一種塞規(guī)及塞規(guī)盒的制作方法
【專利摘要】本發(fā)明涉及顯示【技術領域】，特別涉及一種塞規(guī)及塞規(guī)盒。該塞規(guī)包括塞規(guī)主體，所述塞規(guī)主體沿長度方向具有兩個端部，分別為第一端部和第二端部，所述第一端部和第二端部所測量的尺度不同。本發(fā)明提供一種塞規(guī)及塞規(guī)盒，使得一個塞規(guī)可測量兩個待測空隙的尺度，可有效減少塞規(guī)的使用數(shù)量，方便管理，提高測量效率。另外，設置特定結構的塞規(guī)盒來存放塞規(guī)，方便塞規(guī)的存取，且能最大程度保護塞規(guī)不受外界環(huán)境的侵蝕，延長塞規(guī)的使用壽命。
【專利說明】一種塞規(guī)及塞規(guī)盒
【技術領域】
[0001]本發(fā)明涉及顯示【技術領域】，特別涉及一種塞規(guī)及塞規(guī)盒。
【背景技術】
[0002]在液晶顯示器制作工藝中，為了判斷模組卡合的情況，通常采用塞規(guī)來測量各卡合處空隙Gap的大小。
[0003]如圖1所示，為現(xiàn)有技術中采用的塞規(guī)結構示意圖?，F(xiàn)有技術中的塞規(guī)，一種塞規(guī)只涉及一個尺度，即只能測量一種空隙的大小，每測試一次空隙的大小，都需要較多數(shù)量的塞規(guī)，導致測試效率比較低下。
[0004]由于需要各種不同尺寸的塞規(guī)來配合測試，因此，對塞規(guī)的存放和整理顯得尤為重要。
[0005]現(xiàn)有技術中通常會將各種尺寸的塞規(guī)混裝在一個袋子里，當需要使用時，則在袋子里進行挑選。由于塞規(guī)通常由金屬材料制成，若干個塞規(guī)混裝在一起，會導致塞規(guī)相互摩擦，損壞塞規(guī)。另外，由于混裝在袋子里，還容易生銹，影響塞規(guī)的測量精度。
[0006]為了避免上述產(chǎn)生的弊端，現(xiàn)有技術中提出了一種塞規(guī)的整理方式，如圖2所示，將多個不同尺寸的塞規(guī)疊放在一起，使用銷栓穿過多個塞規(guī)上的小孔進而將塞規(guī)整理在一起。當需要取出位于中間位置的塞規(guī)時，則需要將打開銷栓，依次取出其他尺寸的塞規(guī)后才能取到特定的塞規(guī)，這樣導致塞規(guī)的取用、放置比較麻煩，塞規(guī)還容易發(fā)生損壞且容易遺失。
【發(fā)明內容】
[0007](一)要解決的技術問題
[0008]本發(fā)明的目的是提供一種塞規(guī)及塞規(guī)盒，以解決現(xiàn)有技術中的塞規(guī)只具有一種測量尺度，造成測量效率低下的問題；另外，解決現(xiàn)有技術中對塞規(guī)存取比較麻煩且容易損壞塞規(guī)的問題。
[0009](二)技術方案
[0010]為了實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明一方面提供一種塞規(guī)，包括:第一端部和第二端部，所述第一端部和第二端部所測量的尺度不同塞規(guī)主體，所述塞規(guī)主體沿長度方向具有兩個端部，分別為第一端部和第二端部，所述第一端部和第二端部所測量的尺度不同。
[0011]優(yōu)選地，所述第一端部和第二端部的徑寬不同。
[0012]優(yōu)選地，所述塞規(guī)主體沿長度方向上設有刻度值。
[0013]優(yōu)選地，所述第一端部和第二端部的徑寬值為兩個相鄰的規(guī)格值。
[0014]優(yōu)選地，所述塞規(guī)主體由金屬材料制成。
[0015]另一方面，本發(fā)明提供一種塞規(guī)盒，用于存放上述的塞規(guī)，包括塞規(guī)盒主體和盒蓋，所述塞規(guī)盒主體內腔中設有若干個存放塞規(guī)的子內腔。
[0016]優(yōu)選地，所述子內腔中位于塞規(guī)盒底部位置設有磁鐵，用于吸附住放置于子內腔中的塞規(guī)。
[0017]優(yōu)選地，所述子內腔的外表面上標有其內部存放的塞規(guī)的徑寬值。
[0018](三)有益效果
[0019]本發(fā)明提供一種塞規(guī)及塞規(guī)盒，使得一個塞規(guī)可測量兩個待測空隙的尺度，可有效減少塞規(guī)的使用數(shù)量，方便管理，提高測量效率。另外，設置特定結構的塞規(guī)盒來存放塞規(guī)，方便塞規(guī)的存取，且能最大程度保護塞規(guī)不受外界環(huán)境的侵蝕，延長塞規(guī)的使用壽命。
【專利附圖】
【附圖說明】
[0020]圖1為現(xiàn)有技術中塞規(guī)結構示意圖；
[0021]圖2為圖1中A-A剖視圖；
[0022]圖3為現(xiàn)有技術中整理塞規(guī)示意圖；
[0023]圖4為本發(fā)明實施例塞規(guī)結構示意圖；
[0024]圖5為圖4中B-B剖視圖；
[0025]圖6為本發(fā)明實施例塞規(guī)盒打開狀態(tài)結構示意圖；
[0026]圖7為本發(fā)明實施例塞規(guī)盒閉合狀態(tài)結構示意圖。
【具體實施方式】
[0027]下面結合附圖和實施例，對本發(fā)明的【具體實施方式】作進一步詳細描述。以下實施例用于說明本發(fā)明，但不用來限制本發(fā)明的范圍。
[0028]如圖4和圖5所示，本發(fā)明實施例提供一種塞規(guī)，其包括塞規(guī)主體I,所述塞規(guī)主體I沿長度方向具有兩個端部，分別為第一端部11和第二端部12，第一端部11和第二端部12所測量的尺度不同。
[0029]該一個塞規(guī)可測量兩個尺度，在實際測量中，可減少使用塞規(guī)的數(shù)量，提高測量效率。
[0030]具體的，該第一端部11和第二端部12的徑寬不同，可設置第一端部11的徑寬大于第二端部12的徑寬，也可以設置第二端部的徑寬大于第一端部11的徑寬。
[0031]其中，為了使用方便并且使得測量更加精準，設置第一端部11和第二端部12的徑寬值為兩個相鄰的規(guī)格值。即若塞規(guī)的規(guī)格值(即徑寬值)為0.lmm、0.2mm、0.3mm、0.4mm等，若第一端部11為0.1mm規(guī)格的，則第二端部12可設置為0.2mm規(guī)格的。
[0032]為了在測量中使用方便，該塞規(guī)主體I沿長度方向上可設有刻度值，這樣便于在測量空隙時一并測量其他參數(shù)。
[0033]為了保證塞規(guī)的使用性能，設置所述塞規(guī)主體由金屬材料制成，優(yōu)選地，該塞規(guī)由不銹鋼制成。
[0034]在實際應用中，可選用塞規(guī)的一個端部進行測量，若該端部的尺寸無法滿足待測量的空隙時，可隨時更換另外一個端部對其繼續(xù)測量，提高測量的效率。
[0035]如圖6和圖7所示，本發(fā)明還提供一種塞規(guī)盒，該塞規(guī)盒用于存放上述實施例中的塞規(guī)，當然，除了存放上述實施例中的塞規(guī)，也可以存放現(xiàn)有技術中已有結構的塞規(guī)。
[0036]該塞規(guī)盒包括塞規(guī)盒主體2和盒蓋3，該盒蓋3卡扣在塞規(guī)盒主體2上，當然兩者除了卡扣連接，還可以采用螺紋連接等其他現(xiàn)有連接方式進行裝配；[0037]該塞規(guī)盒主體2內腔中設有若干個存放塞規(guī)主體I的子內腔,該子內腔中位于塞規(guī)盒底部位置設有磁鐵4，用于吸附住放置于子內腔中的塞規(guī)，使得塞規(guī)放置得更加穩(wěn)定，不易被折彎損壞。另外，為了更直觀地辨認塞規(guī)的規(guī)格，可在所述子內腔的外表面上標有其內部存放的塞規(guī)的徑寬值。
[0038]設置特定結構的塞規(guī)盒來存放塞規(guī)，方便塞規(guī)的存取，且能最大程度保護塞規(guī)不受外界環(huán)境的侵蝕，延長塞規(guī)的使用壽命。
[0039]上述描述是為了示例和描述起見而給出的，而并不是無遺漏的或者將本發(fā)明限于所公開的形式。很多修改和變化對于本領域的普通技術人員而言是顯然的。選擇和描述實施例是為了更好說明本發(fā)明的原理和實際應用，并且使本領域的普通技術人員能夠理解本發(fā)明從而設計適于特定用途的帶有各種修改的各種實施例。
【權利要求】
1.一種塞規(guī)，其特征在于，包括: 塞規(guī)主體，所述塞規(guī)主體沿長度方向具有兩個端部，分別為第一端部和第二端部，所述第一端部和第二端部所測量的尺度不同。
2.如權利要求1所述的塞規(guī)，其特征在于，所述第一端部的徑寬與第二端部的徑寬不同。
3.如權利要求1所述的塞規(guī)，其特征在于，所述第一端部和第二端部的徑寬值為兩個相鄰的規(guī)格值。
4.如權利要求1所述的塞規(guī),其特征在于,所述塞規(guī)主體由金屬材料制成。
5.如權利要求1所述的塞規(guī)，其特征在于，所述塞規(guī)主體沿長度方向上設有刻度值。
6.一種塞規(guī)盒，用于存放權利要求1-5任一項所述塞規(guī)，其特征在于，包括塞規(guī)盒主體和盒蓋，所述塞規(guī)盒主體內腔中設有若干個存放塞規(guī)的子內腔。
7.如權利要求6所述的塞規(guī)盒，其特征在于，所述子內腔中位于塞規(guī)盒底部位置設有磁鐵，用于吸附住放置于子內腔中的塞規(guī)。
8.如權利要求6所述的塞規(guī)盒，其特征在于，所述子內腔的外表面上標有其內部存放的塞規(guī)的徑寬值。
【文檔編號】G01B5/14GK103673836SQ201310688650
【公開日】2014年3月26日 申請日期:2013年12月13日 優(yōu)先權日:2013年12月13日
【發(fā)明者】方志祥, 辛武根 申請人:合肥京東方光電科技有限公司, 京東方科技集團股份有限公司