一種用于電路板的靜態(tài)測(cè)試裝置制造方法
【專利摘要】本實(shí)用新型公開(kāi)了一種用于電路板的靜態(tài)測(cè)試裝置，其特征在于：所述的測(cè)試裝置為上位機(jī)分別連接測(cè)試臺(tái)與氣壓缸，氣壓缸連接天板，天板上設(shè)有多個(gè)壓棒；測(cè)試臺(tái)內(nèi)設(shè)有探針；所述的測(cè)試裝置在測(cè)試時(shí)將待測(cè)電路板放置在測(cè)試臺(tái)上，探針對(duì)應(yīng)接觸到待測(cè)電路板的各個(gè)測(cè)試點(diǎn)上，上位機(jī)控制氣壓缸帶動(dòng)天板下降，壓棒壓住待測(cè)電路板進(jìn)行測(cè)試，探針連接測(cè)試單元將測(cè)試數(shù)據(jù)傳送回上位機(jī)。本實(shí)用新型的優(yōu)點(diǎn)在于：1、縮短測(cè)試時(shí)間；2、能夠透過(guò)電腦控制，嚴(yán)格控制質(zhì)量；3、具有高度的可靠性，檢測(cè)不良品種、且準(zhǔn)確；4、測(cè)試員及技術(shù)員水平需求降低；5、降低維修庫(kù)存壓力、大大提高生產(chǎn)成品率；6、提升產(chǎn)品品質(zhì)。
【專利說(shuō)明】—種用于電路板的靜態(tài)測(cè)試裝置
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型涉及電路板的生產(chǎn)與檢驗(yàn)領(lǐng)域，特別涉及一種用于電路板的靜態(tài)測(cè)試裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]隨著科技技術(shù)的進(jìn)步，電子工業(yè)發(fā)展突飛猛進(jìn)，整個(gè)行業(yè)呈現(xiàn)勃勃生機(jī)，電子系統(tǒng)越來(lái)越復(fù)雜，電子系統(tǒng)的可靠性和可維護(hù)性要求也越來(lái)越高。
[0003]電路板作為電子系統(tǒng)研制和生產(chǎn)中的重要組成部分，其質(zhì)量的好壞直接影響整個(gè)設(shè)備的質(zhì)量，生產(chǎn)和經(jīng)驗(yàn)周期影響到整機(jī)調(diào)試進(jìn)度和交付時(shí)間。因而，電路板調(diào)試是關(guān)系到電子系統(tǒng)的質(zhì)量和生產(chǎn)周期的重要環(huán)節(jié)。
[0004]傳統(tǒng)的方法主要利用人的肉眼來(lái)檢驗(yàn)其電路板的主要看元器件方向和漏焊，而且過(guò)程緩慢，這種檢驗(yàn)方法無(wú)法看出電路板內(nèi)在的問(wèn)題。
[0005]針對(duì)上述問(wèn)題，如何提高了電路板的檢驗(yàn)效率，縮短檢驗(yàn)周期是現(xiàn)有技術(shù)需要解決的問(wèn)題。 實(shí)用新型內(nèi)容
[0006]本實(shí)用新型所要解決的技術(shù)問(wèn)題是，提供一種用于電路板的靜態(tài)測(cè)試裝置，以達(dá)到提聞了電路板的檢驗(yàn)效率，縮短檢驗(yàn)周期的目的。
[0007]為達(dá)到上述目的，本實(shí)用新型的技術(shù)方案是，一種用于電路板的靜態(tài)測(cè)試裝置，其特征在于:所述的測(cè)試裝置為上位機(jī)同時(shí)控制測(cè)試臺(tái)與氣壓缸進(jìn)行工作，氣壓缸連接天板，天板上設(shè)有多個(gè)壓棒；測(cè)試臺(tái)內(nèi)設(shè)有探針；所述的測(cè)試裝置在測(cè)試時(shí)將待測(cè)電路板放置在測(cè)試臺(tái)上，探針對(duì)應(yīng)接觸到待測(cè)電路板的各個(gè)測(cè)試點(diǎn)上，上位機(jī)控制氣壓缸帶動(dòng)天板下降，壓棒壓住待測(cè)電路板進(jìn)行測(cè)試，探針連接測(cè)試單元將測(cè)試數(shù)據(jù)傳送回上位機(jī)。
[0008]所述的測(cè)試裝置在探針對(duì)電路板進(jìn)行測(cè)試時(shí)，探針利用運(yùn)算放大器兩輸入端間虛地的原理，使得于電路板上待測(cè)零件相連的零件之兩端同電位，隔離后進(jìn)行測(cè)量，保證了測(cè)量的準(zhǔn)確性。
[0009]所述的氣壓缸上分別設(shè)有保護(hù)微動(dòng)開(kāi)關(guān)和測(cè)試微動(dòng)開(kāi)關(guān)。
[0010]所述的測(cè)試臺(tái)下方的空間內(nèi)設(shè)有兩塊母板，每塊母板上可以垂直放置多個(gè)電路板。
[0011]所述的測(cè)試臺(tái)下方設(shè)有壓床信號(hào)控制接頭以及壓床控制卡，對(duì)氣壓缸的下降距離進(jìn)行控制避免損壞電路板。
[0012]所述的測(cè)試臺(tái)為保護(hù)板通過(guò)固定螺絲固定到針板，針板放置在測(cè)試臺(tái)上，固定銷穿過(guò)保護(hù)板、針板進(jìn)行固定。
[0013]所述的保護(hù)板上放置電路板，探針穿過(guò)保護(hù)板與電路板接觸。
[0014]所述的保護(hù)板與針板之間設(shè)有彈簧，彈簧呈壓縮狀態(tài)。
[0015]一種用于電路板的靜態(tài)測(cè)試裝置，由于采用上述的結(jié)構(gòu)，本實(shí)用新型的優(yōu)點(diǎn)在于:1、縮短測(cè)試時(shí)間:一般組裝電路板如約300個(gè)零件ICT的大約是3-4秒鐘。對(duì)復(fù)雜，而且還包含了上電后的功能測(cè)試；2、能夠透過(guò)電腦控制，嚴(yán)格控制質(zhì)量；3、具有高度的可靠性，檢測(cè)不良品種、且準(zhǔn)確；4、測(cè)試員及技術(shù)員水平需求降低:只要普通操作員，即可操作與維修；5、減省庫(kù)存、備品；降低維修庫(kù)存壓力、大大提聞生廣成品率；6、提升品質(zhì)。減少?gòu)V品的不良率，提聞企業(yè)形象。
【專利附圖】

【附圖說(shuō)明】
[0016]下面結(jié)合附圖和【具體實(shí)施方式】對(duì)本實(shí)用新型作進(jìn)一步詳細(xì)的說(shuō)明；
[0017]圖1為本實(shí)用新型一種用于電路板的靜態(tài)測(cè)試裝置的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0018]圖2為本實(shí)用新型一種用于電路板的靜態(tài)測(cè)試裝置的局部結(jié)構(gòu)示意圖；
[0019]圖3為本實(shí)用新型一種用于電路板的靜態(tài)測(cè)試裝置對(duì)電路板元器件進(jìn)行隔離的電路原理圖；
[0020]圖4為本實(shí)用新型一種用于電路板的靜態(tài)測(cè)試裝置的系統(tǒng)流程圖；
[0021]在圖1-2中，1、上位機(jī)；2、氣壓缸；3、測(cè)試臺(tái)；4、電路板；5、母板；6、保護(hù)微動(dòng)開(kāi)關(guān)；7、測(cè)試微動(dòng)開(kāi)關(guān)；8、天板；9、壓棒；10、保護(hù)板；11、針板；12、固定螺絲；13、固定銷；14、彈簧；15、探針；16、壓床信號(hào)控制接頭；17、壓床控制卡。
【具體實(shí)施方式】
[0022]本實(shí)用新型能夠在短短的數(shù)秒鐘內(nèi)，全檢出組裝電路板上零件:電阻、電容、電感、電晶體、FET、LED，普通二極體、穩(wěn)壓二極體、光藕器、IC等零件，是否在設(shè)計(jì)的規(guī)格內(nèi)運(yùn)作。通過(guò)測(cè)試本實(shí)用新型能夠先期找出制程不良所在，如線路短路、斷路、組件漏件、反向、錯(cuò)件、空焊等不良問(wèn)題，回饋到制程的改善。并且將故障或不良資訊以印表機(jī)印出測(cè)試結(jié)果，包括故障位置、零件標(biāo)準(zhǔn)值、測(cè)試值，以供維修人員參考。可以有效降低人員對(duì)產(chǎn)品技術(shù)依賴度，不需對(duì)產(chǎn)品線路了解，照樣有維修能力。上位機(jī)能夠?qū)y(cè)試不良資訊統(tǒng)計(jì)，生產(chǎn)管理人員加以分析，可以找出各種不良的產(chǎn)生原因，包括人為的因素在內(nèi)，使之各個(gè)解決、完善、指正，藉以提升電路板制造及品質(zhì)能力。以上功能所帶給客戶的巨大效益，使得本實(shí)用新型能夠被廣泛運(yùn)用。
[0023]具體的，如圖1-2所示，本實(shí)用新型為上位機(jī)I同時(shí)控制測(cè)試臺(tái)3與氣壓缸2進(jìn)行工作，氣壓缸2連接天板8，天板8上設(shè)有多個(gè)壓棒9 ;測(cè)試臺(tái)3內(nèi)設(shè)有探針15 ;測(cè)試裝置在測(cè)試時(shí)將待測(cè)的電路板4放置在測(cè)試臺(tái)3上，探針15對(duì)應(yīng)接觸到待測(cè)電路板4的各個(gè)測(cè)試點(diǎn)上，上位機(jī)I控制氣壓缸2帶動(dòng)天板8下降，壓棒9壓住待測(cè)電路板4進(jìn)行測(cè)試，探針15連接測(cè)試單元將測(cè)試數(shù)據(jù)傳送回上位機(jī)I。
[0024]測(cè)試裝置在探針15對(duì)電路板4進(jìn)行測(cè)試時(shí)，探針15利用運(yùn)算放大器兩輸入端間虛地的原理，使得于電路板4上待測(cè)零件相連的零件之兩端同電位后，隔離后進(jìn)行測(cè)量，保證了測(cè)量的準(zhǔn)確性。隔離為本實(shí)用新型很重要的一種應(yīng)用技術(shù)，乃是將待測(cè)零件相連接的零件給予隔離，使待測(cè)零件的量測(cè)不受影響，如圖3所示，應(yīng)用運(yùn)算放大器設(shè)計(jì)之電壓隨耦器(Voltage Follower)，使輸出電壓(VG)于其輸入電壓(VA)相等，及運(yùn)算放大器之兩輸入端間虛地(Virtual Ground)的原理，使得于待測(cè)零件相連的零件之兩端同電位，而不會(huì)產(chǎn)生分流來(lái)影響待測(cè)零件的量測(cè)，如同是已將將待測(cè)零件相連接的零件給予隔離。經(jīng)由隔離后，流經(jīng)Rl的電流接近零，不致影響R之量測(cè)。當(dāng)測(cè)試模式為定電流模式時(shí)，隔離高點(diǎn)[Pin+];若測(cè)試模式為定電壓模式時(shí)，則隔離低點(diǎn)【Pin-】。
[0025]氣壓缸2上分別設(shè)有保護(hù)微動(dòng)開(kāi)關(guān)6和測(cè)試微動(dòng)開(kāi)關(guān)7。測(cè)試臺(tái)3下方的空間內(nèi)設(shè)有兩塊母板5，每塊母板5上可以垂直放置多個(gè)電路板4。
[0026]測(cè)試臺(tái)3下方設(shè)有壓床信號(hào)控制接頭16以及壓床控制卡17，對(duì)氣壓缸3的下降距離進(jìn)行控制避免損壞電路板4。測(cè)試臺(tái)3為保護(hù)板10通過(guò)固定螺絲13固定到針板11，針板11放置在測(cè)試臺(tái)3上，固定銷13穿過(guò)保護(hù)板10、針板11進(jìn)行固定。
[0027]保護(hù)板10上放置電路板4，探針15穿過(guò)保護(hù)板10與電路板4接觸。保護(hù)板10與針板11之間設(shè)有彈簧14，彈簧14呈壓縮狀態(tài)。
[0028]在進(jìn)行測(cè)試操作時(shí)，首先將測(cè)試裝置安裝好，在開(kāi)電源，然后把電腦打開(kāi)，進(jìn)入系統(tǒng)軟件，進(jìn)入主畫面，然后再放上電路板4開(kāi)始檢測(cè)，如發(fā)現(xiàn)故障點(diǎn)就會(huì)報(bào)警，如沒(méi)有故障點(diǎn)就顯示合格。
[0029]本實(shí)用新型具有電解電容極性測(cè)試功能ECJ ;貼片元件空焊測(cè)試功能TAJ ；自動(dòng)隔離點(diǎn)選擇功能；自動(dòng)開(kāi)短路、元件學(xué)習(xí)功能；連板展開(kāi)及連板自動(dòng)跳測(cè)功能；WindowS視窗操作介面；超強(qiáng)電路板圖形檢視功能(Windows);測(cè)試報(bào)表及測(cè)試統(tǒng)計(jì)分析功能。由于具有上述的功能，本實(shí)用新型有效的縮短測(cè)試時(shí)間，一般組裝電路板如約300個(gè)零件大約是
3-4秒鐘。對(duì)復(fù)雜，而且還包含了上電后的功能測(cè)試；質(zhì)量設(shè)定功能，能夠透過(guò)電腦控制，嚴(yán)格控制質(zhì)量；具有多種測(cè)試技術(shù)，高度的可靠性，檢測(cè)不良品種、且準(zhǔn)確；測(cè)試員及技術(shù)員水平需求降低，只要普通操作員，即可操作與維修；減省庫(kù)存、備品，降低維修庫(kù)存壓力、大大提聞生廣成品率；大大提升品質(zhì)。減少?gòu)V品的不良率，提聞企業(yè)形象。
[0030]上面結(jié)合附圖對(duì)`本實(shí)用新型進(jìn)行了示例性描述，顯然本實(shí)用新型具體實(shí)現(xiàn)并不受上述方式的限制，只要采用了本實(shí)用新型技術(shù)方案進(jìn)行的各種改進(jìn)，或未經(jīng)改進(jìn)直接應(yīng)用于其它場(chǎng)合的，均在本實(shí)用新型的保護(hù)范圍之內(nèi)。
【權(quán)利要求】
1.一種用于電路板的靜態(tài)測(cè)試裝置，其特征在于:所述的測(cè)試裝置為上位機(jī)(I)同時(shí)控制測(cè)試臺(tái)(3)與氣壓缸(2)進(jìn)行工作，氣壓缸(2)連接天板(8)，天板(8)上設(shè)有多個(gè)壓棒(9);測(cè)試臺(tái)(3)內(nèi)設(shè)有探針(15);所述的測(cè)試裝置在測(cè)試時(shí)將待測(cè)電路板(4)放置在測(cè)試臺(tái)(3)上，探針(15)對(duì)應(yīng)接觸到待測(cè)電路板(4)的各個(gè)測(cè)試點(diǎn)上，上位機(jī)(I)控制氣壓缸(2)帶動(dòng)天板(8)下降，壓棒(9)壓住待測(cè)電路板(4)進(jìn)行測(cè)試，探針(15)連接測(cè)試單元將測(cè)試數(shù)據(jù)傳送回上位機(jī)(I)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種用于電路板的靜態(tài)測(cè)試裝置，其特征在于:所述的測(cè)試裝置在探針(15)對(duì)電路板(4)進(jìn)行測(cè)試時(shí)，探針(15)利用運(yùn)算放大器兩輸入端間虛地的原理，使得于電路板上待測(cè)零件相連的零件之兩端同電位，隔離后進(jìn)行測(cè)量。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種用于電路板的靜態(tài)測(cè)試裝置，其特征在于:所述的氣壓缸(2)上分別設(shè)有保護(hù)微動(dòng)開(kāi)關(guān)(6)和測(cè)試微動(dòng)開(kāi)關(guān)(7)。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種用于電路板的靜態(tài)測(cè)試裝置，其特征在于:所述的測(cè)試臺(tái)(3)下方的空間內(nèi)設(shè)有兩塊母板(5)，每塊母板(5)上可以垂直放置多個(gè)電路板(4)。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種用于電路板的靜態(tài)測(cè)試裝置，其特征在于:所述的測(cè)試臺(tái)(3)下方設(shè)有壓床信號(hào)控制接頭(16)以及壓床控制卡(17)。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種用于電路板的靜態(tài)測(cè)試裝置，其特征在于:所述的測(cè)試臺(tái)(3)為保護(hù)板(10)通過(guò)固定螺絲(12)固定到針板(11)，針板(11)放置在測(cè)試臺(tái)(3)上，固定銷穿(13)過(guò)保護(hù)板(10)、針板(11)進(jìn)行固定。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的一種用于電路板的靜態(tài)測(cè)試裝置，其特征在于:所述的保護(hù)板(10 )上放置電路板(4 )，探針(15 )穿過(guò)保護(hù)板(10 )與電路板(4 )接觸。
8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的一種用于電路板的靜態(tài)測(cè)試裝置，其特征在于:所述的保護(hù)板(10)與針板(11)之間設(shè)有彈簧(14)，彈簧(14)呈壓縮狀態(tài)。
【文檔編號(hào)】G01R31/02GK203551736SQ201320503719
【公開(kāi)日】2014年4月16日 申請(qǐng)日期:2013年8月16日 優(yōu)先權(quán)日:2013年8月16日
【發(fā)明者】束龍勝, 高妤燕 申請(qǐng)人:安徽鑫龍電器股份有限公司