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      無(wú)線遙控編碼ic自動(dòng)測(cè)試板的制作方法

      文檔序號(hào):6192313閱讀:418來(lái)源:國(guó)知局
      無(wú)線遙控編碼ic自動(dòng)測(cè)試板的制作方法
      【專利摘要】一種無(wú)線遙控編碼IC自動(dòng)測(cè)試板,以解決現(xiàn)有技術(shù)存在結(jié)構(gòu)復(fù)雜,成本高昂,維護(hù)困難,能耗高,并且占用大量場(chǎng)地的問(wèn)題。其特征在于:包括測(cè)試板、待測(cè)IC、晶圓探針臺(tái)、成測(cè)機(jī)械手,所述的測(cè)試板與待測(cè)IC連接,所述的測(cè)試板通過(guò)串口與晶圓探針臺(tái)連接,測(cè)試板通過(guò)邏輯門電路與成測(cè)機(jī)械手連接。采用本實(shí)用新型效率高,結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單,占用空間小,一個(gè)測(cè)試板置于成測(cè)機(jī)械手下方即可,不用另外占用工位面積;節(jié)能環(huán)保,一般通用測(cè)試機(jī)功率都在100W以上,而測(cè)試板最高能耗僅在12W以內(nèi);采購(gòu)成本低,擴(kuò)展快,輕松實(shí)現(xiàn)多塊測(cè)試板同時(shí)上線。
      【專利說(shuō)明】 無(wú)線遙控編碼IC自動(dòng)測(cè)試板
      【技術(shù)領(lǐng)域】
      [0001]本實(shí)用新型涉及到一種無(wú)線遙控編碼IC自動(dòng)測(cè)試板,應(yīng)用于無(wú)線遙控編碼IC產(chǎn)品后端的測(cè)試。
      【背景技術(shù)】
      [0002]目前無(wú)線遙控編碼IC產(chǎn)品,普遍采用通用IC測(cè)試機(jī),配備使用精密測(cè)量單元(PMU)提供電源,測(cè)試電流,量測(cè)電壓,使用數(shù)字通道提供邏輯電平設(shè)定IC工作狀態(tài)等各類通用但復(fù)雜的功能模塊搭建測(cè)試平臺(tái),測(cè)試IC各項(xiàng)輸出參數(shù)以判斷IC好壞。已有技術(shù)結(jié)構(gòu)復(fù)雜,成本高昂,維護(hù)困難,能耗高,并且占用大量場(chǎng)地。

      【發(fā)明內(nèi)容】

      [0003]本實(shí)用新型的目的在于:提供一種無(wú)線遙控編碼IC自動(dòng)測(cè)試板,以解決現(xiàn)有技術(shù)存在結(jié)構(gòu)復(fù)雜,成本高昂,維護(hù)困難,能耗高,并且占用大量場(chǎng)地的問(wèn)題。
      [0004]達(dá)到本實(shí)用新型的目的所采取的技術(shù)方案是:一種無(wú)線遙控編碼IC自動(dòng)測(cè)試板,其特征在于:包括測(cè)試板、待測(cè)1C、晶圓探針臺(tái)、成測(cè)機(jī)械手,所述的測(cè)試板與待測(cè)IC連接,所述的測(cè)試板通過(guò)串口與晶圓探針臺(tái)連接,測(cè)試板通過(guò)邏輯門電路與成測(cè)機(jī)械手連接。
      [0005]所述的測(cè)試板包括一塊主控單片機(jī)、電源模塊、電流測(cè)量單元,所述的主控單片機(jī)分別與電流測(cè)量單元、串口、邏輯門電路以及待測(cè)IC連接,電流測(cè)量單元與待測(cè)IC連接。
      [0006]本實(shí)用新型達(dá)到的有益效果是:采用本實(shí)用新型效率高,結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單,占用空間小,一個(gè)測(cè)試板置于成測(cè)機(jī)械手下方即可,不用另外占用工位面積;節(jié)能環(huán)保,一般通用測(cè)試機(jī)功率都在100W以上,而測(cè)試板最高能耗僅在12W以內(nèi);采購(gòu)成本低,擴(kuò)展快,輕松實(shí)現(xiàn)多塊測(cè)試板同時(shí)上線。
      【專利附圖】

      【附圖說(shuō)明】
      [0007]圖1:本實(shí)用新型的結(jié)構(gòu)示意圖。
      [0008]圖2:本實(shí)用新型的測(cè)試板結(jié)構(gòu)示意圖。
      【具體實(shí)施方式】
      [0009]以下結(jié)合附圖更詳盡地說(shuō)明本實(shí)用新型的結(jié)構(gòu)特征。
      [0010]參照?qǐng)D1、2,一種無(wú)線遙控編碼IC自動(dòng)測(cè)試板,其特征在于:包括測(cè)試板1、待測(cè)IC2、晶圓探針臺(tái)3、成測(cè)機(jī)械手4,所述的測(cè)試板I與待測(cè)IC2連接,所述的測(cè)試板I通過(guò)串口 5與晶圓探針臺(tái)3連接,測(cè)試板I通過(guò)邏輯門電路6與成測(cè)機(jī)械手4連接。
      [0011]所述的測(cè)試板I包括一塊主控單片機(jī)11、電源模塊12、電流測(cè)量單元13,所述的主控單片機(jī)11分別與電流測(cè)量單元13、串口 5、邏輯門電路6以及待測(cè)IC2連接,電流測(cè)量單元13與待測(cè)IC3連接。
      [0012]本實(shí)用新型主控單片機(jī)11采用ATMEGA128,電源模塊22為9V/1A輸入,采用LMl 117和LM7805穩(wěn)壓塊及MC34063 DC-DC芯片獲得I個(gè)9V/500mA直流電源。
      [0013]本實(shí)用新型采購(gòu)成本低,擴(kuò)展快,輕松實(shí)現(xiàn)多塊測(cè)試板同時(shí)上線。
      【權(quán)利要求】
      1.一種無(wú)線遙控編碼IC自動(dòng)測(cè)試板,其特征在于:包括測(cè)試板、待測(cè)1C、晶圓探針臺(tái)、成測(cè)機(jī)械手,所述的測(cè)試板與待測(cè)IC連接,所述的測(cè)試板通過(guò)串口與晶圓探針臺(tái)連接,測(cè)試板通過(guò)邏輯門電路與成測(cè)機(jī)械手連接。
      2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的無(wú)線遙控編碼IC自動(dòng)測(cè)試板,其特征在于:所述的測(cè)試板包括一塊主控單片機(jī)、電源模塊、電流測(cè)量單元,所述的主控單片機(jī)分別與電流測(cè)量單元、串口、邏輯門電路以及待測(cè)IC連接,電流測(cè)量單元與待測(cè)IC連接。
      【文檔編號(hào)】G01R31/28GK203396907SQ201320356430
      【公開(kāi)日】2014年1月15日 申請(qǐng)日期:2013年6月20日 優(yōu)先權(quán)日:2013年6月20日
      【發(fā)明者】劉長(zhǎng)春 申請(qǐng)人:深圳市芯匯群微電子技術(shù)有限公司
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