快接手柄塞規(guī)的制作方法
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種快接手柄塞規(guī)，它涉及一種量具。它包括手柄、手柄扁位、清根、檢測用圓柱體、凹面避讓處和外端圓柱體，手柄一端內側設置有清根，清根外側依次設置有檢測用圓柱體、凹面避讓處和外端圓柱體。本發(fā)明檢測方便，檢測結果準確，實用性強。
【專利說明】快接手柄塞規(guī)
【技術領域】
[0001]本發(fā)明涉及的是一種量具，具體涉及一種快接手柄塞規(guī)。
【背景技術】
[0002]塞規(guī)是一種量具，常用的有圓孔塞規(guī)和螺紋塞規(guī)。圓孔塞規(guī)可做成最大極限尺寸和最小極限尺寸兩種。螺紋塞規(guī)是測量內螺紋尺寸的正確性的工具。塞規(guī)是孔用極限量規(guī)，它的通規(guī)是根據(jù)孔的最小極限尺寸確定的，作用是防止孔的作用尺寸小于孔的最小極限尺寸；止規(guī)是按孔的最大極限尺寸設計的，作用是防止孔的實際尺寸大于孔的最大極限尺寸。而傳統(tǒng)的塞規(guī)對于扁位內孔的檢測不準確，從而造成檢測結果偏差，給人們的使用帶來了不便。

【發(fā)明內容】

[0003]針對現(xiàn)有技術上存在的不足，本發(fā)明目的是在于提供一種快接手柄塞規(guī)，檢測方便，檢測結果準確，實用性強。
[0004]為了實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明是通過如下的技術方案來實現(xiàn):快接手柄塞規(guī)，包括手柄、手柄扁位、清根、檢測用圓柱體、凹面避讓處和外端圓柱體，手柄一端內側設置有清根，清根外側依次設置有檢測用圓柱體、凹面避讓處和外端圓柱體。
[0005]作為優(yōu)選，所述的凹面避讓處為內凹狀。
[0006]作為優(yōu)選，所述的清根為凹槽狀。
[0007]作為優(yōu)選，所述的檢測用圓柱體和外端圓柱體的直徑相同。
[0008]本發(fā)明用于檢驗內孔和扁位內孔，一次性檢測，清根處能使檢測精密配合。
[0009]本發(fā)明檢測方便，檢測結果準確，實用性強。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0010]圖1為本發(fā)明的結構示意圖；
圖2為圖1的A-A向剖視圖。
【具體實施方式】
[0011]為使本發(fā)明實現(xiàn)的技術手段、創(chuàng)作特征、達成目的與功效易于明白了解，下面結合【具體實施方式】，進一步闡述本發(fā)明。
[0012]參照圖1-2，本【具體實施方式】采用以下技術方案:快接手柄塞規(guī)，包括手柄1、手柄扁位2、清根3、檢測用圓柱體4、凹面避讓處5和外端圓柱體6，手柄I 一端內側設置有清根3，清根3外側依次設置有檢測用圓柱體4、凹面避讓處5和外端圓柱體6。
[0013]值得注意的是，所述的凹面避讓處5為內凹狀。
[0014]值得注意的是，所述的清根3為凹槽狀。
[0015]此外，所述的檢測用圓柱體4和外端圓柱體6的直徑相同。[0016]本【具體實施方式】用于檢驗內孔和扁位內孔，一次性檢測，通過清根的設置，可以處使檢測精密配合，檢測更加方便可靠。
[0017]本【具體實施方式】檢測方便，檢測結果準確，實用性強。
[0018]以上所述僅是本發(fā)明的較佳實施方式，故凡依本發(fā)明專利申請范圍所述的構造、特征及原理所做的等效變化或修飾，均包括于本發(fā)明專利申請范圍內。
【權利要求】
1.快接手柄塞規(guī)，其特征在于，包括手柄(I)、手柄扁位(2)、清根(3)、檢測用圓柱體(4)、凹面避讓處(5)和外端圓柱體(6)，手柄(I) 一端內側設置有清根(3)，清根(3)外側依次設置有檢測用圓柱體(4)、凹面避讓處(5)和外端圓柱體(6)。
2.根據(jù)權利要求1所述的快接手柄塞規(guī)，其特征在于，所述的凹面避讓處(5)為內凹狀。
3.根據(jù)權利要求1所述的快接手柄塞規(guī)，其特征在于，所述的清根(3)為凹槽狀。
4.根據(jù)權利要求1所述的快接手柄塞規(guī)，其特征在于，所述的檢測用圓柱體(4)和外端圓柱體(6)的直徑相同。
【文檔編號】G01B3/00GK103697779SQ201310728555
【公開日】2014年4月2日 申請日期:2013年12月25日 優(yōu)先權日:2013年12月25日
【發(fā)明者】朱勝雷 申請人:無錫雨田精密工具有限公司