厚度，再減去所述原膜片的厚度，得到膠層厚度。
2.如權利要求1所述的膠層厚度測量方法，其特征在于:所述原膜為厚度為80um 120um的PET原膜。
3.如權利要求1所述的膠層厚度測量方法，其特征在于:所述原膜片的寬度為15mm 25mm,所述原膜片的長度為80mm 120mm。
4.如權利要求2所述的膠層厚度測量方法，其特征在于:所述PET原膜的厚度為lOOum。
5.如權利要求3所述的膠層厚度測量方法，其特征在于:所述原膜片的寬度為20mm，所述原膜片的長度為100mm。
全文摘要
本發(fā)明涉及測量方法技術領域，特別是在生產(chǎn)膠帶過程中測量膠層厚度的一種膠層厚度測量方法；通過從原膜上裁剪出原膜片再把所述原膜片，粘附于離型紙或離型膜帶膠表面，接著扯下所述原膜片，此時所述原膜片上粘有膠層，得到膠層原膜片，再測量所述膠層原膜片的厚度，再減去所述原膜片的厚度，即可得到膠層厚度，本發(fā)明的測量方法，適用于隨機檢測，在檢測過程中不需停機，且由于不需要采用傳統(tǒng)的割口的方法，因此可有效防止材料跑偏，導致雙面膠打皺的問題，有效提高了工作效率和產(chǎn)品的成品率。
文檔編號G01B21/08GK103217137SQ20131010975
公開日2013年7月24日 申請日期2013年3月29日 優(yōu)先權日2013年3月29日
發(fā)明者李禹 申請人:東莞市三文光電技術有限公司