對設(shè)備進行老化檢測的裝置制造方法
【專利摘要】本實用新型提供了一種對設(shè)備進行老化檢測的裝置。包括：被老化設(shè)備、衰減器、數(shù)據(jù)處理單元及同軸電纜，所述數(shù)據(jù)處理單元通過所述同軸電纜和所述衰減器連接，所述衰減器通過所述同軸電纜和所述被老化設(shè)備連接，所述被老化設(shè)備向所述衰減器發(fā)送射頻信號，該射頻信號通過所述數(shù)據(jù)處理單元處理后通過所述同軸電纜向所述衰減器、被老化設(shè)備返回射頻信號。本實用新型實現(xiàn)了對ETC路側(cè)單元的發(fā)射和接收鏈路的同時老化，傳輸方式由輻射改成了同軸電纜傳輸，排除微波輻射帶來的不可控性，還可以篩查出發(fā)射功率和接收靈敏度不合格的產(chǎn)品。
【專利說明】對設(shè)備進行老化檢測的裝置
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實用新型屬于老化檢測裝置領(lǐng)域，特別是應(yīng)用于智能交通不停車收費系統(tǒng)的路側(cè)單元生產(chǎn)過程中的一種對設(shè)備進行老化檢測的裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]目前，我國很多省市都建設(shè)了高速公路電子不停車收費系統(tǒng)ETC(Electr0niCToll Collection)。ETC 系統(tǒng)是由 RSU (路側(cè)單元，Roadside Unit)和 0BU (車載單元，On-Board Unit)通過無線通信的方式實現(xiàn)計費交易的，通信協(xié)議采用專用短程通信DSRC(Dedicated Short Range Communication,)協(xié)議。ETC系統(tǒng)是適用于高速公路以及交通繁忙的橋梁隧道環(huán)境下的車輛收費解決方案。0BU (On-Board Unit,車載單元)是ETC系統(tǒng)的標準配件，用于安裝在車輛的前擋風玻璃上，路側(cè)單元(RSU，R0adside Unit)安置在收費車道上，當車輛通過ETC車道時，0BU與路側(cè)單元(RSU，Roadside Unit)等設(shè)備通訊，不需停車即可完成ETC收費，從而提高汽車通行速度，有效解決交通堵塞問題。
[0003]老化檢測是針對電子產(chǎn)品進行測試，檢測產(chǎn)品的可靠性、穩(wěn)定性等，讓設(shè)備在出廠前進行超負荷工作而使缺陷在短時間內(nèi)出現(xiàn)，可檢查出不良品或殘缺件，避免設(shè)備在使用早期發(fā)生故障，剔除早期失效和穩(wěn)定性差的產(chǎn)品，為客戶提供合格的產(chǎn)品，從而保證產(chǎn)品使用的可靠性。老化檢測是各個生產(chǎn)企業(yè)提高產(chǎn)品質(zhì)量，樹立企業(yè)形象、提高企業(yè)競爭力的重要途徑之一，老化檢測試驗裝置為迅速找出問題并解決問題提供了有效的技術(shù)手段，充分提高了產(chǎn)品質(zhì)量，資源利用效率及產(chǎn)品的品質(zhì)。對于RSU設(shè)備而言其工作環(huán)境相當惡略，因此需要對其應(yīng)用過程中各個環(huán)節(jié)都要測試到，包括發(fā)射鏈路、接收鏈路、混頻器、頻率源等?，F(xiàn)有技術(shù)中的一種對設(shè)備進行老化的方法為:將被老化設(shè)備置于高溫實驗箱內(nèi)來模擬真實環(huán)境，并以微波輻射的方式對被老化設(shè)備進行老化檢測。
[0004]上述現(xiàn)有技術(shù)中的老化檢測缺點為:該方法是通過模擬真實環(huán)境進行檢測，并沒有讓被老化設(shè)備進行信號發(fā)射和接收測試，只通過對被老化設(shè)備的工件環(huán)境進行模擬測試這樣的測試是不精確的，存在著很大的不可控性，而且不能驗證RSU的最大發(fā)射功率、靈敏度、頻點切換、幀頭射頻處理等全部射頻指標。
實用新型內(nèi)容
[0005]本實用新型的主要目的是提供了一種對設(shè)備進行老化檢測的裝置，以實現(xiàn)對設(shè)備進行有效的老化檢測。
[0006]為了達到上述的目的，本實用新型提供了一種老化檢測設(shè)備，包括:被老化設(shè)備、衰減器、數(shù)據(jù)處理單元及同軸電纜，所述數(shù)據(jù)處理單元通過所述同軸電纜和所述衰減器連接，所述衰減器通過所述同軸電纜和所述被老化設(shè)備連接，所述被老化設(shè)備向所述衰減器發(fā)送射頻信號，該射頻信號通過所述數(shù)據(jù)處理單元處理后通過所述同軸電纜向所述衰減器、被老化設(shè)備返回射頻信號。
[0007]所述數(shù)據(jù)處理單元包括微處理器、RF接收電路、RF發(fā)射電路、射頻插接頭和電源，該RF接收電路的一端通過線路和微處理器連接，另一端通過線路和射頻插接頭連接,該RF發(fā)射電路的一端通過線路和微處理器連接，另一端通過同通過線路和射頻插接頭連接，所述電源分別對所述RF接收電路、所述RF發(fā)射電路和所述微處理器進行供電。
[0008]所述微處理器包含解碼器和信號處理器，所述解碼器和信號處理器互相連接，所述解碼器對接收到的進行解碼，信號處理器根據(jù)解碼后的信號進行編碼封裝再發(fā)送給RF發(fā)射電路。
[0009]所述RF接收電路包含RF信號接收單元、混頻器、中頻濾波器和對數(shù)檢波器，所述RF信號接收單元和混頻器、中頻濾波器和對數(shù)檢波器互相連接。
[0010]所述RF發(fā)射電路包含頻率源、RF信號放大電器，所述頻率源與RF信號放大電器互相連接。
[0011]所述微處理器為精簡指令集處理器。
[0012]所述被老化設(shè)備放置于高溫老化箱中。
[0013]所述被老化設(shè)備還通過串口連接控制器，該控制器控制所述被老化設(shè)備安裝最大功率發(fā)射所述射頻信號。
[0014]所述設(shè)備應(yīng)用于ETC路側(cè)單元。
[0015]所述數(shù)據(jù)處理單元設(shè)置在PCB板上。
[0016]由上述本實用新型的實施例提供的技術(shù)方案可以看出，本實用新型實施例真實進行了 RSU在實際使用過程中的全部功能，實現(xiàn)了接收鏈路和發(fā)射鏈路的同時老化，而且將通信過程中微波輻射通信改變成了同軸電纜傳導通訊，通過衰減器進行功率匹配，可以將被老化設(shè)備置于老化試驗箱內(nèi)進行老化并且老化過程中可以模擬與0BU交易的過程。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0017]圖1為本實用新型實施例提供的一種設(shè)備進行老化檢測的裝置的結(jié)構(gòu)框圖，圖中，數(shù)據(jù)處理單元110，衰減器120，被老化設(shè)備130，同軸電纜140和控制器150 ；
[0018]圖2為本實用新型實施例提供的一種設(shè)備進行老化檢測的裝置中的數(shù)據(jù)處理單元結(jié)構(gòu)圖示意圖，圖中，射頻接插頭111，RF接收電路112，微處理器113，RF發(fā)射電路114 ；
[0019]圖3為本實用新型實施例提供的一種設(shè)備進行老化檢測的裝置中的數(shù)據(jù)處理單元中的RF接收電路結(jié)構(gòu)示意圖，圖中，RF信號接收單元1120、混頻器1121、中頻濾波器1122和對數(shù)檢波器1123 ;
[0020]圖4為本實用新型實施例提供的一種設(shè)備進行老化檢測的裝置中的數(shù)據(jù)處理單元中的微處理器結(jié)構(gòu)示意圖，圖中，接收單元1130，解碼器1131，信號處理器1132和發(fā)送處理單元1133 ；
[0021]圖5為本實用新型實施例提供的一種設(shè)備進行老化檢測的裝置中的數(shù)據(jù)處理單元中的RF發(fā)射電路結(jié)構(gòu)示意圖，圖中，頻率源1140、RF信號放大電器1141。
【具體實施方式】
[0022]為便于對本實用新型實施例的理解，下面將結(jié)合附圖以幾個具體實施例為例做進一步的解釋說明，且各個實施例并不構(gòu)成對本實用新型實施例的限定。
[0023]圖1為本實用新型實施例提供的一種對設(shè)備進行老化檢測的裝置的結(jié)構(gòu)示意圖，如圖1所示，所述裝置包括微處理器、數(shù)據(jù)處理單元、衰減器、同軸電纜、被老化設(shè)備、控制器。所述數(shù)據(jù)處理單元通過所述同軸電纜和所述衰減器連接，所述衰減器通過所述同軸電纜和所述被老化設(shè)備連接，所述被老化設(shè)備放置于高溫老化箱中，所述被老化設(shè)備還通過所述同軸電纜連接控制器，該控制器控制所述被老化設(shè)備按照最大功率發(fā)送射頻信號。通過控制器向老化箱內(nèi)的被老化設(shè)備發(fā)送指令，所述被老化設(shè)備不間斷的向所述衰減器依照順序發(fā)送幀號為1至100的長幀數(shù)據(jù)的射頻信號，經(jīng)過衰減器后，該射頻信號通過所述數(shù)據(jù)處理單元進行數(shù)據(jù)處理后向所述衰減器返回射頻信號，并在相同路徑上以最大功率發(fā)射至被老化測試設(shè)備，所述被老化設(shè)備在靈敏度邊界接收并且判斷幀號，發(fā)射和接收的過程中，頻率源5830頻點始終切換。所述裝置應(yīng)用于電子不停車收費ETC路側(cè)單元。
[0024]這項測試驗證了被老化設(shè)備的最大發(fā)射功率、靈敏度、頻點切換、幀頭射頻處理等全部射頻指標，真實進行了被老化設(shè)備在實際使用過程中的全部功能，通過控制器端軟件統(tǒng)計通信的成功率。所有的測試項都在高溫條件下進行，測試過程完全可控，提高了老化測試的，提高了測試效率，保證了在高溫時射頻模塊通信性能穩(wěn)定可靠。
[0025]圖2為本實用新型實施例提供的一種設(shè)備進行老化檢測的裝置中的數(shù)據(jù)處理單元的結(jié)構(gòu)示意圖，所述數(shù)據(jù)處理單元包含微處理器、RF接收電路、RF發(fā)射電路、射頻接插頭和電源，所述數(shù)據(jù)處理單元設(shè)置在PCB板上，所述微處理器通過PCB板上的線路和RF接收電路、RF發(fā)射電路相互連接，所述RF接收電路和RF發(fā)射電路分別通過PCB板上的線路和射頻接插頭連收，所述電源分別對所述RF接收電路、所述RF發(fā)射電路和所述微處理器進行供電，所述數(shù)據(jù)處理單元中的RF發(fā)射電路和所述被老化設(shè)備中的發(fā)射鏈路相同、數(shù)據(jù)處理單元中的RF接收電路和所述被老化設(shè)備中的接收鏈路相同。
[0026]圖3為本實用新型實施例提供的一種設(shè)備進行老化檢測的裝置中的數(shù)據(jù)處理單元中的RF接收電路結(jié)構(gòu)示意圖，所述RF接收電路包含RF信號接收單元、混頻器、中頻濾波器，所述混頻器和RF信號接收單元、中頻濾波器互相連接，所述RF信號接收單元通過射頻插接頭接收射頻信號，射頻信號通過混頻器后成為中頻信號，再通過中頻濾波器對信號進行濾波，然后送入對數(shù)檢波器還原成數(shù)字信號。
[0027]圖4為本實用新型實施例提供的一種設(shè)備進行老化檢測的裝置中的數(shù)據(jù)處理單元中的微處理器結(jié)構(gòu)示意圖，所述微處理器包含信號接收單元、解碼器、信號處理器和發(fā)送處理單元，所述解碼器和信號處理器互相連接，所述信號接收單元接收RF接收電路內(nèi)的數(shù)字信號，所述解碼器對信號接收單元接收到的數(shù)字信號進行解碼，信號處理器對解碼器解碼后的數(shù)字信號進行編碼封裝，再通過所述發(fā)送處理單元將數(shù)字信號發(fā)送給RF發(fā)射電路，所述微處理器為精簡指令集處理器，所述精簡指令集處理器為ARM7X256處理器。
[0028]本領(lǐng)域技術(shù)人員應(yīng)能理解上述精簡指令集處理器的應(yīng)用類型僅為舉例，其他現(xiàn)有的或今后可能出現(xiàn)的微處理器應(yīng)用類型如可適用于本實用新型實施例，也應(yīng)包含在本實用新型保護范圍以內(nèi)，并在此以引用方式包含于此。
[0029]圖5為本實用新型實施例提供的一種設(shè)備進行老化檢測的裝置中的數(shù)據(jù)處理單元中的RF發(fā)射電路結(jié)構(gòu)示意圖，所述RF發(fā)射電路包含頻率源、RF信號放大器，所述頻率源將微處理器發(fā)送過來的數(shù)字信號進行混頻，將數(shù)字信號頻率搬移到5.8G射頻信號，然后通過RF信號放大電器將信號功率放大，再將射頻信號發(fā)出。
[0030]綜上所述，本實用新型實施例通過讓被老化設(shè)備進行真實的信號發(fā)射和信號接收，實現(xiàn)了被老化設(shè)備的接收鏈路和發(fā)射鏈路的同時老化測試，而且將通信過程中微波輻射通信改變成了同軸電纜傳導通訊，通過衰減器進行功率匹配，測試過程完全可控，提高了老化測試的，提高了測試效率。
[0031]本實用新型實施例通過將被老化設(shè)備置于老化試驗箱內(nèi)進行老化并且老化過程中可以模擬與0BU交易的過程，能驗證RSU的最大發(fā)射功率、靈敏度、頻點切換、幀頭射頻處理等全部射頻指標。
[0032]本領(lǐng)域普通技術(shù)人員可以理解:附圖只是一個實施例的示意圖，附圖中的模塊或流程并不一定是實施本實用新型所必須的。
[0033]本領(lǐng)域普通技術(shù)人員可以理解:實施例中的裝置中的部件可以按照實施例描述分布于實施例的裝置中，也可以進行相應(yīng)變化位于不同于本實施例的一個或多個裝置中。上述實施例的部件可以合并為一個部件，也可以進一步拆分成多個子部件。
[0034]以上所述，僅為本實用新型較佳的【具體實施方式】，但本實用新型的保護范圍并不局限于此，任何熟悉本【技術(shù)領(lǐng)域】的技術(shù)人員在本實用新型揭露的技術(shù)范圍內(nèi)，可輕易想到的變化或替換，都應(yīng)涵蓋在本實用新型的保護范圍之內(nèi)。因此，本實用新型的保護范圍應(yīng)該以權(quán)利要求的保護范圍為準。
【權(quán)利要求】
1.一種對設(shè)備進行老化檢測的裝置，其特征在于，包括:被老化設(shè)備、衰減器、數(shù)據(jù)處理單元及同軸電纜，所述數(shù)據(jù)處理單元通過所述同軸電纜和所述衰減器連接，所述衰減器通過所述同軸電纜和所述被老化設(shè)備連接，所述被老化設(shè)備向所述衰減器發(fā)送射頻信號，該射頻信號通過所述數(shù)據(jù)處理單元處理后通過所述同軸電纜向所述衰減器、被老化設(shè)備返回射頻信號。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的裝置，其特征在于:所述數(shù)據(jù)處理單元包括微處理器、RF接收電路、RF發(fā)射電路、射頻插接頭和電源，該RF接收電路的一端通過線路和微處理器連接，另一端通過線路和射頻插接頭連接，該RF發(fā)射電路的一端通過線路和微處理器連接，另一端通過同通過線路和射頻插接頭連接，所述電源分別對所述RF接收電路、所述RF發(fā)射電路和所述微處理器進行供電。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的裝置，其特征在于:所述微處理器包含解碼器和信號處理器，所述解碼器和信號處理器互相連接，所述解碼器對接收到的進行解碼，信號處理器根據(jù)解碼后的信號進行編碼封裝再發(fā)送給RF發(fā)射電路。
4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的裝置，其特征在于，所述RF接收電路包含RF信號接收單元、混頻器、中頻濾波器和對數(shù)檢波器，所述RF信號接收單元和混頻器、中頻濾波器和對數(shù)檢波器互相連接。
5.根據(jù)權(quán)利要求2所述的裝置，其特征在于，所述RF發(fā)射電路包含頻率源、RF信號放大電器，所述頻率源與RF信號放大電器互相連接。
6.根據(jù)權(quán)利要求2所述的裝置，其特征在于，所述微處理器為精簡指令集處理器。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的裝置，其特征在于，所述被老化設(shè)備放置于高溫老化箱中。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的裝置，其特征在于，所述被老化設(shè)備還通過串口連接控制器，該控制器控制所述被老化設(shè)備安裝最大功率發(fā)射所述射頻信號。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的裝置，其特征在于，所述被老化設(shè)備應(yīng)用于ETC路側(cè)單元。
10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的裝置，其特征在于，所述數(shù)據(jù)處理單元設(shè)置在PCB板上。
【文檔編號】G01R31/00GK203479924SQ201320444848
【公開日】2014年3月12日 申請日期:2013年7月24日 優(yōu)先權(quán)日:2013年7月24日
【發(fā)明者】任叢林, 王波 申請人:航天信息股份有限公司