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      一種ccd垂線儀的制作方法

      文檔序號:6176133閱讀:240來源:國知局
      一種ccd垂線儀的制作方法
      【專利摘要】一種 CCD 垂線儀是涉及一種測量儀,尤其是涉及一種 CCD 垂線儀的改進。本發(fā)明提供一種測量范圍寬,精度高的一種 CCD 垂線儀。本發(fā)明包括底板,其結(jié)構(gòu)要點:底板設(shè)置有導(dǎo)軌,在導(dǎo)軌上設(shè)置有支桿,支桿上設(shè)置有點光源,底板上與點光源相對應(yīng)的另一端設(shè)置有擋板,擋板的中部設(shè)置有透鏡,擋板的后側(cè)與擋板相對應(yīng)的設(shè)置有接收板,接收板上設(shè)置有電路板,電路板上設(shè)置有 CCD 器件;擋板與接收板之間設(shè)置有標(biāo)志物。
      【專利說明】一種CCD垂線儀

      【技術(shù)領(lǐng)域】
      [0001]本發(fā)明是涉及一種測量儀,尤其是涉及一種(XD垂線儀的改進。

      【背景技術(shù)】
      [0002]垂線儀是測量不同高程水平方向位移變形的傳統(tǒng)儀器,廣泛應(yīng)用于大壩不同高程的水平位移和壩體撓度監(jiān)測。垂線測量裝置根據(jù)垂線固定端的固定方式分為正錘線和倒錘線兩種形式。垂線測量裝置用自由引張的金屬線建立垂直基準,垂線儀通過測量垂線基準和其附近標(biāo)志物之間距離隨時間的微量變化了解標(biāo)志物的水平位移變形情況。現(xiàn)有的垂線儀雖然能起到測量的作用但是,測量范圍窄,精度不高。


      【發(fā)明內(nèi)容】

      [0003]本發(fā)明就是針對上述問題,提供一種測量范圍寬,精度高的一種(XD垂線儀。
      [0004]為了實現(xiàn)上述目的,本發(fā)明采用如下技術(shù)方案,本發(fā)明包括底板,其結(jié)構(gòu)要點:底板設(shè)置有導(dǎo)軌,在導(dǎo)軌上設(shè)置有支桿,支桿上設(shè)置有點光源,底板上與點光源相對應(yīng)的另一端設(shè)置有擋板,擋板的中部設(shè)置有透鏡,擋板的后側(cè)與擋板相對應(yīng)的設(shè)置有接收板,接收板上設(shè)置有電路板,電路板上設(shè)置有CCD器件;擋板與接收板之間設(shè)置有標(biāo)志物。
      [0005]作為一種優(yōu)選方案,所述(XD器件采用CZ型(XD垂線坐標(biāo)儀。
      [0006]本發(fā)明有益效果。
      [0007]1、測量范圍寬,精度高。
      [0008]本發(fā)明采用線陣CCD器件開發(fā)成的光電一體化位移傳感器檢測微量位移,采用單片機實現(xiàn)CCD器件的程控驅(qū)動、信號處理和識別、數(shù)據(jù)采集、計算和通訊等功能。同時在儀器結(jié)構(gòu)設(shè)計中采用模塊化設(shè)計,將CCD器件和外圍電路集成,并設(shè)計專用模具制造機箱,儀器的整體性和密封性能好,便于安裝。該垂線坐標(biāo)儀具有測量范圍寬、分辨率高、測量精度高、無電學(xué)漂移、故障自動診斷、實現(xiàn)了真正意義的非接觸式測量等特點。
      [0009]2、結(jié)構(gòu)簡單。
      [0010]本發(fā)明包括底板,底板設(shè)置有導(dǎo)軌,在導(dǎo)軌上設(shè)置有支桿,支桿上設(shè)置有點光源,底板上與點光源相對應(yīng)的另一端設(shè)置有擋板,擋板的中部設(shè)置有透鏡,擋板的后側(cè)與擋板相對應(yīng)的設(shè)置有接收板,接收板上設(shè)置有電路板,電路板上設(shè)置有CCD器件;擋板與接收板之間設(shè)置有標(biāo)志物。構(gòu)件少,因此說本發(fā)明結(jié)構(gòu)簡單。

      【專利附圖】

      【附圖說明】
      [0011]為本發(fā)明所解決的技術(shù)問題、技術(shù)方案及有益效果更加清楚明白,以下結(jié)合附圖及【具體實施方式】,對本發(fā)明進行進一步詳細說明。應(yīng)當(dāng)理解,此處所描述的【具體實施方式】僅僅用以解釋本發(fā)明,并不用于限定本發(fā)明。
      [0012]圖1是本發(fā)明結(jié)構(gòu)示意圖。
      [0013]圖中1為接收板、2為(XD器件、3為標(biāo)志物、4為擋板、5為透鏡、6為導(dǎo)軌、7為支桿、8為點光源、9為底板。

      【具體實施方式】
      [0014]如圖所示,本發(fā)明包括底板9,底板9設(shè)置有導(dǎo)軌6,在導(dǎo)軌6上設(shè)置有支桿7,支桿7上設(shè)置有點光源8,底板9上與點光源8相對應(yīng)的另一端設(shè)置有擋板4,擋板4的中部設(shè)置有透鏡5,擋板4的后側(cè)與擋板4相對應(yīng)的設(shè)置有接收板1,接收板1上設(shè)置有電路板,電路板上設(shè)置有(XD器件2 ;擋板4與接收板1之間設(shè)置有標(biāo)志物3。
      [0015]所述(XD器件2采用CZ型(XD垂線坐標(biāo)儀。
      [0016]CZ型(XD垂線坐標(biāo)儀的核心技術(shù)是采用線陣(XD器件開發(fā)成的光電一體化位移傳感器。該傳感器由平行光源、位移傳遞標(biāo)志桿以及由線陣CCD器件和外圍電路集成的光電接收器三部分組成。其中,傳感器的分辨率由線陣CCD器件的像元的寬度確定,有14μπι、7μπι、4μπι等不同檔次。一旦選定了線陣C⑶器件的型號后,傳感器的測量精度則主要取決于平行光源的質(zhì)量。一般而論,平行光源的質(zhì)量主要取決于平行光源的透鏡設(shè)計和加工工藝。通過平行光源的光學(xué)設(shè)計計算和試驗,采用了大視場復(fù)合透鏡的設(shè)計方案,使復(fù)合透鏡的平行光視場滿足傳感器測量范圍需要的同時,也滿足傳感器對非線性測量誤差指標(biāo)的需要。
      [0017]以上內(nèi)容是結(jié)合具體的優(yōu)選實施方式對本發(fā)明作的進一步詳細說明,不能認定本發(fā)明的具體實施只局限于這些說明,對于本發(fā)明所屬【技術(shù)領(lǐng)域】的普通技術(shù)人員來說,在不脫離本發(fā)明構(gòu)思的前提下,還可以做出若干簡單推演或替換,都應(yīng)當(dāng)視為屬于本發(fā)明所提交的權(quán)利要求書確定的保護范圍。
      【權(quán)利要求】
      1.一種C⑶垂線儀包括底板(9),其特征在于底板(9)設(shè)置有導(dǎo)軌(6),在導(dǎo)軌(6)上設(shè)置有支桿(7),支桿(7)上設(shè)置有點光源(8),底板(9)上與點光源(8)相對應(yīng)的另一端設(shè)置有擋板(4),擋板(4)的中部設(shè)置有透鏡(5),擋板(4)的后側(cè)與擋板(4)相對應(yīng)的設(shè)置有接收板(I ),接收板(I)上設(shè)置有電路板,電路板上設(shè)置有CXD器件(2);擋板(4)與接收板(I)之間設(shè)置有標(biāo)志物(3 )。
      2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種CXD垂線儀,其特征在于CXD器件(2)采用CZ型CXD垂線坐標(biāo)儀。
      【文檔編號】G01B11/16GK104457602SQ201310417649
      【公開日】2015年3月25日 申請日期:2013年9月14日 優(yōu)先權(quán)日:2013年9月14日
      【發(fā)明者】李征, 陳佳玟, 曹勇 申請人:李征
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