電路板測試裝置制造方法
【專利摘要】本發(fā)明涉及一種電路板測試裝置，包括底座、支架、壓入手柄、起拔機(jī)構(gòu)、插座，底座上面設(shè)有插座，底座上設(shè)有兩個(gè)對(duì)稱的支架，支架內(nèi)側(cè)設(shè)有導(dǎo)軌，支架上部通過轉(zhuǎn)軸活動(dòng)連接壓入手柄，底座上面，位于兩個(gè)對(duì)稱的支架中間設(shè)有起拔機(jī)構(gòu)；起拔機(jī)構(gòu)由兩個(gè)凸輪、兩個(gè)杠桿、起拔手柄組成，凸輪通過凸輪軸與底座轉(zhuǎn)動(dòng)連接，每個(gè)凸輪上裝有杠桿，兩杠桿之間通過起拔手柄相連接。壓入手柄與被測電路板的接觸點(diǎn)到轉(zhuǎn)軸的距離小于壓入手柄長度。兩個(gè)杠桿等長且平行。使用本發(fā)明插入和拔出電路板時(shí)可以有效省力。
【專利說明】電路板測試裝置
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001 ] 本發(fā)明涉及一種電路板測試裝置，尤其是一種方便被測電路板插入和拔出的電路板測試裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]測試電路板是一項(xiàng)重復(fù)頻次較高的機(jī)械勞動(dòng)，被測電路板與測試裝置連接的方式經(jīng)常是通過插頭插座來實(shí)現(xiàn)的，所以，面對(duì)插座較多或者插座較緊之類的插拔力較大的情況時(shí)，測試人員往往感到非常吃力，甚至無能為力。因此，需要設(shè)計(jì)一種便于被測電路板插拔的測試裝置。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]本發(fā)明要解決的技術(shù)問題是提供一種電路板測試裝置，該裝置能使被測電路板在測試裝置上的插拔變得輕松方便。
[0004]為達(dá)到上述目的，本發(fā)明采用的技術(shù)方案是:一種電路板測試裝置，包括底座、支架、壓入手柄、起拔機(jī)構(gòu)、插座，底座上面設(shè)有插座，其特點(diǎn)是:底座上設(shè)有兩個(gè)對(duì)稱的支架，支架內(nèi)側(cè)設(shè)有導(dǎo)軌，支架上部通過轉(zhuǎn)軸活動(dòng)連接壓入手柄，底座上面，位于兩個(gè)對(duì)稱的支架中間設(shè)有起拔機(jī)構(gòu)；起拔機(jī)構(gòu)由兩個(gè)凸輪、兩個(gè)杠桿、起拔手柄組成，凸輪通過凸輪軸與底座轉(zhuǎn)動(dòng)連接，每個(gè)凸輪上裝有杠桿，兩杠桿之間通過起拔手柄相連接。
[0005]壓入手柄與被測電路板的接觸點(diǎn)到轉(zhuǎn)軸的距離小于壓入手柄的長度。兩個(gè)杠桿等長且平行。
[0006]本發(fā)明的有益效果是:插入和拔出電路板時(shí)可以有效省力。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0007]圖1是本發(fā)明結(jié)構(gòu)主視圖；
圖2是圖1的俯視圖。
【具體實(shí)施方式】
[0008]以下結(jié)合附圖和實(shí)施例對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步說明。
[0009]如圖1，2所示，本發(fā)明的電路板測試裝置，包括底座1、支架2、壓入手柄3、凸輪4、杠桿5、起拔手柄6、插座7。
[0010]底座I上設(shè)置有插座7，被測電路板沿導(dǎo)軌與插座7連接；底座I上設(shè)置有兩個(gè)對(duì)稱的支架2，支架2內(nèi)側(cè)上開槽作為導(dǎo)軌，支架2頂端設(shè)有轉(zhuǎn)軸，壓入手柄3通過轉(zhuǎn)軸安裝在支架2上，壓入手柄3可在轉(zhuǎn)軸上旋轉(zhuǎn)；壓入手柄3與被測電路板的接觸點(diǎn)到轉(zhuǎn)軸的距離小于壓入手柄3長度；使用方法是:被測電路板沿導(dǎo)軌插入，然后雙手對(duì)稱轉(zhuǎn)動(dòng)壓入手柄3，利用杠桿原理，通過接觸點(diǎn)的作用力，將電路板與測試裝置上的插座7連接。底座I上還設(shè)有起拔機(jī)構(gòu)；起拔機(jī)構(gòu)含有兩個(gè)凸輪4、兩個(gè)杠桿5和起拔手柄6 ;凸輪4安裝在底座I上，可沿凸輪軸旋轉(zhuǎn)；每個(gè)凸輪4上安裝有杠桿5，兩杠桿5通過起拔手柄)6相連，兩個(gè)杠桿等長且平行；使用時(shí)只許拉動(dòng)起拔手柄6，即可通過杠桿5驅(qū)動(dòng)凸輪4同步同向旋轉(zhuǎn)，將被測電路板拔離插座7。
[0011]以上對(duì)【具體實(shí)施方式】的描述，旨在為了進(jìn)一步說明本發(fā)明涉及的技術(shù)方案，使本領(lǐng)域普通技術(shù)人員能夠應(yīng)用實(shí)施本發(fā)明。應(yīng)當(dāng)理解并不是用于限制本發(fā)明，凡是基于本發(fā)明啟示，任何顯而易見的變換或等同替代，也應(yīng)當(dāng)被認(rèn)為落入本發(fā)明的保護(hù)范圍。
【權(quán)利要求】
1.一種電路板測試裝置，包括底座(I)、支架(2)、壓入手柄(3)、起拔機(jī)構(gòu)、插座(7)，底座(I)上面設(shè)有插座(7)，其特征在于:所述底座(I)上設(shè)有兩個(gè)對(duì)稱的支架(2)，支架(2)內(nèi)側(cè)設(shè)有導(dǎo)軌，支架(2)上部通過轉(zhuǎn)軸活動(dòng)連接壓入手柄(3)，底座(I)上面，位于兩個(gè)對(duì)稱的支架(2)中間設(shè)有起拔機(jī)構(gòu)；起拔機(jī)構(gòu)由兩個(gè)凸輪(4)、兩個(gè)杠桿(5)、起拔手柄(6)組成，凸輪(4)通過凸輪軸與底座(I)轉(zhuǎn)動(dòng)連接，每個(gè)凸輪(4)上裝有杠桿(5)，兩杠桿(5)之間通過起拔手柄(6)相連接。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電路板測試裝置，其特征在于:所述壓入手柄(3)與被測電路板的接觸點(diǎn)到轉(zhuǎn)軸的距離小于壓入手柄(3)的長度。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電路板測試裝置，其特征在于:所述兩個(gè)杠桿(5)等長且平行。
【文檔編號(hào)】G01R31/28GK103744011SQ201310745282
【公開日】2014年4月23日 申請(qǐng)日期:2013年12月30日 優(yōu)先權(quán)日:2013年12月30日
【發(fā)明者】黃寅, 徐德俊, 周岳平, 董金偉 申請(qǐng)人:上海自動(dòng)化儀表股份有限公司