專利名稱：產(chǎn)品尺寸檢測(cè)治具的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及一種產(chǎn)品尺寸檢測(cè)治具。
背景技術(shù)：
目前，數(shù)控中心加工的鋁合金產(chǎn)品，客戶需要管控很多處重點(diǎn)尺寸，品檢員單個(gè)檢測(cè)尺寸需要花費(fèi)很多的時(shí)間，效率較低。
發(fā)明內(nèi)容為了克服上述缺陷，本實(shí)用新型提供了一種產(chǎn)品尺寸檢測(cè)治具，能夠一次檢測(cè)多處產(chǎn)品尺寸，效率大大提升。本實(shí)用新型為了解決其技術(shù)問(wèn)題所采用的技術(shù)方案是:一種產(chǎn)品尺寸檢測(cè)治具，包括一能夠水平置于待檢測(cè)產(chǎn)品所有待檢測(cè)點(diǎn)上方的零平面，該零平面上對(duì)應(yīng)待檢測(cè)產(chǎn)品的各檢測(cè)點(diǎn)分別設(shè)有一檢測(cè)用通孔，對(duì)應(yīng)該每一檢測(cè)用通孔內(nèi)活動(dòng)插設(shè)一 PIN針，所述每一 PIN針的高度為該P(yáng)IN針對(duì)應(yīng)的檢測(cè)點(diǎn)的標(biāo)準(zhǔn)高度到所述零平面上表面之間的距離。本實(shí)用新型的有益效果是:通過(guò)在產(chǎn)品上設(shè)置一零平面，并在該零平面上對(duì)應(yīng)各檢測(cè)點(diǎn)分別設(shè)一檢測(cè)用通孔，對(duì)應(yīng)每一通孔內(nèi)活動(dòng)設(shè)置一 PIN針，每一 PIN針的高度為該P(yáng)IN針對(duì)應(yīng)的檢測(cè)點(diǎn)的標(biāo)準(zhǔn)高度到零平面上表面之間的距離。這樣，品檢員再使用簡(jiǎn)易的高度規(guī)以零平面歸零，平面內(nèi)掃動(dòng)所有的PIN針，品檢員根據(jù)高度規(guī)讀數(shù)盤的表針即可以知道各檢測(cè)點(diǎn)尺寸狀況，非常方便，不需要對(duì)檢測(cè)點(diǎn)一個(gè)一個(gè)的檢測(cè)，大大提升了檢測(cè)效率。

圖1為本實(shí)用新型結(jié)構(gòu)示意圖；圖2為本實(shí)用新型使用狀態(tài)結(jié)構(gòu)示意圖。結(jié)合附圖，作以下說(shuō)明:1-零平面2-檢測(cè)用通孔3-PIN 針
具體實(shí)施方式
結(jié)合附圖，對(duì)本實(shí)用新型作詳細(xì)說(shuō)明，但本實(shí)用新型的保護(hù)范圍不限于下述實(shí)施例。
如圖1所示，一種產(chǎn)品尺寸檢測(cè)治具，包括一能夠水平置于待檢測(cè)產(chǎn)品所有待檢測(cè)點(diǎn)上方的零平面1，該零平面上對(duì)應(yīng)待檢測(cè)產(chǎn)品的各檢測(cè)點(diǎn)分別設(shè)有一檢測(cè)用通孔2，對(duì)應(yīng)該每一檢測(cè)用通孔內(nèi)活動(dòng)插設(shè)一 PIN針3，所述每一PIN針的高度為該P(yáng)IN針對(duì)應(yīng)的檢測(cè)點(diǎn)的標(biāo)準(zhǔn)高度到所述零平面上表面之間的距離。使用時(shí)，如圖2所示，先將零平面置于待檢測(cè)產(chǎn)品上方的設(shè)定平面內(nèi)，然后把每一 PIN針?lè)謩e插入其對(duì)應(yīng)的檢測(cè)用通孔內(nèi)，品檢員再使用簡(jiǎn)易的高度規(guī)以零平面歸零，平面內(nèi)掃動(dòng)所有的PIN針，品檢員根據(jù)高度規(guī)讀數(shù)盤的表針即可以知道各檢測(cè)點(diǎn)尺寸狀況，非常方便，不需要對(duì)檢測(cè)點(diǎn)一個(gè)一個(gè)的檢測(cè)，大大提升了檢測(cè)效率。
權(quán)利要求1.一種產(chǎn)品尺寸檢測(cè)治具，其特征在于:包括一能夠水平置于待檢測(cè)產(chǎn)品所有待檢測(cè)點(diǎn)上方的零平面(1)，該零平面上對(duì)應(yīng)待檢測(cè)產(chǎn)品的各檢測(cè)點(diǎn)分別設(shè)有一檢測(cè)用通孔(2)，對(duì)應(yīng)該每一檢測(cè)用通孔內(nèi)活動(dòng)插設(shè)一 PIN針(3)，所述每一 PIN針的高度為該P(yáng)IN針對(duì)應(yīng)的檢測(cè)點(diǎn)的標(biāo)準(zhǔn)高度到所述零平面上表面之間的距離。
專利摘要本實(shí)用新型公開了一種產(chǎn)品尺寸檢測(cè)治具，包括一能夠水平置于待檢測(cè)產(chǎn)品所有待檢測(cè)點(diǎn)上方的零平面，該零平面上對(duì)應(yīng)待檢測(cè)產(chǎn)品的各檢測(cè)點(diǎn)分別設(shè)有一檢測(cè)用通孔，對(duì)應(yīng)該每一檢測(cè)用通孔內(nèi)活動(dòng)插設(shè)一PIN針，所述每一PIN針的高度為該P(yáng)IN針對(duì)應(yīng)的檢測(cè)點(diǎn)的標(biāo)準(zhǔn)高度到所述零平面上表面之間的距離。該產(chǎn)品尺寸檢測(cè)治具，能夠一次檢測(cè)多處產(chǎn)品尺寸，效率大大提升。
文檔編號(hào)G01B21/00GK203037235SQ201320003728
公開日2013年7月3日 申請(qǐng)日期2013年1月5日 優(yōu)先權(quán)日2013年1月5日
發(fā)明者韋盛城 申請(qǐng)人:昆山上達(dá)精密配件有限公司