四線(xiàn)測(cè)試治具及其測(cè)試方法
【專(zhuān)利摘要】本發(fā)明涉及一種四線(xiàn)測(cè)試治具及其測(cè)試方法，該治具包括上治具和下治具，所述上治具和下治具分別夾設(shè)于PCB板的兩側(cè)，所述PCB板上的四個(gè)待測(cè)試焊盤(pán)分別與所述上治具和下治具上的四個(gè)測(cè)試針一一對(duì)應(yīng)，所述四個(gè)測(cè)試針?lè)謩e連接至治具牛角，所述治具牛角連接至四線(xiàn)線(xiàn)材測(cè)試機(jī)進(jìn)行測(cè)試。本發(fā)明利用四線(xiàn)測(cè)試原理，采用二線(xiàn)治具結(jié)構(gòu)，搭配低單價(jià)的四線(xiàn)線(xiàn)材測(cè)試機(jī)，實(shí)現(xiàn)四線(xiàn)測(cè)試的功能，既能夠檢測(cè)線(xiàn)路是否導(dǎo)通，又能夠檢測(cè)出由于銅厚不良而導(dǎo)致的阻值異常，其測(cè)量精度能夠到達(dá)1mΩ，且成本低。
【專(zhuān)利說(shuō)明】四線(xiàn)測(cè)試治具及其測(cè)試方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及PCB半成品檢測(cè)領(lǐng)域，尤其涉及一種四線(xiàn)測(cè)試治具及其測(cè)試方法。
【背景技術(shù)】
[0002]在現(xiàn)行的PCB制程中，外層線(xiàn)路完成后，通常需要對(duì)線(xiàn)路的導(dǎo)通與否及阻值異常進(jìn)行檢測(cè)，目前的測(cè)試治具主要包括兩種:一種是兩線(xiàn)測(cè)試治具，如圖1所示，在位于同一網(wǎng)路中的兩個(gè)待測(cè)試的焊盤(pán)(Pad)Il上設(shè)置I根測(cè)試針12，兩測(cè)試針12分別連接至電源的兩端，且電流表串聯(lián)于上述電路中，電壓表并聯(lián)于兩測(cè)試針之間，這種方式只能對(duì)線(xiàn)路的導(dǎo)通與否進(jìn)行檢測(cè)，不能檢測(cè)出由于銅厚不良導(dǎo)致的線(xiàn)路阻值異常問(wèn)題，測(cè)試精度僅為1Ω ；另一種是四線(xiàn)測(cè)試治具，如圖2所示，在位于同一網(wǎng)路中的兩個(gè)待測(cè)試的焊盤(pán)21上設(shè)置兩根測(cè)試針22，同一焊盤(pán)21上的兩根測(cè)試針22中，一根連接至電源，另一根連接至電壓表，這樣，既能夠測(cè)試線(xiàn)路是否導(dǎo)通，也同時(shí)能夠測(cè)試由銅厚不良導(dǎo)致的線(xiàn)路阻值異常問(wèn)題，且精度能夠達(dá)到ΙπιΩ，但這種方式中，由于測(cè)試針22的密度較高，且需要配置專(zhuān)業(yè)的四線(xiàn)測(cè)試機(jī)及四線(xiàn)制作軟件，因而該測(cè)試設(shè)備成本很高。
[0003]因此，如何提供一種既能夠同時(shí)檢測(cè)線(xiàn)路導(dǎo)通與阻值異常的、測(cè)量精度高且成本低的四線(xiàn)測(cè)試治具是本領(lǐng)域的技術(shù)人員亟待解決的一個(gè)技術(shù)問(wèn)題。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]本發(fā)明提供一種四線(xiàn)測(cè)試治具及其測(cè)試方法，以解決現(xiàn)有的測(cè)試治具測(cè)試精度低、成本高的問(wèn)題。
[0005]為解決上述技術(shù)問(wèn)題，本發(fā)明提供一種四線(xiàn)測(cè)試治具，包括上治具和下治具，所述上治具和下治具分別夾設(shè)于PCB板的兩側(cè)，所述PCB板上的四個(gè)待測(cè)試焊盤(pán)分別與所述上治具和下治具上的四個(gè)測(cè)試針一一對(duì)應(yīng)，所述四個(gè)測(cè)試針?lè)謩e連接至治具牛角，所述治具牛角連接至四線(xiàn)線(xiàn)材測(cè)試機(jī)進(jìn)行測(cè)試。
[0006]較佳地，所述四線(xiàn)線(xiàn)材測(cè)試機(jī)中的測(cè)試電路包括電源、電壓表和電流表，其中兩個(gè)測(cè)試針?lè)謩e通過(guò)所述治具牛角連接至所述電壓表的兩端，所述電源與所述電流表串聯(lián)后經(jīng)所述治具牛角連接至另外兩個(gè)測(cè)試針。
[0007]較佳地,所述治具牛角的數(shù)量為一個(gè)或者三個(gè)。
[0008]本發(fā)明還提供了一種如上所述的四線(xiàn)測(cè)試治具的測(cè)試方法，包括如下步驟:
[0009]S1:逐層選擇需要測(cè)試的線(xiàn)路，并在PCB板上與該線(xiàn)路相對(duì)應(yīng)的焊盤(pán)中選取四個(gè)焊盤(pán)；
[0010]S2:若選擇的四個(gè)焊盤(pán)均位于PCB板的同一側(cè)，則只需在下治具上設(shè)置四個(gè)與所述焊盤(pán)相對(duì)應(yīng)的測(cè)試針，只需一個(gè)治具牛角與下治具相連；若選擇的四個(gè)焊盤(pán)位于PCB板的不同側(cè)，則在上治具上設(shè)置與位于PCB上側(cè)的焊盤(pán)相對(duì)應(yīng)的測(cè)試針，在下治具上設(shè)置與位于PCB下側(cè)的焊盤(pán)相對(duì)應(yīng)的測(cè)試針，此時(shí)選用第一、第二、第三三個(gè)治具牛角，其中，第一治具牛角連接于上治具的測(cè)試針上，并與第三治具牛角相連；第二治具牛角連接于下治具的測(cè)試針上，并與第三治具牛角相連，所述第三治具牛角作為第一治具牛角和第二治具牛角之間的轉(zhuǎn)接端；
[0011]S3:使用四線(xiàn)線(xiàn)材測(cè)試機(jī)的繞線(xiàn)方法在治具牛角或第二治具牛角上繞線(xiàn)。
[0012]較佳地，在SI步驟中，選擇的測(cè)試線(xiàn)路位于所述PCB板的四個(gè)角落。
[0013]本發(fā)明提供的四線(xiàn)測(cè)試治具及其測(cè)試方法，相較于現(xiàn)有技術(shù)具有如下優(yōu)點(diǎn):
[0014]1、測(cè)試精度高，能夠達(dá)到ΙπιΩ ;
[0015]2、單價(jià)僅需3萬(wàn)元，相較于現(xiàn)有的專(zhuān)業(yè)四線(xiàn)測(cè)試治具的100萬(wàn)元，大大減低了生產(chǎn)成本；
[0016]3、既能夠測(cè)試線(xiàn)路是否導(dǎo)通，也同時(shí)能夠測(cè)試由銅厚不良導(dǎo)致的線(xiàn)路阻值異常問(wèn)題。
【專(zhuān)利附圖】

【附圖說(shuō)明】
[0017]圖1為現(xiàn)有的兩線(xiàn)測(cè)試治具的原理圖；
[0018]圖2為現(xiàn)有的四線(xiàn)測(cè)試治具的原理圖；
[0019]圖3為本發(fā)明一【具體實(shí)施方式】的四線(xiàn)測(cè)試治具的原理圖；
[0020]圖4為本發(fā)明實(shí)施例1的四線(xiàn)測(cè)試治具的具體應(yīng)用示意圖；
[0021]圖5為本發(fā)明實(shí)施例2的四線(xiàn)測(cè)試治具的具體應(yīng)用示意圖。
[0022]圖1和圖2中:11、21-焊盤(pán)，12、22-測(cè)試針；
[0023]圖3 ?5 中:100、200-PCB 板，111、211-焊盤(pán)，110、210_ 上治具，120、220_ 下治具，130,230-測(cè)試針，140-治具牛角；
[0024]240-第一治具牛角，250-第二治具牛角，260-第三治具牛角。
【具體實(shí)施方式】
[0025]為了更詳盡的表述上述發(fā)明的技術(shù)方案，以下列舉出具體的實(shí)施例來(lái)證明技術(shù)效果；需要強(qiáng)調(diào)的是，這些實(shí)施例用于說(shuō)明本發(fā)明而不限于限制本發(fā)明的范圍。
[0026]實(shí)施例1
[0027]請(qǐng)參考圖3至圖4，本發(fā)明提供的四線(xiàn)測(cè)試治具，包括上治具110和下治具120，所述上治具110和下治具120分別夾設(shè)于PCB板100的兩側(cè)，所述PCB板100上的四個(gè)待測(cè)試焊盤(pán)111分別與所述上治具110和下治具120上的四個(gè)測(cè)試針130 —一對(duì)應(yīng)，所述四個(gè)測(cè)試針130分別連接至治具牛角140，所述治具牛角140連接至四線(xiàn)線(xiàn)材測(cè)試機(jī)(圖中未示出)進(jìn)行測(cè)試。本發(fā)明提供的四線(xiàn)測(cè)試治具測(cè)試精度高，能夠達(dá)到ΙπιΩ ;無(wú)需配置專(zhuān)業(yè)的四線(xiàn)測(cè)試機(jī)及四線(xiàn)制作軟件，成本低，僅需3萬(wàn)元；既能夠測(cè)試線(xiàn)路是否導(dǎo)通，也同時(shí)能夠測(cè)試由銅厚不良導(dǎo)致的線(xiàn)路阻值異常問(wèn)題。
[0028]較佳地，請(qǐng)重點(diǎn)參考圖3，所述四線(xiàn)線(xiàn)材測(cè)試機(jī)的測(cè)試電路包括電源、電壓表和電流表，所述電壓表的兩端通過(guò)所述治具牛角140連接至其中兩個(gè)測(cè)試針130，所述電源與所述電流表串聯(lián)后經(jīng)所述治具牛角140連接至另外兩個(gè)測(cè)試針130。
[0029]較佳地，請(qǐng)重點(diǎn)參考圖4，所述治具牛角140的數(shù)量為一個(gè)，此時(shí)四個(gè)焊盤(pán)111均位于PCB板100的同一側(cè)，此時(shí)相對(duì)應(yīng)的測(cè)試方法，包括如下步驟:
[0030]S1:逐層選擇需要測(cè)試的線(xiàn)路，并在PCB板100上與該線(xiàn)路相對(duì)應(yīng)的焊盤(pán)中選取四個(gè)焊盤(pán)111，較佳地，選擇的測(cè)試線(xiàn)路位于所述PCB板的四個(gè)角落，使得測(cè)試線(xiàn)路盡量較長(zhǎng)，以達(dá)到監(jiān)控的全面性。
[0031]S2:在下治具120上設(shè)置四個(gè)與所述焊盤(pán)111相對(duì)應(yīng)的測(cè)試針130，只需一個(gè)治具牛角140與下治具120相連；
[0032]S3:使用四線(xiàn)線(xiàn)材測(cè)試機(jī)的繞線(xiàn)方法在治具牛角140上繞線(xiàn)。將治具牛角140連接至四線(xiàn)線(xiàn)材測(cè)試機(jī)進(jìn)行測(cè)試。
[0033]實(shí)施例2
[0034]本實(shí)施例與實(shí)施例1的區(qū)別在于:所述治具牛角140的數(shù)量為三個(gè)，此時(shí)四個(gè)焊盤(pán)211位于PCB板200的不同側(cè)。
[0035]也就是說(shuō):當(dāng)選擇的四個(gè)焊盤(pán)211位于PCB板200的不同側(cè)時(shí)，則在上治具210上設(shè)置與位于PCB板200上側(cè)的焊盤(pán)211相對(duì)應(yīng)的測(cè)試針230，在下治具220上設(shè)置與位于PCB板200下側(cè)的焊盤(pán)211相對(duì)應(yīng)的測(cè)試針230，此時(shí)選用第一、第二、第三三個(gè)治具牛角240、250、260，其中，第一治具牛角240連接于上治具210的測(cè)試針230上，并通過(guò)64PIN的排線(xiàn)與第三治具牛角260相連；第二治具牛角250連接于下治具220的測(cè)試針230上，并通過(guò)四線(xiàn)線(xiàn)材測(cè)試機(jī)的繞線(xiàn)方法與第三治具牛角260相連，所述第三治具牛角260作為第一治具牛角240和第二治具牛角250之間的轉(zhuǎn)接端，實(shí)現(xiàn)待測(cè)線(xiàn)路同一端的測(cè)點(diǎn)均集中于第二治具牛角250的測(cè)試針230上，從而實(shí)現(xiàn)所有測(cè)試點(diǎn)都在下治具220，且測(cè)點(diǎn)前后兩排相互對(duì)應(yīng)，進(jìn)而實(shí)現(xiàn)與四線(xiàn)線(xiàn)材測(cè)試機(jī)的對(duì)接。
[0036]綜上所述，本發(fā)明提供的四線(xiàn)測(cè)試治具及其測(cè)試方法，該治具包括上治具和下治具，所述上治具和下治具分別夾設(shè)于PCB板的兩側(cè)，所述PCB板上的四個(gè)待測(cè)試焊盤(pán)分別與所述上治具和下治具上的四個(gè)測(cè)試針相對(duì)應(yīng)，所述四個(gè)測(cè)試針?lè)謩e連接至治具牛角，所述測(cè)試牛角連接至四線(xiàn)線(xiàn)材測(cè)試機(jī)進(jìn)行測(cè)試。本發(fā)明利用四線(xiàn)測(cè)試原理，采用二線(xiàn)治具結(jié)構(gòu)，搭配低單價(jià)的四線(xiàn)線(xiàn)材測(cè)試機(jī)，實(shí)現(xiàn)四線(xiàn)測(cè)試的功能，既能夠檢測(cè)線(xiàn)路是否導(dǎo)通，又能夠檢測(cè)出由于銅厚不良而導(dǎo)致的阻值異常，其測(cè)量精度能夠到達(dá)ΙπιΩ，且成本低。
[0037]顯然，本領(lǐng)域的技術(shù)人員可以對(duì)發(fā)明進(jìn)行各種改動(dòng)和變型而不脫離本發(fā)明的精神和范圍。這樣，倘若本發(fā)明的這些修改和變型屬于本發(fā)明權(quán)利要求及其等同技術(shù)的范圍之內(nèi)，則本發(fā)明也意圖包括這些改動(dòng)和變型在內(nèi)。
【權(quán)利要求】
1.一種四線(xiàn)測(cè)試治具，其特征在于，包括上治具和下治具，所述上治具和下治具分別夾設(shè)于PCB板的兩側(cè)，所述PCB板上的四個(gè)待測(cè)試焊盤(pán)分別與所述上治具和下治具上的四個(gè)測(cè)試針一一對(duì)應(yīng)，所述四個(gè)測(cè)試針?lè)謩e連接至治具牛角，所述治具牛角連接至四線(xiàn)線(xiàn)材測(cè)試機(jī)進(jìn)行測(cè)試。
2.如權(quán)利要求1所述的四線(xiàn)測(cè)試治具，其特征在于，所述四線(xiàn)線(xiàn)材測(cè)試機(jī)的測(cè)試電路包括電源、電壓表和電流表，其中兩個(gè)測(cè)試針?lè)謩e通過(guò)所述治具牛角連接至所述電壓表的兩端，所述電源與所述電流表串聯(lián)后經(jīng)所述治具牛角連接至另外兩個(gè)測(cè)試針。
3.如權(quán)利要求1所述的四線(xiàn)測(cè)試治具，其特征在于，所述治具牛角的數(shù)量為一個(gè)或者三個(gè)。
4.如權(quán)利要求1?3中任意一項(xiàng)所述的四線(xiàn)測(cè)試治具的測(cè)試方法，其特征在于，包括如下步驟: S1:逐層選擇需要測(cè)試的線(xiàn)路，并在PCB板上與該線(xiàn)路相對(duì)應(yīng)的焊盤(pán)中選取四個(gè)焊盤(pán)； S2:若選擇的四個(gè)焊盤(pán)均位于PCB板的同一側(cè)，則只需在下治具上設(shè)置四個(gè)與所述焊盤(pán)相對(duì)應(yīng)的測(cè)試針，只需一個(gè)治具牛角與下治具相連；若選擇的四個(gè)焊盤(pán)位于PCB板的不同側(cè)，則在上治具上設(shè)置與位于PCB上側(cè)的焊盤(pán)相對(duì)應(yīng)的測(cè)試針，在下治具上設(shè)置與位于PCB下側(cè)的焊盤(pán)相對(duì)應(yīng)的測(cè)試針，此時(shí)選用第一、第二、第三三個(gè)治具牛角，其中，第一治具牛角連接于上治具的測(cè)試針上，并與第三治具牛角相連；第二治具牛角連接于下治具的測(cè)試針上，并與第三治具牛角相連，所述第三治具牛角作為第一治具牛角和第二治具牛角之間的轉(zhuǎn)接端； S3:使用四線(xiàn)線(xiàn)材測(cè)試機(jī)的繞線(xiàn)方法在治具牛角或第二治具牛角上繞線(xiàn)。
5.如權(quán)利要求4所述的測(cè)試方法，其特征在于，在SI步驟中，選擇的測(cè)試線(xiàn)路位于所述PCB板的四個(gè)角落。
【文檔編號(hào)】G01R1/04GK103760388SQ201310750563
【公開(kāi)日】2014年4月30日 申請(qǐng)日期:2013年12月31日 優(yōu)先權(quán)日:2013年12月31日
【發(fā)明者】徐榮, 毛黎燕, 陳書(shū)華 申請(qǐng)人:昆山鼎鑫電子有限公司