具有常溫檢測(cè)與高溫檢測(cè)雙夾具的巴條測(cè)試系統(tǒng)的制作方法
【專利摘要】本發(fā)明涉及一種巴條測(cè)試系統(tǒng)。一種具有常溫檢測(cè)與高溫檢測(cè)雙夾具的巴條測(cè)試系統(tǒng),包括常溫巴條夾具(4)和巴條電性能檢測(cè)設(shè)備(9),還設(shè)有一高溫巴條夾具(5)和常溫巴條夾具(4)安裝在同一工作臺(tái)上。上料機(jī)械手(1)安裝在安裝底座(7)的一側(cè),上料機(jī)械手(1)旁邊是巴條自動(dòng)排列機(jī)構(gòu)(2),取料機(jī)械手(3)安裝在安裝底座(7)的另一側(cè),取料機(jī)械手(3)旁邊設(shè)有巴條房子臺(tái)(6),常溫巴條夾具(4)和高溫巴條夾具(5)位于上料機(jī)械手(1)和取料機(jī)械手(3)之間的工作區(qū)域內(nèi)。本發(fā)明采用常溫夾具與高溫夾具分開設(shè)置,當(dāng)巴條完成常溫測(cè)試后,上料機(jī)械手將巴條放置到高溫夾具上,可立即進(jìn)行高溫測(cè)試,大大的節(jié)省了測(cè)試耗時(shí)。
【專利說(shuō)明】
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001] 本發(fā)明涉及一種具有常溫檢測(cè)與高溫檢測(cè)雙夾具的綜合巴條全自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng),屬 于光電機(jī)一體化【技術(shù)領(lǐng)域】,特別涉及光電子精密器件自動(dòng)化測(cè)試技術(shù)。 具有常溫檢測(cè)與高溫檢測(cè)雙夾具的巴條測(cè)試系統(tǒng)
【背景技術(shù)】
[0002] 光信息技術(shù)的發(fā)展推動(dòng)著通信事業(yè)的進(jìn)步,隨著光纖通信和光纖傳感技術(shù)的發(fā) 展,光電子器件的制備成為了光信息技術(shù)進(jìn)一步發(fā)展的關(guān)鍵。光電子器件的生產(chǎn)檢測(cè)技術(shù) 影響著整個(gè)光學(xué)設(shè)備的生產(chǎn)品質(zhì)和效率,生產(chǎn)檢測(cè)設(shè)備的自動(dòng)化可以大幅度的提高生產(chǎn)效 率,保證器件質(zhì)量。
[0003] 目前巴條測(cè)試設(shè)備測(cè)試過(guò)程中,巴條在夾具上完成常溫檢測(cè)項(xiàng)目后等待夾具開始 升溫,夾具溫升到85°C后開始巴條高溫檢測(cè)項(xiàng)目---光功率檢測(cè)和光波長(zhǎng)的采集。采集項(xiàng) 目完成,巴條取走。夾具降溫,溫度到室溫后開始下一個(gè)檢測(cè)循環(huán),這樣既耗時(shí)又耗能。
【發(fā)明內(nèi)容】
[0004] 1、所要解決的技術(shù)問(wèn)題: 現(xiàn)有的巴條測(cè)試設(shè)備測(cè)試過(guò)程中,,巴條在夾具上完成常溫檢測(cè)項(xiàng)目后等待夾具開始 升溫,夾具溫升到85°C后開始巴條高溫檢測(cè)項(xiàng)目---光功率檢測(cè)和光波長(zhǎng)的采集。采集項(xiàng) 目完成,巴條取走。夾具降溫,溫度到室溫后開始下一個(gè)檢測(cè)循環(huán),既耗時(shí)又耗能。
[0005] 2、技術(shù)方案: 為了解決以上問(wèn)題,本發(fā)明提供了一種具有常溫檢測(cè)與高溫檢測(cè)雙夾具的巴條測(cè)試系 統(tǒng),包括常溫巴條夾具4和巴條電性能檢測(cè)設(shè)備9,其特征在于:還設(shè)有一高溫巴條夾具5 和常溫巴條夾具4安裝在同一工作臺(tái)上。
[0006] 還包括安裝底座7、上料機(jī)械手1、巴條自動(dòng)排列機(jī)構(gòu)2、取料機(jī)械手3、巴條放置臺(tái) 6,上料機(jī)械手1安裝在安裝底座7的一側(cè),上料機(jī)械手1旁邊是巴條自動(dòng)排列機(jī)構(gòu)2,取料 機(jī)械手3安裝在安裝底座7的另一側(cè),取料機(jī)械手3旁邊設(shè)有巴條房子臺(tái)6,常溫巴條夾具 4和高溫巴條夾具5位于上料機(jī)械手1和取料機(jī)械手3之間的工作區(qū)域內(nèi)。
[0007] 還設(shè)有巴條功率檢測(cè)設(shè)備8、巴條光波長(zhǎng)采集設(shè)備10和巴條檢測(cè)設(shè)備工作臺(tái)11, 巴條功率檢測(cè)設(shè)備8、巴條光波長(zhǎng)采集設(shè)備10和巴條電性能檢測(cè)設(shè)備9、安裝在巴條檢測(cè)設(shè) 備工作臺(tái)11上,巴條檢測(cè)設(shè)備工作臺(tái)11放置在高溫巴條夾具5旁。
[0008] 巴條光波長(zhǎng)采集設(shè)備10上設(shè)有X軸調(diào)節(jié)旋鈕1003和Z軸調(diào)節(jié)旋鈕1013,推動(dòng)可 調(diào)整內(nèi)芯1012做X/Z軸方向的平移,還設(shè)有旋動(dòng)調(diào)節(jié)圈1004,通過(guò)旋動(dòng)調(diào)節(jié)圈1004,調(diào)整 透鏡1009在Y軸方向上的位移。
[0009] 設(shè)有步進(jìn)電機(jī)101,用來(lái)驅(qū)動(dòng)裝有巴條功率檢測(cè)設(shè)備8中的光功率計(jì)801的安裝支 架802和巴條光波長(zhǎng)采集設(shè)備中10中的裝有巴條波長(zhǎng)采集鏡頭1001的鏡頭固定支架1002 做X軸方向的平移。
[0010] 上料機(jī)械手1上設(shè)有上料機(jī)械手步進(jìn)電機(jī)101A驅(qū)動(dòng)上料機(jī)械手1上料機(jī)械手臂 102做X軸、Y軸和Z軸移動(dòng),所述上料機(jī)械手臂102上并排裝有兩個(gè)真空吸盤103。
[0011] 取料機(jī)械手3上設(shè)有取料料機(jī)械手步進(jìn)電機(jī)101B驅(qū)動(dòng)取料機(jī)械手上的取料料機(jī) 械手臂301做Y軸和Z軸方向的平移和繞Z軸的旋轉(zhuǎn),所述取料機(jī)械手臂301上并排裝有 兩個(gè)真空吸盤103'。
[0012] 3、有益效果: 本發(fā)明采用常溫夾具與高溫夾具分開設(shè)置,當(dāng)巴條完成常溫測(cè)試后,上料機(jī)械手將巴 條放置到高溫夾具上,可立即進(jìn)行高溫測(cè)試,大大的節(jié)省了測(cè)試耗時(shí)。
【專利附圖】
【附圖說(shuō)明】
[0013] 圖1測(cè)試平臺(tái)總立體視圖。
[0014] 圖2光波長(zhǎng)采集設(shè)備剖視圖。
[0015] 圖3高低溫測(cè)試平臺(tái)立體視圖。
[0016] 圖4上料機(jī)械手立體視圖。
[0017] 圖5取料機(jī)械手立體視圖。
【具體實(shí)施方式】
[0018] 下面結(jié)合附圖和實(shí)施例來(lái)對(duì)本發(fā)明進(jìn)行詳細(xì)說(shuō)明。
[0019] 本發(fā)明提供了一種具有常溫檢測(cè)與高溫檢測(cè)雙夾具的巴條測(cè)試系統(tǒng),包括常溫巴 條夾具4和巴條電性能檢測(cè)設(shè)備9,其特征在于:還設(shè)有一高溫巴條夾具5和常溫巴條夾具 4安裝在同一工作臺(tái)上。由于設(shè)有了高溫巴條夾具5,檢測(cè)巴條高溫項(xiàng)目時(shí),不需要等待夾 具升到85度,而下一個(gè)檢測(cè)循環(huán)時(shí),等夾具降溫。
[0020] 實(shí)施例1 : 一種具有常溫檢測(cè)與高溫檢測(cè)雙夾具的巴條測(cè)試系統(tǒng)還包括安裝底座7、上料機(jī)械手 1、巴條自動(dòng)排列機(jī)構(gòu)2、取料機(jī)械手3、巴條放置臺(tái)6,上料機(jī)械手1安裝在安裝底座7的一 偵牝上料機(jī)械手1旁邊是巴條自動(dòng)排列機(jī)構(gòu)2,取料機(jī)械手3安裝在安裝底座7的另一側(cè), 取料機(jī)械手3旁邊設(shè)有巴條房子臺(tái)6,常溫巴條夾具4和高溫巴條夾具5位于上料機(jī)械手1 和取料機(jī)械手3之間的工作區(qū)域內(nèi)。上料和取料都通過(guò)機(jī)械手操作,通過(guò)可編程邏輯控制 器來(lái)控制機(jī)械手,可使整個(gè)過(guò)程自動(dòng)化。
[0021] 實(shí)施例2; 如圖1所示,在實(shí)施例1的基礎(chǔ)上,加入了巴條功率檢測(cè)設(shè)備8和巴條光波長(zhǎng)采集設(shè)備 10,巴條光波長(zhǎng)采集設(shè)備10和巴條電性能檢測(cè)設(shè)備9、一起安裝在巴條檢測(cè)設(shè)備工作臺(tái)11 上,巴條檢測(cè)設(shè)備工作臺(tái)11放置在高溫巴條夾具5旁。這樣使本發(fā)明提供的具有常溫檢測(cè) 與高溫檢測(cè)雙夾具的巴條測(cè)試系統(tǒng)還具有光功率檢測(cè)與光波長(zhǎng)采集功能。
[0022] 如圖2所示,巴條光波長(zhǎng)采集設(shè)備10上設(shè)有X軸調(diào)節(jié)旋鈕1003和Z軸調(diào)節(jié)旋鈕 1013,推動(dòng)可調(diào)整內(nèi)芯1012做X/Z軸方向的平移,還設(shè)有旋動(dòng)調(diào)節(jié)圈1004,通過(guò)旋動(dòng)調(diào)節(jié) 圈1004,調(diào)整透鏡1009在Y軸方向上的位移,由此可見巴條光波長(zhǎng)采集設(shè)備(10)具備X、 Y、Z三軸的可調(diào)節(jié)功能。彈巴條光波采集設(shè)備10中安彈簧1006和子彈壓頭1008確???調(diào)整內(nèi)芯1012與固定外圈1011之間不會(huì)有松動(dòng),從而可以提高調(diào)整精度。通過(guò)旋動(dòng)調(diào)節(jié) 圈1004,可調(diào)整透鏡1009在Y軸方向上的位移,從而達(dá)到調(diào)整透鏡1009與光譜探頭1010 距離的目的。
[0023] 如圖3所示,設(shè)有步進(jìn)電機(jī)101,用來(lái)驅(qū)動(dòng)裝有巴條功率檢測(cè)設(shè)備8中的光功率計(jì) 801的安裝支架802和巴條光波長(zhǎng)采集設(shè)備中10中的裝有巴條波長(zhǎng)采集鏡頭1001的鏡頭 固定支架1002做X軸方向的平移。實(shí)現(xiàn)了光功率計(jì)801和光波長(zhǎng)探頭1001自動(dòng)進(jìn)行交換 工位的功能。
[0024] 如圖4所示,上料機(jī)械手臂102由步進(jìn)電機(jī)101A驅(qū)動(dòng)可做X/Y/Z方向的移動(dòng),上 料機(jī)械手臂102上裝有兩個(gè)并排真空吸盤103,真空吸盤103移至巴條位置時(shí),其產(chǎn)生的負(fù) 壓將巴條吸起,當(dāng)其移動(dòng)至巴條下一工序放置位置時(shí),關(guān)閉負(fù)壓,巴條被放下。
[0025] 如圖5所示,取料機(jī)械手臂30)由步進(jìn)電機(jī)101B驅(qū)動(dòng)可做Y/Z方向的平移和繞Z 軸的旋轉(zhuǎn),取料機(jī)械手臂301上裝有兩個(gè)并排真空吸盤103',真空吸盤103'移至巴條位置 時(shí),其產(chǎn)生的負(fù)壓將巴條吸起,當(dāng)其移動(dòng)至巴條下一工序放置位置時(shí),關(guān)閉負(fù)壓,巴條被放 下。
[0026] 工作流程為: 1.如圖1所示,巴條由人工擺置在巴條自動(dòng)排列機(jī)構(gòu)2的工作臺(tái)面上,工作臺(tái)面由二 維平臺(tái)組成,巴條在工作臺(tái)面上經(jīng)由x、y方向的移動(dòng)達(dá)到綜合檢測(cè)臺(tái)到軸坐標(biāo)定位標(biāo)準(zhǔn)。
[0027] 2.上料機(jī)械手1從巴條自動(dòng)排列機(jī)構(gòu)2將巴條吸起,然后移動(dòng)至常溫巴條夾具4 工作臺(tái)面將巴條放下。
[0028] 3.巴條經(jīng)由常溫巴條夾具4上完成電學(xué)參數(shù)檢測(cè)后,上料機(jī)械手1將巴條吸起, 然后轉(zhuǎn)移至高溫巴條夾具5工作臺(tái)面放置,高溫巴條夾具5做X軸向平移,至波長(zhǎng)采集工位 時(shí),開始波長(zhǎng)采集工作。
[0029] 4.波長(zhǎng)采集工作完成后,高溫巴條夾具5不動(dòng),巴條檢測(cè)設(shè)備集成工作臺(tái)11進(jìn)行 X軸向平移,將巴條光功率檢測(cè)設(shè)備8移至巴條處進(jìn)行光功率檢測(cè)工作。
[0030] 5.高溫檢測(cè)項(xiàng)目完成后,夾具做X軸方向平移脫離檢測(cè)工作區(qū)域,取料機(jī)械手3 將高溫巴條夾具5上放置的巴條吸起,將巴條放置到巴條放置臺(tái)6。
[0031] 6.系統(tǒng)轉(zhuǎn)入下一個(gè)工作循環(huán)。
[0032] 本發(fā)明提供的具有常溫檢測(cè)與高溫檢測(cè)雙夾具的巴條測(cè)試系統(tǒng),本發(fā)明采用常溫 夾具與高溫夾具分開設(shè)置,當(dāng)巴條完成常溫測(cè)試后,上料機(jī)械手將巴條放置到高溫夾具上, 可立即進(jìn)行高溫測(cè)試,大大的節(jié)省了測(cè)試耗時(shí)。本發(fā)明還具有光功率檢測(cè)與光波長(zhǎng)采集時(shí) 自動(dòng)轉(zhuǎn)換的功能,并且光波長(zhǎng)采集中的集光鏡頭設(shè)計(jì)成可調(diào)節(jié)狀態(tài),從而保證最大光功率 的采集。
【權(quán)利要求】
1. 一種具有常溫檢測(cè)與高溫檢測(cè)雙夾具的巴條測(cè)試系統(tǒng),包括常溫巴條夾具(4)和巴 條電性能檢測(cè)設(shè)備(9),其特征在于:還設(shè)有一高溫巴條夾具(5)和常溫巴條夾具(4)安裝 在同一工作臺(tái)上。
2. 如權(quán)利要求1所述的具有常溫檢測(cè)與高溫檢測(cè)雙夾具的巴條測(cè)試系統(tǒng),其特征在 于:還包括安裝底座(7)、上料機(jī)械手(1)、巴條自動(dòng)排列機(jī)構(gòu)(2)、取料機(jī)械手(3)、巴條放 置臺(tái)(6),上料機(jī)械手(1)安裝在安裝底座(7)的一側(cè),上料機(jī)械手(1)旁邊是巴條自動(dòng)排列 機(jī)構(gòu)(2 ),取料機(jī)械手(3 )安裝在安裝底座(7 )的另一側(cè),取料機(jī)械手(3 )旁邊設(shè)有巴條房子 臺(tái)(6),常溫巴條夾具(4)和高溫巴條夾具(5)位于上料機(jī)械手(1)和取料機(jī)械手(3)之間 的工作區(qū)域內(nèi)。
3. 如權(quán)利要求1或2所述的具有常溫檢測(cè)與高溫檢測(cè)雙夾具的巴條測(cè)試系統(tǒng),其特 征在于:還設(shè)有巴條功率檢測(cè)設(shè)備(8)、巴條光波長(zhǎng)采集設(shè)備(10)和巴條檢測(cè)設(shè)備工作臺(tái) (11),巴條功率檢測(cè)設(shè)備(8)、巴條光波長(zhǎng)采集設(shè)備(10)和巴條電性能檢測(cè)設(shè)備(9)、安裝 在巴條檢測(cè)設(shè)備工作臺(tái)(11)上,巴條檢測(cè)設(shè)備工作臺(tái)(11)放置在高溫巴條夾具(5)旁。
4. 如權(quán)利要求3所述的具有常溫檢測(cè)與高溫檢測(cè)雙夾具的巴條測(cè)試系統(tǒng),其特征在 于:巴條光波長(zhǎng)采集設(shè)備(10 )上設(shè)有X軸調(diào)節(jié)旋鈕(1003 )和Z軸調(diào)節(jié)旋鈕(1013 ),推動(dòng)可 調(diào)整內(nèi)芯(1012)做X/Z軸方向的平移,還設(shè)有旋動(dòng)調(diào)節(jié)圈(1004),通過(guò)旋動(dòng)調(diào)節(jié)圈(1004), 可調(diào)整透鏡(1009)在Y軸方向上的位移。
5. 如權(quán)利要求3所述的具有常溫檢測(cè)與高溫檢測(cè)雙夾具的巴條測(cè)試系統(tǒng),其特征在 于:設(shè)有步進(jìn)電機(jī)(101),用來(lái)驅(qū)動(dòng)裝有巴條功率檢測(cè)設(shè)備(8)中的光功率計(jì)(801)的安裝 支架(802)和巴條光波長(zhǎng)采集設(shè)備(10)中的裝有巴條波長(zhǎng)采集鏡頭(1001)的鏡頭固定支 架(1002)做X軸方向的平移。
6. 如權(quán)利要求2所述的具有常溫檢測(cè)與高溫檢測(cè)雙夾具的巴條測(cè)試系統(tǒng),其特征在 于:上料機(jī)械手(1)上設(shè)有上料機(jī)械手步進(jìn)電機(jī)(101A)驅(qū)動(dòng)上料機(jī)械手(1)上料機(jī)械手臂 (102)做X軸、Y軸、Z軸移動(dòng),所述上料機(jī)械手臂(102)上并排裝有兩個(gè)真空吸盤(103)。
7. 如權(quán)利要求2所述的具有常溫檢測(cè)與高溫檢測(cè)雙夾具的巴條測(cè)試系統(tǒng),其特征在 于:取料機(jī)械手(3)上設(shè)有取料料機(jī)械手步進(jìn)電機(jī)(101B)驅(qū)動(dòng)取料機(jī)械手上的取料料機(jī)械 手臂(301)做Y軸、Z軸方向的平移和繞Z軸的旋轉(zhuǎn),所述取料機(jī)械手臂(301)上并排裝有 兩個(gè)真空吸盤(103')。
【文檔編號(hào)】G01J9/00GK104101425SQ201310128343
【公開日】2014年10月15日 申請(qǐng)日期:2013年4月15日 優(yōu)先權(quán)日:2013年4月15日
【發(fā)明者】黃秋元, 馮毓偉 申請(qǐng)人:鎮(zhèn)江逸致儀器有限公司