復(fù)合絕緣子串帶電檢測設(shè)備的制作方法
【專利摘要】本發(fā)明適用于電力檢測領(lǐng)領(lǐng)域，提供一種復(fù)合絕緣子串帶電檢測設(shè)備。所述設(shè)備包括設(shè)置在復(fù)合絕緣子串外周的絕緣導(dǎo)軌架，所述絕緣導(dǎo)軌架上設(shè)置有探測元件，所述探測元件包括用于檢測電場強度的電場探頭，還包括用于檢測溫度的溫度傳感器和/或用于檢測濕度的濕度傳感器，所述設(shè)備還包括用于驅(qū)動所述探測元件在所述絕緣導(dǎo)軌架上運行的電機機構(gòu)、用于檢測探測元件位移的位移檢測器，以及包括中央處理器、放大電路、模數(shù)轉(zhuǎn)換電路、存儲器、顯示屏，所述檢測數(shù)據(jù)包括電場數(shù)據(jù)以及溫度數(shù)據(jù)和/或濕度數(shù)據(jù)。本發(fā)明通過溫度數(shù)據(jù)和/或濕度數(shù)據(jù)對電場數(shù)據(jù)進行修正，保證了復(fù)合絕緣子串缺陷檢測的準確性，有效避免誤檢。
【專利說明】復(fù)合絕緣子串帶電檢測設(shè)備
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明屬于電カ檢測領(lǐng)域，尤其涉及ー種復(fù)合絕緣子串帶電檢測設(shè)備。
【背景技術(shù)】
[0002]目前高壓輸電線路復(fù)合絕緣子串缺陷的檢測方法主要有:紅外成像儀，其根據(jù)高壓輸電線路上復(fù)合絕緣子的溫度變化進行檢測，紅外成像儀不能在光線較強的背景下進行檢測，且體積較大，價格昂貴和維修困難；目測方法(國內(nèi)常用)是在復(fù)合絕緣子外表面已經(jīng)有了明顯的缺陷時，才能觀測到，但是復(fù)合絕緣子內(nèi)部的缺陷不易被發(fā)現(xiàn)，難于進行預(yù)防性檢查和維護。
[0003]當前存在一種通過檢測電場強度來分析復(fù)合絕緣子串的內(nèi)部缺陷的方法，具體的，利用電場探頭探測復(fù)合絕緣子串周圍電場強度，當復(fù)合絕緣子串內(nèi)有缺陷或絕緣串中含有低阻值或零值絕緣時，其周圍的電場分布將會發(fā)生畸變，通過與無缺陷時的標準電場分布進行比較或通過分析軟件的數(shù)據(jù)處理，就可以達到檢測的目的。但是實際情況下，復(fù)合絕緣子串工作環(huán)境比較惡劣，環(huán)境的溫度和濕度都會影響到復(fù)合絕緣子串外周的電場分布，因此目前的檢測手段檢測復(fù)合絕緣子串缺陷存在一定誤差。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]鑒于上述問題，本發(fā)明的目的在于提供ー種復(fù)合絕緣子串帶電檢測設(shè)備，g在解決現(xiàn)有檢測設(shè)備檢測誤差大、容易造成誤檢的技術(shù)問題。
[0005]本發(fā)明是這樣實現(xiàn)的，一種復(fù)合絕緣子串帶電檢測設(shè)備，包括設(shè)置在復(fù)合絕緣子串外周的絕緣導(dǎo)軌架，所述絕緣導(dǎo)軌架上設(shè)置有探測元件，所述探測元件包括用于檢測電場強度的電場探頭，還包括用于檢測溫度的溫度傳感器和/或用于檢測濕度的濕度傳感器，所述設(shè)備還包括用于驅(qū)動所述探測元件在所述絕緣導(dǎo)軌架上運行的電機機構(gòu)、用于檢測探測元件位移的位移檢測器，以及包括中央處理器、放大電路、模數(shù)轉(zhuǎn)換電路、存儲器、顯示屏，所述位移檢測器將檢測到的位置數(shù)據(jù)輸出至中央處理器，所述探測元件輸出檢測數(shù)據(jù)，并依次通過所述放大電路、模數(shù)轉(zhuǎn)換電路輸出至所述中央處理器，所述存儲器用于保存所述檢測數(shù)據(jù)以及位置數(shù)據(jù)，所述檢測數(shù)據(jù)包括電場數(shù)據(jù)以及溫度數(shù)據(jù)和/或濕度數(shù)據(jù)，中央處理器根據(jù)所述溫度數(shù)據(jù)和/或濕度數(shù)據(jù)修正所述電場數(shù)據(jù)，并控制在所述顯示屏上顯示出位置-電場強度關(guān)系曲線圖。
[0006]進ー步的，述探測元件至少有兩組，且以復(fù)合絕緣子串軸對稱分布。
[0007]進ー步的，所述探測元件與放大電路之間還設(shè)有濾波電路，所述放大電路與模數(shù)轉(zhuǎn)換電路之間還設(shè)有整流濾波電路。
[0008]進ー步的，所述設(shè)備還包括與所述中央處理器連接的控制面板，所述電機機構(gòu)與所述中央處理器連接。
[0009]進ー步的，所述設(shè)備還包括與所述中央處理器連接的通訊接ロ。
[0010]進ー步的，所述設(shè)備還包括與所述中央處理器連接的告警模塊。[0011]本發(fā)明的有益效果是:本發(fā)明通過設(shè)置探測元件，且探測元件包括電場探頭，還包括溫度傳感器和/或濕度傳感器，因此探測元件可以輸出電場數(shù)據(jù)、溫度傳數(shù)據(jù)和/或濕度數(shù)據(jù)，中央處理器根據(jù)所述溫度傳數(shù)據(jù)和/或濕度數(shù)據(jù)對所述電場數(shù)據(jù)進行修正，在顯示屏上顯示出位置-電場強度關(guān)系曲線圖，然后與標準的電場分布圖進行對比或軟件分析，找到缺陷位置，由于電場強度是經(jīng)過修正的，避免了由于溫度和/或濕度為檢測結(jié)果造成的影響，提高了檢測準確度。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0012]圖1是本發(fā)明實施例提供的復(fù)合絕緣子串帶電檢測設(shè)備的ー種結(jié)構(gòu)圖；
[0013]圖2是本發(fā)明實施例提供的復(fù)合絕緣子串帶電檢測設(shè)備的另ー種結(jié)構(gòu)圖；
[0014]圖3是本發(fā)明實施例提供的復(fù)合絕緣子串帶電檢測設(shè)備的第三種結(jié)構(gòu)圖。
【具體實施方式】
[0015]為了使本發(fā)明的目的、技術(shù)方案及優(yōu)點更加清楚明白，以下結(jié)合附圖及實施例，對本發(fā)明進行進ー步詳細說明。應(yīng)當理解，此處所描述的具體實施例僅僅用以解釋本發(fā)明，并不用于限定本發(fā)明。
[0016]為了說明本發(fā)明所述的技術(shù)方案，下面通過具體實施例來進行說明。
[0017]圖1示出了本發(fā)明實施例提供的復(fù)合絕緣子串帶電檢測設(shè)備的結(jié)構(gòu)，為了便于說明僅不出了與本發(fā)明實施例相關(guān)的部分。
[0018]本實施例提供的復(fù)合絕緣子串帶電檢測設(shè)備包括:設(shè)置在復(fù)合絕緣子串外周的絕緣導(dǎo)軌架(圖中未示出)，所述絕緣導(dǎo)軌架上設(shè)置有探測元件1，所述探測元件I包括用于檢測電場強度的電場探頭，還包括用于檢測溫度的溫度傳感器和/或用于檢測濕度的濕度傳感器，所述設(shè)備還包括用于驅(qū)動所述探測元件I在所述絕緣導(dǎo)軌架上運行的電機機構(gòu)2、用于檢測探測元件位移的位移檢測器3，以及包括中央處理器4、放大電路5、模數(shù)轉(zhuǎn)換電路6、存儲器7、顯示屏8，所述位移檢測器3將檢測到的位置數(shù)據(jù)輸出至中央處理器4，所述探測元件I輸出檢測數(shù)據(jù)，并依次通過所述放大電路5、模數(shù)轉(zhuǎn)換電路6輸出至所述中央處理器4，所述存儲器7用于保存所述檢測數(shù)據(jù)以及位置數(shù)據(jù)，所述檢測數(shù)據(jù)包括電場數(shù)據(jù)以及溫度數(shù)據(jù)和/或濕度數(shù)據(jù)，中央處理器4根據(jù)所述溫度數(shù)據(jù)和/或濕度數(shù)據(jù)修正所述電場數(shù)據(jù)，并控制在所述顯示屏8上顯示出位置-電場強度關(guān)系曲線圖。
[0019]本實施例不限定絕緣導(dǎo)軌架的結(jié)構(gòu)，所述探測元件I安裝在所述絕緣導(dǎo)軌架上，并且可以在電機機構(gòu)2的驅(qū)動下在絕緣導(dǎo)軌架上沿復(fù)合絕緣子串的軸向移動，所述絕緣導(dǎo)軌架可以很好地將復(fù)合絕緣子串與探測元件以及相關(guān)的電子電路進行隔離，保證不影響到探測元件檢測結(jié)果。在移動過程中，探測元件I輸出檢測數(shù)據(jù)，并經(jīng)過所述放大電路5、模數(shù)轉(zhuǎn)換電路6輸出至所述中央處理器4，所述中央處理器4實時采集或者由所述位移檢測器3觸發(fā)采集檢測數(shù)據(jù)，同時接受所述位移檢測器3上傳的探測元件的位置數(shù)據(jù)，本實施例中，所述位移檢測器3可以是機械結(jié)構(gòu)的活動杠桿，每經(jīng)過絕緣子串的一片傘群時，傘群帶動所述活動杠桿，活動杠桿觸發(fā)所述中央處理器4采集檢測數(shù)據(jù)，所述位移檢測器3也可以是紅外距離傳感器，當然所述位移檢測器3也可以是與所述電機機構(gòu)2連接的檢測計算電路，通過電機的運行時間和轉(zhuǎn)速確定探測元件的位置。[0020]中央處理器4將檢測數(shù)據(jù)和位置數(shù)據(jù)存儲在所述存儲器7中，所述檢測數(shù)據(jù)包括電場探頭輸出的電場數(shù)據(jù)以及溫度傳感器輸出的溫度數(shù)據(jù)和/或濕度傳感器輸出的濕度數(shù)據(jù)，中央處理器再根據(jù)所述溫度數(shù)據(jù)和/或濕度數(shù)據(jù)修正所述電場數(shù)據(jù)，然后根據(jù)所述修正后的電場數(shù)據(jù)以及對應(yīng)的位置數(shù)據(jù)繪制出位置-電場強度關(guān)系曲線圖，并在顯示屏8上顯示出，然后將所述顯示出的位置-電場強度關(guān)系曲線圖與標準的電場分布圖進行對比，找出電場畸變位置，即可確定復(fù)合絕緣子串具體的存在缺陷的位置。
[0021]其中，修正電場數(shù)據(jù)具體方法如下:
[0022]針對不同形狀、材料的復(fù)合絕緣子串，其外周的電場分布不一，針對每一類型完整無缺陷的復(fù)合絕緣子串，首先都會進行電場測試得到標準電場分布圖，所述標準電場分布圖是在標準溫度(比如35攝氏度)和標準濕度(比如45%RH-75%RH)下測量不同位置電場強度得到的。
[0023]針對ー種類型的復(fù)合絕緣子串，不斷微調(diào)復(fù)合絕緣子串外周溫度，記錄不同位置下，當前溫度與標準溫度的偏差以及對應(yīng)的電場強度與標準電場強度偏差。同理，不斷微調(diào)復(fù)合絕緣子串外周的濕度，記錄不同位置下，當前濕度與標準濕度的偏差以及對應(yīng)的電場強度與標準電場強度偏差。
[0024]當在需要進行復(fù)合絕緣子串缺陷檢測時，根據(jù)當前復(fù)合絕緣子串的類型，將對應(yīng)的溫度偏差數(shù)據(jù)、濕度偏差數(shù)據(jù)和電場強度偏差數(shù)據(jù)保存至存儲器中，中央處理器根據(jù)溫度傳感器和/或濕度傳感器上傳的溫度數(shù)據(jù)、濕度數(shù)據(jù)，井根據(jù)這些數(shù)據(jù)與標準溫度、標準濕度的偏差計算對應(yīng)的電場強度偏差數(shù)據(jù)，然后根據(jù)所述電場強度偏差數(shù)據(jù)修正接收到的電場數(shù)據(jù)，最后根據(jù)所述修正后的電場數(shù)據(jù)以及對應(yīng)的位置數(shù)據(jù)繪制出位置-電場強度關(guān)系曲線圖。
[0025]作為ー種優(yōu)選的實施方式，如圖2所示，所述探測元件I至少有兩組，且以復(fù)合絕緣子串軸對稱分布，各個探測元件檢測到的檢測數(shù)據(jù)基本一致，中央處理器采集到檢測數(shù)據(jù)后，計算得到各種檢測數(shù)據(jù)的平均值，包括電場強度平均值、溫度平均值和/或濕度平均值，然后根據(jù)所述溫度平均值和/或濕度平均值修正電場強度平均值，然后根據(jù)所述修正后的電場強度平均值以及探測元件的位置數(shù)據(jù)，控制在所述顯示屏上顯示出位置-電場強度關(guān)系曲線圖，工作人員根據(jù)將所述曲線圖與標準電場分布圖進行比對，分析是否存在電場畸變點，即可檢測出符合絕緣子串內(nèi)部是否存在缺陷以及具體的缺陷位置，本優(yōu)選方式采用了多組探測元件，最終得到的位置電場強度關(guān)系曲線圖更為準確，避免了誤檢情況。
[0026]作為另ー種優(yōu)選的實施方式，如圖3所示，所述探測元件I與放大電路5之間還設(shè)有濾波電路9，所述放大電路5與模數(shù)轉(zhuǎn)換電路6之間還設(shè)有整流濾波電路10。本優(yōu)選實施方式在放大電路5的前端和后端分別設(shè)置了濾波電路9和整流濾波電路10，這兩個電路可以對放大前后的檢測數(shù)據(jù)進行濾波處理，濾除外界干擾噪聲，使得中央處理器4采集到的檢測數(shù)據(jù)更為準確，保證了設(shè)備檢測準確度。
[0027]優(yōu)選的，所述設(shè)備還包括與所述中央處理器4連接的控制面板11，所述電機機構(gòu)2與所述中央處理器4連接，所述電機機構(gòu)2由所述中央處理器4控制，通過操作所述控制面板11，管理人員可以設(shè)置相關(guān)的設(shè)備工作參數(shù)，比如電機轉(zhuǎn)速等等。
[0028]優(yōu)選的，所述設(shè)備還包括與所述中央處理器4連接的通訊接ロ 12，可以通過所述通訊接ロ 12將檢測數(shù)據(jù)和位置數(shù)據(jù)下載到計算機中進行分析處理。所述設(shè)備還包括與所述中央處理器4連接的告警模塊13，當設(shè)備出現(xiàn)故障和其他意外情況時，發(fā)出相應(yīng)的告警聲音。
[0029]綜上，本發(fā)明通過設(shè)置的探測元件包括電場探頭，還包括溫度傳感器和/或濕度傳感器，探測元件可以輸出電場數(shù)據(jù)、溫度傳數(shù)據(jù)和/或濕度數(shù)據(jù)，中央處理器根據(jù)所述溫度傳數(shù)據(jù)和/或濕度數(shù)據(jù)對所述電場數(shù)據(jù)進行修正，在顯示屏上顯示出位置-電場強度關(guān)系曲線圖，最后得到的檢測結(jié)果更為準確，避免誤檢情況。
[0030]以上所述僅為本發(fā)明的較佳實施例而已，并不用以限制本發(fā)明，凡在本發(fā)明的精神和原則之內(nèi)所作的任何修改、等同替換和改進等，均應(yīng)包含在本發(fā)明的保護范圍之內(nèi)。
【權(quán)利要求】
1.一種復(fù)合絕緣子串帶電檢測設(shè)備，其特征在于，所述設(shè)備包括設(shè)置在復(fù)合絕緣子串外周的絕緣導(dǎo)軌架，所述絕緣導(dǎo)軌架上設(shè)置有探測元件，所述探測元件包括用于檢測電場強度的電場探頭，還包括用于檢測溫度的溫度傳感器和/或用于檢測濕度的濕度傳感器，所述設(shè)備還包括用于驅(qū)動所述探測元件在所述絕緣導(dǎo)軌架上運行的電機機構(gòu)、用于檢測探測元件位移的位移檢測器，以及包括中央處理器、放大電路、模數(shù)轉(zhuǎn)換電路、存儲器、顯示屏，所述位移檢測器將檢測到的位置數(shù)據(jù)輸出至中央處理器，所述探測元件輸出檢測數(shù)據(jù)，并依次通過所述放大電路、模數(shù)轉(zhuǎn)換電路輸出至所述中央處理器，所述存儲器用于保存所述檢測數(shù)據(jù)以及位置數(shù)據(jù)，所述檢測數(shù)據(jù)包括電場數(shù)據(jù)以及溫度數(shù)據(jù)和/或濕度數(shù)據(jù)，中央處理器根據(jù)所述溫度數(shù)據(jù)和/或濕度數(shù)據(jù)修正所述電場數(shù)據(jù)，并控制在所述顯示屏上顯示出位置-電場強度關(guān)系曲線圖。
2.如權(quán)利要求1所述的復(fù)合絕緣子串帶電檢測設(shè)備，其特征在于，所述探測元件至少有兩組，且以復(fù)合絕緣子串軸對稱分布。
3.如權(quán)利要求1或2所述的復(fù)合絕緣子串帶電檢測設(shè)備，其特征在于，所述探測元件與放大電路之間還設(shè)有濾波電路，所述放大電路與模數(shù)轉(zhuǎn)換電路之間還設(shè)有整流濾波電路。
4.如權(quán)利要求3所述的復(fù)合絕緣子串帶電檢測設(shè)備，其特征在于，所述設(shè)備還包括與所述中央處理器連接的控制面板，所述電機機構(gòu)與所述中央處理器連接。
5.如權(quán)利要求4所述的復(fù)合絕緣子串帶電檢測設(shè)備，其特征在于，所述設(shè)備還包括與所述中央處理器連接的通訊接口。
6.如權(quán)利要求5所述的復(fù)合絕緣子串帶電檢測設(shè)備，其特征在于，所述設(shè)備還包括與所述中央處理器連接的告警模塊。
【文檔編號】G01N27/00GK103439367SQ201310397758
【公開日】2013年12月11日 申請日期:2013年9月4日 優(yōu)先權(quán)日:2013年9月4日
【發(fā)明者】董昌寶, 龔振龍, 胡建勝, 李亞東, 劉廣州, 黃俠, 張春程, 余成 申請人:國家電網(wǎng)公司, 國網(wǎng)安徽省電力公司宿州供電公司, 武漢星杪科技有限公司