一種新型測試裝置制造方法
【專利摘要】本實用新型涉及一種新型測試裝置，包括分別置于待測產(chǎn)品兩側(cè)的測試片，所述測試片前端分別置有定位凸塊，所述定位凸塊呈圓錐狀，且頂部打磨圓滑，將待測產(chǎn)品的引腳限制住，使其不發(fā)生左右前后的晃動，又增強美觀性。
【專利說明】一種新型測試裝置
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實用新型涉及一種新型測試裝置，屬于電子元件領(lǐng)域。
【背景技術(shù)】
[0002]在電子生產(chǎn)領(lǐng)域，對每一個產(chǎn)品都需要進行測試，測試片的結(jié)構(gòu)也需隨著產(chǎn)品的更新而不斷改進。目前小產(chǎn)品DFN產(chǎn)品測試座上的定位槽只能對產(chǎn)品左右進行定位，機臺在高速運行時產(chǎn)品前后有晃動，造成測試接觸不良和機臺卡料，從而測試良率低和機臺故障率高。本實用新型通過在測試片頂端增加定位凸塊，使測試片具備產(chǎn)品前后的限位功能，在產(chǎn)品有前后偏移時能對產(chǎn)品進行定位使產(chǎn)品與測試片完好接觸，提高測試良率與機臺穩(wěn)定性。
實用新型內(nèi)容
[0003]本實用新型的目的在于提供一種新型測試裝置，通過在測試片頂端增加定位凸塊，使測試片具備產(chǎn)品前后的限位功能，在產(chǎn)品有前后偏移時能對產(chǎn)品進行定位使產(chǎn)品與測試片完好接觸。
[0004]為達到上述目的，本實用新型提供了一種新型測試裝置，包括分別置于待測產(chǎn)品兩側(cè)的測試片，所述測試片前端分別置有定位凸塊，所述定位凸塊呈圓錐狀，且頂部打磨圓滑，將待測產(chǎn)品的引腳限制住，使其不發(fā)生左右前后的晃動，又增強美觀性。
[0005]本實用新型的進一步改進在于:所述定位凸塊斜度為40° -60°，保證了足夠?qū)⒋郎y產(chǎn)品限定住，不隨著機臺在高速運行時發(fā)生晃動。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0006]圖1為本實用新型的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0007]附圖標號:1_測試片，2-定位凸塊，3-待測產(chǎn)品，4-引腳。
【具體實施方式】
[0008]為了加深對本實用新型的理解，下面將結(jié)合附圖和實施例對本實用新型做進一步詳細描述，該實施例僅用于解釋本實用新型，并不對本實用新型的保護范圍構(gòu)成限定。
[0009]參見附圖1，本實用新型提出了一種新型測試裝置，包括分別置于待測產(chǎn)品3兩側(cè)的測試片1，所述測試片I前端分別置有定位凸塊2，所述定位凸塊2呈圓錐狀，且頂部打磨圓滑，將待測產(chǎn)品的引腳限制住，使其不發(fā)生左右前后的晃動，又增強美觀性；所述定位凸塊2斜度為40° -60°，保證了足夠?qū)⒋郎y產(chǎn)品限定住，不隨著機臺在高速運行時發(fā)生晃動。
[0010]使用時，待測產(chǎn)品3通過流水線裝置傳送至測試區(qū)，待測產(chǎn)品3上的兩引腳4分別置于兩側(cè)測試片I的頂端，定位凸塊2將整個待測產(chǎn)品3前后左右限制住，不使其來回活動，減少測試接觸不良，減少機臺的卡料，提高設(shè)備的穩(wěn)定性。
【權(quán)利要求】
1.一種新型測試裝置，包括分別置于待測產(chǎn)品(3)兩側(cè)的測試片(I)，其特征在于:所述測試片(I)前端分別置有定位凸塊(2)，所述定位凸塊(2)呈圓錐狀，且頂部打磨圓滑。
2.如權(quán)利要求1所述的一種新型測試裝置，其特征在于:所述定位凸塊(2)斜度為40。-60。。
【文檔編號】G01R1/02GK203385756SQ201320460053
【公開日】2014年1月8日 申請日期:2013年7月31日 優(yōu)先權(quán)日:2013年7月31日
【發(fā)明者】茆健 申請人:常州銀河世紀微電子有限公司