用于檢測綜合驗(yàn)光儀的光學(xué)系統(tǒng)和光學(xué)檢測裝置制造方法
【專利摘要】本實(shí)用新型提供了一種用于檢測綜合驗(yàn)光儀的光學(xué)系統(tǒng)和光學(xué)檢測裝置。光學(xué)系統(tǒng)包括：分光元件；第一物鏡；第一反光元件，第一反光元件設(shè)置在分光元件和第一物鏡之間；分劃板，分劃板設(shè)置于第一物鏡的物方焦點(diǎn)上；調(diào)焦元件，第一物鏡設(shè)置在調(diào)焦元件和第一反光元件之間；第二物鏡，調(diào)焦元件與第二物鏡之間的距離可調(diào)節(jié)；成像元件，成像元件位于分光元件的出射光路中。待檢測設(shè)備（例如：綜合驗(yàn)光儀）放置在第一物鏡與第二物鏡之間，通過調(diào)節(jié)調(diào)焦元件與第二物鏡之間的距離，可以使分劃板上基準(zhǔn)圖案清晰的呈現(xiàn)在成像元件上，根據(jù)調(diào)節(jié)調(diào)焦元件與第二物鏡之間的距離計算得出待檢測設(shè)備的性能指標(biāo)，從而對待檢測設(shè)備進(jìn)行量化的判斷。
【專利說明】用于檢測綜合驗(yàn)光儀的光學(xué)系統(tǒng)和光學(xué)檢測裝置
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型涉及驗(yàn)光儀檢測【技術(shù)領(lǐng)域】，更具體地，涉及一種用于檢測綜合驗(yàn)光儀的光學(xué)系統(tǒng)和光學(xué)檢測裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]綜合驗(yàn)光儀是一種可實(shí)現(xiàn)機(jī)械化的更換鏡片從而實(shí)現(xiàn)屈光檢查的功能的綜合性屈光檢查的儀器。綜合驗(yàn)光儀的主要計量性能指標(biāo)有:球鏡頂焦度，柱鏡頂焦度，棱鏡度，柱鏡軸位等。
[0003]綜合驗(yàn)光儀在生產(chǎn)、組裝、使用的過程中，其性能指標(biāo)有可能發(fā)生變化，這樣就會導(dǎo)致驗(yàn)光不準(zhǔn)，從而影響驗(yàn)光師的判斷。現(xiàn)有技術(shù)中還沒有用于檢測綜合驗(yàn)光儀的性能指標(biāo)的光學(xué)檢測裝置，因而無法對綜合驗(yàn)光儀的性能指標(biāo)、驗(yàn)光準(zhǔn)確性進(jìn)行量化判斷。
[0004]相關(guān)術(shù)語解釋:
[0005]后頂焦度:以米為單位測得的鏡片近軸后頂焦距的倒數(shù)。單位是米的倒數(shù)。鏡片后頂點(diǎn)到近軸后焦點(diǎn)的距離稱為近軸后頂焦距，如圖1所示。一個鏡片含有前、后兩個頂焦度。根據(jù)眼科約定，鏡片的頂焦度均指后頂焦度。
[0006]球鏡度:具有兩個球面的鏡片的后頂焦度；或者是散光度鏡片的兩個主子午面中，選擇作為參考主子午面的頂焦度。一般用符號“S”表示。
實(shí)用新型內(nèi)容
[0007]本實(shí)用新型旨在提供一種用于檢測綜合驗(yàn)光儀的光學(xué)系統(tǒng)和光學(xué)檢測裝置，以解決現(xiàn)有技術(shù)中無法對待檢測設(shè)備的性能指標(biāo)進(jìn)行量化判斷的問題。
[0008]為解決上述技術(shù)問題，根據(jù)本實(shí)用新型的一個方面，提供了一種用于檢測綜合驗(yàn)光儀的光學(xué)系統(tǒng)，包括:分光兀件；第一物鏡；第一反光兀件，第一反光兀件設(shè)置在分光兀件和第一物鏡之間，且分光兀件和第一物鏡均位于第一反光兀件的反射光路中；分劃板，分劃板上具有基準(zhǔn)圖案，分劃板位于分光元件的反射光路中，且分劃板設(shè)置于第一物鏡的物方焦點(diǎn)上；調(diào)焦元件，第一物鏡設(shè)置在調(diào)焦元件和第一反光元件之間；第二物鏡，第二物鏡設(shè)置在調(diào)焦元件和第一物鏡之間，調(diào)焦元件與第二物鏡之間的距離可調(diào)節(jié)；成像元件，成像元件位于分光元件的出射光路中。
[0009]進(jìn)一步地，光學(xué)系統(tǒng)還包括第二反光元件，第二反光元件設(shè)置在調(diào)焦元件與第二物鏡之間，且調(diào)焦元件與第二物鏡位于第二反光元件的反射光路中。
[0010]進(jìn)一步地，第二物鏡是聚焦物鏡。
[0011]進(jìn)一步地,成像元件是電荷稱合元件。
[0012]進(jìn)一步地,光學(xué)系統(tǒng)還包括光闌，光闌設(shè)置在第一物鏡和第二物鏡之間。
[0013]根據(jù)本實(shí)用新型的另一個方面，提供了一種用于檢測綜合驗(yàn)光儀的光學(xué)檢測裝置，包括:基座；光學(xué)系統(tǒng)，光學(xué)系統(tǒng)是上述的用于檢測綜合驗(yàn)光儀的光學(xué)系統(tǒng)，光學(xué)系統(tǒng)設(shè)置在基座上；發(fā)光元件，發(fā)光元件設(shè)置在基座上，且發(fā)光元件朝向光學(xué)系統(tǒng)的分劃板設(shè)置；測量單元，用于檢測光學(xué)系統(tǒng)的調(diào)焦元件的移動距離。
[0014]進(jìn)一步地，光學(xué)檢測裝置還包括:平行光管，平行光管垂直設(shè)置在基座上，平行光管具有透光孔，光學(xué)系統(tǒng)的分光元件設(shè)置在平行光管內(nèi)，分劃板、透光孔和分光元件同軸設(shè)置，光學(xué)系統(tǒng)的第一反光元件和第一物鏡設(shè)置在平行光管的上端，成像元件設(shè)置在平行光管的下端；導(dǎo)向管，導(dǎo)向管的第一端與基座連接，光學(xué)系統(tǒng)的第二物鏡設(shè)置在導(dǎo)向管的第二端，第一物鏡與第二物鏡對向且同軸設(shè)置，光學(xué)系統(tǒng)的調(diào)焦元件滑動設(shè)置在導(dǎo)向管內(nèi)。
[0015]進(jìn)一步地，光學(xué)檢測裝置還包括導(dǎo)桿，導(dǎo)桿的至少一部分設(shè)置在導(dǎo)向管內(nèi)，且導(dǎo)桿的第一端與調(diào)焦元件連接。 [0016]本實(shí)用新型中的第一反光元件設(shè)置在分光元件和第一物鏡之間，且分光元件和第一物鏡均位于第一反光元件的反射光路中，具有基準(zhǔn)圖案的分劃板位于分光元件的反射光路中，且分劃板設(shè)置于第一物鏡的物方焦點(diǎn)上，第一物鏡設(shè)置在調(diào)焦元件和第一反光元件之間，第二物鏡設(shè)置在調(diào)焦元件和第一物鏡之間，調(diào)焦元件與第二物鏡之間的距離可調(diào)節(jié)，成像元件位于分光元件的出射光路中。待檢測設(shè)備(例如:綜合驗(yàn)光儀)放置在第一物鏡與第二物鏡之間，通過調(diào)節(jié)調(diào)焦元件與第二物鏡之間的距離，可以使分劃板上基準(zhǔn)圖案清晰的呈現(xiàn)在成像元件上，根據(jù)調(diào)節(jié)調(diào)焦元件與第二物鏡之間的距離計算得出待檢測設(shè)備的性能指標(biāo)，從而對待檢測設(shè)備進(jìn)行量化的判斷。同時，本實(shí)用新型中的光學(xué)系統(tǒng)具有結(jié)構(gòu)簡單的特點(diǎn)。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0017]構(gòu)成本申請的一部分的附圖用來提供對本實(shí)用新型的進(jìn)一步理解，本實(shí)用新型的示意性實(shí)施例及其說明用于解釋本實(shí)用新型，并不構(gòu)成對本實(shí)用新型的不當(dāng)限定。在附圖中:
[0018]圖1示意性示出了現(xiàn)有技術(shù)中的鏡片的后頂焦距示意圖；
[0019]圖2示意性示出了本實(shí)用新型中的用于檢測綜合驗(yàn)光儀的光學(xué)系統(tǒng)的原理圖；
[0020]圖3示意性示出了本實(shí)用新型中的用于檢測綜合驗(yàn)光儀的光學(xué)檢測裝置的結(jié)構(gòu)示意圖；以及
[0021]圖4示意性示出了本實(shí)用新型中的基座、第一物鏡、第一反光件、第二物鏡、第二反光件和導(dǎo)桿的位置關(guān)系示意圖。
[0022]圖中附圖標(biāo)記:10、分光兀件；20、第一物鏡；30、第一反光兀件；40、分劃板；50、調(diào)焦元件；60、第二物鏡；70、成像元件；80、第二反光元件；90、光闌；100、基座；200、發(fā)光元件；300、測量單元；400、平行光管；410、透光孔；500、導(dǎo)向管;510、限位槽;600、導(dǎo)桿;610、
第一旋鈕；F、物方焦點(diǎn)；F'、像方焦點(diǎn)；H、物方主點(diǎn)；H'、像方主點(diǎn)；f、物方焦距；f'、像方焦距；If、近軸前頂焦距；1f、近軸后頂焦距。
【具體實(shí)施方式】
[0023]以下結(jié)合附圖對本實(shí)用新型的實(shí)施例進(jìn)行詳細(xì)說明，但是本實(shí)用新型可以由權(quán)利要求限定和覆蓋的多種不同方式實(shí)施。
[0024]作為本實(shí)用新型的第一個方面，提供了一種用于檢測綜合驗(yàn)光儀的光學(xué)系統(tǒng)。如圖2所不,光學(xué)系統(tǒng)包括:分光兀件10 ;第一物鏡20 ;第一反光兀件30,第一反光兀件30設(shè)置在分光元件10和第一物鏡20之間，且分光元件10和第一物鏡20均位于第一反光元件30的反射光路中；分劃板40，分劃板40上具有基準(zhǔn)圖案，分劃板40位于分光元件10的反射光路中，且分劃板40設(shè)置于第一物鏡20的物方焦點(diǎn)上；調(diào)焦元件50，第一物鏡20設(shè)置在調(diào)焦元件50和第一反光元件30之間；第二物鏡60，第二物鏡60設(shè)置在調(diào)焦元件50和第一物鏡20之間，調(diào)焦元件50與第二物鏡60之間的距離可調(diào)節(jié)；成像元件70，成像元件70位于分光元件10的出射光路中。
[0025]當(dāng)在光路中不放入待檢測設(shè)備時，分劃板40被照明后，光線經(jīng)過分光元件10、第一反光元件30進(jìn)入第一物鏡20后成像于無窮遠(yuǎn)，再經(jīng)過第二物鏡60，成像于可移動的調(diào)焦兀件50上,此時,光線被調(diào)焦兀件50反射,經(jīng)過第二物鏡60、第一物鏡20、第一反光兀件30、分光元件10后成像于成像元件70上。
[0026]采用本實(shí)用新型中的光學(xué)系統(tǒng)對待檢測設(shè)備進(jìn)行檢測(待檢測的綜合驗(yàn)光儀的被測頂焦度部位OnT1)時，首先需要將待檢測設(shè)備(例如:綜合驗(yàn)光儀)放置在第一物鏡20與第二物鏡60之間(應(yīng)注意:待檢測設(shè)備的參考面應(yīng)與第二物鏡60的前焦平面相重合)，通過調(diào)節(jié)調(diào)焦元件50與第二物鏡60之間的距離，使光路準(zhǔn)直，從而可以使分劃板40上基準(zhǔn)圖案清晰的呈現(xiàn)在成像元件70上，根據(jù)調(diào)節(jié)調(diào)焦元件50與第二物鏡60之間的距離計算得出待檢測設(shè)備的性能指標(biāo)，進(jìn)而對待檢測設(shè)備進(jìn)行量化的判斷。同時，本實(shí)用新型中的光學(xué)系統(tǒng)具有結(jié)構(gòu)簡單的特點(diǎn)。
[0027]優(yōu)選地，光學(xué)系統(tǒng)還包括第二反光元件80，第二反光元件80設(shè)置在調(diào)焦元件50與第二物鏡60之間，且調(diào)焦元件50與第二物鏡60位于第二反光元件80的反射光路中。由于設(shè)置有第二反光元件80，因而增加了折轉(zhuǎn)光路，減少了光路在某一方向的照射距離，從而進(jìn)一步提高了光學(xué)系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)合理性，進(jìn)而減少了由該光學(xué)系統(tǒng)制造而成的光學(xué)檢測裝置的體積，使光學(xué)檢測裝置的結(jié)構(gòu)更加緊湊、使用方便。
[0028]優(yōu)選地，第二物鏡60是聚焦物鏡。進(jìn)一步地，第二物鏡60是雙高斯鏡頭。由于增加了折轉(zhuǎn)光路，因而采用聚焦物鏡能使分劃板40的基準(zhǔn)圖案在較短的光路中被反射到成像元件70上,并顯示出來。
[0029]優(yōu)選地，成像元件70是電荷耦合元件(也就是(XD)。當(dāng)然，成像元件70還可以是目鏡。如果采用目鏡觀察并判斷分劃板40的基準(zhǔn)圖案的清晰度，需要工作人員用人眼進(jìn)行識別，這樣不僅容易造成人眼疲勞，還存在判斷誤差。而采用電荷耦合元件接收分劃板40的基準(zhǔn)圖案，是將光轉(zhuǎn)化為電信號并輸出給外部設(shè)備，而后經(jīng)過處理使電信號轉(zhuǎn)換為圖像呈現(xiàn)在計算機(jī)上上，工作人員通過計算機(jī)輔助設(shè)備，可以進(jìn)行精確的判斷，因而采用電荷耦合元件使本實(shí)用新型中的光學(xué)系統(tǒng)具有檢測精度高的特點(diǎn)。
[0030]優(yōu)選地,光學(xué)系統(tǒng)還包括光闌90,光闌90設(shè)置在第一物鏡20和第二物鏡60之間。
[0031]優(yōu)選地，分光兀件10是分光棱鏡。
[0032]優(yōu)選地，第一物鏡20是望遠(yuǎn)物鏡。
[0033]優(yōu)選地，第一反光元件30和/或第二反光元件80是反射鏡。
[0034]優(yōu)選地,調(diào)焦元件50是凹面鏡。
[0035]作為本實(shí)用新型的第二個方面，提供了一種用于檢測綜合驗(yàn)光儀的光學(xué)檢測裝置。如圖3和圖4所示，光學(xué)檢測裝置包括:基座100 ;光學(xué)系統(tǒng)，光學(xué)系統(tǒng)是上述的用于檢測綜合驗(yàn)光儀的光學(xué)系統(tǒng)，光學(xué)系統(tǒng)設(shè)置在基座100上；發(fā)光元件200，發(fā)光元件200設(shè)置在基座100上，且發(fā)光元件200朝向光學(xué)系統(tǒng)的分劃板40設(shè)置；測量單元300，用于檢測光學(xué)系統(tǒng)的調(diào)焦元件50的移動距離。由于設(shè)置有基座100，因而工作人員在測試待檢測設(shè)備時，可以通過調(diào)節(jié)基座100，以使光學(xué)檢測裝置水平放置，從而保證檢測精度。
[0036]使用本實(shí)用新型中的光學(xué)檢測裝置對待檢測設(shè)備進(jìn)行檢測時，首先需要將待檢測設(shè)備放置在光學(xué)檢測裝置的第一物鏡20與第二物鏡60之間，然后使發(fā)光元件200發(fā)光，此時，光照射到分劃板40上，并通過分劃板40進(jìn)入光學(xué)系統(tǒng)的光路中，通過調(diào)節(jié)光學(xué)系統(tǒng)中的調(diào)焦元件50與第二物鏡60之間的距離，可以使分劃板40的基準(zhǔn)圖案清晰的顯示在光學(xué)系統(tǒng)的成像元件70上,通過測量單元300工作人員可以得知調(diào)焦元件50的移動距離,從而為確定待檢測設(shè)備的性能指標(biāo)提供參考。本實(shí)用新型中的光學(xué)檢測裝置具有結(jié)構(gòu)簡單、制造成本低、操作簡單、使用方便的特點(diǎn)。
[0037]優(yōu)選地，在圖3所示的實(shí)施例中，測量單元300是電位器或光柵。進(jìn)一步地，電位器是精密電位器，光柵是小型精密光柵。由于測量單元300采用小型精密光柵，因而進(jìn)一步縮小的光學(xué)檢測裝置的體積，使光學(xué)檢測裝置具有體積小巧，使用方便的特點(diǎn)。同時，本實(shí)用新型中的光學(xué)檢測裝置可以精確定焦，具有檢測精確度高的特點(diǎn)。
[0038]優(yōu)選地，考慮到測量單元300的測量準(zhǔn)確性直接影響光學(xué)檢測裝置的測量精度，因而需要在每次測試前對光學(xué)檢測裝置進(jìn)行校準(zhǔn)。在一個優(yōu)選的實(shí)施例中，校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)分別為-25m \ -20m \ -15m \ -1Om \ -5m \ -2.5m \0m \2.5m 1Jm \ IOm \ 15m \20m \25m S 通過設(shè)定校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)對測量單元30進(jìn)行重新標(biāo)定，經(jīng)過校準(zhǔn)后的測量單元30為分段線性，從而提高光學(xué)檢測裝置的測量精度。
[0039]優(yōu)選地，光學(xué)檢測裝置還包括:平行光管400，平行光管400垂直設(shè)置在基座100上，平行光管400具有透光孔410，光學(xué)系統(tǒng)的分光元件10設(shè)置在平行光管400內(nèi)，分劃板40、透光孔410和分光元件10同軸設(shè)置，光學(xué)系統(tǒng)的第一反光元件30和第一物鏡20設(shè)置在平行光管400的上端，成像元件70設(shè)置在平行光管400的下端；導(dǎo)向管500，導(dǎo)向管500的第一端與基座100連接，光學(xué)系統(tǒng)的第二物鏡60設(shè)置在導(dǎo)向管500的第二端，第一物鏡20與第二物鏡60對向且同軸設(shè)置，光學(xué)系統(tǒng)的調(diào)焦元件50滑動設(shè)置在導(dǎo)向管500內(nèi)。由于設(shè)置有平行光管400和導(dǎo)向管500，因而光線沿平行光管400和導(dǎo)向管500傳播，從而起到導(dǎo)向的作用，且減少了光的溢散，提高了光線的利用率。光線從發(fā)光元件200發(fā)出后，經(jīng)過分劃板40、從透光孔410進(jìn)入平行光管400內(nèi)。
[0040]優(yōu)選地，在圖3所示的實(shí)施例中，光學(xué)系統(tǒng)的第二反光元件80設(shè)置在導(dǎo)向管500的第二端。進(jìn)一步地，第一反光元件30設(shè)置在平行光管400內(nèi)，和/或第二反光元件80柔性鉸鏈活動設(shè)置在導(dǎo)向管500內(nèi)。由于第一反光元件30和/或第二反光元件80活動設(shè)置，因而工作人員可以根據(jù)測試情況，調(diào)節(jié)第一反光元件30和/或第二反光元件80的角度，從而滿足測試要求。本實(shí)用新型中的光學(xué)檢測裝置具有使用可靠性高的特點(diǎn)。
[0041]本實(shí)用新型中的光學(xué)檢測裝置還包括導(dǎo)桿600，導(dǎo)桿600的至少一部分設(shè)置在導(dǎo)向管500內(nèi)，且導(dǎo)桿600的第一端與調(diào)焦元件50連接(請參考圖3)。由于設(shè)置有導(dǎo)桿600，因而方便調(diào)整調(diào)焦元件50在導(dǎo)向管500內(nèi)的位置，從而提高了檢測效率。優(yōu)選地，光學(xué)檢測裝置還包括第一旋鈕610，第一旋鈕610與導(dǎo)桿600的第二端連接。工作人員通過操動第一旋鈕610，可以對導(dǎo)桿600進(jìn)行控制。
[0042]優(yōu)選地，導(dǎo)向管500的側(cè)壁上具有限位槽510，限位槽510沿導(dǎo)向管500的長度方向設(shè)置。進(jìn)一步地，導(dǎo)桿600包括位置可調(diào)節(jié)的第一導(dǎo)桿和第二導(dǎo)桿，第一導(dǎo)桿的第一端與 調(diào)焦元件50連接，第一導(dǎo)桿的第二端與第二導(dǎo)桿的第一端螺紋連接，第二導(dǎo)桿的第二端與 第一旋鈕610連接，且插銷的一端滑動設(shè)置在限位槽510內(nèi)，插銷的另一端與第一導(dǎo)桿連 接。由于第一導(dǎo)桿通過插銷與導(dǎo)向管500滑動連接，因而第一導(dǎo)桿僅會沿導(dǎo)向管500的長 度方向移動，但不會相對于導(dǎo)向管500轉(zhuǎn)動，工作人員轉(zhuǎn)動第一旋鈕610時,第二導(dǎo)桿會隨 著第一旋鈕610旋轉(zhuǎn),從而使第一導(dǎo)桿沿導(dǎo)向管500上下移動。
[0043]優(yōu)選地，采用電荷耦合元件接收到的圖像，還可以采用DSP實(shí)現(xiàn)清晰度的判定算 法的設(shè)計，從而實(shí)現(xiàn)后清晰度判定，進(jìn)而實(shí)現(xiàn)精密定焦。
[0044]優(yōu)選地，光學(xué)檢測裝置還包括顯示單元，以顯示成像元件70獲取的圖像。
[0045]作為本實(shí)用新型的第三個方面，提供了一種光學(xué)檢測方法。光學(xué)檢測方法包括：步 驟S10 :將待檢測設(shè)備放置在上述的光學(xué)系統(tǒng)中，并位于光學(xué)系統(tǒng)的第一物鏡20與第二物 鏡60之間；步驟S20 :調(diào)節(jié)調(diào)焦元件50的位置，以改變調(diào)焦元件50與第二物鏡60之間的 距離，直至分劃板40上的基準(zhǔn)圖案清晰的顯示在成像元件70上為止；步驟S30 :根據(jù)調(diào)焦 元件50的移動距離計算待檢測設(shè)備的性能參數(shù)。優(yōu)選地，步驟S30中的性能參數(shù)為頂焦度，根據(jù)下述公式（1)確定待檢測設(shè)備的頂(1)/ +M
其中，0為頂焦度，z為調(diào)焦元件50的移動距離，x為待檢測設(shè)備的參考平面與第 二物鏡60的物像前焦面的距離，f'為第二物鏡60的像方焦距。當(dāng)x=0時，公式（1)變形 為公式（2)：
[0049]
【權(quán)利要求】
1.一種用于檢測綜合驗(yàn)光儀的光學(xué)系統(tǒng)，其特征在于，包括: 分光元件(10); 第一物鏡(20)； 第一反光兀件(30),所述第一反光兀件(30)設(shè)置在所述分光兀件(10)和所述第一物鏡(20)之間，且所述分光元件(10)和所述第一物鏡(20)均位于所述第一反光元件(30)的反射光路中； 分劃板(40)，所述分劃板(40)上具有基準(zhǔn)圖案，所述分劃板(40)位于所述分光元件(10)的反射光路中，且所述分劃板(40)設(shè)置于所述第一物鏡(20)的物方焦點(diǎn)上； 調(diào)焦元件(50)，所述第一物鏡(20)設(shè)置在所述調(diào)焦元件(50)和所述第一反光元件(30)之間； 第二物鏡(60 )，所述第二物鏡(60 )設(shè)置在所述調(diào)焦元件(50 )和所述第一物鏡(20 )之間，所述調(diào)焦元件(50)與所述第二物鏡(60)之間的距離可調(diào)節(jié)； 成像元件(70)，所述成像元件(70)位于所述分光元件(10)的出射光路中。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光學(xué)系統(tǒng)，其特征在于，所述光學(xué)系統(tǒng)還包括第二反光元件(80),所述第二反光元件(80)設(shè)置在所述調(diào)焦元件(50)與所述第二物鏡(60)之間，且所述調(diào)焦元件(50)與所述第二物鏡(60)位于所述第二反光元件(80)的反射光路中。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的光學(xué)系統(tǒng)，其特征在于，所述第二物鏡(60)是聚焦物鏡。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光學(xué)系統(tǒng)，其特征在于，所述成像元件(70)是電荷耦合元件。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光學(xué)系統(tǒng)，其特征在于，所述光學(xué)系統(tǒng)還包括光闌(90)，所述光闌(90)設(shè)置在所述第一物鏡(20)和所述第二物鏡(60)之間。
6.一種用于檢測綜合驗(yàn)光儀的光學(xué)檢測裝置，其特征在于，包括: 基座(100)； 光學(xué)系統(tǒng)，所述光學(xué)系統(tǒng)是權(quán)利要求1至5中任一項(xiàng)所述的用于檢測綜合驗(yàn)光儀的光學(xué)系統(tǒng)，所述光學(xué)系統(tǒng)設(shè)置在所述基座(100)上； 發(fā)光元件(200 )，所述發(fā)光元件(200 )設(shè)置在所述基座(100 )上，且所述發(fā)光元件(200 )朝向所述光學(xué)系統(tǒng)的分劃板(40)設(shè)置； 測量單元(300)，用于檢測所述光學(xué)系統(tǒng)的調(diào)焦元件(50)的移動距離。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的光學(xué)檢測裝置，其特征在于，所述光學(xué)檢測裝置還包括: 平行光管(400)，所述平行光管(400)垂直設(shè)置在所述基座(100)上，所述平行光管(400)具有透光孔(410)，所述光學(xué)系統(tǒng)的分光元件(10)設(shè)置在所述平行光管(400)內(nèi)，所述分劃板(40)、所述透光孔(410)和所述分光元件(10)同軸設(shè)置，所述光學(xué)系統(tǒng)的第一反光元件(30)和第一物鏡(20)設(shè)置在所述平行光管(400)的上端，所述成像元件(70)設(shè)置在所述平行光管(400)的下端； 導(dǎo)向管(500)，所述導(dǎo)向管(500)的第一端與所述基座(100)連接，所述光學(xué)系統(tǒng)的第二物鏡(60)設(shè)置在所述導(dǎo)向管(500)的第二端，所述第一物鏡(20)與所述第二物鏡(60)對向且同軸設(shè)置，所述光學(xué)系統(tǒng)的調(diào)焦元件(50)滑動設(shè)置在所述導(dǎo)向管(500)內(nèi)。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的光學(xué)檢測裝置，其特征在于，所述光學(xué)檢測裝置還包括導(dǎo)桿(600),所述導(dǎo)桿(600)的至少一部分設(shè)置在所述導(dǎo)向管(500)內(nèi)，且所述導(dǎo)桿(600)的第一端與所述調(diào)焦元件(50)連接。
【文檔編號】G01M11/02GK203443766SQ201320530271
【公開日】2014年2月19日 申請日期:2013年8月28日 優(yōu)先權(quán)日:2013年8月28日
【發(fā)明者】劉文麗, 李飛, 洪寶玉, 張吉焱, 馬振亞, 孫劼 申請人:中國計量科學(xué)研究院