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      地震前兆現(xiàn)場汞氣檢測(cè)系統(tǒng)及其汞氣檢測(cè)方法

      文檔序號(hào):6188742閱讀:441來源:國知局
      地震前兆現(xiàn)場汞氣檢測(cè)系統(tǒng)及其汞氣檢測(cè)方法
      【專利摘要】本發(fā)明涉及一種地震前兆現(xiàn)場汞氣檢測(cè)系統(tǒng)及其汞氣檢測(cè)方法。汞氣檢測(cè)系統(tǒng)中的汞氣檢測(cè)裝置包括設(shè)有氣流通道及進(jìn)氣口和出氣口的容器,氣流通道中安裝有汞檢測(cè)傳感器,汞檢測(cè)傳感器包括一微晶玻璃基片,微晶玻璃基片的正面有鉻膜層,鉻膜層上覆蓋有金膜層,金膜層朝向氣流通道,金膜層的左端和右端各有一個(gè)金焊盤,金焊盤和一檢測(cè)電路相連。汞氣檢測(cè)方法為,帶有汞氣的樣品氣體流入汞氣檢測(cè)裝置的進(jìn)氣口,流經(jīng)氣流通道,汞氣被汞檢測(cè)傳感器的金膜層吸收,金膜層的電阻變化信號(hào)輸送給檢測(cè)電路,經(jīng)檢測(cè)電路處理,獲得樣品氣體的汞氣含量值。本發(fā)明不易受到干擾,測(cè)試結(jié)果可靠,測(cè)汞靈敏度高,比現(xiàn)有方法提高兩個(gè)數(shù)量級(jí),滿足地震監(jiān)測(cè)的需要。
      【專利說明】地震前兆現(xiàn)場汞氣檢測(cè)系統(tǒng)及其汞氣檢測(cè)方法
      【技術(shù)領(lǐng)域】
      [0001]本發(fā)明涉及一種汞檢測(cè)裝置,尤其涉及一種靈敏度高、測(cè)試結(jié)果可靠的地震前兆現(xiàn)場汞氣檢測(cè)系統(tǒng)及其汞氣檢測(cè)方法。
      【背景技術(shù)】
      [0002]在熱泉、斷裂帶或構(gòu)造帶(破碎帶),與地震活動(dòng)有關(guān)的深部斷裂帶上都發(fā)現(xiàn)存在有汞氣;地下核爆破及水壓致裂試驗(yàn)表明,巖層瞬時(shí)加壓和持續(xù)加壓的過程中汞量變化最為明顯、清晰。這些現(xiàn)象都說明,汞氣濃度的增高與地震活動(dòng)有關(guān)。
      [0003]汞具有很高的蒸氣壓。在深部條件下生成的汞蒸氣,在強(qiáng)大的壓力梯度和熱力梯度作用下,其遷移沿?cái)嗔哑扑閹А鄬用婧烷_啟的巖石孔隙向地表擴(kuò)散。構(gòu)造活動(dòng)伴有應(yīng)力及熱力作用,使圍巖受到強(qiáng)壓、扭和錯(cuò)動(dòng)摩檫,在此過程中與所接觸的介質(zhì)相互作用。定點(diǎn)或定期測(cè)量各種介質(zhì)中汞量變化可了解構(gòu)造的活動(dòng)性,捕捉地震前兆信息,為地震預(yù)報(bào)提供依據(jù)。
      [0004]正是由于汞具有特殊的物理化學(xué)性質(zhì),特別是汞的揮發(fā)性、穿透性及對(duì)溫度、壓力變化的敏感性,決定了汞對(duì)地震反應(yīng)的靈敏性。
      [0005]汞量測(cè)量方法目前使用冷原子吸收技術(shù)為基礎(chǔ)進(jìn)行汞量測(cè)量。汞氣檢測(cè)裝置包括汞燈、單色器、吸收管、石英透鏡和光電倍增管。汞燈產(chǎn)生2537人汞特征光,通過2537A單色器濾光,再通過吸收管,在可透過紫外線的石英透鏡聚焦下,把特征光投射在光電倍增的光敏陰極上,當(dāng)氣態(tài)汞原子在此環(huán)境中對(duì)特征光進(jìn)行吸收時(shí),射在光敏陰極上的特征光發(fā)生微弱變化,光電倍增管把這一變化進(jìn)行放大并轉(zhuǎn)換成電量輸出,實(shí)現(xiàn)化學(xué)量到電量的轉(zhuǎn)換,完成汞濃度的測(cè)量。其基本原理是:任何一種元素的基態(tài)原子對(duì)同種元素發(fā)射的特征譜線具有選擇吸收特性,即:`汞燈發(fā)射的2537A特征光會(huì)被被測(cè)氣體中的汞原子選擇性吸收,且在一定濃度范圍內(nèi)透射光強(qiáng)度和基態(tài)原子濃度成正比,根據(jù)其吸光度,可以確定被測(cè)樣品的汞濃度。這一關(guān)系服從朗伯-比爾定律。
      [0006]但這種汞氣檢測(cè)裝置及檢測(cè)方法,存在以下不足:1.靈敏度較低,測(cè)量汞氣的檢出限為IX 10_ng汞,而地震前兆現(xiàn)場產(chǎn)生的汞氣濃度遠(yuǎn)遠(yuǎn)低于這個(gè)檢測(cè)限,因此,不能滿足地震監(jiān)測(cè)的需要;2.功耗大、重量和體積都比較大,不適合野外現(xiàn)場測(cè)定;3.水蒸汽、煙塵和有機(jī)氣體對(duì)測(cè)定都會(huì)造成干擾;4.結(jié)構(gòu)復(fù)雜,成本較高,不利于推廣使用。

      【發(fā)明內(nèi)容】

      [0007]本發(fā)明主要解決原有汞氣檢測(cè)裝置及檢測(cè)方法靈敏度較低,測(cè)量汞氣的檢出限為I X 10_ng汞,不能滿足地震監(jiān)測(cè)的需要的技術(shù)問題;提供一種地震前兆現(xiàn)場汞氣檢測(cè)系統(tǒng)及其汞氣檢測(cè)方法,其測(cè)汞靈敏度高,比現(xiàn)有方法提高兩個(gè)數(shù)量級(jí),滿足地震監(jiān)測(cè)的需要。
      [0008]本發(fā)明同時(shí)解決原有汞氣檢測(cè)裝置結(jié)構(gòu)復(fù)雜,成本較高,還易受干擾的技術(shù)問題;提供一種地震前兆現(xiàn)場汞氣檢測(cè)系統(tǒng),其結(jié)構(gòu)簡單,成本較低,不易受到干擾,測(cè)試結(jié)果可
      O[0009]本發(fā)明的上述技術(shù)問題主要是通過下述技術(shù)方案得以解決的:本發(fā)明的地震前兆現(xiàn)場汞氣檢測(cè)系統(tǒng),包括汞氣檢測(cè)裝置和檢測(cè)電路,汞氣檢測(cè)裝置包括設(shè)有氣流通道及與氣流通道連通的進(jìn)氣口和出氣口的容器,氣流通道中設(shè)有汞檢測(cè)傳感器,所述的汞檢測(cè)傳感器包括一微晶玻璃基片,微晶玻璃基片的正面設(shè)有一層鉻膜層,鉻膜層上覆蓋有一層金膜層,金膜層朝向所述的氣流通道,金膜層的左端和右端各有一個(gè)金焊盤,金焊盤和所述的檢測(cè)電路相連。鉻膜層、金膜層都是很薄的一層薄膜,金焊盤也很薄,都只有幾百埃,都是在真空鍍膜裝置中用電子束蒸發(fā)源鍍上的。地震前兆現(xiàn)場產(chǎn)生的氣體(如斷層氣或冷泉、溫泉水中脫出的氣體)中帶有汞氣,帶有汞氣的樣品氣體進(jìn)入汞氣檢測(cè)裝置的進(jìn)氣口,流過氣流通道,被金膜層的高純金吸收。而當(dāng)純金中摻入雜質(zhì)的時(shí)候,雜質(zhì)原子代替原來金原子在晶格中的位置,或填入金原子晶格間隙,引起對(duì)電子的附加散射作用,從而產(chǎn)生附加電阻率,表現(xiàn)為電阻增大。在很薄(只有幾百埃)的金膜層表面,吸附樣品氣體中的汞氣以后,金膜層的電阻值就明顯地增高,而且在10_13?10_7量級(jí)汞含量的范圍內(nèi),金膜層的阻值變化與吸附汞量呈線性關(guān)系,因此,通過檢測(cè)電路測(cè)量金膜層電阻的變化,就可以測(cè)定樣品氣體中汞氣的含量。通過現(xiàn)場測(cè)得的汞氣多少,可判斷是否會(huì)有地震發(fā)生。本技術(shù)方案測(cè)汞靈敏度高,比現(xiàn)有方法提高兩個(gè)數(shù)量級(jí),達(dá)到1X10_13克汞,滿足地震監(jiān)測(cè)的需要。
      [0010]作為優(yōu)選,所述的汞檢測(cè)傳感器的微晶玻璃基片的背面設(shè)有一層鎳鉻膜層,鎳鉻膜層的左端和右端各有一個(gè)金焊盤,金焊盤連接一通電加熱電路。本技術(shù)方案中的鎳鉻膜層及與之相連的金焊盤,都是一層薄膜,也是在真空鍍膜裝置中用電子束蒸發(fā)源鍍上的,厚度都只有幾百埃。當(dāng)汞檢測(cè)傳感器的金膜層上吸附住的汞到達(dá)飽和時(shí),接通通電加熱電路,對(duì)鎳鉻膜層進(jìn)行通電加熱,使吸附在金膜層上的汞得以釋放,從而使汞檢測(cè)傳感器的金膜層回到初始狀態(tài),獲得再生,以便進(jìn)行下一次的汞檢測(cè)。
      [0011]作為優(yōu)選,所述的氣流通道中設(shè)有汞參比傳感器,汞參比傳感器和所述的汞檢測(cè)傳感器面對(duì)面安裝在所述的氣流通道的頂面和底面,汞參比傳感器和所述的檢測(cè)電路相連。汞參比傳感器能感受流過氣流通道的樣品氣體的溫度,并輸出相應(yīng)信號(hào)給檢測(cè)電路,以對(duì)由汞檢測(cè)傳感器獲得的汞含量進(jìn)行溫度補(bǔ)償,并減少樣品氣體中水蒸汽對(duì)汞測(cè)量結(jié)果的干擾,進(jìn)一步確保汞測(cè)量結(jié)果可靠。
      [0012]作為優(yōu)選,所述的汞參比傳感器包括一微晶玻璃基片,微晶玻璃基片的正面設(shè)有一層鉻膜層,鉻膜層上覆蓋有一層金膜層,金膜層的左端和右端各有一個(gè)金焊盤,金膜層和金焊盤上覆蓋有一層一氧化硅薄膜層,金焊盤和所述的檢測(cè)電路相連。本技術(shù)方案中的鉻膜層、金膜層、金焊盤和一氧化硅薄膜層,都是很薄的一層薄膜,都只有幾百埃,也是在真空鍍膜裝置中用電子束蒸發(fā)源鍍上的。一氧化硅薄膜層起到隔離作用,使金膜層無法吸附樣品氣體中的汞氣,但是能感受樣品氣體的溫度變化,這種變化轉(zhuǎn)換成電信號(hào)輸送給檢測(cè)電路,以對(duì)由汞檢測(cè)傳感器獲得的汞含量進(jìn)行溫度補(bǔ)償,并減少樣品氣體中水蒸汽對(duì)汞測(cè)量結(jié)果的干擾,進(jìn)一步確保汞測(cè)量結(jié)果的可靠性。
      [0013]作為優(yōu)選,所述的檢測(cè)電路包括電阻R1、電阻R2、放大器、單片機(jī)單元和顯示單元,所述的汞檢測(cè)傳感器的一端及所述的汞參比傳感器的一端均和直流電壓V的正極相連,汞檢測(cè)傳感器的另一端和電阻Rl的一端相連,汞參比傳感器的另一端和電阻R2的一端相連,電阻Rl的另一端及電阻R2的另一端均和直流電壓V的負(fù)極相連,電阻Rl與汞檢測(cè)傳感器的并接點(diǎn)及電阻R2與汞參比傳感器的并接點(diǎn)分別和所述的放大器的兩個(gè)輸入端相連,放大器的輸出端和單片機(jī)單元的輸入端相連,單片機(jī)單元的輸出端和所述的顯示單元相連。電阻R1、電阻R2和汞檢測(cè)傳感器、汞參比傳感器組成電橋電路,樣品氣體的溫度變化通過這個(gè)電橋電路可以得到補(bǔ)償,消除了溫度變化對(duì)汞測(cè)量結(jié)果的影響。放大器為交流放大器,它將汞檢測(cè)傳感器感應(yīng)到的汞氣濃度所產(chǎn)生的微弱信號(hào)加以放大,并送給單片機(jī)單元處理,最后由顯示單元顯示出所測(cè)得的汞含量。
      [0014]作為優(yōu)選,所述的地震前兆現(xiàn)場汞氣檢測(cè)系統(tǒng)包括凈化器、采樣裝置和抽氣泵,凈化器的進(jìn)口接空氣載氣,凈化器的出口和采樣裝置的出口連通并和所述的汞氣檢測(cè)裝置的進(jìn)氣口相連,所述的抽氣泵的進(jìn)口和所述的汞氣檢測(cè)裝置的出氣口相連。凈化器與大氣連通,將空氣載氣中的干擾氣體濾除,輸出載氣,采樣裝置采集地震前兆現(xiàn)場的氣體,精確定量后,在凈化器提供的載氣的推動(dòng)下,樣品氣體被送入汞氣檢測(cè)裝置的進(jìn)氣口,樣品氣體中的汞氣被汞檢測(cè)傳感器吸附,樣品氣體中的其余氣體在抽氣汞的作用下從汞氣檢測(cè)裝置的出氣口排出,并經(jīng)抽氣泵排到環(huán)境中。使樣品氣體能順利流入汞氣檢測(cè)裝置中,并順利從汞氣檢測(cè)裝置中排出,進(jìn)一步提高每次汞測(cè)量結(jié)果的可靠性。
      [0015]本發(fā)明的地震前兆現(xiàn)場汞氣檢測(cè)系統(tǒng)的汞氣檢測(cè)方法,包括如下步驟:帶有汞氣的樣品氣體流入所述的汞氣檢測(cè)裝置的進(jìn)氣口,流經(jīng)所述的氣流通道,汞氣被所述的汞檢測(cè)傳感器的金膜層吸收,金膜層電阻增大,金膜層的電阻變化信號(hào)輸送給所述的檢測(cè)電路,經(jīng)檢測(cè)電路處理,最后獲得樣品氣體中汞氣的含量值,樣品氣體中的其余氣體從汞氣檢測(cè)裝置的出氣口排出。通過現(xiàn)場測(cè)得的汞氣多少,可判斷是否會(huì)有地震發(fā)生。本技術(shù)方案測(cè)汞靈敏度高,比現(xiàn)有方法提高兩個(gè)數(shù)量級(jí),達(dá)到1X10—13克汞,滿足地震監(jiān)測(cè)的需要。
      [0016]作為優(yōu)選,所述的汞檢測(cè)傳感器的微晶玻璃基片的背面設(shè)有一層鎳鉻膜層,鎳鉻膜層的左端和右端各有一個(gè)金焊盤,金焊盤連接一通電加熱電路;所述的汞氣檢測(cè)方法包括如下步驟:當(dāng)所述的汞檢測(cè)傳感器完成一次汞氣檢測(cè)后,接通所述的通電加熱電路,對(duì)所述的鎳鉻膜層進(jìn)行通電加熱,以釋放被所述的汞檢測(cè)傳感器的金膜層吸收的汞,使汞檢測(cè)傳感器的金膜層回到初始狀態(tài)。使汞檢測(cè)傳感器獲得再生,以便進(jìn)行下一次的汞檢測(cè)。
      [0017]作為優(yōu)選,所述的氣流通道中設(shè)有汞參比傳感器,所述的汞檢測(cè)傳感器和汞參比傳感器面對(duì)面安裝在所述的氣流通道的頂面和底面,汞參比傳感器和所述的檢測(cè)電路相連;所述的汞氣檢測(cè)方法包括如下步驟:帶有汞氣的樣品氣體流入所述的汞氣檢測(cè)裝置的進(jìn)氣口,流經(jīng)所述的氣流通道,所述的汞檢測(cè)傳感器的金膜層吸收樣品氣體中的汞氣,金膜層電阻增大,金膜層的電阻變化信號(hào)輸送給所述的檢測(cè)電路,所述的汞參比傳感器不會(huì)吸收樣品氣體中的汞氣,但隨著樣品氣體的溫度變化汞參比傳感器輸出的信號(hào)會(huì)發(fā)生變化,汞參比傳感器輸出的信號(hào)也輸送給所述的檢測(cè)電路,檢測(cè)電路對(duì)接收到的汞檢測(cè)傳感器的金膜層的電阻變化信號(hào)及汞參比傳感器送來的信號(hào)進(jìn)行處理,對(duì)由汞檢測(cè)傳感器的金膜層的電阻值增大而獲得的樣品氣體中汞氣的含量值進(jìn)行溫度補(bǔ)償,最后獲得消除溫度影響的汞氣含量值。減少干擾,進(jìn)一步確保汞測(cè)量結(jié)果的可靠性。
      [0018]本發(fā)明的有益效果是:汞氣檢測(cè)靈敏度比現(xiàn)有方法提高約兩個(gè)數(shù)量級(jí),達(dá)到
      IX10_13克汞,滿足地震監(jiān)測(cè)的需要;結(jié)構(gòu)簡單,功耗低,便于攜帶,成本較低,跟現(xiàn)有裝置相t匕,省去了易碎光學(xué)器件,減少了發(fā)生故障的可能性;干擾因素少,具有溫度補(bǔ)償功能,汞氣測(cè)試結(jié)果可靠。【專利附圖】

      【附圖說明】
      [0019]圖1是本發(fā)明地震前兆現(xiàn)場汞氣檢測(cè)系統(tǒng)的一種系統(tǒng)連接結(jié)構(gòu)框圖。
      [0020]圖2是本發(fā)明地震前兆現(xiàn)場汞氣檢測(cè)系統(tǒng)中汞氣檢測(cè)裝置的一種剖視結(jié)構(gòu)示意圖。
      [0021]圖3是本發(fā)明汞氣檢測(cè)裝置中汞檢測(cè)傳感器的一種側(cè)視結(jié)構(gòu)示意圖。
      [0022]圖4是本發(fā)明汞氣檢測(cè)裝置中汞參比傳感器的一種側(cè)視結(jié)構(gòu)示意圖。
      [0023]圖5是本發(fā)明地震前兆現(xiàn)場汞氣檢測(cè)系統(tǒng)中檢測(cè)電路的一種電路連接結(jié)構(gòu)示意圖。
      [0024]圖中1.氣流通道,2.進(jìn)氣口,3.出氣口,4.容器,5.汞檢測(cè)傳感器,6.汞參比傳感器,7.放大器,8.單片機(jī)單元,9.顯示單元,10.凈化器,11.采樣裝置,12.抽氣泵,13.空氣載氣,14.汞氣檢測(cè)裝置,15.檢測(cè)電路,51.微晶玻璃基片,52.鉻膜層,53.金膜層,54.金焊盤,55.鎳鉻膜層,56.金焊盤,61.微晶玻璃基片,62.鉻膜層,63.金膜層,64.金焊盤,65.—氧化娃薄膜層。
      【具體實(shí)施方式】
      [0025]下面通過實(shí)施例,并結(jié)合附圖,對(duì)本發(fā)明的技術(shù)方案作進(jìn)一步具體的說明。
      [0026]實(shí)施例:本實(shí)施例的地震前兆現(xiàn)場汞氣檢測(cè)系統(tǒng),如圖1所示,包括凈化器10、采樣裝置11、汞氣檢測(cè)裝置14、檢測(cè)電路15和抽氣泵12,凈化器10的進(jìn)口接空氣載氣13,凈化器10的出口和采樣裝置11的出口連通并和汞氣檢測(cè)裝置14的進(jìn)氣口 2相連,抽氣泵12的進(jìn)口和汞氣檢測(cè)裝置14的出氣口 3相連,汞氣檢測(cè)裝置14和檢測(cè)電路15相連。抽氣泵12采用薄膜抽氣泵,空氣載氣13是普通的空氣。
      [0027]如圖2所示,汞氣檢測(cè)裝置14包括容器4,容器內(nèi)有水平設(shè)置的呈窄形條狀的氣流通道1,容器4由不吸附汞且耐高溫(280°C )的聚四氟乙烯材料制成,容器的頂面和底面分別有和氣流通道I的左、右端連通的進(jìn)氣口 2和出氣口 3,氣流通道I的頂面和底面分別安裝有汞檢測(cè)傳感器5和汞參比傳感器6,汞檢測(cè)傳感器5和汞參比傳感器6面對(duì)面安裝,中間形成氣流通道。如圖3所示,汞檢測(cè)傳感器5包括一微晶玻璃基片51,微晶玻璃基片51的正面通過在真空鍍膜裝置中用電子束蒸發(fā)源鍍有一層鉻膜層52,鉻膜層52上再鍍上一層金膜層53,金膜層53朝向氣流通道1,金膜層53的左端和右端再分別鍍有一個(gè)金焊盤54。微晶玻璃基片51的背面鍍有一層鎳鉻膜層55,鎳鉻膜層55的左端和右端再分別鍍有一個(gè)金焊盤56,兩個(gè)金焊盤56和一通電加熱電路相連。如圖4所示,汞參比傳感器6包括一微晶玻璃基片61,微晶玻璃基片61的正面通過在真空鍍膜裝置中用電子束蒸發(fā)源鍍有一層鉻膜層62,鉻膜層62上再鍍上一層金膜層63,金膜層63的左端和右端再分別鍍有一個(gè)金焊盤64,最后再鍍一層一氧化娃薄膜層65, —氧化娃薄膜層65覆蓋住金膜層63和兩個(gè)金焊盤64。
      [0028]如圖5所示,檢測(cè)電路15包括電阻R1、電阻R2、放大器7、單片機(jī)單元8和顯示單兀9。鍍?cè)谌R檢測(cè)傳感器5的金膜層53上的一個(gè)金焊盤54及鍍?cè)谌R參比傳感器6上的一個(gè)金焊盤64均和直流電壓V的正極相連,鍍?cè)诠瘷z測(cè)傳感器5的金膜層53上的另一個(gè)金焊盤54和電阻Rl的一端相連,萊參比傳感器6上的另一個(gè)金焊盤64和電阻R2的一端相連,電阻Rl的另一端及電阻R2的另一端均和直流電壓V的負(fù)極相連,本實(shí)施例中,直流電壓V采用直流12V電壓,上述電阻Rl與汞檢測(cè)傳感器5的金焊盤54的并接點(diǎn)及電阻R2與汞參比傳感器6的金焊盤64的并接點(diǎn)再分別和放大器7的兩個(gè)輸入端相連,放大器7的輸出端和單片機(jī)單元8的輸入端相連,單片機(jī)單元8的輸出端和顯示單元9相連,本實(shí)施例中,顯示單元采用液晶顯示屏,能顯示圖形、文字、字母及數(shù)字。
      [0029]上述地震前兆現(xiàn)場汞氣檢測(cè)系統(tǒng)的汞氣檢測(cè)方法,包括如下步驟:
      [0030]a.凈化器10與大氣連通,將空氣載氣13中的干擾氣體濾除,輸出載氣,采樣裝置11采集地震前兆現(xiàn)場的氣體,精確定量后,在凈化器10提供的載氣的推動(dòng)下,樣品氣體被送入汞氣檢測(cè)裝置14的進(jìn)氣口 2 ;
      [0031]b.帶有汞氣的樣品氣體流入汞氣檢測(cè)裝置14的進(jìn)氣口 2,流經(jīng)氣流通道1,汞檢測(cè)傳感器5的金膜層53吸收樣品氣體中的萊氣,金膜層53電阻增大,其和電阻Rl相連后輸送給放大器7的分壓信號(hào)隨之發(fā)生變化,而汞參比傳感器6由于覆蓋了一層一氧化硅薄膜層65,因此不會(huì)吸收樣品氣體中的汞氣,但能感受樣品氣體的溫度變化,根據(jù)感受到的溫度不同,汞參比傳感器6的金膜層63電阻也會(huì)變化,其和電阻R2相連后輸送給放大器7的分壓信號(hào)也隨之發(fā)生變化,然后經(jīng)放大器處理和放大,再輸送給單片機(jī)單元處理,最后獲得消除溫度影響的汞氣含量值,在液晶顯示屏上進(jìn)行顯示,而樣品氣體中的其余氣體被抽氣泵12從汞氣檢測(cè)裝置14的出氣口 3抽出;
      [0032]c.當(dāng)汞氣檢測(cè)裝置14完成一次汞氣檢測(cè)后,接通和汞檢測(cè)傳感器5背面的金焊盤56相連的通電加熱電路,對(duì)位于汞檢測(cè)傳感器5背面的鎳鉻膜層55進(jìn)行通電加熱,以釋放被汞檢測(cè)傳感器5正面的金膜層53吸收的汞,使汞檢測(cè)傳感器5的金膜層53回到初始狀態(tài),獲得再生。
      【權(quán)利要求】
      1.一種地震前兆現(xiàn)場汞氣檢測(cè)系統(tǒng),其特征在于包括汞氣檢測(cè)裝置(14)和檢測(cè)電路(15),汞氣檢測(cè)裝置(14)包括設(shè)有氣流通道(I)及與氣流通道(I)連通的進(jìn)氣口(2)和出氣口(3)的容器(4),氣流通道(I)中設(shè)有汞檢測(cè)傳感器(5),所述的汞檢測(cè)傳感器(5)包括一微晶玻璃基片(51),微晶玻璃基片(51)的正面設(shè)有一層鉻膜層(52),鉻膜層(52)上覆蓋有一層金膜層(53),金膜層(53)朝向所述的氣流通道(1),金膜層(53)的左端和右端各有一個(gè)金焊盤(54),金焊盤(54)和所述的檢測(cè)電路(15)相連。
      2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的地震前兆現(xiàn)場汞氣檢測(cè)系統(tǒng),其特征在于所述的汞檢測(cè)傳感器(5)的微晶玻璃基片(51)的背面設(shè)有一層鎳鉻膜層(55),鎳鉻膜層(55)的左端和右端各有一個(gè)金焊盤(56),金焊盤(56)連接一通電加熱電路。
      3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的地震前兆現(xiàn)場汞氣檢測(cè)系統(tǒng),其特征在于所述的氣流通道(I)中設(shè)有汞參比傳感器出),汞參比傳感器(6)和所述的汞檢測(cè)傳感器(5)面對(duì)面安裝在所述的氣流通道⑴的頂面和底面,汞參比傳感器(6)和所述的檢測(cè)電路(15)相連。
      4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的地震前兆現(xiàn)場汞氣檢測(cè)系統(tǒng),其特征在于所述的汞參比傳感器(6)包括一微晶玻璃基片(61),微晶玻璃基片(61)的正面設(shè)有一層鉻膜層(62),鉻膜層(62)上覆蓋有一層金膜層(63),金膜層(63)的左端和右端各有一個(gè)金焊盤(64),金膜層(63)和金焊盤(64)上覆蓋有一層一氧化硅薄膜層(65),金焊盤(64)和所述的檢測(cè)電路(15)相連。
      5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的 地震前兆現(xiàn)場汞氣檢測(cè)系統(tǒng),其特征在于所述的檢測(cè)電路(15)包括電阻R1、電阻R2、放大器(7)、單片機(jī)單元(8)和顯示單元(9),所述的汞檢測(cè)傳感器(5)的一端及所述的汞參比傳感器(6)的一端均和直流電壓V的正極相連,汞檢測(cè)傳感器(5)的另一端和電阻Rl的一端相連,萊參比傳感器(6)的另一端和電阻R2的一端相連,電阻Rl的另一端及電阻R2的另一端均和直流電壓V的負(fù)極相連,電阻Rl與汞檢測(cè)傳感器(5)的并接點(diǎn)及電阻R2與汞參比傳感器(6)的并接點(diǎn)分別和所述的放大器(7)的兩個(gè)輸入端相連,放大器(7)的輸出端和單片機(jī)單元(8)的輸入端相連,單片機(jī)單元(8)的輸出端和所述的顯示單元(9)相連。
      6.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的地震前兆現(xiàn)場汞氣檢測(cè)系統(tǒng),其特征在于包括凈化器(10)、采樣裝置(11)和抽氣泵(12),凈化器(10)的進(jìn)口接空氣載氣(13),凈化器(10)的出口和采樣裝置(11)的出口連通并和所述的汞氣檢測(cè)裝置(14)的進(jìn)氣口(2)相連,所述的抽氣泵(12)的進(jìn)口和所述的汞氣檢測(cè)裝置(14)的出氣口(3)相連。
      7.—種如權(quán)利要求1所述的地震前兆現(xiàn)場汞氣檢測(cè)系統(tǒng)的汞氣檢測(cè)方法,其特征在于包括如下步驟:帶有汞氣的樣品氣體流入所述的汞氣檢測(cè)裝置(14)的進(jìn)氣口(2),流經(jīng)所述的氣流通道(I),汞氣被所述的汞檢測(cè)傳感器(5)的金膜層(53)吸收,金膜層(53)電阻增大,金膜層(53)的電阻變化信號(hào)輸送給所述的檢測(cè)電路(15),經(jīng)檢測(cè)電路(15)處理,最后獲得樣品氣體中汞氣的含量值,樣品氣體中的其余氣體從汞氣檢測(cè)裝置(14)的出氣口(3)排出。
      8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的汞氣檢測(cè)方法,其特征在于所述的汞檢測(cè)傳感器(5)的微晶玻璃基片(51)的背面設(shè)有一層鎳鉻膜層(55),鎳鉻膜層(55)的左端和右端各有一個(gè)金焊盤(56),金焊盤(56)連接一通電加熱電路;所述的汞氣檢測(cè)方法包括如下步驟:當(dāng)所述的汞檢測(cè)傳感器(5)完成一次汞氣檢測(cè)后,接通所述的通電加熱電路,對(duì)所述的鎳鉻膜層(55)進(jìn)行通電加熱,以釋放被所述的汞檢測(cè)傳感器(5)的金膜層(53)吸收的汞,使汞檢測(cè)傳感器(5)的金膜層(53)回到初始狀態(tài)。
      9.根據(jù)權(quán)利要求7或8所述的汞氣檢測(cè)方法,其特征在于所述的氣流通道(I)中設(shè)有汞參比傳感器(6),所述的汞檢測(cè)傳感器(5)和汞參比傳感器(6)面對(duì)面安裝在所述的氣流通道⑴的頂面和底面,汞參比傳感器(6)和所述的檢測(cè)電路(15)相連;所述的汞氣檢測(cè)方法包括如下步驟:帶有汞氣的樣品氣體流入所述的汞氣檢測(cè)裝置(14)的進(jìn)氣口(2),流經(jīng)所述的氣流通道(I),所述的汞檢測(cè)傳感器(5)的金膜層(53)吸收樣品氣體中的汞氣,金膜層(53)電阻增大,金膜層(53)的電阻變化信號(hào)輸送給所述的檢測(cè)電路(15),所述的汞參比傳感器(6)不會(huì)吸收樣品氣體中的汞氣,但隨著樣品氣體的溫度變化汞參比傳感器(6)輸出的信號(hào)會(huì)發(fā)生變化,萊參比傳感器(6)輸出的信號(hào)也輸送給所述的檢測(cè)電路(15),檢測(cè)電路(15)根據(jù)接收到的汞檢測(cè)傳感器(5)的金膜層(53)的電阻變化信號(hào)及汞參比傳感器(6)送來的信號(hào)進(jìn)行處理,對(duì)由汞檢測(cè)傳感器(5)的金膜層(53)的電阻值增大而獲得的樣品氣體中汞氣的含量值`進(jìn)行溫度補(bǔ)償,最后獲得消除溫度影響的汞氣含量值。
      【文檔編號(hào)】G01N27/12GK103808768SQ201310694577
      【公開日】2014年5月21日 申請(qǐng)日期:2013年12月17日 優(yōu)先權(quán)日:2013年12月17日
      【發(fā)明者】王維平, 王維熙 申請(qǐng)人:杭州超距科技有限公司
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