靜電衰減性能測(cè)試的靜電探測(cè)裝置制造方法
【專(zhuān)利摘要】本發(fā)明涉及防護(hù)材料靜電防護(hù)性能試驗(yàn)裝置【技術(shù)領(lǐng)域】。本發(fā)明的靜電衰減性能測(cè)試的靜電探測(cè)裝置，包括探頭銅片、探頭片隔圈、探頭片襯套、接地銅片、接地墊圈、探頭外罩、探頭體、走線套、出線螺帽與外接線纜，探頭銅片、探頭體皆設(shè)置在探頭外罩內(nèi)，探頭銅片、探頭體之間設(shè)有探頭片隔圈、探頭片襯套、接地銅片與接地墊圈，探頭體套接在走線套的外側(cè)，探頭體的下端連接出線螺帽，外接線纜貫穿出線螺帽、走線套后與探頭銅片連接。本發(fā)明的靜電衰減性能測(cè)試的靜電探測(cè)裝置，測(cè)試靈敏、性能良好，可精確感應(yīng)出被測(cè)試樣表面經(jīng)電暈放電后所產(chǎn)生的電壓信號(hào)，實(shí)現(xiàn)試樣表面感應(yīng)靜電信號(hào)的探測(cè)功能。該裝置結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)簡(jiǎn)單、成本低、制作方便、使用安全。
【專(zhuān)利說(shuō)明】靜電衰減性能測(cè)試的靜電探測(cè)裝置
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及防護(hù)材料靜電防護(hù)性能試驗(yàn)裝置【技術(shù)領(lǐng)域】，具體涉及一種能夠精確感應(yīng)出被測(cè)試樣表面經(jīng)電暈放電后所產(chǎn)生的電壓信號(hào)的裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]目前國(guó)內(nèi)外關(guān)于電荷衰減性能測(cè)試方法多種多樣。根據(jù)被測(cè)試樣帶電方式不同，常用測(cè)試方法主要有三種:充電法、電暈噴電法或摩擦法。通過(guò)使被測(cè)試樣帶電至初始靜電電壓后，撤除作用于被測(cè)試樣的靜電發(fā)生裝置，然后將被測(cè)試樣迅速接地使其開(kāi)始放電，同時(shí)利用實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)系統(tǒng)實(shí)時(shí)測(cè)量被測(cè)試樣表面靜電電位隨時(shí)間變化的衰減信號(hào)，計(jì)算出電荷衰減至設(shè)定終止電位的衰減時(shí)間，并以此為依據(jù)來(lái)評(píng)價(jià)被測(cè)材料的防靜電性能。對(duì)于電暈噴電法和摩擦法，被測(cè)試樣表面靜電衰減性能測(cè)試的靜電探測(cè)裝置是整個(gè)測(cè)試裝置中的關(guān)鍵部件之一。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]本發(fā)明的技術(shù)效果能夠克服上述缺陷，提供一種靜電衰減性能測(cè)試的靜電探測(cè)裝置，其可精確感應(yīng)出被測(cè)試樣表面經(jīng)電暈放電后所產(chǎn)生的電壓信號(hào)，實(shí)現(xiàn)試樣表面感應(yīng)靜電信號(hào)的探測(cè)功能。
[0004]為實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明采用如下技術(shù)方案:其包括探頭銅片、探頭片隔圈、探頭片襯套、接地銅片、接地墊圈、探頭外罩、探頭體、走線套、出線螺帽與外接線纜，探頭銅片、探頭體皆設(shè)置在探頭外罩內(nèi)，探頭銅片、探頭體之間設(shè)有探頭片隔圈、探頭片襯套、接地銅片與接地墊圈，探頭體套接在走線套的外側(cè)，探頭體的下端連接出線螺帽，外接線纜貫穿出線螺帽、走線套后與探頭銅片連接。
[0005]所述的探頭銅片與探頭片襯套之間間隙配合，探頭銅片從探頭片襯套內(nèi)孔裝入，通過(guò)探頭銅片上的定位凸肩安裝到位，并限定銅片伸出探頭體的凸緣長(zhǎng)度，確保探測(cè)裝置端面為一平面，以保證試驗(yàn)過(guò)程中探頭平面與被測(cè)試樣平面之間測(cè)試距離相同。
[0006]所述的探頭片隔圈由聚四氟乙烯材料制成，它與探頭片襯套之間間隙配合，探頭片隔圈從探頭片襯套內(nèi)孔裝入，與探頭片襯套的內(nèi)孔定位臺(tái)階一起將探頭銅片夾持住。使得探頭銅片在整個(gè)探測(cè)裝置中軸向定位精確且與探頭外罩絕緣良好，可保證被測(cè)試樣表面的電壓信號(hào)傳輸安全可靠。
[0007]所述的探頭片襯套與探頭外罩之間間隙配合，靠探頭片襯套的外圓定位臺(tái)階限位安裝到探頭外罩內(nèi)，為整個(gè)探測(cè)器探頭主體提供良好的絕緣保障。
[0008]所述的接地銅片與探頭片襯套之間間隙配合。接地銅片從探頭片襯套內(nèi)孔裝入，靠探頭片隔圈定位，探頭片隔圈為機(jī)加工件，可以充分保證其軸向尺寸的精度要求，從而確保了接地銅片與探頭銅片之間的距離。接地線焊接于接地銅片上，使得接地銅片與探頭銅片上感應(yīng)到的靜電形成一個(gè)準(zhǔn)確的電位差，為探測(cè)器測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性和重現(xiàn)性提供良好的保障。接地銅片中心開(kāi)有通孔，方便走線套從中間穿過(guò)與探頭銅片進(jìn)行螺紋連接。[0009]所述的接地墊圈與探頭片襯套之間為間隙配合。接地墊圈從探頭片襯套內(nèi)孔裝入，靠接地銅片定位，靠探頭體螺紋擰緊與探頭片襯套、探頭銅片、探頭片隔圈共同構(gòu)成靜電探測(cè)器探頭的主體。探頭體與接地銅片通過(guò)接地墊圈相連通，共同接地。
[0010]所述的探頭外罩與探頭體之間螺紋連接，靠靜電探測(cè)器探頭的主體限定兩者之間的嚙合長(zhǎng)度，同時(shí)通過(guò)兩者的旋緊為探頭主體進(jìn)行軸向壓緊定位。探頭外罩與探頭體為整個(gè)探測(cè)器主體提供了良好的接地屏蔽作用。
[0011]所述的走線套由絕緣極好的聚四氟乙烯材料制作。走線套上端部開(kāi)有內(nèi)螺紋，與探頭銅片下端的外螺紋配合擰緊連接。走線套開(kāi)有中心孔，外接線纜從中心孔穿過(guò)，與探頭銅片下端的螺紋端部焊接。方便探頭銅片感應(yīng)信號(hào)的傳輸。
[0012]所述的出線螺帽由絕緣性能良好的夾布膠木制作，與探頭體之間靠螺紋連接，出線螺帽開(kāi)有中心孔，探頭銅片的外接線纜可穿過(guò)中心孔自由出入。出線螺帽與探頭體之間的螺紋擰緊又為走線套軸向壓緊定位。
[0013]本發(fā)明的靜電衰減性能測(cè)試的靜電探測(cè)裝置，測(cè)試靈敏、性能良好，可精確感應(yīng)出被測(cè)試樣表面經(jīng)電暈放電后所產(chǎn)生的電壓信號(hào)，實(shí)現(xiàn)試樣表面感應(yīng)靜電信號(hào)的探測(cè)功能。該裝置結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)簡(jiǎn)單、成本低、制作方便、使用安全。
【專(zhuān)利附圖】

【附圖說(shuō)明】
[0014]圖1為本發(fā)明的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0015]1-探頭銅片；2_探頭片隔圈；3_探頭片襯套；4_接地銅片；5_接地墊圈；6-探頭外罩；7_探頭體；8_走線套；9_出線螺帽；10_外接線纜；
[0016]101.定位凸肩；
[0017]301.內(nèi)孔定位臺(tái)階；302.外圓定位臺(tái)階。
【具體實(shí)施方式】
[0018]如圖1所示，本發(fā)明的靜電衰減性能測(cè)試的靜電探測(cè)裝置，包括探頭銅片1、探頭片隔圈2、探頭片襯套3、接地銅片4、接地墊圈5、探頭外罩6、探頭體7、走線套8、出線螺帽9與外接線纜10，探頭銅片1、探頭體7皆設(shè)置在探頭外罩6內(nèi)，探頭銅片1、探頭體7之間設(shè)有探頭片隔圈2、探頭片襯套3、接地銅片4與接地墊圈5，探頭體7套接在走線套8的外偵牝探頭體7的下端連接出線螺帽9，外接線纜10貫穿出線螺帽9、走線套8后與探頭銅片I連接。
[0019]所述的探頭銅片I與探頭片襯套3之間為間隙配合，探頭銅片I從探頭片襯套3內(nèi)孔裝入，靠探頭銅片I上的定位凸肩101安裝到位，并限定探頭銅片I伸出探頭體7的凸緣長(zhǎng)度，確保探測(cè)裝置端面為一平面。
[0020]所述的探頭片隔圈2與探頭片襯套3之間為間隙配合，探頭片隔圈2從探頭片襯套3內(nèi)孔裝入，與探頭片襯套3的內(nèi)孔定位臺(tái)階301 —起將探頭銅片I夾持住。
[0021]所述的探頭片襯套3與探頭外罩6之間為間隙配合，通過(guò)探頭片襯套的外圓定位臺(tái)階302限位安裝到探頭外罩6內(nèi)。
[0022]所述的接地銅片4與探頭片襯套3之間為間隙配合，接地銅片4從探頭片襯套3內(nèi)孔裝入，通過(guò)探頭片隔圈2定位，接地銅片4焊接接地線，接地銅片4中心開(kāi)有通孔，走線套8從通孔中間穿過(guò)并與探頭銅片I螺紋連接。
[0023]所述的接地墊圈5與探頭片襯套3之間為間隙配合，接地墊圈5從探頭片襯套3內(nèi)孔裝入，通過(guò)接地銅片4、探頭體7定位，探頭體7與接地銅片4通過(guò)接地墊圈5相連通后共同接地，接地墊圈5、探頭片襯套3、探頭銅片1、探頭片隔圈3共同構(gòu)成靜電探測(cè)器探頭的主體。
[0024]所述的探頭外罩6與探頭體7之間螺紋連接，通過(guò)靜電探測(cè)器探頭的主體限定兩者之間的嚙合長(zhǎng)度，同時(shí)通過(guò)兩者的旋緊為探頭主體進(jìn)行軸向壓緊定位。
[0025]所述的走線套8上端部開(kāi)有內(nèi)螺紋，與探頭銅片I下端的外螺紋配合擰緊連接，走線套8開(kāi)有中心孔，外接線纜10從中心孔穿過(guò)，與探頭銅片I下端的螺紋端部焊接。
[0026]所述的出線螺帽9與探頭體7之間螺紋連接，出線螺帽9開(kāi)有中心孔，探頭銅片的外接線纜10可穿過(guò)中心孔自由出入，出線螺帽9與探頭體7之間的螺紋擰緊為走線套8軸向壓緊定位。
【權(quán)利要求】
1.一種靜電衰減性能測(cè)試的靜電探測(cè)裝置，其特征在于，包括探頭銅片(I)、探頭片隔圈(2)、探頭片襯套(3)、接地銅片(4)、接地墊圈(5)、探頭外罩(6)、探頭體(7)、走線套(8)、出線螺帽(9)與外接線纜(10)，探頭銅片(I)、探頭體(7)皆設(shè)置在探頭外罩(6)內(nèi)，探頭銅片(I)、探頭體(7)之間設(shè)有探頭片隔圈(2)、探頭片襯套(3)、接地銅片(4)與接地墊圈(5)，探頭體(7)套接在走線套(8)的外側(cè)，探頭體(7)的下端連接出線螺帽(9)，外接線纜(10)貫穿出線螺帽(9)、走線套(8)后與探頭銅片(I)連接。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的靜電衰減性能測(cè)試的靜電探測(cè)裝置，其特征在于，所述的探頭銅片(I)與探頭片襯套(3)之間間隙配合，探頭銅片(I)從探頭片襯套(3)內(nèi)孔裝入，通過(guò)探頭銅片(I)上的定位凸肩(101)安裝到位，并限定探頭銅片(I)伸出探頭體(7)的凸緣長(zhǎng)度，確保探測(cè)裝置端面為一平面。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的靜電衰減性能測(cè)試的靜電探測(cè)裝置，其特征在于，所述的探頭片隔圈(2)與探頭片襯套(3)之間間隙配合，探頭片隔圈(2)從探頭片襯套(3)內(nèi)孔裝入，與探頭片襯套(3 )的內(nèi)孔定位臺(tái)階(301) —起將探頭銅片(I)夾持住。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的靜電衰減性能測(cè)試的靜電探測(cè)裝置，其特征在于，所述的探頭片襯套(3)與探頭外罩(6)之間間隙配合，通過(guò)探頭片襯套的外圓定位臺(tái)階(302)限位安裝到探頭外罩(6)內(nèi)。
5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的靜電衰減性能測(cè)試的靜電探測(cè)裝置，其特征在于，所述的接地銅片(4)與探頭片襯套(3)之間間隙配合，接地銅片(4)從探頭片襯套(3)內(nèi)孔裝入，通過(guò)探頭片隔圈(2)定位，接地銅片(4)焊接接地線，接地銅片(4)中心開(kāi)有通孔，走線套(8)從通孔中間穿過(guò)并與探頭銅片(I)螺紋連接。
6.根據(jù)權(quán)利要求3所述的靜電衰減性能測(cè)試的靜電探測(cè)裝置，其特征在于，所述的接地墊圈(5)與探頭片襯套(3)之間間隙配合，接地墊圈(5)從探頭片襯套(3)內(nèi)孔裝入，通過(guò)接地銅片(4)、探頭體(7)定位，探頭體(7)與接地銅片(4)通過(guò)接地墊圈(5)相連通后共同接地，接地墊圈(5)、探頭片襯套(3)、探頭銅片(I)、探頭片隔圈(3)共同構(gòu)成靜電探測(cè)器探頭的主體。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的靜電衰減性能測(cè)試的靜電探測(cè)裝置，其特征在于，所述的探頭外罩(6)與探頭體(7)之間螺紋連接，通過(guò)靜電探測(cè)器探頭的主體限定兩者之間的嚙合長(zhǎng)度，同時(shí)通過(guò)兩者的旋緊為探頭主體進(jìn)行軸向壓緊定位。
8.根據(jù)權(quán)利要求3所述的靜電衰減性能測(cè)試的靜電探測(cè)裝置，其特征在于，所述的走線套(8)上端部開(kāi)有內(nèi)螺紋，與探頭銅片(I)下端的外螺紋配合擰緊連接，走線套(8)開(kāi)有中心孔，外接線纜(10)從中心孔穿過(guò)，與探頭銅片(I)下端的螺紋端部焊接。
9.根據(jù)權(quán)利要求3所述的靜電衰減性能測(cè)試的靜電探測(cè)裝置，其特征在于，所述的出線螺帽(9)與探頭體(7)之間螺紋連接，出線螺帽(9)開(kāi)有中心孔，探頭銅片的外接線纜(10)可穿過(guò)中心孔自由出入，出線螺帽(9)與探頭體(7)之間的螺紋擰緊為走線套(8)軸向壓緊定位。
【文檔編號(hào)】G01R19/10GK103472287SQ201310462209
【公開(kāi)日】2013年12月25日 申請(qǐng)日期:2013年9月30日 優(yōu)先權(quán)日:2013年9月30日
【發(fā)明者】楊成麗, 李娟娟, 付偉, 焦亮 申請(qǐng)人:山東省紡織科學(xué)研究院