專利名稱：一種小電感環(huán)形磁芯電感分選裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種小電感環(huán)形磁芯電感分選裝置。
背景技術(shù)：
小電感環(huán)形磁芯，尤其是鎳鋅鐵氧體磁芯，單匝電感量單位在nH級(jí)別，現(xiàn)有電感測試儀基本不能直接測試；為測試其電感并避免儀表及測試誤差，需繞多圈金屬導(dǎo)線，通常在50圈以上；測試完成后，再將繞線拆除，測試十分不便，費(fèi)時(shí)費(fèi)力、效率低下，且浪費(fèi)了大
量導(dǎo)線。2012年7月11日公開的第201120445738.0號(hào)中國發(fā)明，揭示了一種環(huán)形磁芯電感分選工具；該分選工具包括繞有金屬導(dǎo)線的環(huán)形磁芯、與導(dǎo)線相連的電感測試儀、金屬柱、金屬臺(tái)、環(huán)形絕緣罩、底座等。該結(jié)構(gòu)因待測試環(huán)形磁芯與金屬柱有空隙，測試時(shí)，隨著每次擺放位置的不同，環(huán)形磁芯的電感也隨著發(fā)生變化。雖然，在采用上述結(jié)構(gòu)后，測試電感在ΙΟμΗ左右，而不同擺放位置的變化量則在 μΗ以上，占測試電感的10%以上，測試誤差大，故導(dǎo)致測試不夠準(zhǔn)確；有的廠家，會(huì)在環(huán)形磁芯與金屬柱的空隙間增加絕緣空心圓柱體，以減小測試誤差，但不同環(huán)形磁芯需制作不同的絕緣空心圓柱體，還需每次來回更換及保存，使用十分不便。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明要解決的技術(shù)問題是提供一種使用簡單、能使待測環(huán)形磁心測試位置固定，減小測試誤差，使測試更為準(zhǔn)確的小電感環(huán)形磁芯電感分選裝置。為解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明提供的技術(shù)方案如下:
一種小電感環(huán)形磁芯電感分選裝置，包括金屬底座、繞有金屬導(dǎo)線的環(huán)形磁芯、電感測試儀、金屬柱，環(huán)形磁芯為磁場源；金屬柱、金屬罩、無蓋金屬盒相接觸，共同構(gòu)成閉合磁通路；無蓋金屬盒與環(huán)形絕緣蓋相配合，金屬罩與環(huán)形絕緣蓋活動(dòng)配合，金屬柱從上之下依次穿過金屬罩、環(huán)形絕緣蓋、環(huán)形磁芯與無蓋金屬盒，所述的環(huán)形絕緣蓋表面徑向上設(shè)置有對(duì)稱的凹槽及絕緣凸柱，絕緣凸柱可沿凹槽滑動(dòng)。上述的小電感環(huán)形磁芯電感分選裝置，所述凹槽邊緣設(shè)置有刻度。上述的小電感環(huán)形磁芯電感分選工具，所述環(huán)形磁芯與金屬柱之間填充有絕緣材料。上述的小電感環(huán)形磁芯電感分選工具，所述金屬柱與金屬底座為可拆卸式連接。本發(fā)明由于采用了上述結(jié)構(gòu)，絕緣凸柱可以滑動(dòng)至待測磁環(huán)內(nèi)環(huán)位置，后續(xù)測試以此位置為固定點(diǎn)，將能使每次待測磁環(huán)位置固定，減小測試誤差，使測試更為準(zhǔn)確；該絕緣凸柱可根據(jù)待測磁環(huán)內(nèi)徑大小進(jìn)行調(diào)整，故能適應(yīng)不同內(nèi)徑的磁環(huán)測試使用，使用簡單方便。


圖1是本發(fā)明小電感環(huán)形磁芯電感分選裝置的結(jié)構(gòu)示意 圖2是環(huán)形絕緣蓋的俯視圖。其中有:1.金屬底座；2.金屬柱；3.繞有金屬導(dǎo)線的環(huán)形磁芯；4.電感測試儀；
5.金屬罩；6.環(huán)形絕緣蓋；7.絕緣凸柱；8.待測磁環(huán)；9.磁芯與金屬柱間空隙；10.無蓋金屬盒；11.凹槽11 ;12.刻度。
具體實(shí)施例方式下面結(jié)合附圖和具體實(shí)施方式
對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步詳細(xì)的說明。本發(fā)明提供的一種小電感環(huán)形磁芯電感分選裝置，包括金屬底座1、繞有金屬導(dǎo)線的環(huán)形磁芯3、電感測試儀4、金屬柱2,環(huán)形磁芯3為磁場源；金屬柱2、金屬罩5、無蓋金屬盒10相接觸，共同構(gòu)成閉合磁通路；無蓋金屬盒10與環(huán)形絕緣蓋6相配合，金屬罩5與環(huán)形絕緣蓋6活動(dòng)配合，金屬柱2從上之下依次穿過金屬罩5、環(huán)形絕緣蓋6、環(huán)形磁芯3與無蓋金屬盒10，環(huán)形絕緣蓋6表面徑向上設(shè)置有對(duì)稱的凹槽11及絕緣凸柱7，絕緣凸柱7可沿凹槽11滑動(dòng)。采用上述 結(jié)構(gòu)后，所述環(huán)形磁芯3為磁場源，可以從所述電感測試儀4上讀得一個(gè)值，即底數(shù)，通常底數(shù)需越大越好。使用時(shí)，環(huán)形絕緣蓋6上的絕緣凸柱7沿凹槽11滑動(dòng)至靠近金屬柱2位置，后將待測環(huán)形磁芯8放置在環(huán)形絕緣蓋6上，再將兩絕緣凸柱7分別沿凹槽11滑動(dòng)至待測磁環(huán)8靠近內(nèi)徑位置并固定(后續(xù)測試以此位置為固定點(diǎn))，閉合金屬罩5，可從電感測試儀4上讀得一個(gè)新的顯示值，將該顯示值與標(biāo)準(zhǔn)值進(jìn)行比較，即可判定該待測環(huán)形磁芯8是否合格。每次測試時(shí)，待測環(huán)形磁芯8內(nèi)徑有絕緣凸柱7固定，故因不同位置差異帶來的測試誤差減小，測試更為準(zhǔn)確、可靠。該絕緣凸柱7可根據(jù)待測磁環(huán)8內(nèi)徑大小進(jìn)行調(diào)整，故能適應(yīng)不同內(nèi)徑的磁環(huán)測試使用，使用簡單方便。本發(fā)明的小電感環(huán)形磁芯電感分選裝置，所述凹槽11邊緣設(shè)置有刻度12，可根據(jù)待測磁芯8內(nèi)徑尺寸，直接將兩絕緣凸柱7滑動(dòng)至該內(nèi)徑尺寸一半位置處，避免了來回滑動(dòng)絕緣凸柱7，操作更為方便。本發(fā)明的小電感環(huán)形磁芯電感分選裝置，所述環(huán)形磁芯3與金屬柱2之間填充有絕緣材料，可以使環(huán)形磁芯3固定，不晃動(dòng)，測試更為準(zhǔn)確、可靠，且該環(huán)形磁芯3不易發(fā)生破損現(xiàn)象。進(jìn)一步，本發(fā)明的小電感環(huán)形磁芯電感分選工具，所述金屬柱2與金屬底座I為可拆卸式連接，可以根據(jù)待測磁環(huán)的高度，更換合適長度的金屬柱2 ;也可對(duì)磨損的金屬柱2進(jìn)行維修與更換，從而延長該分選裝置的使用壽命。
權(quán)利要求
1.一種小電感環(huán)形磁芯電感分選裝置，包括金屬底座(I)、繞有金屬導(dǎo)線的環(huán)形磁芯(3)、電感測試儀(4)、金屬柱(2),環(huán)形磁芯(3)為磁場源；金屬柱(2)、金屬罩(5)、無蓋金屬盒(10)相接觸，共同構(gòu)成閉合磁通路；無蓋金屬盒(10)與環(huán)形絕緣蓋(6)相配合，金屬罩(5)與環(huán)形絕緣蓋(6)活動(dòng)配合，金屬柱(2)從上之下依次穿過金屬罩(5)、環(huán)形絕緣蓋(6)、環(huán)形磁芯(3)與無蓋金屬盒(10)，其特征在于:所述的環(huán)形絕緣蓋(6)表面徑向上設(shè)置有對(duì)稱的凹槽(11)及絕緣凸柱(7)，絕緣凸柱(7)可沿凹槽(11)滑動(dòng)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的小電感環(huán)形磁芯電感分選裝置，其特征在于:所述凹槽(11)邊緣設(shè)置有刻度(12)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的小電感環(huán)形磁芯電感分選裝置，其特征在于:所述環(huán)形磁芯(3)與金屬柱(2)之間填充有絕緣材料。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的小電感環(huán)形磁芯電感分選裝置，其特征在于:所述金屬柱(2)與金屬底座(I)為可拆卸式·連接。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種小電感環(huán)形磁芯電感分選裝置，包括金屬底座、繞有金屬導(dǎo)線的環(huán)形磁芯、電感測試儀、金屬柱，環(huán)形磁芯作為磁場源，金屬柱、金屬罩、無蓋金屬盒相接觸，共同構(gòu)成閉合磁通路；無蓋金屬盒與環(huán)形絕緣蓋相配合，金屬罩與環(huán)形絕緣蓋活動(dòng)配合，金屬柱從上之下依次穿過金屬罩、環(huán)形絕緣蓋、環(huán)形磁芯與無蓋金屬盒；所述環(huán)形絕緣蓋表面徑向上設(shè)置有對(duì)稱的凹槽及絕緣凸柱，絕緣凸柱可沿凹槽滑動(dòng)；凹槽邊緣設(shè)置有刻度。采用上述結(jié)構(gòu)，絕緣凸柱可以滑動(dòng)至待測磁環(huán)內(nèi)環(huán)位置，后續(xù)待測磁環(huán)測試將以此位置為固定點(diǎn)，減小測試誤差，使測試更為準(zhǔn)確；該絕緣凸柱可根據(jù)待測磁環(huán)內(nèi)徑大小進(jìn)行調(diào)整，故能適應(yīng)不同內(nèi)徑的磁環(huán)測試使用，使用簡單方便。
文檔編號(hào)G01R27/26GK103245924SQ201310147688
公開日2013年8月14日 申請(qǐng)日期2013年4月25日 優(yōu)先權(quán)日2013年4月25日
發(fā)明者徐志堅(jiān) 申請(qǐng)人:吳江龍碩金屬制品有限公司