用于電子羅盤(pán)的校正方法
【專(zhuān)利摘要】本發(fā)明公開(kāi)了一種用于一電子羅盤(pán)的校正方法，該電子羅盤(pán)包含有多個(gè)磁力傳感器，該多個(gè)磁力傳感器分別對(duì)應(yīng)于一感測(cè)圓，該校正方法包含有利用該多個(gè)磁力傳感器分別于不同時(shí)間點(diǎn)偵測(cè)出多個(gè)第一時(shí)間點(diǎn)坐標(biāo)與多個(gè)第二時(shí)間點(diǎn)坐標(biāo)；以及根據(jù)多個(gè)第一時(shí)間點(diǎn)坐標(biāo)與多個(gè)第二時(shí)間點(diǎn)坐標(biāo)，分別計(jì)算出該多個(gè)磁力傳感器的相應(yīng)感測(cè)圓與一坐標(biāo)原點(diǎn)的幾何關(guān)系，并據(jù)以對(duì)該多個(gè)磁力傳感器進(jìn)行校正，借此，讓電子羅盤(pán)得以克服外界干擾所產(chǎn)生的誤差問(wèn)題。
【專(zhuān)利說(shuō)明】
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001] 本發(fā)明涉及一種用于電子羅盤(pán)的校正方法，特別是涉及一種可簡(jiǎn)單且快速地校正 電子羅盤(pán)的校正方法。 用于電子羅盤(pán)的校正方法

【背景技術(shù)】
[0002] 電子羅盤(pán)（Electronic Compass)技術(shù)主要是利用磁力傳感器來(lái)偵測(cè)地球磁場(chǎng)以 獲得所需的方位信息。由于磁場(chǎng)容易受到外界磁場(chǎng)干擾而產(chǎn)生硬鐵/軟鐵干擾效應(yīng)（Hard/ Soft Iron Effect),在使用前必須對(duì)電子羅盤(pán)進(jìn)行校準(zhǔn)程序（calibration process),以 取得精確的方位值。
[0003] 舉例來(lái)說(shuō)，請(qǐng)參閱圖1，圖1為磁力傳感器的對(duì)應(yīng)感測(cè)圓的示意圖。其中，MR_ideal 為理想的磁力傳感器（Magnetic Sensor)所對(duì)應(yīng)的感測(cè)圓，0為理想磁力傳感器所對(duì)應(yīng)的 感測(cè)圓圓心。MR1與MR2分別為第一磁力傳感器與第二磁力傳感器所對(duì)應(yīng)的感測(cè)圓，0_MR1 與0_MR2分別為第一磁力傳感器與第二磁力傳感器所對(duì)應(yīng)的感測(cè)圓圓心。前述的感測(cè)圖為 磁力傳感器沿對(duì)應(yīng)參考磁軸的圓周轉(zhuǎn)動(dòng)過(guò)程中在二維平面的投影軌跡。也就相當(dāng)于傳感器 旋轉(zhuǎn)一圈（360度）所測(cè)量出的數(shù)據(jù)分布。如圖1所示，在沒(méi)有干擾的情況下，感測(cè)圓MR_ ideal是一個(gè)以坐標(biāo)原點(diǎn)（0,0)為中心的圓。當(dāng)存在外界磁場(chǎng)干擾時(shí)，第一磁力傳感器與第 二磁力傳感器所對(duì)應(yīng)的感測(cè)圓圓心〇_MRl與0_MR2往往會(huì)偏離坐標(biāo)原點(diǎn)。因此在電子羅盤(pán) 校準(zhǔn)的程序中，必須找出各個(gè)磁力傳感器的感測(cè)圓圓心位置所在，進(jìn)而計(jì)算各感測(cè)圓圓心 與理想磁力傳感器的感測(cè)圓圓心（坐標(biāo)原點(diǎn)）之間的差距來(lái)做為校準(zhǔn)設(shè)定的基準(zhǔn)，使各個(gè) 磁力傳感器得以正常使用。
[0004] 現(xiàn)有技術(shù)中通常是對(duì)電子羅盤(pán)進(jìn)行特定旋轉(zhuǎn)或翻轉(zhuǎn)方式操作(例如畫(huà)8字操作)， 估算出相應(yīng)感測(cè)圓的圓心坐標(biāo)。然而，這種近似圓估算方式通常需要采集到大量的感測(cè)點(diǎn) 坐標(biāo)，且對(duì)于汽車(chē)、船舶等大型載具來(lái)說(shuō)，要使其所配備的電子羅盤(pán)進(jìn)行某些特定旋轉(zhuǎn)或翻 轉(zhuǎn)的操作時(shí)往往會(huì)受限于載具本身的限制而無(wú)法確實(shí)執(zhí)行。因此，如何能簡(jiǎn)單且快速實(shí)現(xiàn) 電子羅盤(pán)的校正程序?qū)⑹悄壳柏叫柩芯堪l(fā)展的課題之一。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0005] 有鑒于此，本發(fā)明提供一種可簡(jiǎn)單且快速地校正電子羅盤(pán)的校正方法，其能通過(guò) 磁力傳感器偵測(cè)不同時(shí)間點(diǎn)的感測(cè)坐標(biāo)并通過(guò)簡(jiǎn)單的運(yùn)算程序以及各磁力傳感器間的幾 何關(guān)系作為校準(zhǔn)補(bǔ)償?shù)幕鶞?zhǔn)。
[0006] 依據(jù)本發(fā)明的一實(shí)施例，其提供一種用于一電子羅盤(pán)的校正方法，該電子羅盤(pán)包 含有多個(gè)磁力傳感器，該多個(gè)磁力傳感器分別對(duì)應(yīng)于一感測(cè)圓，該校正方法包含有利用該 多個(gè)磁力傳感器分別于不同時(shí)間點(diǎn)偵測(cè)出多個(gè)第一時(shí)間點(diǎn)坐標(biāo)與多個(gè)第二時(shí)間點(diǎn)坐標(biāo)；以 及根據(jù)多個(gè)第一時(shí)間點(diǎn)坐標(biāo)與多個(gè)第二時(shí)間點(diǎn)坐標(biāo)，分別計(jì)算出該多個(gè)磁力傳感器的相應(yīng) 感測(cè)圓與坐標(biāo)原點(diǎn)的幾何關(guān)系，并據(jù)以對(duì)該多個(gè)磁力傳感器進(jìn)行校正，借此，讓電子羅盤(pán)得 以克服外界干擾所產(chǎn)生的誤差問(wèn)題。
[0007] 依據(jù)本發(fā)明的一實(shí)施例，其提供一種用于一電子羅盤(pán)的校正方法，其中該電子羅 盤(pán)包含有一第一磁力傳感器，對(duì)應(yīng)于一第一參考磁軸，以及一第二磁力傳感器，對(duì)應(yīng)于一第 二參考磁軸，該第一參考磁軸與該第二參考磁軸間包含一夾角，該校正方法包含有利用該 第一磁力傳感器偵測(cè)出一第一偏移角，并利用該第二磁力傳感器偵測(cè)出一第二偏移角；以 及根據(jù)該第一偏移角與該第二偏移角，產(chǎn)生一校正補(bǔ)償值，借以對(duì)該電子羅盤(pán)進(jìn)行校正補(bǔ) 償。
[0008] 根據(jù)上述技術(shù)方案，本發(fā)明相較于現(xiàn)有技術(shù)至少具有下列優(yōu)點(diǎn)及有益效果：本發(fā) 明僅需使用少量的感測(cè)坐標(biāo)值并通過(guò)簡(jiǎn)單的運(yùn)算程序即可計(jì)算各磁力傳感器的對(duì)應(yīng)感測(cè) 圓與坐標(biāo)原點(diǎn)的幾何關(guān)系來(lái)提供校準(zhǔn)補(bǔ)償，如此一來(lái)，將能簡(jiǎn)單快速而有效率的實(shí)現(xiàn)電子 羅盤(pán)的校正。同時(shí)，于開(kāi)機(jī)初始化時(shí)電子羅盤(pán)也不須旋轉(zhuǎn)、翻轉(zhuǎn)等大動(dòng)作的校正程序來(lái)取得 大量感測(cè)點(diǎn)坐標(biāo)數(shù)據(jù)，即可達(dá)到校正功能確保量測(cè)方位的準(zhǔn)確性。
[0009] 關(guān)于本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn)與精神可以借由以下的發(fā)明詳述及所附圖得到進(jìn)一步的了解。

【專(zhuān)利附圖】

【附圖說(shuō)明】
[0010] 圖1是磁力傳感器所對(duì)應(yīng)感測(cè)圓的示意圖。
[0011] 圖2是本發(fā)明實(shí)施例的電子羅盤(pán)的示意圖。
[0012] 圖3是本發(fā)明實(shí)施例用于電子羅盤(pán)的一流程示意圖。
[0013] 圖4是本發(fā)明實(shí)施例用于電子羅盤(pán)的另一流程示意圖。
[0014] 圖5是本發(fā)明實(shí)施例用于電子羅盤(pán)的再一流程不意圖。
[0015] 其中，附圖標(biāo)記說(shuō)明如下：
[0016] 20 電子羅盤(pán)
[0017] 200 基板
[0018] 202,204 磁力傳感器
[0019] 30、40、50 流程
[0020] 300 ?306、400 ?410、500 ?506 步驟
[0021] MR_ideal、MRl、MR2 感測(cè)圓
[0022] 0、0_MR1、0_MR2 圓心
[0023] X、xl、x2、y、yl、y2、zl、z2 坐標(biāo)軸

【具體實(shí)施方式】
[0024] 請(qǐng)參閱圖2,圖2是本發(fā)明實(shí)施例的一電子羅盤(pán)20的示意圖。電子羅盤(pán)20包含有 一基板200、磁力傳感器202、204。其中，磁力傳感器202、204設(shè)置于基板200上，用來(lái)偵測(cè) 地球磁場(chǎng)的強(qiáng)度并據(jù)以運(yùn)算出相應(yīng)的感測(cè)位置與偏移角度，以取得方位信息。基板200可 視應(yīng)用的情況來(lái)做設(shè)置，例如其可設(shè)置于可攜式電子裝置上或是車(chē)輛載具上。關(guān)于磁力傳 感器202、204的設(shè)置，由于磁力傳感器202、204會(huì)分別對(duì)應(yīng)一參考磁軸，因此可將磁力傳感 器設(shè)置于基板上使得各參考磁軸間包含有一夾角。例如，可將磁力傳感器202、204設(shè)置于 基板200上使得對(duì)應(yīng)于磁力傳感器202的一第一參考磁軸與對(duì)應(yīng)于磁力傳感器204的一第 二參考磁軸間包含有一夾角。例如，可使該第一參考磁軸與該第二參考磁軸間的夾角為180 度或是任何其它角度。
[0025] 進(jìn)一步地，囿于使用環(huán)境的影響，各磁力傳感器所感測(cè)出的磁場(chǎng)強(qiáng)度大小與感測(cè) 位置可能會(huì)存有不同的誤差情況，在此情況下，各磁力傳感器會(huì)對(duì)應(yīng)于一感測(cè)圓。舉例來(lái) 說(shuō)，磁力傳感器202會(huì)對(duì)應(yīng)于一第一感測(cè)圓，磁力傳感器202會(huì)對(duì)應(yīng)于一第二感測(cè)圓，依此 類(lèi)推。由于存在誤差的情況，因此該些對(duì)應(yīng)感測(cè)圓可能會(huì)偏離一理想感測(cè)圓。為了解決電 子羅盤(pán)20受到外界磁場(chǎng)干擾所產(chǎn)生的誤差，在開(kāi)始使用電子羅盤(pán)20之前必須通過(guò)找出磁 力傳感器202、204其各自對(duì)應(yīng)感測(cè)圓的圓心坐標(biāo)，再利用圓心坐標(biāo)與理想磁力傳感器所對(duì) 應(yīng)感測(cè)圓的圓心坐標(biāo)（即坐標(biāo)原點(diǎn)）之間的幾何偏差關(guān)系來(lái)進(jìn)行校準(zhǔn)，以取得更精確的方位 信息。關(guān)于計(jì)算磁力傳感器的對(duì)應(yīng)感測(cè)圓與理想感測(cè)圓的幾何關(guān)系的相關(guān)細(xì)節(jié)進(jìn)一步說(shuō)明 如下。
[0026] 關(guān)于計(jì)算磁力傳感器的對(duì)應(yīng)感測(cè)圓圓心坐標(biāo)與坐標(biāo)原點(diǎn)的幾何關(guān)系以進(jìn)行校正 的方式，可歸納為一流程30。請(qǐng)參考圖3,流程30包含以下步驟 ：
[0027] 步驟300:開(kāi)始。
[0028] 步驟302 :利用多個(gè)磁力傳感器分別于不同時(shí)間點(diǎn)偵測(cè)出多個(gè)第一時(shí)間點(diǎn)坐標(biāo)與 多個(gè)第二時(shí)間點(diǎn)坐標(biāo)。
[0029] 步驟304 :根據(jù)多個(gè)第一時(shí)間點(diǎn)坐標(biāo)與多個(gè)第二時(shí)間點(diǎn)坐標(biāo)，分別計(jì)算出多個(gè)磁 力傳感器的相應(yīng)感測(cè)圓與坐標(biāo)原點(diǎn)的幾何關(guān)系，并據(jù)以對(duì)多個(gè)磁力傳感器進(jìn)行校正。
[0030] 步驟306:結(jié)束。
[0031] 根據(jù)流程30,利用多個(gè)磁力傳感器分別于不同時(shí)間點(diǎn)偵測(cè)出相應(yīng)第一時(shí)間點(diǎn)坐標(biāo) 與相應(yīng)第二時(shí)間點(diǎn)坐標(biāo)。接著，根據(jù)偵測(cè)出的相應(yīng)第一時(shí)間點(diǎn)坐標(biāo)與相應(yīng)多個(gè)第二時(shí)間點(diǎn) 坐標(biāo)，分別計(jì)算出各磁力傳感器的相應(yīng)感測(cè)圓與坐標(biāo)原點(diǎn)的幾何關(guān)系，再據(jù)以對(duì)各個(gè)磁力 傳感器進(jìn)行校正。換言之，僅需使用磁力傳感器偵測(cè)不同時(shí)間點(diǎn)的感測(cè)坐標(biāo)，再通過(guò)簡(jiǎn)單的 運(yùn)算程序即可計(jì)算相應(yīng)感測(cè)圓與理想感測(cè)圓（即坐標(biāo)原點(diǎn)）的幾何關(guān)系來(lái)提供校準(zhǔn)補(bǔ)償，如 此一來(lái)，將能簡(jiǎn)單快速而有效率的實(shí)現(xiàn)電子羅盤(pán)的校正。
[0032] 進(jìn)一步說(shuō)明，在步驟302中，可利用磁力傳感器202分別于不同時(shí)間點(diǎn)偵測(cè)出第一 坐標(biāo)與第二坐標(biāo)，并利用磁力傳感器204分別于不同時(shí)間點(diǎn)偵測(cè)出第三坐標(biāo)與第四坐標(biāo)。 其中所述的坐標(biāo)是對(duì)應(yīng)于某一時(shí)間點(diǎn)時(shí)該相應(yīng)磁力傳感器的感測(cè)位置。例如，于時(shí)間點(diǎn)T1， 通過(guò)磁力傳感器202偵測(cè)出一第一坐標(biāo)（Xl_tl，Yl_tl)。于時(shí)間點(diǎn)T2,通過(guò)磁力傳感器202 偵測(cè)出一第二坐標(biāo)（Xl_t2，Yl_t2)。同樣地，于時(shí)間點(diǎn)T1，通過(guò)磁力傳感器204偵測(cè)出一第 三坐標(biāo)（X2_tl，Y2_tl)。于時(shí)間點(diǎn)T2,通過(guò)磁力傳感器204偵測(cè)出一第四坐標(biāo)（X2_t2, Y2_ t2)。也就是說(shuō)，在步驟302中，可利用各磁力傳感器于不同時(shí)間點(diǎn)偵測(cè)出其相應(yīng)的位置坐 標(biāo)以供后續(xù)運(yùn)算。此外，各磁力傳感器可于電子羅盤(pán)20進(jìn)行非直線運(yùn)動(dòng)時(shí)偵測(cè)前述的坐標(biāo) 位置，如此一來(lái)，通過(guò)轉(zhuǎn)向的變化將可更進(jìn)一步增加校正的精確度。
[0033] 在步驟304中，可根據(jù)于時(shí)間點(diǎn)ΤΙ、T2所偵測(cè)出的相應(yīng)坐標(biāo)值來(lái)計(jì)算出各磁力傳 感器的相應(yīng)感測(cè)圓與坐標(biāo)原點(diǎn)間的幾何關(guān)系并據(jù)以對(duì)各個(gè)磁力傳感器進(jìn)行校正。舉例來(lái) 說(shuō)，請(qǐng)參考圖4,圖4為圖3中的步驟304的一變化實(shí)施例。要注意的是，若是有實(shí)質(zhì)上相同 的結(jié)果，本發(fā)明不以圖3所示流程圖的順序?yàn)橄蕖Ａ鞒?0包含以下步驟：
[0034] 步驟400:開(kāi)始。
[0035] 步驟402 :計(jì)算第一坐標(biāo)與第二坐標(biāo)的坐標(biāo)差值以決定出第一參考坐標(biāo)，以及計(jì) 算第三坐標(biāo)與第四坐標(biāo)的坐標(biāo)差值以決定出第二參考坐標(biāo)。
[0036] 步驟404 :根據(jù)第一參考坐標(biāo)與第二參考坐標(biāo)計(jì)算出基準(zhǔn)直線。
[0037] 步驟406 :根據(jù)第一坐標(biāo)與第三坐標(biāo)計(jì)算出感測(cè)圓半徑。
[0038] 步驟408 :根據(jù)第二坐標(biāo)、基準(zhǔn)直線與感測(cè)圓半徑?jīng)Q定出第一校正值，以對(duì)第一磁 力傳感器進(jìn)行校正，以及根據(jù)第四坐標(biāo)、基準(zhǔn)直線與感測(cè)圓半徑?jīng)Q定出第二校正值，以對(duì)第 二磁力傳感器進(jìn)行校正。
[0039] 步驟410:結(jié)束。
[0040] 在步驟402中，通過(guò)計(jì)算第一坐標(biāo)與第二坐標(biāo)的坐標(biāo)差值來(lái)決定出一第一參考坐 標(biāo)（Xl_ref，Yl_ref)，并通過(guò)計(jì)算第三坐標(biāo)與第四坐標(biāo)的坐標(biāo)差值來(lái)決定出一第二參考坐 標(biāo)（X2_ref，Y2_ref)，即 Xl_ref=Xl_t2 - Xl_tl，Yl_ref=Yl_t2 - Yl_tl，X2_ref=X2_t2 - X2_tl, Y2_ref=Y2_t2 - Y2_tl〇
[0041] 進(jìn)一步說(shuō)明，在步驟402中，由于第一參考坐標(biāo)（Xl_ref，Yl_ref )等于時(shí)間點(diǎn)T1的 第一坐標(biāo)與時(shí)間點(diǎn)T2的第二坐標(biāo)的坐標(biāo)差值，對(duì)于磁力傳感器202而言，這也相當(dāng)于其所 對(duì)應(yīng)的第一感測(cè)圓在水平方向平移了 Xl_tl的距離，在垂直方向平移了 Yl_tl的距離平移。 在此情況下，原先第一坐標(biāo)的感測(cè)點(diǎn)所在位置也就順應(yīng)著平移至原點(diǎn)（〇, 〇)的位置，同時(shí)原 先第二坐標(biāo)感測(cè)點(diǎn)所在位置也就順應(yīng)著平移至第一參考坐標(biāo)（Xl_ref，Yl_ref)的位置。同 理，原先第三坐標(biāo)的感測(cè)點(diǎn)所在位置也就順應(yīng)著平移至坐標(biāo)原點(diǎn)（〇, 〇)的位置，同時(shí)原先第 四坐標(biāo)所在位置也就順應(yīng)著平移至第二參考坐標(biāo)（X2_ref，Y2_ref)的位置。換言之，通過(guò) 步驟402的運(yùn)算后，原先對(duì)應(yīng)于第一感測(cè)圓的第一坐標(biāo)的位置與對(duì)應(yīng)于第二感測(cè)圓的第三 坐標(biāo)的位置相當(dāng)于會(huì)被平移至坐標(biāo)原點(diǎn)。而原先對(duì)應(yīng)于第一感測(cè)圓的第二坐標(biāo)的位置與對(duì) 應(yīng)于第二感測(cè)圓的第四坐標(biāo)的位置也分別會(huì)被平移至第一參考坐標(biāo)（Xl_ref，Yl_ref)與第 二參考坐標(biāo)（X2_ref，Y2_ref)的位置。
[0042] 在步驟404中，根據(jù)第一參考坐標(biāo)與第二參考坐標(biāo)計(jì)算出一基準(zhǔn)直線S的斜率m， 可由式⑴來(lái)運(yùn)算得到：
[0043]

【權(quán)利要求】
1. 一種用于一電子羅盤(pán)的校正方法，該電子羅盤(pán)包含有多個(gè)磁力傳感器，該多個(gè)磁力 傳感器分別對(duì)應(yīng)于一感測(cè)圓，該校正方法包含有： 利用該多個(gè)磁力傳感器分別于不同時(shí)間點(diǎn)偵測(cè)出多個(gè)第一時(shí)間點(diǎn)坐標(biāo)與多個(gè)第二時(shí) 間點(diǎn)坐標(biāo)；以及 根據(jù)多個(gè)第一時(shí)間點(diǎn)坐標(biāo)與多個(gè)第二時(shí)間點(diǎn)坐標(biāo)，分別計(jì)算出該多個(gè)磁力傳感器的相 應(yīng)感測(cè)圓與一坐標(biāo)原點(diǎn)的幾何關(guān)系，并據(jù)以對(duì)該多個(gè)磁力傳感器進(jìn)行校正。
2. 如權(quán)利要求1所述的校正方法，其特征在于，偵測(cè)出多個(gè)第一時(shí)間點(diǎn)坐標(biāo)與多個(gè)第 二時(shí)間點(diǎn)坐標(biāo)的步驟包含有： 利用該多個(gè)磁力傳感器的一第一磁力傳感器分別于不同時(shí)間點(diǎn)偵測(cè)出一第一坐標(biāo)與 一第二坐標(biāo)，并利用該多個(gè)磁力傳感器的一第二磁力傳感器分別于不同時(shí)間點(diǎn)偵測(cè)出一第 三坐標(biāo)與一第四坐標(biāo)，該第一磁力傳感器對(duì)應(yīng)于一第一感測(cè)圓及該第二磁力傳感器對(duì)應(yīng)于 一第二感測(cè)圓。
3. 如權(quán)利要求2所述的校正方法，其特征在于，偵測(cè)出該第一坐標(biāo)與該第二坐標(biāo)并利 用該第二磁力傳感器分別于不同時(shí)間點(diǎn)偵測(cè)出該第三坐標(biāo)與該第四坐標(biāo)的步驟包含有： 于一第一時(shí)間點(diǎn)利用該第一磁力傳感器偵測(cè)出該第一坐標(biāo)，以及于一第二時(shí)間點(diǎn)利用 該第一磁力傳感器偵測(cè)出該第二坐標(biāo)；以及 于該第一時(shí)間點(diǎn)利用該第二磁力傳感器偵測(cè)出該第三坐標(biāo)，以及于該第二時(shí)間點(diǎn)利用 該第二磁力傳感器偵測(cè)出該第四坐標(biāo)。
4. 如權(quán)利要求2所述的校正方法，其特征在于，分別計(jì)算出該多個(gè)磁力傳感器的相應(yīng) 感測(cè)圓與該坐標(biāo)原點(diǎn)的幾何關(guān)系并據(jù)以對(duì)該多個(gè)磁力傳感器進(jìn)行校正的步驟包含： 計(jì)算該第一坐標(biāo)與該第二坐標(biāo)的坐標(biāo)差值，以決定出一第一參考坐標(biāo)，以及計(jì)算該第 三坐標(biāo)與該第四坐標(biāo)的坐標(biāo)差值，以決定出一第二參考坐標(biāo)； 根據(jù)該第一參考坐標(biāo)與該第二參考坐標(biāo)，計(jì)算出一基準(zhǔn)直線； 根據(jù)該第一坐標(biāo)與該第三坐標(biāo)，計(jì)算出一感測(cè)圓半徑；以及 根據(jù)該第二坐標(biāo)、該基準(zhǔn)直線與該感測(cè)圓半徑，決定出一第一校正值，以對(duì)該第一磁 力傳感器進(jìn)行校正，以及根據(jù)該第四坐標(biāo)、該基準(zhǔn)直線與該感測(cè)圓半徑，決定出一第二校正 值，以對(duì)該第二磁力傳感器進(jìn)行校正。
5. 如權(quán)利要求4所述的校正方法，其特征在于，決定出該第一參考坐標(biāo)以及決定出該 第二參考坐標(biāo)的步驟包含有： 計(jì)算該第一坐標(biāo)的水平坐標(biāo)值與該第二坐標(biāo)的水平坐標(biāo)值的差值，以取得該第一參 考坐標(biāo)的水平坐標(biāo)值，以及計(jì)算該第一坐標(biāo)的垂直坐標(biāo)值與該第二坐標(biāo)的垂直坐標(biāo)值的差 值，以取得該第一參考坐標(biāo)的垂直坐標(biāo)值；以及 計(jì)算該第三坐標(biāo)的水平坐標(biāo)值與該第四坐標(biāo)的水平坐標(biāo)值的差值，以取得該第二參 考坐標(biāo)的水平坐標(biāo)值，以及計(jì)算該第三坐標(biāo)的垂直坐標(biāo)值與該第四坐標(biāo)的垂直坐標(biāo)值的差 值，以取得該第二參考坐標(biāo)的垂直坐標(biāo)值。
6. 如權(quán)利要求4所述的校正方法，其特征在于，計(jì)算出該基準(zhǔn)直線的步驟包含有： 計(jì)算該第一參考坐標(biāo)與該第二參考坐標(biāo)的坐標(biāo)差值，以決定出該基準(zhǔn)直線的一斜率； 以及 根據(jù)該第一參考坐標(biāo)、該第二參考坐標(biāo)與該斜率，決定出該基準(zhǔn)直線，其中該基準(zhǔn)直線 通過(guò)該第一參考坐標(biāo)及該第二參考坐標(biāo)。
7. 如權(quán)利要求6所述的校正方法，其特征在于，該基準(zhǔn)直線的該斜率等于該第一參考 坐標(biāo)的水平坐標(biāo)值與該第二參考坐標(biāo)的水平坐標(biāo)值的差值除以該第一參考坐標(biāo)的垂直坐 標(biāo)值與該第二參考坐標(biāo)的垂直坐標(biāo)值的差值。
8. 如權(quán)利要求4所述的校正方法，其特征在于，該感測(cè)圓半徑等于該第一坐標(biāo)與該第 三坐標(biāo)之間的距離的二分之一。
9. 如權(quán)利要求4所述的校正方法，其特征在于，決定出該第一校正值以及決定出該第 二校正值的步驟包含有： 計(jì)算出通過(guò)該第二坐標(biāo)且對(duì)應(yīng)于該基準(zhǔn)直線的一第一法線； 根據(jù)該第二坐標(biāo)與該感測(cè)圓半徑，沿該第一法線求出一第一參考感測(cè)圓心坐標(biāo)，其中 該第二坐標(biāo)與該第一參考感測(cè)圓心坐標(biāo)間的距離等于該感測(cè)圓半徑的長(zhǎng)度； 計(jì)算出通過(guò)該第四坐標(biāo)且對(duì)應(yīng)于該基準(zhǔn)直線的一第二法線； 根據(jù)該第四坐標(biāo)與該感測(cè)圓半徑，沿該第二法線求出一第二參考感測(cè)圓心坐標(biāo)，其中 該第四坐標(biāo)與該第二參考感測(cè)圓心坐標(biāo)間的距離等于該感測(cè)圓半徑的長(zhǎng)度；以及 計(jì)算該第一參考感測(cè)圓心坐標(biāo)與該第一坐標(biāo)的坐標(biāo)值的和值，以決定出該校正值，以 及計(jì)算該第二參考感測(cè)圓心坐標(biāo)與該第四坐標(biāo)的坐標(biāo)值的和值，以決定出該校正值。
10. 如權(quán)利要求1所述的校正方法，其特征在于，該多個(gè)磁力傳感器的一第一磁力傳感 器對(duì)應(yīng)于一第一參考磁軸，以及該多個(gè)磁力傳感器的一第二磁力傳感器對(duì)應(yīng)于一第二參考 磁軸，該第一參考磁軸與該第二參考磁軸間包含一夾角。
11. 如權(quán)利要求10所述的校正方法，其特征在于，該夾角為180度。
12. 如權(quán)利要求1所述的校正方法，其另包含偵測(cè)該多個(gè)磁力傳感器是否處于水平狀 態(tài)。
13. -種用于一電子羅盤(pán)的校正方法，其中該電子羅盤(pán)包含有一第一磁力傳感器，對(duì)應(yīng) 于一第一參考磁軸，以及一第二磁力傳感器，對(duì)應(yīng)于一第二參考磁軸，該第一參考磁軸與該 第二參考磁軸間包含一夾角，該校正方法包含有 ： 利用該第一磁力傳感器偵測(cè)出一第一偏移角，并利用該第二磁力傳感器偵測(cè)出一第二 偏移角；以及 根據(jù)該第一偏移角與該第二偏移角，產(chǎn)生一校正補(bǔ)償值，借以對(duì)該電子羅盤(pán)進(jìn)行校正 補(bǔ)償。
14. 如權(quán)利要求13所述的校正方法，產(chǎn)生該校正補(bǔ)償值借以對(duì)該電子羅盤(pán)進(jìn)行校正補(bǔ) 償?shù)牟襟E包含于該第一偏移角與該第二偏移角的角度總和異于該夾角時(shí)，產(chǎn)生該校正補(bǔ)償 值，借以對(duì)該電子羅盤(pán)進(jìn)行校正補(bǔ)償。
15. 如權(quán)利要求13所述的校正方法，其特征在于該夾角為180度。
【文檔編號(hào)】G01C17/38GK104101337SQ201310127889
【公開(kāi)日】2014年10月15日 申請(qǐng)日期:2013年4月12日 優(yōu)先權(quán)日:2013年4月12日
【發(fā)明者】陳哲明, 余家杰 申請(qǐng)人:臺(tái)灣廣登電子股份有限公司