磁調(diào)制系統(tǒng)及其過流保護方法
【專利摘要】磁調(diào)制系統(tǒng)的過流保護裝置，包括一個磁環(huán)（10）、一個繞組（20）、一個采樣電阻（30）、一個激勵電壓源（40）、一個微分器（50）、一個比較器（60）和一個過流觸發(fā)器（70）。采樣電阻可輸出采樣電壓信號。激勵電壓可產(chǎn)生激勵磁場。微分器可輸出微分電壓信號。比較器可輸出一個反轉(zhuǎn)電壓信號。過流觸發(fā)器接收所述采樣電壓信號，其設(shè)有一個觸發(fā)閾值電壓，若所述采樣電壓信號的絕對值大于等于所述觸發(fā)閾值電壓，所述過流觸發(fā)器控制所述比較器改變所述反轉(zhuǎn)電壓信號的極性。磁調(diào)制系統(tǒng)通過設(shè)置過流觸發(fā)器，可以保證了磁調(diào)制系統(tǒng)的激勵電壓能夠正常的振蕩；且避免了激勵電流過大，保證磁調(diào)制系統(tǒng)中電路和元器件的安全使用。
【專利說明】磁調(diào)制系統(tǒng)及其過流保護方法

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及一種磁調(diào)制系統(tǒng)，尤其是基于磁性調(diào)制原理的剩余電流測量系統(tǒng)使用的磁調(diào)制系統(tǒng)。本發(fā)明還涉及該磁調(diào)制系統(tǒng)的過流保護方法。

【背景技術(shù)】
[0002]磁調(diào)制系統(tǒng)被應(yīng)用于電流及磁場測量領(lǐng)域，它通過主動的激勵電壓平衡被測量的磁場，使磁芯振蕩于正負飽和區(qū)域內(nèi)。圖1顯示了中國專利申請公開CN102338822的磁調(diào)制系統(tǒng)的電路結(jié)構(gòu)圖。如圖所示，磁調(diào)制系統(tǒng)包括磁環(huán)90、繞組91、采樣電阻92、激勵電壓源93、比較器94和微分器95。微分器95將米樣電阻92上的電壓取微分，比較器94將該電壓微分結(jié)果與一預(yù)先設(shè)定的閾值比較，當電壓微分值大于等于該閾值時，反轉(zhuǎn)加載在繞組91上的激勵電壓的極性，以此維持激勵電壓的振蕩。當被測電流過大時，系統(tǒng)由于實際電路輸出能力的限制，如電壓、電流、功率的限制，無法平衡被測電流所造成的磁場并導(dǎo)致激勵停止。同時，當激勵停止時，驅(qū)動電流的輸出可能會很大。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]本發(fā)明的目的是提供一種磁調(diào)制系統(tǒng)的過流保護裝置，在測量大電流時磁調(diào)制系統(tǒng)可以維持激勵電壓的振蕩。
[0004]本發(fā)明的另一個目的是提供一種過流保護方法，在測量大電流時磁調(diào)制系統(tǒng)可以維持激勵電壓的振蕩。
[0005]本發(fā)明提供了一種磁調(diào)制系統(tǒng)的過流保護裝置，包括一個磁環(huán)、一個繞組、一個采樣電阻、一個激勵電壓源、一個微分器、一個比較器和一個過流觸發(fā)器。至少一個可通過待測電流的導(dǎo)體可穿過磁環(huán)。繞組設(shè)置在磁環(huán)上。采樣電阻與繞組串聯(lián)，它可輸出代表其上壓降的采樣電壓信號。激勵電壓源與繞組和采樣電阻串聯(lián)，它可產(chǎn)生磁調(diào)制系統(tǒng)的激勵電壓。微分器可對米樣電壓信號微分并輸出微分電壓信號。比較器一個輸入端預(yù)設(shè)有一個反轉(zhuǎn)閾值電壓，另一個輸入端接收所述微分電壓信號，該比較器的輸出端可輸出一個反轉(zhuǎn)電壓信號至所述激勵電壓源，若所述微分電壓信號的絕對值大于等于所述反轉(zhuǎn)閾值電壓，該比較器藉由所述反轉(zhuǎn)電壓信號極性的改變來控制所述激勵電壓的極性反轉(zhuǎn)。過流觸發(fā)器磁接收所述采樣電壓信號，其設(shè)有一個觸發(fā)閾值電壓，若所述采樣電壓信號的絕對值大于等于所述觸發(fā)閾值電壓，所述過流觸發(fā)器控制所述比較器改變所述反轉(zhuǎn)電壓信號的極性。
[0006]磁調(diào)制系統(tǒng)通過設(shè)置過流觸發(fā)器，可以在導(dǎo)體上流過很大的待測電流時，強制改換激勵電壓的極性，從而保證了磁調(diào)制系統(tǒng)的激勵電壓能夠正常的振蕩；且避免了激勵電流過大，保證磁調(diào)制系統(tǒng)中電路和元器件的安全使用。
[0007]在磁調(diào)制系統(tǒng)的過流保護裝置的再一種示意性的實施方式中，若所述采樣電壓信號等于所述觸發(fā)閾值電壓，所述過流觸發(fā)器將所述反轉(zhuǎn)閾值電壓拉低至地電位。
[0008]在磁調(diào)制系統(tǒng)的過流保護裝置的另一種示意性的實施方式中，過流觸發(fā)器包括一個第一二極管，其正極可輸入所述采樣電壓信號；一個第一三極管，其基極可電性連接于所述第一二極管的負極，其集電極可輸入所述反轉(zhuǎn)閾值電壓，其發(fā)射極可電性連接于地電位；一個第二二極管，其負極可輸入所述采樣電壓信號；和一個第二三極管，其基極可電性連接于所述第二二極管的正極，其集電極可輸入所述反轉(zhuǎn)閾值電壓，其發(fā)射極可電性連接于地電位。
[0009]在磁調(diào)制系統(tǒng)的過流保護裝置的又一種示意性的實施方式中，磁調(diào)制系統(tǒng)還包括一個濾波器，其輸入端接收米樣電壓信號，且輸出濾除了米樣電壓信號中疊加的激勵電壓的濾波電壓信號，該濾波電壓信號可代表待測電流的大小。
[0010]在磁調(diào)制系統(tǒng)的過流保護裝置的又一種示意性的實施方式中，濾波器是一個巴特沃茲濾波器。
[0011]在磁調(diào)制系統(tǒng)的過流保護裝置的又一種示意性的實施方式中，磁調(diào)制系統(tǒng)還包括一個放大器，其輸入端接收濾波電壓信號，且輸出濾波電壓信號經(jīng)放大的放大電壓信號。
[0012]在磁調(diào)制系統(tǒng)的過流保護裝置的又一種示意性的實施方式中，磁調(diào)制系統(tǒng)還包括一個處理器，其設(shè)有一個頻率閾值和一個電壓閾值，處理器分別采集反轉(zhuǎn)電壓信號的頻率和濾波電壓信號，若反轉(zhuǎn)電壓信號的頻率大于等于頻率閾值，或者濾波電壓信號大于等于電壓閾值，處理器輸出待測電流超過磁調(diào)制系統(tǒng)的測量范圍的判斷信號。
[0013]在磁調(diào)制系統(tǒng)的過流保護裝置的又一種示意性的實施方式中，激勵電壓源可輸入采樣電壓信號，且激勵電壓為采樣電壓信號與反轉(zhuǎn)電壓信號之和。
[0014]本發(fā)明提供了一種過流保護方法，包括采集采樣電壓信號；比較采樣電壓信號與觸發(fā)閾值電壓，當采樣電壓信號的絕對值大于等于觸發(fā)閾值電壓時，控制比較器輸出反轉(zhuǎn)電壓信號；和由反轉(zhuǎn)電壓信號控制激勵電壓源反轉(zhuǎn)激勵電壓的極性。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0015]以下附圖僅對本發(fā)明做示意性說明和解釋，并不限定本發(fā)明的范圍。
[0016]圖1顯示了中國專利CN102338822的磁調(diào)制系統(tǒng)的電路結(jié)構(gòu)圖。
[0017]圖2用于說明磁調(diào)制系統(tǒng)一種示意性實施方式的電路結(jié)構(gòu)圖。
[0018]圖3用于說明過流觸發(fā)器一種示意性實施方式的電流結(jié)構(gòu)圖。
[0019]圖4用于說明磁調(diào)制系統(tǒng)另一種示意性實施方式的電流結(jié)構(gòu)圖。
[0020]圖5用于解釋反轉(zhuǎn)電壓信號的頻率變化。
[0021]標號說明
[0022]10 磁環(huán)
[0023]12 導(dǎo)體
[0024]20 繞組
[0025]30采樣電阻
[0026]40激勵電壓源
[0027]50微分器
[0028]60比較器
[0029]70過流觸發(fā)器
[0030]D72 第一二極管
[0031]Q74第一雙極性晶體管
[0032]D76 第二二極管
[0033]Q78第二雙極性晶體管
[0034]80濾波器
[0035]82信號放大器
[0036]84處理器。

【具體實施方式】
[0037]為了對發(fā)明的技術(shù)特征、目的和效果有更加清楚的理解，現(xiàn)對照【專利附圖】

【附圖說明】本發(fā)明的【具體實施方式】，在各圖中相同的標號表示相同的部分。為使圖面簡潔，各圖中的只示意性地表示出了與本發(fā)明相關(guān)的部分，它們并不代表其作為產(chǎn)品的實際結(jié)構(gòu)。另外，以使圖面簡潔便于理解，在有些圖中具有相同結(jié)構(gòu)或功能的部件，僅示意性地繪示了其中的一個，或僅標出了其中的一個。
[0038]在本文中，“示意性”表示“充當實例、例子或說明”，不應(yīng)將在本文中被描述為“示意性”的任何圖示、實施方式解釋為一種更優(yōu)選的或更具優(yōu)點的技術(shù)方案。
[0039]在本文中，“第一”、“第二”等僅用于彼此的區(qū)分，而非表示它們的重要程度及順序坐寸ο
[0040]圖2用于說明磁調(diào)制系統(tǒng)一種示意性實施方式的電路結(jié)構(gòu)圖。如圖所示，磁調(diào)制系統(tǒng)包括一個磁環(huán)10、一個繞組20、一個采樣電阻30、一個激勵電壓源40、一個微分器50、一個比較器60和一個過流觸發(fā)器70。
[0041]其中，磁環(huán)10中穿過了四個導(dǎo)體12，導(dǎo)體12中可通過待測電流，且磁調(diào)制系統(tǒng)可測量這些導(dǎo)體12中通過待測電流的矢量和。繞組20設(shè)置在磁環(huán)10上，當繞組20中通過由激勵電壓Vext產(chǎn)生的激勵電流Iext時，磁環(huán)10上產(chǎn)生激勵磁場。采樣電阻30、繞組20和激勵電壓源40串聯(lián)連接，且由激勵電壓源40驅(qū)動產(chǎn)生的激勵電流Iext流經(jīng)采樣電阻30和繞組20。當采樣電阻30中通過激勵電流Iext時，它可輸出一個采樣電壓信號Sv，采樣電壓信號Sv可反映米樣電阻30上的米樣電流值。微分器50可輸入米樣電壓信號Sv,并將米樣電壓信號Sv微分后,輸出一個微分電壓信號Sv ’。
[0042]比較器60 —個輸入端預(yù)設(shè)有一個反轉(zhuǎn)閾值電壓Tl，另一個輸入端接收微分電壓信號S/ ,比較器60的輸出端可輸出一個反轉(zhuǎn)電壓信號St至激勵電壓源40。當微分電壓信號S/的絕對值大于等于反轉(zhuǎn)閾值電壓Tl時，比較器60藉由反轉(zhuǎn)電壓信號St極性的改變來控制激勵電壓Vrart的極性反轉(zhuǎn)。
[0043]過流觸發(fā)器70設(shè)有一個觸發(fā)閾值電壓T2，且過流觸發(fā)器70可輸入采樣電壓信號Sv,并將觸發(fā)閾值電壓T2與采樣電壓信號Sv比較。當采樣電壓信號Sv的絕對值大于觸發(fā)閾值電壓T2時，過流觸發(fā)器70強制比較器60輸出的反轉(zhuǎn)電壓信號St改換極性，從而使得激勵電壓源40改換激勵電壓Vrait的極性。
[0044]如果導(dǎo)體12上流過的待測電流很大時，比較器60無法通過比較微分電壓信號S/和反轉(zhuǎn)閾值電壓Tl來改換反轉(zhuǎn)電壓信號St的極性，從而激勵電壓源40輸出的激勵電壓Vrait的極性不變。但無論待測電流的數(shù)值多大，過流觸發(fā)器70都可將采樣電壓信號Sv與觸發(fā)閾值電壓T2比較，從而可以改換激勵電壓Vrart的極性。磁調(diào)制系統(tǒng)通過設(shè)置過流觸發(fā)器，可以在導(dǎo)體上流過很大的待測電流時，強制改換激勵電壓的極性，從而保證了磁調(diào)制系統(tǒng)的激勵電壓能夠正常的振蕩；且避免了激勵電流過大，保證磁調(diào)制系統(tǒng)中電路和元器件的安全使用。
[0045]圖3用于說明過流觸發(fā)器一種示意性實施方式的電流結(jié)構(gòu)圖。如圖所示，過流觸發(fā)器70包括一個第一二極管D72、一個第二二極管D76、一個第一雙極性晶體管Q74和一個第二雙極性晶體管Q78。
[0046]第一二極管D72的正極可輸入米樣電阻30輸出的米樣電壓信號Sv,且其負極電性連接于第一雙極性晶體管Q74的基極。第一雙極性晶體管Q74的集電極可輸入反轉(zhuǎn)閾值電壓Tl，且其發(fā)射極可電性連接于地電位(零電位)。其中，第一雙極性晶體管Q74為NPN型。第二二極管D76的負極可輸入米樣電阻30輸出的米樣電壓信號Sv,且其正極電性連接于第二雙極性晶體管Q78的基極。其中，第二雙極性晶體管Q78為PNP型。第二雙極性晶體管Q78的集電極可輸入反轉(zhuǎn)閾值電壓Tl，且其發(fā)射極可電性連接于地電位(零電位)。
[0047]參見圖2和圖3，當激勵電壓在采樣電阻上產(chǎn)生的壓降，即采樣電壓信號Sv為正值，且采樣電壓信號Sv大于第一二極管D72的導(dǎo)通電壓時，第一二極管D72和第一雙極性晶體管Q74導(dǎo)通，從而將反轉(zhuǎn)閾值電壓Tl連接至地電位，使得反轉(zhuǎn)閾值電壓Tl變?yōu)榱?。此時，即使微分電壓信號S/趨近于零，比較器60也可以判定微分電壓信號S/等于反轉(zhuǎn)閾值電壓Tl，從而使得反轉(zhuǎn)電壓信號St改換極性。此處，觸發(fā)閾值電壓T2為第一二極管D72的導(dǎo)通電壓。
[0048]當激勵電壓在采樣電阻上產(chǎn)生的壓降，即采樣電壓信號Sv為負值，且采樣電壓信號Sv大于第二二極管D76的導(dǎo)通電壓時，第二二極管D76和第二雙極性晶體管Q78導(dǎo)通，從而將反轉(zhuǎn)閾值電壓Tl連接至地電位，使得反轉(zhuǎn)閾值電壓Tl變?yōu)榱?。此時，即使微分電壓信號S/趨近于零，比較器60也可以判定微分電壓信號S/等于反轉(zhuǎn)閾值電壓Tl，從而使得反轉(zhuǎn)電壓信號St改換極性。此處，觸發(fā)閾值電壓T2為第二二極管D76的導(dǎo)通電壓。
[0049]還可以通過其他的電路結(jié)構(gòu)來實現(xiàn)將反轉(zhuǎn)閾值電壓Tl變?yōu)榱?，例如將雙極性晶體管改換為其他邏輯開關(guān)。
[0050]圖4用于說明磁調(diào)制系統(tǒng)另一種示意性實施方式的電流結(jié)構(gòu)圖。如圖所示，磁調(diào)制系統(tǒng)包括一個濾波器80,它的輸入端可輸入米樣電壓信號Sv,濾波器80可將米樣電壓信號Sv中包含的激勵電壓Vrait濾除后,輸出一個濾波電壓信號Sf,且濾波電壓信號Sf反映了待測電流的具體大小。在磁調(diào)制系統(tǒng)一種示意性實施方式中，濾波器80是巴特沃茲濾波器。
[0051]如圖4所不,在磁調(diào)制系統(tǒng)一種不意性實施方式中，磁調(diào)制系統(tǒng)包括一個信號放大器82,它的輸入端可輸入濾波電壓信號Sf,且信號放大器可放大濾波電壓信號Sf的信號強度后，輸出一個放大電壓信號Sa。通過設(shè)置放大器,可將放大器的輸出的放大電壓信號Sa的動態(tài)范圍，與輸入放大電壓信號Sa的處理電路的輸入動態(tài)范圍相匹配，以此提高檢測的分辨率和精度。
[0052]如圖4所示，在磁調(diào)制系統(tǒng)一種示意性實施方式中，磁調(diào)制系統(tǒng)包括一個處理器84,其設(shè)有一個頻率閾值T3和一個電壓閾值T4。處理器84可分別輸入反轉(zhuǎn)電壓信號St的頻率和放大電壓信號Sa，且處理器84可分別比較反轉(zhuǎn)電壓信號St的頻率與頻率閾值T3，以及放大電壓信號Sa與電壓閾值T4。當反轉(zhuǎn)電壓信號St的頻率大于等于頻率閾值T3，或者放大電壓信號Sa大于等于電壓閾值T4時，處理器84可判斷待測電流超過了磁調(diào)制系統(tǒng)的測量范圍。
[0053]圖5用于解釋反轉(zhuǎn)電壓信號的頻率變化，其中顯示了反轉(zhuǎn)電壓信號St的頻率與待測電流Idn和采樣電壓信號Sv的對應(yīng)關(guān)系。當待測電流Idn為零時，采樣電壓信號Sv和反轉(zhuǎn)電壓信號St的頻率周期性變換。當待測電流Idn急劇增加后，采樣電壓信號Sv相應(yīng)增力口，從而使得過流觸發(fā)器動作，反轉(zhuǎn)電壓信號St極性改變，采樣電壓信號Sv相應(yīng)減小，但采樣電壓信號Sv的數(shù)值仍然使能夠使得過流觸發(fā)器動作，使得反轉(zhuǎn)電壓信號St極性以很高的頻率改變。由此可見,可通過當反轉(zhuǎn)電壓信號St的頻率來反映待測電流Idn的大小。
[0054]處理器84同時監(jiān)控反轉(zhuǎn)電壓信號St的頻率和采樣電壓信號Sv，從而可以準確的判斷待測電流超過了磁調(diào)制系統(tǒng)的測量范圍。
[0055]如圖4所示，在磁調(diào)制系統(tǒng)一種示意性實施方式中，激勵電壓源40的輸入端除了輸入反轉(zhuǎn)電壓信號St外,還可輸入米樣電壓信號Sv,且激勵電壓Vext的大小等于米樣電壓信號Sv與反轉(zhuǎn)電壓信號St之和。由于繞組與采樣電阻串聯(lián)，使得本來應(yīng)加載在繞組上的電壓部分落在了采樣電阻上，這導(dǎo)致落在繞組上的電壓隨著激勵電流的變化而變化，使對待測電流的測量結(jié)果線性度變差，通過將采樣電阻上的電壓補償在激勵電壓上，繞組上的電壓不受激勵電流大小影響。
[0056]本發(fā)明還提供了上述磁調(diào)制系統(tǒng)的過流保護方法，包括采集采樣電壓信號Sv 匕較采樣電壓信號Sv與觸發(fā)閾值電壓T2，當采樣電壓信號Sv絕對值大于等于觸發(fā)閾值電壓T2時，控制比較器C60改變反轉(zhuǎn)電壓信號St的極性；和由反轉(zhuǎn)電壓信號St控制激勵電壓源40反轉(zhuǎn)激勵電壓的極性。
[0057]應(yīng)當理解，在本文中所引證的文件僅供參考之用，且不包含任何其可能與本文的相沖突的內(nèi)容。
[0058]應(yīng)當理解，雖然本說明書是按照各個實施例描述的，但并非每個實施例僅包含一個獨立的技術(shù)方案，說明書的這種敘述方式僅僅是為清楚起見，本領(lǐng)域技術(shù)人員應(yīng)當將說明書作為一個整體，各實施例中的技術(shù)方案也可以經(jīng)適當組合，形成本領(lǐng)域技術(shù)人員可以理解的其他實施方式。
[0059]上文所列出的一系列的詳細說明僅僅是針對本發(fā)明的可行性實施例的具體說明，它們并非用以限制本發(fā)明的保護范圍，凡未脫離本發(fā)明技藝精神所作的等效實施方案或變更，如特征的組合、分割或重復(fù)，均應(yīng)包含在本發(fā)明的保護范圍之內(nèi)。
【權(quán)利要求】
1.磁調(diào)制系統(tǒng)，包括: 一個磁環(huán)(10)，至少一個可通過待測電流的導(dǎo)體(12)可穿過所述磁環(huán)(10); 一個設(shè)置在所述磁環(huán)(10)上的繞組(20)； 一個與所述繞組(20)串聯(lián)的米樣電阻(30),它可輸出代表其上壓降的米樣電壓信號(Sv)； 一個與所述繞組(20)和所述采樣電阻(30)串聯(lián)的激勵電壓源(40)，它可產(chǎn)生所述磁調(diào)制系統(tǒng)的激勵電壓(Vrart); 一個可對所述米樣電壓信號(Sv)微分并輸出微分電壓信號(S/ )的微分器(50);和 一個比較器(60)，其一個輸入端預(yù)設(shè)有一個反轉(zhuǎn)閾值電壓(Tl)，另一個輸入端接收所述微分電壓信號(Sv’),該比較器(60 )的輸出端可輸出一個反轉(zhuǎn)電壓信號(St)至所述激勵電壓源(40)，若所述微分電壓信號(S/)的絕對值大于等于所述反轉(zhuǎn)閾值電壓(Tl)，該比較器(60)藉由所述反轉(zhuǎn)電壓信號(St)極性的改變來控制所述激勵電壓(Vrait)的極性反轉(zhuǎn)， 其特征在于: 所述磁調(diào)制系統(tǒng)還包括一個接收所述采樣電壓信號(Sv)的過流觸發(fā)器(70)，其設(shè)有一個觸發(fā)閾值電壓(T2)，若所述采樣電壓信號(Sv)的絕對值大于等于所述觸發(fā)閾值電壓(T2 )，所述過流觸發(fā)器(70 )控制所述比較器(60 )改變所述反轉(zhuǎn)電壓信號(St)的極性。
2.如權(quán)利要求1所述的磁調(diào)制系統(tǒng)，其中若所述采樣電壓信號(Sv)等于所述觸發(fā)閾值電壓(T2 )，所述過流觸發(fā)器(70 )將所述反轉(zhuǎn)閾值電壓(T2 )拉低至地電位。
3.如權(quán)利要求2所述的磁調(diào)制系統(tǒng)，其中所述過流觸發(fā)器(70)包括: 一個第一二極管(D72)，其正極可輸入所述采樣電壓信號(Sv); 一個第一三極管(Q74)，其基極可電性連接于所述第一二極管(D72)的負極，其集電極可輸入所述反轉(zhuǎn)閾值電壓(T2 )，其發(fā)射極可電性連接于地電位； 一個第二二極管(D76),其負極可輸入所述米樣電壓信號(Sv);和 一個第二三極管(Q78)，其基極可電性連接于所述第二二極管(D76)的正極，其集電極可輸入所述反轉(zhuǎn)閾值電壓(T2 )，其發(fā)射極可電性連接于地電位。
4.如權(quán)利要求1所述的磁調(diào)制系統(tǒng)，其中所述磁調(diào)制系統(tǒng)還包括一個濾波器(80)，其輸入端接收所述采樣電壓信號(Sv)，且輸出濾除了所述采樣電壓信號(Sv)中疊加的所述激勵電壓(Vrart)的濾波電壓信號(Sf)，該濾波電壓信號(Sf)可代表所述待測電流的大小。
5.如權(quán)利要求4所述的磁調(diào)制系統(tǒng)，其中所述濾波器(80)是一個巴特沃茲濾波器。
6.如權(quán)利要求4所述的磁調(diào)制系統(tǒng)，其中所述磁調(diào)制系統(tǒng)還包括一個放大器(82)，其輸入端接收所述濾波電壓信號(Sf)，且輸出所述濾波電壓信號(Sf)經(jīng)放大的放大電壓信號(Sa)0
7.如權(quán)利要求4所述的磁調(diào)制系統(tǒng)，其中所述磁調(diào)制系統(tǒng)還包括一個處理器(84)，其設(shè)有一個頻率閾值(T3)和一個電壓閾值(T4)，所述處理器(84)分別采集所述反轉(zhuǎn)電壓信號(St)的頻率和所述濾波電壓信號(Sf)，若所述反轉(zhuǎn)電壓信號(St)的頻率大于等于所述頻率閾值(T3)，或者所述濾波電壓信號(Sf)大于等于所述電壓閾值(T4)，所述處理器(84)輸出待測電流超過所述磁調(diào)制系統(tǒng)的測量范圍的判斷信號。
8.如權(quán)利要求1所述的磁調(diào)制系統(tǒng)，其中所述激勵電壓源(40)可輸入所述采樣電壓信號(Sv)，且所述激勵電壓(Vrart )為所述采樣電壓信號(Sv)與所述反轉(zhuǎn)電壓信號(St)之和。
9.一種用于權(quán)利要求1所述的磁調(diào)制系統(tǒng)的過流保護方法，包括: 采集所述采樣電壓信號(Sv); 比較所述采樣電壓信號(Sv)與所述觸發(fā)閾值電壓(T2)，當所述采樣電壓信號(Sv)的絕對值大于等于所述觸發(fā)閾值電壓(T2)時，控制所述比較器(60)輸出所述反轉(zhuǎn)電壓信號(St);和 由所述反轉(zhuǎn)電壓信號(St)控制所述激勵電壓源(40 )反轉(zhuǎn)所述激勵電壓(Vext)的極性。
【文檔編號】G01R15/20GK104374981SQ201310359834
【公開日】2015年2月25日 申請日期:2013年8月16日 優(yōu)先權(quán)日:2013年8月16日
【發(fā)明者】吳迪, 杜明勝 申請人:西門子公司