一種數(shù)字陣列模塊發(fā)射通道相位一致性測試方法及裝置制造方法
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種數(shù)字陣列模塊發(fā)射通道相位一致性測試方法及裝置，方法包括如下步驟：建立一個基于FPGA的狀態(tài)控制模塊；在時鐘信號的上升沿，狀態(tài)控制模塊通過光模塊對數(shù)字陣列模塊的工作狀態(tài)進行控制，同時使狀態(tài)控制模塊輸出一路與數(shù)字陣列模塊工作狀態(tài)同步的脈沖信號，以同步信號為紐帶，建立起數(shù)字陣列模塊和脈沖矢量網(wǎng)絡分析儀之間的同步關系；在開關網(wǎng)絡的切換下，多路發(fā)射信號同時輸入至脈沖矢量網(wǎng)絡分析儀接收機通道中，后經(jīng)過歸一化運算、相差運算得到發(fā)射通道相位一致性指標。本發(fā)明通過構建同步機制和引入多通道相參測試實現(xiàn)了數(shù)字陣列模塊發(fā)射通道相位一致性測試；同時，優(yōu)化了發(fā)射信號的傳輸路徑，降低通道的插入損耗和改善阻抗匹配。
【專利說明】一種數(shù)字陣列模塊發(fā)射通道相位一致性測試方法及裝置
【技術領域】
[0001]本發(fā)明涉及一種數(shù)字陣列模塊發(fā)射通道相位一致性測試方法，以及一種數(shù)字陣列模塊發(fā)射通道相位一致性測試裝置。
【背景技術】
[0002]數(shù)字陣列雷達是一種收發(fā)均采用數(shù)字波束形成技術的全數(shù)字化相控陣雷達。較之傳統(tǒng)相控陣雷達，數(shù)字陣列雷達具有其無法比擬的優(yōu)點，如動態(tài)范圍大、容易實現(xiàn)多波束、低損耗、低副瓣、低角測高精度高、可制造性強、系統(tǒng)任務可靠性高等。因此，數(shù)字陣列雷達的應用前景非常廣闊。數(shù)字陣列模塊是數(shù)字陣列雷達最重要和數(shù)量最多的基本單元，
[0003]數(shù)字陣列模塊是一個微波數(shù)字混合的多通道雷達發(fā)射/接收模塊，整體呈現(xiàn)光纖化、數(shù)字化和集成化的鮮明特點，在功能上相當于傳統(tǒng)相控陣雷達的模擬T/R組件、移相器、陣面前端、頻率源分機、接收分機以及一部分數(shù)字信號處理分機的綜合。由于采用了基于DDS的波形產(chǎn)生技術和精確幅相控制技術、基于DDC的多通道數(shù)字化接收技術、集成化一體化收發(fā)通道設計技術和高速大容量數(shù)據(jù)傳輸技術等大量新技術和新工藝，無論從技術體制的角度，還是從實現(xiàn)方式的角度來看，數(shù)字陣列模塊都是T/R組件領域的一次跨越和革命O
[0004]與模擬T/R組件相比，數(shù)字陣列模塊在發(fā)射通道的輸出信號類型、發(fā)射通道輸入信號類型、狀態(tài)控制實現(xiàn)方式、移相實現(xiàn)方式以及T/R通道數(shù)目等多個方面都有較大的不同。
[0005]發(fā)射通道相位一致性是數(shù)字陣列模塊測試的重要指標，它是進行發(fā)射波束合成的重要參考和依據(jù)。那么，具體到與發(fā)射通道相位一致性測試來說，數(shù)字陣列模塊與模擬T/R組件相關的不同主要體現(xiàn)在:
[0006]I)數(shù)字陣列模塊發(fā)射通道沒有模擬射頻輸入信號，只是通過光纖傳輸波形數(shù)據(jù)和命令
[0007]2)數(shù)字陣列模塊發(fā)射通道不再利用移相器進行移相，而是在基帶信號產(chǎn)生階段進行數(shù)字移相，移相精度更高，對測試儀器的要求也就更高。
[0008]3)數(shù)字陣列模塊自身也沒有同步信號輸入/輸出
[0009]數(shù)字陣列模塊是一個全新的事物，其相關的測試方法都在研究摸索過程中。而對于模擬T/R組件發(fā)射通道相位一致性測試是利用脈沖矢量網(wǎng)絡分析儀在傳輸模式下直接進行測試的方法。具體來講，脈沖矢量網(wǎng)絡分析儀為被測模擬T/R組件提供脈沖調制模式的激勵信號，而輸出的多通道發(fā)射信號經(jīng)開關網(wǎng)絡的切換后分別輸入至脈沖矢量網(wǎng)絡分析儀接收機通道。在傳輸測試模式下測試每一路發(fā)射信號與激勵信號相比的相頻特性，然后將其中一條相頻曲線作為參考曲線，其它測試曲線與之進行相差運算即為模擬T/R組件發(fā)射通道間相位一致性測試指標。需要說明的是，在測試過程中，由于激勵信號和發(fā)射信號均為脈沖調制信號，那么必然涉及到同步的問題，但因為激勵信號是脈沖矢量網(wǎng)絡分析儀自身產(chǎn)生的，因此利用內同步的方式即可實現(xiàn)，而且不需要復雜的儀器狀態(tài)設置。[0010]與傳統(tǒng)模擬T/R組件不同，數(shù)字陣列模塊發(fā)射通道由于沒有輸入模擬射頻激勵信號，那么就無法利用脈沖矢量網(wǎng)絡分析儀的傳輸模式進行測試。另外，數(shù)字陣列模塊的發(fā)射通道輸出信號為脈內復雜調制信號，那么在測試過程中就必須保證發(fā)射信號和脈沖矢量網(wǎng)絡分析儀建立同步關系，但是因為數(shù)字陣列模塊不需要脈沖矢量網(wǎng)絡分析儀輸入激勵信號，那么模擬T/R組件測試過程中所采用的內同步模式就無法采用。綜上所述，模擬T/R采用的直接利用脈沖矢量分析儀傳輸模式實現(xiàn)發(fā)射通道相位一致性的測試方法不再適用于數(shù)字T/R組件。

【發(fā)明內容】

[0011]本發(fā)明的任務在于提供一種數(shù)字陣列模塊發(fā)射通道相位一致性測試方法，以及一種數(shù)字陣列模塊發(fā)射通道相位一致性測試裝置。
[0012]其技術解決方案是:
[0013]一種數(shù)字陣列模塊發(fā)射通道相位一致性測試方法，包括如下步驟:
[0014]a建立一個狀態(tài)控制模塊，狀態(tài)控制模塊包括FPGA、光模塊與DAC芯片；FPGA —是通過光模塊連接數(shù)字陣列模塊，而數(shù)字陣列模塊再通過開關網(wǎng)絡連接脈沖矢量網(wǎng)絡分析儀，二是通過DAC連接脈沖矢量網(wǎng)絡分析儀外部同步脈沖輸入端口 ；
[0015]b在時鐘信號的上升沿，狀態(tài)控制模塊通過光模塊對數(shù)字陣列模塊的工作狀態(tài)進行控制，同時傳輸同步信號數(shù)據(jù)給狀態(tài)控制模塊中的DAC芯片，使狀態(tài)控制模塊輸出一路與數(shù)字陣列模塊工作狀態(tài)同步的脈沖信號，將狀態(tài)控制模塊輸出的脈沖信號作為脈沖矢量網(wǎng)絡分析儀的脈沖同步輸入信號，在數(shù)字陣列模塊和脈沖矢量網(wǎng)絡網(wǎng)絡分析儀之間建立起同步關系；
[0016]c在開關網(wǎng)絡的切換下，多路發(fā)射信號同時輸入至脈沖矢量網(wǎng)絡分析儀接收機通道中；設置脈沖矢量網(wǎng)絡分析儀工作在相參接收機模式，選擇脈沖觸發(fā)和外部同步源，根據(jù)同步信號和發(fā)射信號之間的延時設置延遲時間，完成脈沖矢量網(wǎng)絡分析儀的功能和狀態(tài)設置；在發(fā)射通道相位一致性測試過程中，將其中一個接收機通道作為參考通道，其它通道與之進行相減的相位歸一化運算，然后除參考通道外的發(fā)射通道進行移相，再次與參考通道進行相差運算，所得的相位差值即是發(fā)射通道相位一致性指標。
[0017]上述步驟a中，將脈沖矢量網(wǎng)絡分析儀作為一臺多通道相參接收機來使用，用于同時完成至少4路發(fā)射信號的測試。
[0018]在施行上述步驟b、c的過程中，關閉脈沖矢量網(wǎng)絡分析儀的信號源。
[0019]上述步驟c中，同步信號和發(fā)射信號之間的延時是通過數(shù)字示波器進行測試獲得的。
[0020]上述步驟b還包括:將發(fā)射信號衰減后直接送入脈沖矢量網(wǎng)絡分析儀接收機中混頻器的RF通道，用以繞開前面板的定向耦合器，降低通道的插入損耗，并改善阻抗匹配。
[0021]一種數(shù)字陣列模塊發(fā)射通道相位一致性測試裝置，包括:
[0022]第一單元，用于建立一個狀態(tài)控制模塊，狀態(tài)控制模塊包括FPGA、光模塊與DAC芯片；FPGA —是通過光模塊連接數(shù)字陣列模塊，而數(shù)字陣列模塊再通過開關網(wǎng)絡連接脈沖矢量網(wǎng)絡分析儀，二是通過DAC連接脈沖矢量網(wǎng)絡分析儀外部同步脈沖輸入端口 ；
[0023]第二單元，用于在時鐘信號的上升沿，狀態(tài)控制模塊通過光模塊對數(shù)字陣列模塊的工作狀態(tài)進行控制，同時傳輸同步信號數(shù)據(jù)給狀態(tài)控制模塊中的DAC芯片，使狀態(tài)控制模塊輸出一路與數(shù)字陣列模塊工作狀態(tài)同步的脈沖信號，將狀態(tài)控制模塊輸出的脈沖信號作為脈沖矢量網(wǎng)絡分析儀的脈沖同步輸入信號，在數(shù)字陣列模塊和脈沖矢量網(wǎng)絡網(wǎng)絡分析儀之間建立起同步關系；
[0024]第三單元，用于在開關網(wǎng)絡的切換下，多路發(fā)射信號同時輸入至脈沖矢量網(wǎng)絡分析儀接收機通道中；設置脈沖矢量網(wǎng)絡分析儀工作在相參接收機模式，選擇脈沖觸發(fā)和外部同步源，根據(jù)同步信號和發(fā)射信號之間的延時設置延遲時間，完成脈沖矢量網(wǎng)絡分析儀的功能和狀態(tài)設置；在發(fā)射通道相位一致性測試過程中，將其中一個接收機通道作為參考通道，其它通道與之進行相減的相位歸一化運算，然后除參考通道外的發(fā)射通道進行移相，再次與參考通道進行相差運算，所得的相位差值即是發(fā)射通道相位一致性指標。
[0025]上述第一單元，脈沖矢量網(wǎng)絡分析儀作為一臺多通道相參接收機，用于同時完成至少4路發(fā)射信號的測試。
[0026]上述第二、第三單元，在測試過程中，關閉脈沖矢量網(wǎng)絡分析儀的信號源。
[0027]上述第三單元，同步信號和發(fā)射信號之間的延時是通過數(shù)字示波器進行測試獲得的。
[0028]本發(fā)明具有以下有益技術效果:
[0029]本發(fā)明通過構建同步機制和引入多通道相參測試實現(xiàn)了數(shù)字陣列模塊發(fā)射通道相位一致性測試。數(shù)字陣列模塊工作狀態(tài)控制過程中需要利用光纖傳輸大量的狀態(tài)數(shù)據(jù)和命令，這可以通過一個基于FPGA的狀態(tài)控制模塊來完成，這一狀態(tài)控制模塊在其它指標測試過程中也是必不可少的。在時鐘信號的上升沿，狀態(tài)控制模塊通過光纖對數(shù)字陣列模塊的工作狀態(tài)進行控制，同時傳輸同步信號數(shù)據(jù)給狀態(tài)控制模塊中的DAC芯片，從而狀態(tài)控制模塊輸出一路與數(shù)字陣列模塊工作狀態(tài)同步的脈沖信號，這路脈沖信號作為脈沖矢量網(wǎng)絡分析儀的脈沖同步輸入信號，這樣數(shù)字陣列模塊和脈沖矢量網(wǎng)絡網(wǎng)絡分析儀就建立了同步關系。
[0030]本發(fā)明通過構建同步信號的方式實現(xiàn)數(shù)字陣列模塊發(fā)射信號和脈沖矢量網(wǎng)絡分析儀之間的同步關系，為發(fā)射通道相位一致性測試創(chuàng)造了條件；同時，優(yōu)化了發(fā)射信號的傳輸路徑，直接送入脈沖矢量網(wǎng)絡分析儀接收機中混頻器的RF通道，降低通道的插入損耗和改善阻抗匹配。另外，充分利用了脈沖矢量網(wǎng)絡分析儀的相參接收機測試功能，由于中頻通道ADC位數(shù)高達16位，因而測試精度非常高；并可以同時實現(xiàn)4路發(fā)射信號的測試，測試效率高。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0031]下面結合附圖與【具體實施方式】對本發(fā)明作更進一步的說明:
[0032]圖1為本發(fā)明一種實施方式的原理示意框圖。
【具體實施方式】
[0033]結合圖1，一種數(shù)字陣列模塊發(fā)射通道相位一致性測試方法，包括如下步驟:
[0034]a建立一個狀態(tài)控制模塊1，狀態(tài)控制模塊包括FPGA101、光模塊102與DAC芯片103。FPGA 一是通過光模塊連接數(shù)字陣列模塊2，而數(shù)字陣列模塊再通過開關網(wǎng)絡3連接脈沖矢量網(wǎng)絡分析儀4 ;二是通過DAC連接脈沖矢量網(wǎng)絡分析儀外部同步脈沖輸入端口。
[0035]b在時鐘信號的上升沿，狀態(tài)控制模塊通過光模塊對數(shù)字陣列模塊的工作狀態(tài)進行控制，同時傳輸同步信號數(shù)據(jù)給狀態(tài)控制模塊中的DAC芯片，使狀態(tài)控制模塊輸出一路與數(shù)字陣列模塊工作狀態(tài)同步的脈沖信號，將狀態(tài)控制模塊輸出的脈沖信號作為脈沖矢量網(wǎng)絡分析儀的脈沖同步輸入信號，在數(shù)字陣列模塊和脈沖矢量網(wǎng)絡網(wǎng)絡分析儀之間建立起同步關系。
[0036]c在開關網(wǎng)絡的切換下，多路發(fā)射信號同時輸入至脈沖矢量網(wǎng)絡分析儀接收機通道中；設置脈沖矢量網(wǎng)絡分析儀工作在相參接收機模式，選擇脈沖觸發(fā)和外部同步源，根據(jù)同步信號和發(fā)射信號之間的延時設置延遲時間，完成脈沖矢量網(wǎng)絡分析儀的功能和狀態(tài)設置；在發(fā)射通道相位一致性測試過程中，將其中一個接收機通道作為參考通道，其它通道與之進行相減的相位歸一化運算，然后除參考通道外的發(fā)射通道進行移相，再次與參考通道進行相差運算，所得的相位差值即是發(fā)射通道相位一致性指標。
[0037]優(yōu)選地，上述步驟a中，將脈沖矢量網(wǎng)絡分析儀作為一臺多通道相參接收機來使用，用于同時完成至少4路發(fā)射信號的測試。在本發(fā)明中，由于不需要脈沖矢量網(wǎng)絡分析儀輸出激勵信號，因此，它不工作在傳輸測試模式下，而其接收機為一個多通道相參接收機，其實反倒非常適合應用在數(shù)字陣列模塊發(fā)射通道測試中，因此，將其作為一臺多通道相參接收機來使用，并且由于目前的脈沖矢量網(wǎng)絡分析儀至少有4個接收機通道，它可以同時完成至少4路發(fā)射信號的測試，測試效率較之傳輸模式下只能同時完成一路發(fā)射信號大大提聞。
[0038]優(yōu)選地，在施行上述步驟b、c的過程中，關閉脈沖矢量網(wǎng)絡分析儀的信號源。在測試過程中，將脈沖矢量網(wǎng)絡分析儀的信號源關斷，目的是避免源信號泄露對測試的影響
[0039]優(yōu)選地，上述步驟c中，同步信號和發(fā)射信號之間的延時是通過高性能數(shù)字示波器進行測試獲得的。
[0040]優(yōu)選地，上述步驟b還包括:將發(fā)射信號衰減后直接送入脈沖矢量網(wǎng)絡分析儀接收機中混頻器的RF通道，用以繞開前面板的定向耦合器。這樣做的目的，是為了縮短信號傳輸路徑，降低通道的插入損耗和改善阻抗匹配。
[0041]一種數(shù)字陣列模塊發(fā)射通道相位一致性測試裝置，包括:
[0042]第一單元，其用于:建立一個狀態(tài)控制模塊，狀態(tài)控制模塊包括FPGA、光模塊與DAC芯片；FPGA —是通過光模塊連接數(shù)字陣列模塊2，而數(shù)字陣列模塊再通過開關網(wǎng)絡3連接脈沖矢量網(wǎng)絡分析儀4 ;二是通過DAC連接脈沖矢量網(wǎng)絡分析儀外部同步脈沖輸入端口。
[0043]第二單元，其用于:在時鐘信號的上升沿，狀態(tài)控制模塊通過光模塊對數(shù)字陣列模塊的工作狀態(tài)進行控制，同時傳輸同步信號數(shù)據(jù)給狀態(tài)控制模塊中的DAC芯片，使狀態(tài)控制模塊輸出一路與數(shù)字陣列模塊工作狀態(tài)同步的脈沖信號，將狀態(tài)控制模塊輸出的脈沖信號作為脈沖矢量網(wǎng)絡分析儀的脈沖同步輸入信號，在數(shù)字陣列模塊和脈沖矢量網(wǎng)絡網(wǎng)絡分析儀之間建立起同步關系。
[0044]第三單元，其用于:在開關網(wǎng)絡的切換下，多路發(fā)射信號同時輸入至脈沖矢量網(wǎng)絡分析儀接收機通道中；設置脈沖矢量網(wǎng)絡分析儀工作在相參接收機模式，選擇脈沖觸發(fā)和外部同步源，根據(jù)同步信號和發(fā)射信號之間的延時設置延遲時間，完成脈沖矢量網(wǎng)絡分析儀的功能和狀態(tài)設置；在發(fā)射通道相位一致性測試過程中，將其中一個接收機通道作為參考通道，其它通道與之進行相減的相位歸一化運算，然后除參考通道外的發(fā)射通道進行移相，再次與參考通道進行相差運算，所得的相位差值即是發(fā)射通道相位一致性指標。
[0045]優(yōu)選地，上述第一單元，脈沖矢量網(wǎng)絡分析儀作為一臺多通道相參接收機，用于同時完成至少4路發(fā)射信號的測試。
[0046]優(yōu)選地，上述第二、第三單元，在測試過程中，關閉脈沖矢量網(wǎng)絡分析儀的信號源。
[0047]優(yōu)選地，上述第三單元，同步信號和發(fā)射信號之間的延時是通過數(shù)字示波器進行測試獲得的。
[0048]上述方式中未述及的有關技術內容采取或借鑒已有技術即可實現(xiàn)。
[0049]需要說明的是，在本說明書的教導下本領域技術人員還可以作出這樣或那樣的容易變化方式，諸如等同方式，或明顯變形方式。上述的變化方式均應在本發(fā)明的保護范圍之內。
【權利要求】
1.一種數(shù)字陣列模塊發(fā)射通道相位一致性測試方法，其特征在于包括如下步驟:a建立一個狀態(tài)控制模塊，狀態(tài)控制模塊包括FPGA、光模塊與DAC芯片；FPGA —是通過光模塊連接數(shù)字陣列模塊，而數(shù)字陣列模塊再通過開關網(wǎng)絡連接脈沖矢量網(wǎng)絡分析儀，二是通過DAC連接脈沖矢量網(wǎng)絡分析儀外部同步脈沖輸入端口 ；b在時鐘信號的上升沿，狀態(tài)控制模塊通過光模塊對數(shù)字陣列模塊的工作狀態(tài)進行控制，同時傳輸同步信號數(shù)據(jù)給狀態(tài)控制模塊中的DAC芯片，使狀態(tài)控制模塊輸出一路與數(shù)字陣列模塊工作狀態(tài)同步的脈沖信號，將狀態(tài)控制模塊輸出的脈沖信號作為脈沖矢量網(wǎng)絡分析儀的脈沖同步輸入信號，在數(shù)字陣列模塊和脈沖矢量網(wǎng)絡網(wǎng)絡分析儀之間建立起同步關系;c在開關網(wǎng)絡的切換下，多路發(fā)射信號同時輸入至脈沖矢量網(wǎng)絡分析儀接收機通道中；設置脈沖矢量網(wǎng)絡分析儀工作在相參接收機模式，選擇脈沖觸發(fā)和外部同步源，根據(jù)同步信號和發(fā)射信號之間的延時設置延遲時間，完成脈沖矢量網(wǎng)絡分析儀的功能和狀態(tài)設置；在發(fā)射通道相位一致性測試過程中，將其中一個接收機通道作為參考通道，其它通道與之進行相減的相位歸一化運算，然后除參考通道外的發(fā)射通道進行移相，再次與參考通道進行相差運算，所得的相位差值即是發(fā)射通道相位一致性指標。
2.根據(jù)權利要求1所述的數(shù)字陣列模塊發(fā)射通道相位一致性測試方法，其特征在于:上述步驟a中，將脈沖矢量網(wǎng)絡分析儀作為一臺多通道相參接收機來使用，用于同時完成至少4路發(fā)射信號的測試。
3.根據(jù)權利要求1所述的數(shù)字陣列模塊發(fā)射通道相位一致性測試方法，其特征在于:在施行上述步驟b、c的過程中，關閉脈沖矢量網(wǎng)絡分析儀的信號源。
4.根據(jù)權利要求1所述的數(shù)字陣列模塊發(fā)射通道相位一致性測試方法，其特征在于:上述步驟c中，同步信號和發(fā) 射信號之間的延時是通過數(shù)字示波器進行測試獲得的。
5.根據(jù)權利要求1所述的數(shù)字陣列模塊發(fā)射通道相位一致性測試方法，其特征在于:上述步驟b還包括:將發(fā)射信號衰減后直接送入脈沖矢量網(wǎng)絡分析儀接收機中混頻器的RF通道，用以繞開前面板的定向耦合器，降低通道的插入損耗，并改善阻抗匹配。
6.一種數(shù)字陣列模塊發(fā)射通道相位一致性測試裝置，其特征在于包括:第一單元，其用于:建立一個狀態(tài)控制模塊，狀態(tài)控制模塊包括FPGA、光模塊與DAC芯片；FPGA —是通過光模塊連接數(shù)字陣列模塊，而數(shù)字陣列模塊再通過開關網(wǎng)絡連接脈沖矢量網(wǎng)絡分析儀，二是通過DAC連接脈沖矢量網(wǎng)絡分析儀外部同步脈沖輸入端口 ；第二單元，其用于:在時鐘信號的上升沿，狀態(tài)控制模塊通過光模塊對數(shù)字陣列模塊的工作狀態(tài)進行控制，同時傳輸同步信號數(shù)據(jù)給狀態(tài)控制模塊中的DAC芯片，使狀態(tài)控制模塊輸出一路與數(shù)字陣列模塊工作狀態(tài)同步的脈沖信號，將狀態(tài)控制模塊輸出的脈沖信號作為脈沖矢量網(wǎng)絡分析儀的脈沖同步輸入信號，在數(shù)字陣列模塊和脈沖矢量網(wǎng)絡網(wǎng)絡分析儀之間建立起同步關系；第三單元，其用于:在開關網(wǎng)絡的切換下，多路發(fā)射信號同時輸入至脈沖矢量網(wǎng)絡分析儀接收機通道中；設置脈沖矢量網(wǎng)絡分析儀工作在相參接收機模式，選擇脈沖觸發(fā)和外部同步源，根據(jù)同步信號和發(fā)射信號之間的延時設置延遲時間，完成脈沖矢量網(wǎng)絡分析儀的功能和狀態(tài)設置；在發(fā)射通道相位一致性測試過程中，將其中一個接收機通道作為參考通道，其它通道與之進行相減的相位歸一化運算，然后除參考通道外的發(fā)射通道進行移相，再次與參考通道進行相差運算，所得的相位差值即是發(fā)射通道相位一致性指標。
7.根據(jù)權利要求6所述的數(shù)字陣列模塊發(fā)射通道相位一致性測試裝置，其特征在于:上述第一單元，脈沖矢量網(wǎng)絡分析儀作為一臺多通道相參接收機，用于同時完成至少4路發(fā)射信號的測試。
8.根據(jù)權利要求6所述的數(shù)字陣列模塊發(fā)射通道相位一致性測試裝置，其特征在于:上述第二、第三單元，在測試過程中，關閉脈沖矢量網(wǎng)絡分析儀的信號源。
9.根據(jù)權利要求6所述的數(shù)字陣列模塊發(fā)射通道相位一致性測試裝置，其特征在于:上述第三單元，同步信號和發(fā)射信號`之間的延時是通過數(shù)字示波器進行測試獲得的。
【文檔編號】G01S7/40GK103592637SQ201310547378
【公開日】2014年2月19日 申請日期:2013年11月7日 優(yōu)先權日:2013年11月7日
【發(fā)明者】丁志釗, 吳家亮, 張龍, 蔣玉峰 申請人:中國電子科技集團公司第四十一研究所